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JISC5402-11-1:2022の概要
JIS C 5402-11-1:2022の規格概要
閲覧 情報
個別(製品)規格が要求する場合,電子機器用コネクタの試験規格として用いる。この試験は,個別(製品)規格に規定がある場合,類似の部品(すなわち,劣化メカニズムが同じ場合)に用いてもよい。一連の温度,湿度及び,要求する場合,減圧環境ストレスからなる環境条件にさらすときのコネクタの適合性を判断するための標準の組合せ試験方法について規定。
JISC5402-11-1:2022 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C 5402-11-1:2022
- 規格名称
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-1部:耐候性試験―試験11a:一連耐候性
- 規格名称英語訳
- Connectors for electrical and electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 11-1:Climatic tests -- Test 11a -- Climatic sequence
- 規格の状態
- 有効
- 公示の種類
- 改正
- 公示の種類に関する説明(改正)
- 主務大臣が当該JISを年月の経過に伴って改めることが必要と認めたとき、改正されます。
- 規格番号の西暦年(コロン(:)の後ろの年)は、改正された年になります。
- JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
- 制定年月日
- 2002年03月20日
- 最新改正日:確認日
- 2022年09月20日(改正)
- 主務大臣
- 経済産業
- JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。
- 改訂:履歴
- 2002-03-20 制定日, 2007-03-20 確認日, 2008-07-20 確認日, 2012-10-22 確認日, 2017-10-20 確認日, 2022-09-20 改正日
- JIS 閲覧情報
- C5402-11-1, JIS C 5402-11-1
- 引用JIS規格
- C5402-1, C5402-1-1, C5402-11-10, C5402-11-11, C5402-11-12, C5402-11-9, C5402-13-1, C5402-13-2, C5402-17-1, C5402-17-2, C5402-17-3, C5402-17-4, C5402-2-1, C5402-2-2, C5402-3-1, C5402-4-1, C60068-1:2016, C60068-2-13:1989, C60068-2-30, C60068-2-61:1996
- 対応国際規格
- IEC 60512-11-1:2019(MOD)
- 同等性に関する説明 (MOD)
- MOD: modified(修正)
- 許容される技術的差異がはっきりと明示され、かつ、説明されている場合、地域又は国家規格は国際規格から修正されている。
- この場合、地域又は国家規格は国際規格の構成を反映し、その構成の変更は両規格の内容が容易に比較できる限り許容される。
- 修正規格は一致対応の場合に許容される変更も含む。「逆も同様の原理」があてはまらない。
- 引用国際規格
- IEC 60512-1-101
- 国際規格分類
ICS
- 31.220.01
- 正誤票・訂正票
- -
- JISハンドブック
- -
- ページ
- JIS C 5402-11-1:2022 PDF [20ページ]
JISC5402-11-1:2022 改訂 履歴 一覧
JISC5402-11-1:2022 関連規格と引用規格一覧
- JIS C 5402-1:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1部:一般
- JIS C 5402-1-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-1部:一般試験―試験1a:外観
- JIS C 5402-1-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-1部:一般試験―試験1a:外観
- JIS C 5402-1-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-2部:一般試験―試験1b:寸法及び質量
- JIS C 5402-1-3:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-3部:一般検査―試験1c:電気的接触長
- JIS C 5402-1-3:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-3部:一般検査―試験1c:電気的接触長
- JIS C 5402-1-4:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-4部:一般検査―試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ)
- JIS C 5402-2-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第2-1部:導通及び接触抵抗試験―試験2a:接触抵抗―ミリボルトレベル法
- JIS C 5402-2-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第2-2部:導通及び接触抵抗試験―試験2b:接触抵抗―規定電流法
- JIS C 5402-3-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第3-1部:絶縁試験―試験3a:絶縁抵抗
- JIS C 5402-4-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第4-1部:電圧ストレス試験―試験4a:耐電圧
- JIS C 60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JIS C 5402-10-4:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第10-4部:インパクト試験(可動形部品),静的負荷試験(固定形部品),耐久試験及び過負荷試験―試験10d:電気的過負荷(コネクタ)
- JIS C 5402-11-1:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-1部:耐候性試験―試験11a:一連耐候性
- JIS C 5402-11-1:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-1部:耐候性試験―試験11a:一連耐候性
- JIS C 5402-11-1:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-1部:耐候性試験―試験11a:一連耐候性
- JIS C 5402-11-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-2部:耐候性試験―試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス
- JIS C 5402-11-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-2部:耐候性試験―試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス
- JIS C 5402-11-3:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-3部:耐候性試験―試験11c:高温高湿(定常)
- JIS C 5402-11-3:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-3部:耐候性試験―試験11c:高温高湿(定常)
- JIS C 5402-11-4:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-4部:耐候性試験―試験11d:温度急変
- JIS C 5402-11-4:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-4部:耐候性試験―試験11d:温度急変
- JIS C 5402-11-5:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-5部:耐候性試験―試験11e:かびの成長
- JIS C 5402-11-5:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-5部:耐候性試験―試験11e:かびの成長
