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JISC5402-15-2:2024の概要
JIS C 5402-15-2:2024の規格概要
閲覧 情報
この規格は,コネクタハウジング内のコネクタインサートの保持機構が,コネクタインサートがコネクタハウジングから外れることなく,通常の使用中に加わる可能性のある軸方向の力,すなわち,結合相手への最大挿入力及び結合相手からの最大引抜力に耐える能力を評価するための試験方法について規定する。
JISC5402-15-2:2024 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C 5402-15-2:2024
- 規格名称
- 電気・電子機器用コネクタ－試験及び測定－第１５ー２部：コネクタ試験（機械的試験）－試験１５ｂ：ハウジング内のインサート保持（軸方向）
- 規格名称英語訳
- Connectors for electrical and electronic equipment-Tests and measurements-Part 15-2:Connector tests (mechanical)-Test 15b:Insert retention in housing (axial)
- 規格の状態
- 有効
- 公示の種類
- 改正
- 公示の種類に関する説明（改正）
- 主務大臣が当該JISを年月の経過に伴って改めることが必要と認めたとき、改正されます。
- 規格番号の西暦年（コロン(：)の後ろの年）は、改正された年になります。
- JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
- 制定年月日
- 2014年02月20日
- 最新改正日：確認日
- 2024年08月20日（改正）
- 主務大臣
- 経済産業
- JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。
- 改訂:履歴
- 2014-02-20 制定日, 2018-10-22 確認日, 2023-06-20 確認日, 2024-08-20 改正日
- JIS 閲覧情報
- C5402-15-2, JIS C 5402-15-2
- 引用JIS規格
- C5402-1, C5402-1-1
- 対応国際規格
- IEC 60512-15-2:2018(IDT)
- 同等性に関する説明 (IDT)
- IDT: identical（一致）
- 以下の場合、地域又は国家規格は国際規格と一致している。
- a) 地域又は国家規格が、技術的内容、構成及び文言において一致している。又は、
- b) 地域又は国家規格が、ISO/IEC GUIDE 21-1:2005の4.2節に規定した最小限の編集上の変更はあるが、技術的内容において一致している。「逆も同様の原理」があてはまる。
- 引用国際規格
- IEC 60050-581
- 国際規格分類
ICS
- 31.220.10
- 正誤票・訂正票
- -
- JISハンドブック
- -
- ページ
- JIS C 5402-15-2:2024 PDF [8ページ]
JISC5402-15-2:2024 改訂 履歴 一覧
JISC5402-15-2:2024 関連規格と引用規格一覧
- JIS C 5402-1:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１部：一般
- JIS C 5402-1:2022
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１部：品目別通則
- JIS C 5402-1-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－１部：一般試験―試験１ａ：外観
- JIS C 5402-1-1:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－１部：一般試験―試験１ａ：外観
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- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－２部：一般試験―試験１ｂ：寸法及び質量
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- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－３部：一般検査―試験１ｃ：電気的接触長
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- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－４部：一般検査―試験１ｄ：コンタクトの保護効果（スクーププルーフ）
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- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１部：耐候性試験―試験１１ａ：一連耐候性
- JIS C 5402-11-1:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１部：耐候性試験―試験１１ａ：一連耐候性
- JIS C 5402-11-1:2022
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１部：耐候性試験―試験１１ａ：一連耐候性
- JIS C 5402-11-1:2022
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１部：耐候性試験―試験１１ａ：一連耐候性
- JIS C 5402-11-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－２部：耐候性試験―試験１１ｂ：低温・減圧・湿度複合シーケンス
- JIS C 5402-11-2:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－２部：耐候性試験―試験１１ｂ：低温・減圧・湿度複合シーケンス
- JIS C 5402-11-3:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－３部：耐候性試験―試験１１ｃ：高温高湿（定常）
- JIS C 5402-11-3:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－３部：耐候性試験―試験１１ｃ：高温高湿（定常）
- JIS C 5402-11-4:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－４部：耐候性試験―試験１１ｄ：温度急変
- JIS C 5402-11-4:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－４部：耐候性試験―試験１１ｄ：温度急変
- JIS C 5402-11-5:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－５部：耐候性試験―試験１１ｅ：かびの成長
- JIS C 5402-11-5:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－５部：耐候性試験―試験１１ｅ：かびの成長
- JIS C 5402-11-6:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－６部：耐候性試験―試験１１ｆ：腐食，塩水噴霧
- JIS C 5402-11-6:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－６部：耐候性試験―試験１１ｆ：腐食，塩水噴霧
- JIS C 5402-11-7:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－７部：耐候性試験―試験１１ｇ：混合ガス流腐食
- JIS C 5402-11-7:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－７部：耐候性試験―試験１１ｇ：混合ガス流腐食
- JIS C 5402-11-8:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－８部：耐候性試験―試験１１ｈ：砂じん
- JIS C 5402-11-8:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－８部：耐候性試験―試験１１ｈ：砂じん
- JIS C 5402-11-9:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－９部：耐候性試験―試験１１ｉ：高温
- JIS C 5402-11-9:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－９部：耐候性試験―試験１１ｉ：高温
- JIS C 5402-12-1:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１２－１部：はんだ付け試験―試験１２ａ：はんだ付け性，ぬれ（ウェッティング），はんだ槽法
- JIS C 5402-12-2:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１２－２部：はんだ付け試験―試験１２ｂ：はんだ付け性，ぬれ（ウェッティング），はんだこて法
- JIS C 5402-12-4:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１２－４部：はんだ付け試験―試験１２ｄ：はんだ耐熱性，はんだ槽法
