6
C 6481-1996
度から±2℃の範囲内に保持する。
なお,その間は溶融はんだをかき混ぜたり,はんだ槽を動かさない。
また,はんだの表面は酸化物の皮膜その他の汚れを取り除く(2)。
注(2) 例えば,幅50mm程度のポリテトラフロロエチレン (PTFE) の小片でかき取るとよい。
(2) 煮沸後の測定
(a) 処理 試料を沸騰蒸留水中に入れて1時間煮沸し,20±10℃の温度に保った流れる清水中で30分間
冷やした後取り出し,乾いた清浄なガーゼなどで表面の水分をふき取り,5分間以内に試験する。
(b) 測定 測定は,(1)による。
5.6 耐熱性
5.6.1 装置 装置は,次による。
(1) 恒温槽 5.5.1(1)による。
(2) 試料を支える試料たて(非金属製)
5.6.2 試料 銅張積層板から原厚のまま50mm角の大きさに切り取ったものを試料とする。
5.6.3 試験 試料を試料たてに挿入し,個別規格に規定の温度に保った恒温槽中に入れ,循環空気が試料
の表面にほぼ平行に当たるように置く。個別規格に規定の時間経過後,試料を取り出して,直ちに,銅は
く面,積層板面及び端面の膨れ又ははがれの有無を目視によって調べる。
5.7 引きはがし強さ
5.7.1 装置 装置は,次による。
(1) 試験機 クロスヘッド速度を毎分約50mmに保てる誤差±1%の引張試験機。ただし,引きはがすとき
の荷重が,試験機の容量の1585%に相当するもの。
(2) 支持金具 絶縁基板から銅はくを引きはがす際に,銅はく除去面に対する引きはがす方向の角度を常
に90°に保持できる支持金具。
(3) ノギス JIS B 7507に規定の最小読取り長さ0.05mmのノギス又はこれと同等以上の精度をもつもの。
(4) 固定具 材料を平たん(坦)になるように接着又は他の方法で固定できるもの。
(5) はんだ槽 5.5.1(2)による。
(6) 温度計 5.5.1(3)による。
(7) ストップウオッチ 5.5.1(4)による。
(8) 試料のつかみ具 ピンセット又はそれに類した試料つかみ具。
(9) 加熱保温装置 試料保持部分を一定温度に保持できる加熱保温装置。
5.7.2 試料 銅張積層板から図5に示す寸法に切り取り,ナイフ切断又は4.2の方法を用いて,片面の中
央部に幅10±0.1mmの銅はくを残し,両側の銅はくを除去したものを試料とする。
図5 引きはがし強さ試料
――――― [JIS C 6481 pdf 6] ―――――
7
C 6481-1996
5.7.3 試験 試験は,次による。
(1) 常態での測定 試料を銅はくの一端を適切な長さにはがしてから支持金具に取り付け,はがした銅は
くの先端をつかみ具でつかみ,図6に示すように引張方向が銅はく面に垂直になる方向に,毎分約
50mmの速さで連続的に約50mmはがす。この間での荷重の最低値を引きはがし強さとし,kN/mで表
す。この場合,銅はくが切断したときは,再試験を行う。
なお,板厚が薄く測定が困難な場合は,5.7.1(4)の方法によって適切な板に固定する。
図6 引きはがし強さの測定
(2) はんだ処理後の測定
(a) 処理 試料を5.5.4のはんだ耐熱性試験と同様,規定温度のはんだ槽の中に規定時間浮かべる。
なお,処理条件 (S0S4) は,個別規格で規定する(規定温度,時間を表2に示す。)。
表2 はんだ処理条件
処理条件記号 規定温度℃ 規定時間s
S0 24602 5±1
S1 10±1
S2 26002 5±1
S3 10±1
S4 20±1
備考 規定温度は,試料を入れる前の温度とする。
(b) 測定 付着したはんだを除去してから,銅はく,銅はく除去面並びに端面のはがれ及び膨れを調べ
る。異常がなければ室温まで冷やした後,(1)と同様に引きはがし強さを測定する。
(3) 加熱時の測定
(a) 処理 試料の銅はくの一端を適切な長さにはがしてから,個別規格に規定の温度で,60±5分間処
理する。
(b) 測定 あらかじめ個別規格に規定された温度に保持された測定装置の支持金具に試料を取り付け,
更に規定温度で3分間以上保ち,そのままの状態で(1)と同様に引きはがし強さを測定する。試料を
支持金具に取り付けるときは,試料が規定温度に保てるように素早く行う。
