JIS C 5445:2012 電子機器用スイッチ―第１部：通則

                                                                                   C 5445 : 2012

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲及び目的・・・・[1]
•  1.1 適用範囲・・・・[1]
•  1.2 目的・・・・[1]
•  2 一般事項・・・・[1]
•  2.1 引用規格・・・・[1]
•  2.2 単位及び記号・・・・[4]
•  2.3 用語及び定義・・・・[4]
•  2.4 推奨値・・・・[6]
•  2.5 表示・・・・[6]
•  3 品質評価手順・・・・[7]
•  4 試験及び測定手順・・・・[7]
•  4.1 一般事項・・・・[7]
•  4.2 標準大気条件・・・・[7]
•  4.3 一般試験・・・・[7]
•  4.4 抵抗測定・・・・[14]
•  4.5 耐電圧・・・・[19]
•  4.6 端子部の温度上昇・・・・[21]
•  4.7 動的応力・・・・[22]
•  4.8 機械的強度・・・・[24]
•  4.9 機械的耐久性・・・・[27]
•  4.10 電気的耐久性・・・・[28]
•  4.11 過負荷・・・・[33]
•  4.12 環境・・・・[34]
•  4.13 はんだ付け・・・・[48]
•  4.14 パネル封止・・・・[51]
•  4.15 きょう(筐)体封止・・・・[54]
•  4.16 耐溶剤性・・・・[55]
•  4.17 耐火性・・・・[56]
•  4.18 静電容量・・・・[56]
•  4.19 照光性・・・・[56]
•  4.20 表面実装スイッチのはんだ付け・・・・[58]
•  4.21 機械的強度(表面実装スイッチ)・・・・[61]
•  参考文献・・・・[65]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[66]

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C 5445 : 2012

pdf 目次

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 5441:2006,JIS C 5443:1997及びJIS C 5444:2000は廃止され,この規格に置き換
えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                                JIS
                                                                              C 5445 : 2012

電子機器用スイッチ−第1部 : 通則

Electromechanical switches for use in electrical and electronic equipment- Part 1: Generic specification

序文

  この規格は,2009年に第2版として発行されたIEC 61020-1を基に,対応する部分については対応国際
規格を翻訳し,技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)であるが,対応国際規格には規定さ
れていない規定項目(動作特性及び塩水噴霧試験)を日本工業規格(日本産業規格)として追加している。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲及び目的

1.1 適用範囲

  この規格は,電気及び電子機器への使用を意図した電気機械的スイッチ(以下,スイッチという。)につ
いて規定する。この規格は,次のa)   c)のスイッチに適用する。
a) 導電部(接点)が機械的に動作することによって,回路を開閉する又は回路の接続を切り替える。
b) 最大定格電圧が480 V以下
c) 最大定格電流が63 A以下
  この規格は,情報機器用のキーボード及びキーパッドには適用しないが,キーボード用のスイッチに適
用してもよい。
    注記1 スイッチの安全要求事項は,JIS C 4526-1の規定による。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61020-1:2009,Electromechanical switches for use in electrical and electronic equipment−Part
                1: Generic specification(MOD)
              なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
            ことを示す。

1.2 目的

  この規格の目的は,用語,記号,試験方法及びその他の必要事項を規定することによって,スイッチの
個別仕様書に統一性をもたせることにある。

2 一般事項

2.1 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。

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C 5445 : 2012
    JIS B 0251 メートルねじ用限界ゲージ
    JIS B 7502 マイクロメータ
    JIS B 7507 ノギス
    JIS C 0617(規格群) 電気用図記号
      注記 対応国際規格 : IEC 60617 (all parts),Graphical symbols for diagrams(IDT)
    JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
      注記 対応国際規格 : IEC 60529:2001,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)(IDT)
    JIS C 1302 絶縁抵抗計
    JIS C 4526-1 機器用スイッチ−第1部 : 一般要求事項
      注記 対応国際規格 : IEC 61058-1:2001,Switches for appliances−Part 1: General requirements(MOD)
    JIS C 5062 抵抗器及びコンデンサの表示記号
      注記 対応国際規格 : IEC 60062:2004,Marking codes for resistors and capacitors(MOD)
    JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-1:1988,Environmental testing. Part 1: General and guidance(IDT)
    JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
             (sinusoidal)(IDT)
    JIS C 60068-2-11 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
    JIS C 60068-2-13 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-13:1983,Environmental testing−Part 2-13: Tests−Test M: Low air
             pressure(IDT)
    JIS C 60068-2-14 環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14:2009,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
             temperature(IDT)
    JIS C 60068-2-17 環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-17:1994,Basic environmental testing procedures−Part 2-17: Tests−
             Test Q: Sealing(IDT)
    JIS C 60068-2-20 環境試験方法−電気・電子−第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ付け
        性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
             methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)
    JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U:Robustness
             of terminations and integral mounting devices(IDT)
    JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−第2-27部 : 衝撃試験方法(試験記号 : Ea)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-27:2008,Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and
             guidance: Shock(IDT)
    JIS C 60068-2-30 環境試験方法−電気・電子−第2-30部 : 温湿度サイクル(12+12時間サイクル)
        試験方法(試験記号 : Db)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-30:1985,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db and

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             guidance: Damp heat, cyclic (12+12-hour cycle)(MOD)
    JIS C 60068-2-38 環境試験方法(電気・電子)温湿度組合せ(サイクル)試験方法
    JIS C 60068-2-42 環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-42:2003,Environmental testing−Part 2-42: Tests−Test Kc: Sulphur
             dioxide test for contacts and connections(IDT)
    JIS C 60068-2-43 環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の硫化水素試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-43:2003,Environmental testing−Part 2-43: Tests−Test Kd: Hydrogen
             sulphide test for contacts and connections(IDT)
    JIS C 60068-2-45 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-45:1980,Environmental testing. Part 2: Tests. Test XA and guidance:
             Immersion in cleaning solvents(MOD)
    JIS C 60068-2-46 環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の硫化水素試験−指針
    JIS C 60068-2-49 環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の二酸化硫黄試験−指針
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-49:1983,Environmental testing−Part 2: Tests. Guidance to Test Kc:
             Sulphur dioxide test for contacts and connections(IDT)
    JIS C 60068-2-58 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はん
        だ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Tests Td: Test
             methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface
             mounting devices (SMD)(MOD)
    JIS C 60068-2-61 環境試験方法−電気・電子−一連耐候性試験
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-61:1991,Environmental testing−Part 2: Test methods−Test
             Z/ABDM: Climatic sequence(IDT)
    JIS C 60068-2-68 環境試験方法−電気・電子−砂じん(塵)試験
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-68:1994,Environmental testing−Part 2: Tests−Test L: Dust and sand
             (IDT)
    JIS C 60068-2-77 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)の本体強度及び耐衝撃性試験方
        法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-77:1999,Environmental testing−Part 2-77: Tests−Test 77: Body
             strength and impact shock(IDT)
    JIS C 60068-2-78 環境試験方法−電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-78:2001,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab:Damp
             heat, steady state(IDT)
    JIS Z 2911:2000 かび抵抗性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-10:1988,Environmental testing−Part 2: Tests. Test J and guidance:
             Mould growth(MOD)
    JIS Z 8203 国際単位系(SI)及びその使い方
      注記 対応国際規格 : ISO 1000:1992,SI units and recommendations for the use of their multiples and of
             certain other units(IDT)
    IEC 60027 (all parts),Letter symbols to be used in electrical technology

――――― [JIS C 5445 pdf 5] ―――――

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