JIS C 8147-1:2017 ランプ制御装置―第１部：通則及び安全性要求事項 | ページ 4

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    接続に使用する独立形制御装置の接地端子の記号サイズは,文字を含めて全体で5 mm以上とする。
u) 最大動作電圧Uout(実効値)。最大動作電圧Uout(実効値)は,出力端子間及び該当の出力端子と接地
    との間の動作電圧に対し,表5に示す電圧ステップで記載する。
  最も大きい最大動作電圧Uout(実効値)を“出力動作電圧=···V”又は“U-OUT=···V”又は“Uout=···V”
として制御装置に表示しなければならない。
      注記7 JIS C 61558-1:2012で定義されるSELV回路を備えた端子に適用しない。
                                 表5−動作電圧及びUoutステップ
                           動作電圧     <50 V     <500 V     >500 V
                             Uout       1 V刻み    10 V刻み   50 V刻み
uA) 定格二次電圧。
uB) 定格二次短絡電流又は定格二次電流のいずれか大きい値。
uC)   aの記号の後に,定格最高周囲温度の宣言値。値は,5 ℃の倍数とする。

7.2 表示の耐久性及び判読性

  表示は耐久性があり,かつ,判読できなければならない。
  表示の適合性は,次の両方の検査又は試験を行い,その結果で,判定する。
a) 目視検査を行う。
b) 2枚の布の一方を水に浸し,残りの布を石油系溶剤に浸す。その浸したそれぞれの布で試料の表示を,
    15秒間ずつ軽くこする。
  試験後,表示は判読できなければならない。
    注記 使用する石油系溶剤は,芳香族成分が容積分率0.1 %以下,カウリブタノール価29,初期沸点
          約65 ℃,蒸発温度約69 ℃で,密度が約0.68 g/cm3のへキサン系溶剤が望ましい。

8 端子

  ねじ端子は,JIS C 8105-1の第14章(ねじ締め式端子)に適合しなければならない。
  ねじなし端子は,JIS C 8105-1の第15章(ねじなし端子及び電気接続)に適合しなければならない。

9 接地

9.1 保護接地

9.2 機能接地

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電部から二重絶縁又は強化絶縁で絶縁しなければならない。

9.3 プリント基板上の導体パターンで構成する保護接地用導体付きランプ制御装置

  器具内用,独立形又は器具一体形制御装置において,プリント基板上の導体パターンを内部保護接地と
して使用する場合には,次によって試験する。
a) 25 Aの交流電流を,接地用端子又はプリント基板上の導体パターンを経由した接地接点と,人の触れ
    るおそれのある各金属部品との間に,順に1分間通電する。
b) 試験後,制御装置を周囲温度まで冷やし,JIS C 8105-1の7.2.3の要求事項に適合しなければならない。

9.4 器具内用ランプ制御装置の接地

  照明器具の接地した金属にランプ制御装置を固定することで,器具内用ランプ制御装置の接地ができる。
JIS C 8105-1の7.2(保護接地)に従って判定しなければならない。ランプ制御装置に接地用端子がある場
合,その端子は,器具内用ランプ制御装置を接地するためだけに用いる。器具内用ランプ制御装置を介し
て,照明器具又は他の設備(機器)を接地してはならない。