- JIS C 5402-11-6:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-6部:耐候性試験―試験11f:腐食,塩水噴霧
- JIS C 5402-11-6:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-6部:耐候性試験―試験11f:腐食,塩水噴霧
- JIS C 5402-11-7:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-7部:耐候性試験―試験11g:混合ガス流腐食
- JIS C 5402-11-7:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-7部:耐候性試験―試験11g:混合ガス流腐食
- JIS C 5402-11-8:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-8部:耐候性試験―試験11h:砂じん
- JIS C 5402-11-8:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-8部:耐候性試験―試験11h:砂じん
- JIS C 5402-11-9:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-9部:耐候性試験―試験11i:高温
- JIS C 5402-11-9:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-9部:耐候性試験―試験11i:高温
- JIS C 5402-11-9:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-9部:耐候性試験―試験11i:高温
- JIS C 5402-12-1:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第12-1部:はんだ付け試験―試験12a:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだ槽法
- JIS C 5402-12-2:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第12-2部:はんだ付け試験―試験12b:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだこて法
- JIS C 5402-12-4:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第12-4部:はんだ付け試験―試験12d:はんだ耐熱性,はんだ槽法
- JIS C 5402-12-5:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第12-5部:はんだ付け試験―試験12e:はんだ耐熱性,はんだこて法
- JIS C 5402-12-6:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第12-6部:はんだ付け試験―試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止
- JIS C 5402-12-7:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第12-7部:はんだ付け試験―試験12g:はんだ付け性,平衡法
- JIS C 5402-13-1:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第13-1部:機械的動作試験―試験13a:結合力及び離脱力
- JIS C 5402-13-1:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第13-1部:機械的動作試験―試験13a:結合力及び離脱力
- JIS C 5402-13-2:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第13-2部:機械的動作試験―試験13b:挿入力及び引抜力
- JIS C 5402-13-2:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第13-2部:機械的動作試験―試験13b:挿入力及び引抜力
- JIS C 5402-13-5:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第13-5部:機械的動作試験―試験13e:極性及びキーイング
- JIS C 5402-14-2:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第14-2部:封止(気密性)試験―試験14b:封止(気密性)―微小エアリーク
- JIS C 5402-14-4:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第14-4部:封止(気密性)試験―試験14d:浸せき―防水
- JIS C 5402-14-5:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第14-5部:封止(気密性)試験―試験14e:浸せき(減圧)
- JIS C 5402-14-6:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第14-6部:封止(気密性)試験―試験14f:インタフェーシャルシーリング
- JIS C 5402-14-7:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第14-7部:封止(気密性)試験―試験14g:噴射水
- JIS C 5402-15-1:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-1部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15a:インサート内のコンタクト保持
- JIS C 5402-15-2:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-2部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15b:ハウジング内のインサート保持(軸方向)
- JIS C 5402-15-3:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-3部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15c:ハウジング内のインサート保持(ねじれ方向)
- JIS C 5402-15-4:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-4部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15d:コンタクトの挿入,解放及び引抜力
- JIS C 5402-15-5:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-5部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15e:インサート内のコンタクト保持,ケーブルの回転(nutation)
- JIS C 5402-15-6:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-6部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15f:コネクタカップリング機構の効果
- JIS C 5402-15-8:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-8部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15h:コンタクト保持機構,工具の使用に対する耐久性
- JIS C 5402-16-1:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-1部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16a:プローブダメージ
- JIS C 5402-16-2:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-2部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16b:リストリクテッドエントリ
- JIS C 5402-16-3:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-3部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16c:コンタクト曲げ強度
