JIS C 5442:1996 制御用小形電磁リレーの試験方法

                                                                                    C 5442-1996

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ページ

•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 用語の定義・・・・[1]
•  3. 基本的試験条件・・・・[3]
•  3.1 試験の状態・・・・[3]
•  3.2 標準試験電源・・・・[3]
•  4. 電気的性能試験・・・・[3]
•  4.1 絶縁抵抗試験・・・・[4]
•  4.1.1 目的・・・・[4]
•  4.1.2 装置・・・・[4]
•  4.1.3 前処理・・・・[4]
•  4.1.4 試験・・・・[4]
•  4.1.5 個別規格に規定する事項・・・・[4]
•  4.2 耐電圧試験(商用周波数)・・・・[4]
•  4.2.1 目的・・・・[4]
•  4.2.2 装置・・・・[4]
•  4.2.3 前処理・・・・[4]
•  4.2.4 試験・・・・[4]
•  4.2.5 個別規格に規定する事項・・・・[5]
•  4.3 耐電圧試験(インパルス電圧)・・・・[5]
•  4.3.1 目的・・・・[5]
•  4.3.2 印加電圧波形及び装置・・・・[5]
•  4.3.3 前処理・・・・[7]
•  4.3.4 試験・・・・[7]
•  4.3.5 個別規格に規定する事項・・・・[7]
•  4.4 リレーのコイル特性・・・・[7]
•  4.4.1 コイルの直流抵抗・・・・[7]
•  4.4.2 コイルの消費電力(交流リレーだけ)・・・・[8]
•  4.5 接触抵抗試験・・・・[8]
•  4.5.1 目的・・・・[8]
•  4.5.2 装置・・・・[8]
•  4.5.3 準備・・・・[9]
•  4.5.4 試験・・・・[9]
•  4.5.5 個別規格に規定する事項・・・・[10]
•  4.6 動作電圧又は電流及び復帰電圧又は電流・・・・[10]
•  4.6.1 目的・・・・[10]

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS C 5442 pdf 1] ―――――

C 5442-1996

pdf 目次

•  4.6.2 装置・・・・[11]
•  4.6.3 準備・・・・[11]
•  4.6.4 試験・・・・[12]
•  4.6.5 個別規格に規定する事項・・・・[12]
•  4.7 動作時間及び復帰時間・・・・[13]
•  4.7.1 目的・・・・[13]
•  4.7.2 装置・・・・[13]
•  4.7.3 準備・・・・[13]
•  4.7.4 試験・・・・[13]
•  4.7.5 個別規格に規定する事項・・・・[14]
•  4.8 接点のバウンス・・・・[14]
•  4.8.1 目的・・・・[15]
•  4.8.2 装置・・・・[15]
•  4.8.3 準備・・・・[15]
•  4.8.4 試験・・・・[15]
•  4.8.5 個別規格に規定する事項・・・・[15]
•  4.9 接点のチャタリング・・・・[15]
•  4.9.1 目的・・・・[15]
•  4.9.2 装置・・・・[15]
•  4.9.3 試験・・・・[15]
•  4.9.4 個別規格に規定する事項・・・・[16]
•  4.10 温度上昇試験・・・・[16]
•  4.10.1 目的・・・・[16]
•  4.10.2 装置・・・・[16]
•  4.10.3 準備・・・・[16]
•  4.10.4 試験・・・・[16]
•  4.10.5 個別規格に規定する事項・・・・[17]
•  5. 機械的性能試験・・・・[17]
•  5.1 耐振性試・・・・[17]
•  5.1.1 目的・・・・[17]
•  5.1.2 装置・・・・[17]
•  5.1.3 準備・・・・[18]
•  5.1.4 試験・・・・[18]
•  5.1.5 個別規格に規定する事項・・・・[18]
•  5.2 衝撃試・・・・[19]
•  5.2.1 目的・・・・[19]
•  5.2.2 装置・・・・[19]
•  5.2.3 準備・・・・[20]
•  5.2.4 試験・・・・[20]
•  5.2.5 測定・・・・[22]

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――――― [JIS C 5442 pdf 2] ―――――

