JIS K 0081:2012 排ガス中のほう素分析方法

JIS K 0081:2012 規格概要

この規格 K0081は、石炭,廃棄物,バイオマスなどの燃焼によって,煙道,煙突,ダクトなどに排出されるガス(排ガス)に含まれる粒子状及びガス状ほう素を個別に採取分析し,合算することによって,排ガス中ほう素濃度を分析する方法について規定。

JISK0081 規格全文情報

規格番号
JIS K0081 
規格名称
排ガス中のほう素分析方法
規格名称英語訳
Method for determination of boron in flue gas
制定年月日
2012年8月20日
最新改正日
2017年10月20日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

国際規格分類

ICS

13.040.40, 71.040.40
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
環境測定 I-1 2021, 環境測定 I-2 2021, 環境測定 II 2021
改訂:履歴
2012-08-20 制定日, 2017-10-20 確認
ページ
JIS K 0081:2012 PDF [19]
                                                                                   K 0081 : 2012

pdf 目 次

ページ

  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 分析方法の原理・・・・[1]
  •  4 一般事項・・・・[2]
  •  5 粒子状ほう素の試料採取方法・・・・[2]
  •  5.1 一般・・・・[2]
  •  5.2 測定位置・・・・[2]
  •  5.3 測定点・・・・[2]
  •  5.4 試料採取装置・・・・[2]
  •  5.5 試料の採取操作・・・・[2]
  •  5.6 試料ガス採取量・・・・[2]
  •  6 ガス状ほう素の試料採取方法・・・・[3]
  •  6.1 一般・・・・[3]
  •  6.2 測定位置・・・・[3]
  •  6.3 測定点・・・・[3]
  •  6.4 試料採取装置・・・・[4]
  •  6.5 試料の採取・・・・[5]
  •  6.6 試料ガス採取量・・・・[6]
  •  7 試料溶液の調製・・・・[6]
  •  7.1 粒子状ほう素の試料溶液の調製・・・・[6]
  •  7.2 ガス状ほう素の試料溶液の調製・・・・[7]
  •  8 分析方法・・・・[8]
  •  8.1 ICP発光分光分析法・・・・[8]
  •  8.2 ICP質量分析法・・・・[9]
  •  9 排ガス中濃度の計算方法・・・・[11]
  •  10 分析結果の記録・・・・[11]
  •  10.1 分析値のまとめ方・・・・[11]
  •  10.2 記録項目・・・・[11]
  •  附属書A(参考)排ガス中のほう素測定の不確かさ評価結果・・・・[16]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS K 0081 pdf 1] ―――――

K 0081 : 2012

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人産業環境管理協会(JEMAI)から,
工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経
済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS K 0081 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                          JIS
K 0081 : 2012

排ガス中のほう素分析方法

Method for determination of boron in flue gas

1 適用範囲

  この規格は,石炭,廃棄物,バイオマスなどの燃焼によって,煙道,煙突,ダクトなどに排出されるガ
ス(以下,排ガスという。)に含まれる粒子状及びガス状ほう素を個別に採取分析し,合算することによっ
て,排ガス中ほう素濃度を分析する方法について規定する。粒子状ほう素とは,0.3 mの粒子に対して
99.5 %以上の捕集効率をもつフィルターに捕集される粒子状物質に含まれるほう素及びその化合物の総称
であり,ガス状ほう素とは,そのフィルターを通過するほう素及びその化合物の総称である。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS K 0050 化学分析方法通則
JIS K 0095 排ガス試料採取方法
JIS K 0116 発光分光分析通則
JIS K 0133 高周波プラズマ質量分析通則
JIS K 0557 用水・排水の試験に用いる水
JIS K 8150 塩化ナトリウム(試薬)
JIS K 8180 塩酸(試薬)
JIS K 8230 過酸化水素(試薬)
JIS K 8541 硝酸(試薬)
JIS K 8576 水酸化ナトリウム(試薬)
JIS K 8625 炭酸ナトリウム(試薬)
JIS K 8819 ふっ化水素酸(試薬)
JIS K 8863 ほう酸(試薬)
JIS K 9901 高純度試薬−硝酸
JIS P 3801 ろ紙(化学分析用)
JIS Z 8808 排ガス中のダスト濃度の測定方法

3 分析方法の原理

  排ガス中の粒子状ほう素は,ろ紙を用いた試料採取装置で捕集した後に誘導結合プラズマ発光分光分析
法(以下,ICP発光分光分析法という。)又は誘導結合プラズマ質量分析法(以下,ICP質量分析法という。)
を用いて定量する。排ガス中のガス状ほう素は,排ガスを吸収液に吸収した後に,ICP発光分光分析法又
はICP質量分析法を用いて定量する。粒子状及びガス状ほう素濃度を合計し,排ガス中のほう素濃度を求

