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JISC5402-8-3:2023の概要
JIS C 5402-8-3:2023の規格概要
閲覧 情報
電子機器用コネクタに適用する。個別(製品)規格に規定がある場合,類似の部品にも用いてよい。固定形コネクタのかん(嵌)合又はリリース機構の操作レバーの強さを評価するための標準の試験方法について規定。
JISC5402-8-3:2023 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C 5402-8-3:2023
- 規格名称
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第8-3部:静的な力試験(固定形コネクタ)―試験8c:操作レバーの強度
- 規格名称英語訳
- Connectors for electrical and electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 8-3:Static load tests (fixed connectors) -- Test 8c:Robustness of actuating lever
- 規格の状態
- 有効
- 公示の種類
- 改正
- 公示の種類に関する説明(改正)
- 主務大臣が当該JISを年月の経過に伴って改めることが必要と認めたとき、改正されます。
- 規格番号の西暦年(コロン(:)の後ろの年)は、改正された年になります。
- JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
- 制定年月日
- 2016年03月22日
- 最新改正日:確認日
- 2023年11月20日(改正)
- 主務大臣
- 経済産業
- JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。
- 改訂:履歴
- 2016-03-22 制定日, 2020-06-22 確認日, 2023-11-20 改正日
- JIS 閲覧情報
- C5402-8-3, JIS C 5402-8-3
- 引用JIS規格
- C5402-1, C5402-1-1
- 対応国際規格
- IEC 60512-8-3:2018(IDT)
- 同等性に関する説明 (IDT)
- IDT: identical(一致)
- 以下の場合、地域又は国家規格は国際規格と一致している。
- a) 地域又は国家規格が、技術的内容、構成及び文言において一致している。又は、
- b) 地域又は国家規格が、ISO/IEC GUIDE 21-1:2005の4.2節に規定した最小限の編集上の変更はあるが、技術的内容において一致している。「逆も同様の原理」があてはまる。
- 引用国際規格
- -
- 国際規格分類
ICS
- 31.220.01
- 正誤票・訂正票
- -
- JISハンドブック
- -
- ページ
- JIS C 5402-8-3:2023 PDF [8ページ]
JISC5402-8-3:2023 改訂 履歴 一覧
JISC5402-8-3:2023 関連規格と引用規格一覧
- JIS C 5402-1:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1部:一般
- JIS C 5402-1:2022
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1部:品目別通則
- JIS C 5402-1-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-1部:一般試験―試験1a:外観
- JIS C 5402-1-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-1部:一般試験―試験1a:外観
- JIS C 5402-1-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-2部:一般試験―試験1b:寸法及び質量
- JIS C 5402-1-3:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-3部:一般検査―試験1c:電気的接触長
- JIS C 5402-1-4:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-4部:一般検査―試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ)
- JIS C 5402-10-4:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第10-4部:インパクト試験(可動形部品),静的負荷試験(固定形部品),耐久試験及び過負荷試験―試験10d:電気的過負荷(コネクタ)
- JIS C 5402-11-1:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-1部:耐候性試験―試験11a:一連耐候性
- JIS C 5402-11-1:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-1部:耐候性試験―試験11a:一連耐候性
- JIS C 5402-11-1:2022
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-1部:耐候性試験―試験11a:一連耐候性
- JIS C 5402-11-1:2022
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-1部:耐候性試験―試験11a:一連耐候性
- JIS C 5402-11-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-2部:耐候性試験―試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス
- JIS C 5402-11-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-2部:耐候性試験―試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス
- JIS C 5402-11-3:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-3部:耐候性試験―試験11c:高温高湿(定常)
- JIS C 5402-11-3:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-3部:耐候性試験―試験11c:高温高湿(定常)
- JIS C 5402-11-4:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-4部:耐候性試験―試験11d:温度急変
- JIS C 5402-11-4:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-4部:耐候性試験―試験11d:温度急変
- JIS C 5402-11-5:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-5部:耐候性試験―試験11e:かびの成長
- JIS C 5402-11-5:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-5部:耐候性試験―試験11e:かびの成長
- JIS C 5402-11-6:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-6部:耐候性試験―試験11f:腐食,塩水噴霧
- JIS C 5402-11-6:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-6部:耐候性試験―試験11f:腐食,塩水噴霧
- JIS C 5402-11-7:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-7部:耐候性試験―試験11g:混合ガス流腐食
- JIS C 5402-11-7:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-7部:耐候性試験―試験11g:混合ガス流腐食
- JIS C 5402-11-8:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-8部:耐候性試験―試験11h:砂じん
- JIS C 5402-11-8:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-8部:耐候性試験―試験11h:砂じん
- JIS C 5402-11-9:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-9部:耐候性試験―試験11i:高温
- JIS C 5402-11-9:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-9部:耐候性試験―試験11i:高温
- JIS C 5402-12-1:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第12-1部:はんだ付け試験―試験12a:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだ槽法
- JIS C 5402-12-2:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第12-2部:はんだ付け試験―試験12b:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだこて法
- JIS C 5402-12-4:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第12-4部:はんだ付け試験―試験12d:はんだ耐熱性,はんだ槽法
- JIS C 5402-12-5:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第12-5部:はんだ付け試験―試験12e:はんだ耐熱性,はんだこて法
- JIS C 5402-12-6:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第12-6部:はんだ付け試験―試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止
- JIS C 5402-12-7:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第12-7部:はんだ付け試験―試験12g:はんだ付け性,平衡法
- JIS C 5402-13-1:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第13-1部:機械的動作試験―試験13a:結合力及び離脱力
- JIS C 5402-13-2:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第13-2部:機械的動作試験―試験13b:挿入力及び引抜力