9.5 独立形ランプ制御装置を経由した接地

9.5.1  他の設備への接地接続
  独立形ランプ制御装置は,施工時に,他の設備への接地接続を許容する接地端子を具備する場合がある。
貫通配線又は送り配線の導体は,断面積が1.5 mm2以上の銅又は等価の導電材料を使用する。照明器具の
保護接地する線は,JIS C 8105-1の5.3.1.1及び第7章(保護接地)による。送り配線及び貫通配線の断面
積は1.5 mm2以上必要である。適合性は検査及び測定によって判定する。
9.5.1A   独立形ランプ制御装置は,定格入力電圧及び定格二次電圧が150 V以下で,屋内の乾燥した場所
で使用するものを除き,安定器の外郭の表面又はその他の適切な場所に,接地用端子又は接地用の口出し
線を取り付ける。
9.5.1B   接地用端子は,呼び径が4 mm以上のねじ若しくはボルトナット又はラグ端子であって,直径が
2 mm以上の電線を確実に取り付けることができる,ねじ端子又は同等の導体を取り付けることができる
ものとする。定格二次電圧が600 Vを超え,かつ,定格二次短絡電流が1 Aを超えるものに取り付ける接
地用端子には,5 mm以上のねじ若しくはボルトナット又はラグ端子であって,直径が2.6 mm以上の電線
を確実に取り付けることができる,ねじ端子又は同等の導体を取り付けることができるものとする。
押し締めねじ形の接地用端子には,呼び径が3.5 mm以上のねじ若しくはボルトナット又はラグ端子でな
ければならない。ただし,器具内用,独立形(屋内使用に限る)には,速結端子を用いることができる。
9.5.1C   接地用口出し線については,口出し線の種類及び断面積を除き,JA.3に適合しなければならない。
また,口出し線の種類及び断面積は,次のいずれか又は同等以上とする。
a) 直径が1.6 mmの軟銅線又はこれと同等以上の強さ及び太さをもつ容易に腐食し難い金属線。
b) 断面積が1.25 mm2以上の単心コード又は単心キャブタイヤケーブル。
c) 断面積が0.75 mm2以上の2心コードであって,その2本の導体を両端でより合わせ,かつ,ろう付け
    又は圧着したもの。
d) 断面積が0.75 mm2以上の多心コード(より合わせコードを除く。)又は多心キャブタイヤケーブルの
    線心の1心。
9.5.2  独立形ランプ制御装置によって電力供給されたランプ収納部の接地
  独立形ランプ制御装置は,この制御装置によって電力が供給されるランプ収納部の接地を許容する接地
端子を具備する場合がある。このような場合,制御装置の接地端子の入出力間の接地経路は,次の試験に

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耐えなければならない。
  25 Aの交流電流を,接地用端子又は接地点(プリント基板上の導体パターンを保護接地として使用する
場合)と,人の触れるおそれのある各金属部品との間に,順に1分間通電する。
  試験の後,制御装置を周囲温度まで冷やし,12 Vを超えない無負荷電圧を備えた電源から,10 A以上の
電流を,接地用端子又は接地点(プリント基板上の導体パターンを保護接地として使用する場合)と,人
の触れるおそれのある各金属部品との間に,順に流す。
  接地用端子又は接地点と人の触れるおそれのある各金属部品との間の電圧降下を,測定する。その電流
及び電圧降下から求めた抵抗値は,0.5 Ω以下とする。
  7.1 t) に記載するように,ランプ収納部への接地端子が表示されなければならない。

