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JIS 日本産業規格：K 化学 化学分析・環境分析｜単体・工業薬品｜石油・コークス・タール製品｜脂肪酸・油脂製品・バイオ・分離膜｜染料原料・中間物・染料・火薬｜顔料・塗料・書写材料｜ゴム｜皮革｜プラスチック｜写真材料・薬品・測定方法｜試薬｜一般
JIS K 0132:1997
走査電子顕微鏡試験方法通則
JIS K 0133:2007
高周波プラズマ質量分析通則
JIS K 0134:2002
近赤外分光分析通則
JIS K 0135:2003
分取液体クロマトグラフィー通則
JIS K 0136:2015
高速液体クロマトグラフィー質量分析通則
JIS K 0137:2010
ラマン分光分析通則
JIS K 0138:2018
定量核磁気共鳴分光法通則（ｑＮＭＲ通則）
JIS K 0141:2000
表面化学分析―データ転送フォーマット
JIS K 0142:2000
表面化学分析―情報フォーマット
JIS K 0143:2000
表面化学分析―二次イオン質量分析法―シリコン中に均一に添加されたボロンの原子濃度の定量方法
JIS K 0144:2018
表面化学分析―グロー放電発光分光分析方法通則
JIS K 0145:2002
表面化学分析―Ｘ線光電子分光装置―エネルギー軸目盛の校正
JIS K 0146:2002
表面化学分析―スパッター深さ方向分析―層構造系標準物質を用いた最適化法
JIS K 0148:2005
表面化学分析－全反射蛍光Ｘ線分析法（ＴＸＲＦ）によるシリコンウェーハ表面汚染元素の定量方法
JIS K 0150:2009
表面化学分析―亜鉛及び／又はアルミニウム基金属めっきのグロー放電発光分光分析方法
JIS K 0151:1983
赤外線ガス分析計
JIS K 0152:2014
表面化学分析―Ｘ線光電子分光法―強度目盛の繰返し性，再現性及び一定性
JIS K 0153:2015
表面化学分析―二次イオン質量分析法―スタティック二次イオン質量分析法における相対イオン強度目盛の繰返し性，再現性及び一定性の確認方法
JIS K 0154:2017
表面化学分析―分析試料の準備及び取付けに関する指針
JIS K 0155:2018
表面化学分析―二次イオン質量分析法―単一イオン計数飛行時間形質量分析器における強度軸の線形性
JIS K 0156:2018
表面化学分析―二次イオン質量分析法―デルタ多層標準物質を用いたシリコンの深さ校正方法
JIS K 0160:2009
表面化学分析―シリコンウェーハ表面からの金属の化学的回収方法及び全反射蛍光Ｘ線(ＴＸＲＦ)分析法による定量方法
JIS K 0161:2010
表面化学分析―オージェ電子分光法―装置性能を示す主要な項目の記載方法
JIS K 0162:2010
表面化学分析―Ｘ線光電子分光法―装置性能を示す主要な項目の記載方法
JIS K 0163:2010
表面化学分析―二次イオン質量分析法―イオン注入標準物質を用いた相対感度係数の決定方法
JIS K 0164:2010
表面化学分析―二次イオン質量分析法―シリコン内のボロンの深さ方向分布測定方法
JIS K 0165:2011
表面化学分析―汎用オージェ電子分光器による元素分析のためのエネルギー軸の校正方法
JIS K 0166:2011
表面化学分析―高エネルギー分解能をもつオージェ電子分光器による元素分析及び化学結合状態分析のためのエネルギー軸の校正方法
JIS K 0167:2011
表面化学分析―オージェ電子分光法及びＸ線光電子分光法―均質物質定量分析のための実験的に求められた相対感度係数の使用指針
JIS K 0168:2011
表面化学分析―スタティック二次イオン質量分析法の情報フォーマット