- JIS C 5402-13-5:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第13-5部:機械的動作試験―試験13e:極性及びキーイング
- JIS C 5402-14-2:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第14-2部:封止(気密性)試験―試験14b:封止(気密性)―微小エアリーク
- JIS C 5402-14-4:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第14-4部:封止(気密性)試験―試験14d:浸せき―防水
- JIS C 5402-14-5:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第14-5部:封止(気密性)試験―試験14e:浸せき(減圧)
- JIS C 5402-14-6:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第14-6部:封止(気密性)試験―試験14f:インタフェーシャルシーリング
- JIS C 5402-14-7:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第14-7部:封止(気密性)試験―試験14g:噴射水
- JIS C 5402-15-1:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-1部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15a:インサート内のコンタクト保持
- JIS C 5402-15-2:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-2部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15b:ハウジング内のインサート保持(軸方向)
- JIS C 5402-15-3:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-3部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15c:ハウジング内のインサート保持(ねじれ方向)
- JIS C 5402-15-4:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-4部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15d:コンタクトの挿入,解放及び引抜力
- JIS C 5402-15-5:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-5部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15e:インサート内のコンタクト保持,ケーブルの回転(nutation)
- JIS C 5402-15-6:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-6部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15f:コネクタカップリング機構の効果
- JIS C 5402-15-8:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第15-8部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15h:コンタクト保持機構,工具の使用に対する耐久性
- JIS C 5402-16-1:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-1部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16a:プローブダメージ
- JIS C 5402-16-2:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-2部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16b:リストリクテッドエントリ
- JIS C 5402-16-3:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-3部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16c:コンタクト曲げ強度
- JIS C 5402-16-4:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-4部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16d:引張強度(圧着接続)
- JIS C 5402-16-5:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-5部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16e:ゲージ保持力(弾性コンタクト)
- JIS C 5402-16-6:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-6部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16f:ターミネーション強度
- JIS C 5402-16-7:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-7部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16g:圧着後のコンタクトの変形測定
- JIS C 5402-16-8:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-8部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16h:インシュレーショングリップの有効性(圧着接続)
- JIS C 5402-16-9:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-9部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16i:接地コンタクトスプリングの保持力
- JIS C 5402-17-1:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-1部:ケーブルクランプ試験―試験17a:ケーブルクランプ強度
- JIS C 5402-17-2:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-2部:ケーブルクランプ試験―試験17b:ケーブルクランプ強度(ケーブルの回転)
- JIS C 5402-17-3:2018
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-3部:ケーブルクランプ試験―試験17c:ケーブルクランプ強度(ケーブルの引張り)
- JIS C 5402-17-4:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第17-4部:ケーブルクランプ試験―試験17d:ケーブルクランプ強度(ケーブルのねじり)
- JIS C 5402-19-3:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第19-3部:耐化学薬品試験―試験19c:耐液性
- JIS C 5402-1-100:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-100部:一般―試験方法規格一覧
- JIS C 5402-1-100:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1-100部:一般―試験方法規格一覧
- JIS C 5402-11-10:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-10部:耐候性試験―試験11j:低温
- JIS C 5402-11-10:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-10部:耐候性試験―試験11j:低温
- JIS C 5402-11-11:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-11部:耐候性試験―試験11k:減圧
- JIS C 5402-11-11:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-11部:耐候性試験―試験11k:減圧
- JIS C 5402-11-12:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-12部:耐候性試験―試験11m:温湿度サイクル
- JIS C 5402-11-12:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-12部:耐候性試験―試験11m:温湿度サイクル
- JIS C 5402-11-13:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-13部:耐候性試験―試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続
- JIS C 5402-11-13:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-13部:耐候性試験―試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続
- JIS C 5402-11-14:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-14部:耐候性試験―試験11p:単一ガス流腐食
- JIS C 5402-11-14:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11-14部:耐候性試験―試験11p:単一ガス流腐食
- JIS C 5402-16-13:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-13部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16m:ラッピングの巻き戻し,無はんだラッピング接続
- JIS C 5402-16-20:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第16-20部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)
JISC5402-8-3:2023 対応 国際規格 一覧
- IEC 60512-8-3:2018