10 充電部との偶発接触からの保護

10.1 電撃からの保護を照明器具の外郭に依存しないランプ制御装置は,通常の使用状態で設置したとき,
充電部(附属書A参照)との偶発接触に対して十分に保護しなければならない。
  照明器具の外郭に保護を依存する器具一体形ランプ制御装置は,その意図した用途に従って試験する。
  ラッカー又はエナメルは,この要求事項に対して適切な保護又は絶縁性をもつものとはみなさない。
  偶発接触に対する保護のための部品は,機械的強度が十分であり,通常の使用状態で緩みが生じてはな
らない。また,工具を用いないで取り外すことができてはならない。
  適合性は,目視及び手による試験によって,また,偶発接触に対する保護に関しては,接触を検出する
ために電気指示器を用いたJIS C 0920の付図1に示すテストフィンガによって,判定する。このテストフ
ィンガは,考えられる全ての位置に当てて,必要がある場合,10 Nの力を加える。
  接触の検出をするためにランプを用いる場合は,電圧は40 V以上にすることが望ましい。
10.2 合計静電容量が0.5 μFを超えるコンデンサを組み込んだランプ制御装置は,定格電圧の電源からラ
ンプ制御装置を遮断し,1分間以内にランプ制御装置の端子間の電圧が50 V以下となる構造にしなければ
ならない。
10.3 SELV制御装置の可触導電部は,少なくとも二重絶縁又は強化絶縁で充電部から電気的に分離しなけ
ればならない。出力回路ときょう(筐)体又は保護接地回路とは,接続してはならない。また,その構造
は,その他の導電部を通じて直接又は間接的にこれらの回路間に接続の可能性がないようにしなければな
らない。ただし,意図的に接続するものは除く(10.4参照)。
  SELV出力回路は,少なくとも基礎絶縁によって接地から電気的に分離しなければならない。
  “回路”という用語には,制御装置の内部変圧器(高周波など)の巻線も含む。
  特別低電圧(ELV)制御装置では,導電部は充電部とみなすので,絶縁しなければならない。
  適合性は,目視検査,該当する絶縁試験及び測定によって確認する。
  その他は,附属書Lによる。
10.4 SELV制御装置は,負荷時定格出力電圧が実効値25 V,又はリップルのない直流電圧60 Vを超えな
い場合,SELV回路には可触導電部があってもよい。また,電圧が実効値25 V又はリップルのない直流電
圧60 Vを超える場合は,接触電流は,次の値を超えてはならない。
− 交流の場合,0.7 mA(ピーク値)
− 直流の場合,2.0 mA
− 無負荷出力は,交流電圧ピーク値35 V又はリップルのない直流電圧60 Vを超えない。
    注記 上限値は,IEC 60364-4-41に基づいている。

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  適合性は,制御装置に定格電源電圧及び定格周波数を入力して,安定状態に達してから,出力電圧を測
定することによって確認する。制御装置の負荷時試験は,定格出力電圧で定格出力電流又は定格出力電力
を与える抵抗器を接続する。複数の電源電圧をもつ制御装置の要求事項は,定格電源電圧の各々に適用す
る。
  接触電流は,JIS C 8105-1の附属書G(接触電流及び保護導体電流の測定)による測定によって確認す
る。
  上記の値を超える定格出力電圧又は電流をもつSELV制御装置については,SELV回路の導電部の一つ
以上は,実効値500 Vの試験電圧に1分間耐えられる絶縁体で絶縁しなければならない。
  同じ定格値(抵抗又は容量)の二つ以上の個別部品で構成し,それぞれの定格が合計の動作電圧に対応
し,また,そのインピーダンスが制御装置の個別の寿命期間中で大きく変化しない場合,抵抗器又はY2
コンデンサで二重絶縁又は強化絶縁によって分離された可触導電部[例えば,充電部及びきょう(筐)体
又は一次及び二次回路など]をブリッジ(導電ブリッジ)してもよい。さらに,充電部から二重絶縁又は
強化絶縁によって分離された可触導電部は,単一のY1コンデンサでブリッジしてもよい。
  Y1又はY2コンデンサは,JIS C 5101-14の表2(クラスYのコンデンサの分類)及び表3(サンプリン
グ計画 安全性を要求する試験)に適合し,また,抵抗器を使用する場合,抵抗器は,JIS C 6065:2013の
14.1(抵抗器)の試験a)の要求事項に適合しなければならない。

11 耐湿性及び絶縁性

  ランプ制御装置は,次の試験を満足する耐湿性をもっていなければならない。次の試験を行った後,使
用上問題となる損傷があってはならない。ランプ制御装置は,相対湿度91 %95 %に保った加湿容器内に,
通常の使用で最も好ましくない位置に置く。試料を設置する全ての場所の温度は,20 ℃30 ℃の任意の
値tの1 ℃以内に保たなければならない。加湿容器に入れる前に,試料はtと(t+4)℃との間の温度に
保つ。試料は,48時間容器内に保管する。
    注記 多くの場合,試料は耐湿試験の前に,4時間以上tと(t+4)℃との間の温度の室内に保管する
          ことによって,tと(t+4)℃との間の規定温度になる。
            この容器内を規定した状態にするために,一般に,熱的に遮断した容器を用い,内部空気の
          一定循環を確実にする必要がある。
  充電部ときょう(筐)体との間の絶縁抵抗は,基礎絶縁の場合は2 MΩ以上,強化絶縁の場合は4 MΩ
以上とする。一次回路と二次回路との間の絶縁について,SELV制御装置では,他の値を用いる(附属書L
参照)。
  次の箇所では,十分絶縁していなければならない。
a) 充電部と,固定ねじ又は外部絶縁部と接触している金属はく(箔)を含む外部金属との間
b) 充電部と関連する制御端子との間
  一つ以上の出力端末と接地用端子との間で,内部接続部又は部品をもつランプ制御装置の場合,この接
続は試験中に外さなければならない。
  試験では,入出力端子は全て接合する。絶縁カバー又は覆いをもっている制御装置は,金属はく(箔)
で包まなければならない。