5.8 曲げ強さ
5.8.1 装置 装置は,次による。
(1) 試験機 クロスヘッド移動速度を一定に保てる適切な材料試験機。この場合,その材料試験機の標準
荷重に対し許容誤差が±1%で,破断時の荷重が材料試験機の容量の1585%に相当するもの。
(2) 加熱保温装置 試料保持部分を一定温度に保持できる装置。
――――― [JIS C 6481 pdf 7] ―――――
8
C 6481-1996
(3) 恒温槽 5.5.1(1)による。
(4) クロスヘッド 図7に示すように,先端に5±0.1mmの丸みをもった金属製のもの。
(5) 支点 図7に示すように,先端に2±0.2mmの丸みをもち,支点間距離を適切に調節できる金属製の
もの。
(6) マイクロメータ JIS B 7502に規定する外側マイクロメータ又はこれと同等以上の精度をもつもの。
図7 曲げ強さの測定
5.8.2 試料 銅張積層板から原厚のまま図8に示す寸法に切り取り,切断面は十分滑らかな状態に仕上げ,
表面の銅はくを4.2の方法で除去したものを試料とする。
図8 曲げ強さ試料
5.8.3 試験 試験は,次による。
(1) 常態曲げ強さ
(a) 測定 試料の厚さ及び幅を外側マイクロメータを用いて,それぞれ0.01mmの単位まで測定する。
次に,支点間距離 (16h±0.5mm) で試料を支え,図7に示すようにその中央部に加圧具で力を加え,
試料が折れたときの力を1Nの精度で測定する。
なお,試料の折れた箇所が支点間距離Lvを3等分した中央部以外である場合は,この値を試験値
としないで再試験する。試料に力を加える速度は,毎分±0.2mmとする。
また,片面銅張積層板の場合は,銅はく除去面を上にして試験する。
(b) 算出 次の式によって,常態曲げ強さ N/mm2) を算出する。
fB 3PLv
2Wh2
ここに, P : 試料が折れたときの力 (N)
Lv : 支点間距離 (mm)
W : 試料の幅 (mm)
――――― [JIS C 6481 pdf 8] ―――――
9
C 6481-1996
h : 4.2の方法で銅はくを除去した後の試料の絶縁基板の厚さ (mm)
(2) 加熱時保持率
(2.1) 処理 試料の厚さ及び幅を(1)(a)と同様に測定後,個別規格に規定の温度及び時間で加熱する。
(2.2) 測定 処理を行った試料をあらかじめ個別規格に規定の温度に保温された試料保持部分に載せ,3
分間以上保ち,(1)(b)によって加熱時曲げ強さ N/mm2) を算出する。
(2.3) 算出 次の式によって加熱時保持率K (%) を算出する。
hfB
K 100
fB
ここに, 加熱時曲げ強さ (N/mm2)
常態曲げ強さ (N/mm2)
5.9 体積抵抗率
5.9.1 装置 装置は,次による。
(1) 電源は,500Vで,一定の直流電圧を保つことができる直流電源とする。
(2) 測定範囲が,5×106 坎 下の場合は,JIS C 1302に規定の絶縁抵抗計又はこれと同等以上の確度をもつ
もの。
(3) 測定範囲が106 坎 上1012 満の場合は,JIS C 1303に規定の絶縁抵抗計。
(4) IS B 7502に規定の外側マイクロメータ又はこれと同等以上の精度をもつもの。
(5) IS B 7507に規定の最小読取り長さ0.05mmのノギス又はこれと同等以上の精度をもつもの。
5.9.2 試料 銅張積層板から原厚のまま100mm角に切り,図9に示すような電極の形状又は全面を4.2
の方法で銅はくを除去したものを試料とする。
電極は銅はく又は導電性シルバーペイントで作製する。電極の形状,寸法は,図9に示すとおりとし,
上下電極の中心ができるだけ一致するように合わせる。ただし,下部電極は,図9(b)に示すもののほか,
裏面全体にわたる形状としても差し支えない。
なお,導電性シルバーペイントを電極として用いる場合は,塗布後,体積抵抗率10-2 攀 下のもの
とし,前処理を行う前に塗布しておく。
図9 電極の形状
――――― [JIS C 6481 pdf 9] ―――――
10
C 6481-1996
5.9.3 前処理 前処理は,5.1.3の規定による。
5.9.4 試験 試験は,次による。
(1) 常態での測定