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•  5.2.6 個別規格に規定する事項・・・・[22]
•  5.3 端子強度試験・・・・[22]
•  5.3.1 目的・・・・[22]
•  5.3.2 装置・・・・[22]
•  5.3.3 試験・・・・[22]
•  5.3.4 個別規格に規定する事項・・・・[27]
•  5.4 はんだ付け性試験・・・・[27]
•  5.4.1 目的・・・・[27]
•  5.4.2 装置・・・・[27]
•  5.4.3 材料・・・・[27]
•  5.4.4 準備・・・・[27]
•  5.4.5 試験・・・・[27]
•  5.4.6 個別規格に規定する事項・・・・[27]
•  5.5 はんだ耐熱性試験・・・・[28]
•  5.5.1 目的・・・・[28]
•  5.5.2 装置・・・・[28]
•  5.5.3 材料・・・・[28]
•  5.5.4 試験・・・・[28]
•  5.5.5 個別規格に規定する事項・・・・[28]
•  6. 耐候性試験・・・・[28]
•  6.1 耐寒性(耐寒貯蔵,耐寒動作)試・・・・[28]
•  6.1.1 目的・・・・[28]
•  6.1.2 装置・・・・[28]
•  6.1.3 準備及び試験・・・・[28]
•  6.1.4 個別規格に規定する事項・・・・[29]
•  6.2 耐熱性(耐熱貯蔵,耐熱動作)試験・・・・[29]
•  6.2.1 目的・・・・[29]
•  6.2.2 装置・・・・[29]
•  6.2.3 準備及び試験・・・・[29]
•  6.2.4 個別規格に規定する事項・・・・[30]
•  6.3 温度変化試験・・・・[30]
•  6.3.1 目的・・・・[30]
•  6.3.2 装置・・・・[30]
•  6.3.3 準備・・・・[30]
•  6.3.4 試験・・・・[30]
•  6.3.5 個別規格に規定する事項・・・・[31]
•  6.4 高温高湿(定常)試験・・・・[31]
•  6.4.1 目的・・・・[31]
•  6.4.2 装置・・・・[31]
•  6.4.3 試験・・・・[31]

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――――― [JIS C 5442 pdf 3] ―――――

C 5442-1996

pdf 目次

•  6.4.4 個別規格に規定する事項・・・・[32]
•  6.5 温湿度サイクル試験・・・・[32]
•  6.5.1 方法・・・・[32]
•  6.5.2 方法・・・・[37]
•  6.6 塩水噴霧試験・・・・[42]
•  6.6.1 目的・・・・[42]
•  6.6.2 試験装置・・・・[42]
•  6.6.3 塩溶液・・・・[42]
•  6.6.4 厳しさ・・・・[43]
•  6.6.5 初期測定・・・・[43]
•  6.6.6 前処理・・・・[43]
•  6.6.7 試験・・・・[43]
•  6.6.8 後処理(最終サイクル後)・・・・[43]
•  6.6.9 最終測定・・・・[43]
•  6.6.10 個別規格に規定する事項・・・・[43]
•  6.7 気密性試験・・・・[44]
•  6.7.1 目的・・・・[44]
•  6.7.2 加熱法・・・・[44]
•  6.7.3 減圧法・・・・[44]
•  6.7.4 トレーサガスによる方法・・・・[44]
•  6.7.5 個別規格に規定する事項・・・・[44]
•  7. 連続開閉試験・・・・[45]
•  7.1 耐久性試験・・・・[45]
•  7.1.1 目的・・・・[45]
•  7.1.2 耐久性試験の種類・・・・[45]
•  7.1.3 負荷・・・・[45]
•  7.1.4 試験・・・・[46]
•  7.1.5 個別規格に規定する事項・・・・[47]
•  7.2 故障率試験・・・・[47]
•  7.2.1 目的・・・・[47]
•  7.2.2 試験回路及び負荷・・・・[47]
•  7.2.3 試験・・・・[49]
•  7.2.4 故障判定基準・・・・[50]
•  7.2.5 故障率の算出方法・・・・[50]
•  7.2.6 故障率水準・・・・[50]
•  7.2.7 個別規格に規定する事項・・・・[51]
•  8. 過負荷試験・・・・[51]
•  8.1 目的・・・・[51]
•  8.2 負荷(過負荷)の種類・・・・[51]
•  8.3 負荷(過負荷)の接続方法・・・・[51]

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――――― [JIS C 5442 pdf 4] ―――――

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•  8.4 試験・・・・[52]
•  8.4.1 試験条件・・・・[52]
•  8.4.2 測定及び評価基準・・・・[52]
•  8.4.3 個別規格に規定する事項・・・・[52]
•  付表1・・・・[53]

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS C 5442 pdf 5] ―――――

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