12 耐電圧

  ランプ制御装置は,十分な耐電圧をもたなければならない。

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  絶縁抵抗の測定の直後に,箇条11に規定する部品間に1分間の耐電圧試験を適用し,ランプ制御装置は,
それに耐えなければならない。
  試験電圧は,50 Hz又は60 Hzの実質的に正弦波で,表1に規定する値でなければならない。
  初めは規定する電圧の半分以下を印加し,それから,その電圧は急速に規定する値まで上げる。
                                      表1−耐電圧試験電圧
                             動作電圧 U                            試験電圧
                                                                      V
            SELVの電圧のための基礎絶縁                               500
            50 V以下                                                 500
            50 Vを超え1 000 V以下  基礎絶縁                       2U+1 000
                                   付加絶縁                       2U+1 000
                                   二重絶縁又は強化絶縁           4U+2 000
              強化絶縁及び二重絶縁の両方を用いる場合,強化絶縁に適用する試験電圧は,基礎絶
            縁又は付加絶縁に過剰ストレスを加えないよう,注意する必要がある。
              入出力間の絶縁にかかわらず制御装置を試験する場合,入力側は,供給電圧に一致す
            る試験電圧で試験する。また,出力側は,Uoutに一致する試験電圧で試験する。
  二重又は強化絶縁のために使用する固体絶縁又は薄板絶縁については,附属書Nを適用する。
  試験中に,フラッシオーバ又は絶縁破壊が発生してはならない。
  試験に用いる高圧変圧器は,出力電圧を適切な試験電圧に設定した後,出力端子を短絡したとき,その
出力電流が200 mA以上となるように,設計する。
  過電流リレーは,出力電流が100 mA未満の場合に,トリップしてはならない。
  印加する試験電圧の実効値は,±3 %以内とする。
  箇条11に規定する金属はく(箔)は,絶縁体の縁でフラッシオーバが起きないように,配置する。
  電圧降下なしのグロー放電は,無視する。

13 安定器巻線の熱耐久性試験

  安定器巻線は,十分な熱耐久性をもっていなければならない。
  適合性は,次の試験で判定する。
    注記1 SELVを備える制御装置に用いられる巻線は,JIS C 61558-1:2012の附属書Uを参照。
  この試験の目的は,安定器に表示した定格最高使用温度twの正当性を確認することである。この試験は,
他の試験をしていない新しい7台の安定器で実施する。これらは,これ以降の試験に用いてはならない。
  この試験は,照明器具に一体化し,照明器具から分離して試験できない安定器にも適用する。このため,
器具一体形安定器にもtw値を表示する。
  試験の前に,各安定器は通常に始動及び動作させ,ランプ電流は,通常の動作状態及び定格電圧で測定
する。熱耐久性試験の詳細を,次に規定する。温度条件は,製造業者が指定した目標試験期間に調整しな
ければならない。指定がない場合,試験期間は,30日間とする。
  試験は,適切な恒温槽の中で行う。
  安定器は,通常の使用時と同様に,電気的に機能しなければならない。試験対象でないコンデンサ,部
品又はその他補助部品を取り外し,恒温槽の外部で,回路に再度接続する。巻線の動作状態に影響しない
他の部品は,外してよい。
    注記2 コンデンサ,部品又は他の補助部品を取り外す必要がある場合,製造業者がこれらの部品を

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