JIS C 5442:1996 制御用小形電磁リレーの試験方法 | ページ 12

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                                       表34 故障率水準
                        記号        故障率        記号        故障率
                                    %      個                %     個
                                       又は                     又は
                                          10 6
                                  10 3 時間                        10 6
                                                           10 3 時間
                         L           5             R          0.01
                         M           1             E          0.005
                         N           0.5           S          0.001
                         P           0.1           H          0.000 5
                         Q           0.05          T          0.000 1
                          表35 合格判定個数と総試験時間(動作回数)
       合格判定個数C      0     1      2     3     4     5      6     7     8     9     10
                         0.917
    総試験時間又は動作回数     2.02   3.11  4.18  5.24  6.29  7.34   8.39  9.43  10.5  11.5
    105時又は104回

7.2.7 個別規格に規定する事項

 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 試験回路[7.2.2(1)参照]
(2) 負荷及び印加する試験電圧と電流値[7.2.2(2)参照]
(3) 開閉頻度[7.2.3(1)(c)参照]
(4) 動作回数[7.2.3(1)(e)参照]
(5) 接触抵抗基準値(7.2.4参照)

8. 過負荷試験

8.1 目的

 この試験は,リレーの定格負荷開閉に対する余裕度を調べることを目的とする。

8.2 負荷(過負荷)の種類

 表36から選ぶこととし,いずれによるかは個別規格の規定による。
                                  表36 負荷(過負荷)の種類
        試験電圧(5)        試験電流(6)          開閉比(9)     開閉回数      主要用途
                       電流    力率又は時定数
                                   ms          Ton (s) /Toff (s)
         交流 (Em1)   1.5 Im1      約1             1/1          100    抵抗回路
                     10 Im2       0.60.7           1/9           50    ソレノイド電磁接触器
                      5 Im3       0.60.7           1/9           50    リレー
         直流 (Em2)   1.5 Im4      1 以下          1/1          100    抵抗回路
                      1.5 Im5     40               1/9           50    ソレノイド電磁接触器
                      1.5 Im6      7               1/9           50    リレー
      注(9) 開閉比 : 閉路時間Ton (s) と開路時間Toff (s) の比

8.3 負荷(過負荷)の接続方法

 負荷(過負荷)の接続方法は,個別規格に規定がない限り,図29の接
続とする。

――――― [JIS C 5442 pdf 56] ―――――

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C 5442-1996
                                図29 負荷(過負荷)の接続方法

8.4 試験

 試験は,次による。

8.4.1 試験条件

 試験条件は,次による。
(1) 負荷 8.2の負荷の種類による。
(2) 試験電源 電源は,過渡状態も含む負荷に通電したときのインピーダンス変化に対して,十分耐える
    ものとする。
(3) 試験接点 常時回路接点又は常時閉路接点とする。ただし,切換接点の場合には,一方の接点とする。
(4) 試験極 端極を含む連続した極でかつ,全極数の21以上の極とする。
(5) 開閉比 表36による。
(6) 開閉回数 表36による。

8.4.2 測定及び評価基準

 8.4.1の試験条件によって過負荷試験をした後,次の項目の中から選定して測
定し,故障を評価する。項目の選定は,個別規格の規定による。
(1) 接点の開離不良
(2) アーク放電などによる短絡,地絡
(3) 使用上支障のある各部の損耗,緩み,変形
(4) 動作電圧(又は電流),復帰電圧(又は電流)
(5) 接触抵抗
(6) 耐電圧
(7) 絶縁抵抗
(8) 動作時間,復帰時間
(9) 温度上昇

8.4.3 個別規格に規定する事項

 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 負荷の種類(8.2参照)
(2) 負荷の接続方法(8.3参照)
(3) 評価項目及び基準値(8.4.2参照)
(4) 励磁値

――――― [JIS C 5442 pdf 57] ―――――

                                                                                             53
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                                        付表1 引用規格
    JIS C 0010 環境試験方法−電気・電子−通則
    JIS C 0020 環境試験方法−電気・電子−低温(耐寒性)試験方法
    JIS C 0021 環境試験方法−電気・電子−高温(耐熱性)試験方法
    JIS C 0022 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
    JIS C 0024 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧(サイクル)試験方法
    JIS C 0025 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
    JIS C 0026 環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法
    JIS C 0027 環境試験方法(電気・電子)温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法
    JIS C 0028 環境試験方法(電気・電子)温湿度組合せ(サイクル)試験方法
    JIS C 0040 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
    JIS C 0041 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
    JIS C 0050 環境試験方法(電気・電子)はんだ付け試験方法
    JIS C 0051 環境試験方法−電気・電子−端子強度試験方法
    JIS C 1302 絶縁抵抗計
    JIS C 1303 高絶縁抵抗計
    JIS C 1601 指示熱電温度計
    JIS C 1603 指示抵抗温度計
    JIS C 2809 平形接続端子
    JIS C 3301 ゴムコード
    JIS C 3306 ビニルコード
    JIS C 3307 600Vビニル絶縁電線 (IV)
    JIS C 5003 電子部品の故障率試験方法通則
    JIS K 8101 エタノール (99.5) (試薬)
    JIS K 8839 2−プロパノール(試薬)
    JIS Z 3282 はんだ
    JIS Z 8115 信頼性用語

――――― [JIS C 5442 pdf 58] ―――――

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C 5442-1996
                                    原案作成委員会 構成表
                                     氏名                         所属
        (委員長)             真 野 国 夫       真野研究開発センター
                               倉 重 有 幸       工業技術院標準部電気規格課
                               松 田 純 夫       宇宙開発事業団技術研究本部
                               五 味 勇 二       財団法人日本電子部品信頼性センター
                               丸 岡 巧 美       東京都立工業技術センター
                               富 田 泰 夫       IEC/TC94国内委員会
                               赤 嶺 淳 一       社団法人日本電機工業会
                               大 友 敏 雄       社団法人日本電子機械工業会
                               高 野 正 二       通信機械工業会
                               浦 沢 幸 雄       社団法人日本工作機械工業会
                               水 口 春 生       日本自動販売機工業会
                               梅 村     茂      NTT境界領域研究所
                               細呂木 隆 夫      和泉電気株式会社
                               佐 藤 隆 一       オムロン株式会社
                               岡    清 孝       株式会社タイコーデバイス
                               関        勇      株式会社高見澤電機製作所
                               月 花 正 志       富士電機株式会社
                               古 内 三 意       松下電工株式会社
                               岡 本 良 夫       富士通株式会社
                               三 石 昭 治       株式会社高見澤電機製作所
                               武 井 武 男       日本開閉器工業株式会社
                               青 木 邦 夫       社団法人日本電気制御機器工業会