――――― [JIS K 0081 pdf 3] ―――――

2
K 0081 : 2012
める。粒子状ほう素及びガス状ほう素のそれぞれの定量下限値は,試料ガス採取量を120 Lとして,ICP
発光分光分析法を用いた場合いずれも0.05 mg/m3とし,ICP質量分析法を用いた場合,いずれも0.001 mg/m3
とする。
注記 この規格に示すmg/m3は,標準状態(273.15 K,101.32 kPa)における質量濃度である。

4 一般事項

  一般事項は,次による。
a) 試料ガス採取方法に共通する一般事項は,JIS K 0095及びJIS Z 8808による。
b) 化学分析に共通する一般事項は,JIS K 0050による。
c) CP発光分光分析法に共通する一般事項は,JIS K 0116による。
d) CP質量分析法に共通する一般事項は,JIS K 0133による。
e) 試料溶液の調製及び分析に用いる水は,JIS K 0557の4.(種別及び質)に規定するA3のもの,又は
これと同等のものを用いる。ただし,シリカガラス製又は金属製の蒸留器を用いて調製したもの。

5 粒子状ほう素の試料採取方法

5.1 一般

  同一試料採取位置において,できるだけ時間間隔をあけずに,通常2回以上試料ガスを採取し,それぞ
れ分析する。

5.2 測定位置

  測定位置は,JIS Z 8808の4.1(測定位置)による。

5.3 測定点

  測定点は,JIS Z 8808の4.3(測定点)による。

5.4 試料採取装置

  JIS Z 8808の8.1(ダスト試料採取装置の種類)の(1)(普通形試料採取装置)に規定した普通形試料採
取装置又は(2)(平衡形試料採取装置)に規定した平衡形試料採取装置を用いる。ただし,ろ紙には,アル
ミナを含むろ紙はガス状ほう素を吸着するので使用せず,シリカ繊維のろ紙を用いる。試料採取装置は,
ダスト捕集器の位置によって1形と2形とに区別し,1形はダスト捕集器をダクト内に置き,2形はダスト
捕集器をダクト外に置く。

5.5 試料の採取操作

  試料の採取操作は,次による。
a) 試料採取の準備
1) 等速吸引のための吸引流量計算 普通形試料採取装置を用いる場合は,JIS Z 8808の9.3.1(等速吸
引のための吸引流量の計算)に規定する計算式によって求める。
2) ダスト捕集器の準備 ダスト捕集器の準備は,JIS Z 8808の9.3.2(ダスト捕集器の準備)による。
b) 試料の採取 JIS Z 8808の9.4(ダスト試料の採取)による。
c) 吸引ガス量の測定 JIS Z 8808の9.5(吸引ガス量の測定方法)による。

5.6 試料ガス採取量

  次の式によって,標準状態(273.15 K,101.32 kPa)における試料ガス採取量を,乾きガス量(VSD)又
は湿りガス量(VSW)として算出する。
a) 乾きガス量を求める場合

――――― [JIS K 0081 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
K 0081 : 2012
1) 湿式ガスメーターを用いた場合
273.15 Pa+Pm−Pv
VSD=V +22.41(a+b) (1)
273.15+t 101.32
2) 乾式ガスメーターを用いた場合
273.15 Pa+Pm
VSD=V +22.41(a+b) (2)
273.15+t 101.32
b) 湿りガス量を求める場合
1) 湿式ガスメーターを用いた場合
273.15 Pa+Pm−Pv
VSW=V +22.41(a+b+c) (3)
273.15+t 101.32
2) 乾式ガスメーターを用いた場合
273.15 Pa+Pm
VSW=V +22.41(a+b+c) (4)
273.15+t 101.32
ここに, VSD : 乾きガス量(L)
VSW : 湿りガス量(L)
V : ガスメーターで測定したガス量(L)
t : ガスメーターにおける温度(℃)
Pa : 大気圧(kPa)
Pm1) : ガスメーターにおけるゲージ圧(kPa)
Pv2) : t ℃における水の飽和蒸気圧(kPa)
a1) : 吸収液に捕集された分析対象成分ガス(mol)
b1) : 吸収液に捕集された分析対象成分ガス以外のガス(mol)
c1) : JIS Z 8808の6. (排ガス中の水分量の測定)によって求
めた水分の量(mol)
273.15 : 0 ℃に対応する絶対温度(K)
101.32 : 1気圧に対応する圧力(kPa)
22.41 : 標準状態における気体1 molの体積(L)
注1) 無視しても差し支えない場合が多い。
2) 表1参照。

6 ガス状ほう素の試料採取方法

6.1 一般

  同一試料採取位置において,できるだけ時間間隔をあけずに,通常2回以上試料ガスを採取し,それぞ
れ分析する。

6.2 測定位置

  測定位置は,5.2による。

6.3 測定点

  測定点は,5.3による。
なお,ガス状ほう素及び粒子状ほう素を別々に測定する場合,近接する測定点を用いる。煙道,煙突,
ダクトなどが小さく,近接する測定点を設けることができない場合,排ガス組成及び排ガス温度が安定し
ていることを確認した上で,同一の測定点にてガス状ほう素及び粒子状ほう素の各々の試料を続けて採取
する。

――――― [JIS K 0081 pdf 5] ―――――

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