- JIS C 5402-16-4:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-4部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16d:引張強度(圧着接続)
- JIS C 5402-16-5:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-5部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16e:ゲージ保持力(弾性コンタクト)
- JIS C 5402-16-6:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-6部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16f:ターミネーション強度
- JIS C 5402-16-7:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-7部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16g:圧着後のコンタクトの変形測定
- JIS C 5402-16-8:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-8部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16h:インシュレーショングリップの有効性(圧着接続)
- JIS C 5402-16-9:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-9部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16i:接地コンタクトスプリングの保持力
- JIS C 5402-17-1:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-1部:ケーブルクランプ試験―試験17a:ケーブルクランプ強度
- JIS C 5402-17-1:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-1部:ケーブルクランプ試験―試験17a:ケーブルクランプ強度
- JIS C 5402-17-2:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-2部:ケーブルクランプ試験―試験17b:ケーブルクランプ強度(ケーブルの回転)
- JIS C 5402-17-2:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-2部:ケーブルクランプ試験―試験17b:ケーブルクランプ強度(ケーブルの回転)
- JIS C 5402-17-3:2018
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-3部:ケーブルクランプ試験―試験17c:ケーブルクランプ強度(ケーブルの引張り)
- JIS C 5402-17-3:2018
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-3部:ケーブルクランプ試験―試験17c:ケーブルクランプ強度(ケーブルの引張り)
- JIS C 5402-17-4:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-4部:ケーブルクランプ試験―試験17d:ケーブルクランプ強度(ケーブルのねじり)
- JIS C 5402-17-4:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-4部:ケーブルクランプ試験―試験17d:ケーブルクランプ強度(ケーブルのねじり)
- JIS C 5402-19-3:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第19-3部:耐化学薬品試験―試験19c:耐液性
- JIS C 5402-22-1:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第22-1部:静電容量試験―試験22a:静電容量
- JIS C 5402-1-100:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-100部:一般―試験方法規格一覧
- JIS C 5402-1-100:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-100部:一般―試験方法規格一覧
- JIS C 5402-11-10:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-10部:耐候性試験―試験11j:低温
- JIS C 5402-11-10:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-10部:耐候性試験―試験11j:低温
- JIS C 5402-11-10:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-10部:耐候性試験―試験11j:低温
- JIS C 5402-11-11:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-11部:耐候性試験―試験11k:減圧
- JIS C 5402-11-11:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-11部:耐候性試験―試験11k:減圧
- JIS C 5402-11-11:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-11部:耐候性試験―試験11k:減圧
- JIS C 5402-11-12:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-12部:耐候性試験―試験11m:温湿度サイクル
- JIS C 5402-11-12:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-12部:耐候性試験―試験11m:温湿度サイクル
- JIS C 5402-11-12:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-12部:耐候性試験―試験11m:温湿度サイクル
- JIS C 5402-11-13:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-13部:耐候性試験―試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続
- JIS C 5402-11-13:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-13部:耐候性試験―試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続
- JIS C 5402-11-14:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-14部:耐候性試験―試験11p:単一ガス流腐食
- JIS C 5402-11-14:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-14部:耐候性試験―試験11p:単一ガス流腐食
- JIS C 5402-16-13:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-13部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16m:ラッピングの巻き戻し,無はんだラッピング接続
- JIS C 5402-16-20:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-20部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)
- JIS C 60068-2-13:1989
- 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
- JIS C 60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JIS C 60068-2-61:1996
- 環境試験方法―電気・電子―一連耐候性試験
JISC5402-11-1:2022 対応 国際規格 一覧
- IEC 60512-11-1:2019
JISC5402-11-1:2022 引用 国際規格 一覧
- IEC 60512-1-101