(a) 測定 前処理後の絶縁基板の厚さを外側マイクロメータで0.01mmの単位まで測定し,上部電極の
輪状のすきまの内径をノギスで0.05mmの単位まで測定する。
試料の電極を図10のように回路に接続し,直流電圧500Vを印加し,1分間経過後の体積抵抗を
測定する。この場合,試験は,5.1.3の条件で行う。
(b) 算出 次の式によって体積抵抗率 攀 ‰侮
d
v Rv
t
ここに, d : 表面電極の内円の外径 (cm)
t : 絶縁基板の厚さ (cm)
Rv : 体積抵抗 ( 圀
円周率
図10 接続回路例
(2) 吸湿処理後の測定
(a) 処理 前処理後の試料について常態の場合と同様に寸法を測定した後,温度40±1℃,相対湿度90
った後取り出し,温度20±2℃に保ったJIS K 8540に
95%の恒温恒湿槽の中に入れ,9620
規定の (+) −酒石酸ナトリウム二水和物の飽和水溶液で湿度を調節したデシケータに入れ,冷却
する。
(b) 測定 測定は,処理後,1時間以内に取り出して,(1)(a)と同様に3分間以内に体積抵抗の測定を完
了する。
(c) 算出 (1)(b)による。
5.10 表面抵抗
5.10.1 装置 装置は,5.9.1による。
5.10.2 試料 試料は,5.9.2による。ただし,体積抵抗率試料とは別に作製することとし,両面の表面抵
抗の測定ができるように図9の電極を二組用意する。
――――― [JIS C 6481 pdf 10] ―――――
次のページ PDF 11
JIS C 6481:1996の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60249-1:1982(MOD)
JIS C 6481:1996の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.180 : プリント回路及びプリント配線板
JIS C 6481:1996の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0601:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―表面性状:輪郭曲線方式―用語,定義及び表面性状パラメータ
- JISB0651:2001
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―表面性状:輪郭曲線方式―触針式表面粗さ測定機の特性
- JISB1352:1988
- テーパピン
- JISB7502:2016
- マイクロメータ
- JISB7507:2016
- ノギス
- JISB7512:2018
- 鋼製巻尺
- JISB7513:1992
- 精密定盤
- JISB7514:1977
- 直定規
- JISB7516:2005
- 金属製直尺
- JISB7517:2018
- ハイトゲージ
- JISB7524:2008
- すきまゲージ
- JISB7526:1995
- 直角定規
- JISC1302:2018
- 絶縁抵抗計
- JISC1303:1972
- 高絶縁抵抗計
- JISC5603:1993
- プリント回路用語
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC6480:1994
- プリント配線板用銅張積層板通則
- JISK6900:1994
- プラスチック―用語
- JISK6911:1995
- 熱硬化性プラスチック一般試験方法
- JISK7100:1999
- プラスチック―状態調節及び試験のための標準雰囲気
- JISK7121:1987
- プラスチックの転移温度測定方法
- JISK8540:2016
- (+)-酒石酸ナトリウム二水和物(試薬)
- JISK8576:2019
- 水酸化ナトリウム(試薬)
- JISR6001:1998
- 研削といし用研磨材の粒度
- JISR6252:2006
- 研磨紙
- JISZ3282:2017
- はんだ―化学成分及び形状
- JISZ8103:2019
- 計測用語
- JISZ9110:2010
- 照明基準総則