- JIS C 5402-12-5:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１２－５部：はんだ付け試験―試験１２ｅ：はんだ耐熱性，はんだこて法
- JIS C 5402-12-6:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１２－６部：はんだ付け試験―試験１２ｆ：自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止
- JIS C 5402-12-7:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１２－７部：はんだ付け試験―試験１２ｇ：はんだ付け性，平衡法
- JIS C 5402-13-1:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１３－１部：機械的動作試験―試験１３ａ：結合力及び離脱力
- JIS C 5402-13-2:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１３－２部：機械的動作試験―試験１３ｂ：挿入力及び引抜力
- JIS C 5402-13-5:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１３－５部：機械的動作試験―試験１３ｅ：極性及びキーイング
- JIS C 5402-14-2:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１４－２部：封止（気密性）試験―試験１４ｂ：封止（気密性）―微小エアリーク
- JIS C 5402-14-4:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１４－４部：封止（気密性）試験―試験１４ｄ：浸せき―防水
- JIS C 5402-14-5:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１４－５部：封止（気密性）試験―試験１４ｅ：浸せき（減圧）
- JIS C 5402-14-6:2016
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１４－６部：封止（気密性）試験―試験１４ｆ：インタフェーシャルシーリング
- JIS C 5402-14-7:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１４－７部：封止（気密性）試験―試験１４ｇ：噴射水
- JIS C 5402-15-1:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－１部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ａ：インサート内のコンタクト保持
- JIS C 5402-15-2:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－２部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ｂ：ハウジング内のインサート保持（軸方向）
- JIS C 5402-15-2:2024
- 電気・電子機器用コネクタ－試験及び測定－第15-2 部：コネクタ試験（機械的試験）－試験15b：ハウジング内のインサート保持（軸方向）
- JIS C 5402-15-3:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－３部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ｃ：ハウジング内のインサート保持（ねじれ方向）
- JIS C 5402-15-4:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－４部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ｄ：コンタクトの挿入，解放及び引抜力
- JIS C 5402-15-5:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－５部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ｅ：インサート内のコンタクト保持，ケーブルの回転（ｎｕｔａｔｉｏｎ）
- JIS C 5402-15-6:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－６部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ｆ：コネクタカップリング機構の効果
- JIS C 5402-15-8:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－８部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ｈ：コンタクト保持機構，工具の使用に対する耐久性
- JIS C 5402-16-1:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－１部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ａ：プローブダメージ
- JIS C 5402-16-2:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－２部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｂ：リストリクテッドエントリ
- JIS C 5402-16-3:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－３部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｃ：コンタクト曲げ強度
- JIS C 5402-16-4:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－４部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｄ：引張強度（圧着接続）
- JIS C 5402-16-5:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－５部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｅ：ゲージ保持力（弾性コンタクト）
- JIS C 5402-16-6:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－６部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｆ：ターミネーション強度
- JIS C 5402-16-7:2012
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－７部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｇ：圧着後のコンタクトの変形測定
- JIS C 5402-16-8:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－８部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｈ：インシュレーショングリップの有効性（圧着接続）
- JIS C 5402-16-9:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－９部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｉ：接地コンタクトスプリングの保持力
- JIS C 5402-17-1:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１７－１部：ケーブルクランプ試験―試験１７ａ：ケーブルクランプ強度
- JIS C 5402-17-2:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１７－２部：ケーブルクランプ試験―試験１７ｂ：ケーブルクランプ強度（ケーブルの回転）
- JIS C 5402-17-3:2018
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１７－３部：ケーブルクランプ試験―試験１７ｃ：ケーブルクランプ強度（ケーブルの引張り）
- JIS C 5402-17-4:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１７－４部：ケーブルクランプ試験―試験１７ｄ：ケーブルクランプ強度（ケーブルのねじり）
- JIS C 5402-19-3:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１９－３部：耐化学薬品試験―試験１９ｃ：耐液性
- JIS C 5402-1-100:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－１００部：一般―試験方法規格一覧
- JIS C 5402-1-100:2014
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１－１００部：一般―試験方法規格一覧
- JIS C 5402-11-10:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１０部：耐候性試験―試験１１ｊ：低温
- JIS C 5402-11-10:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１０部：耐候性試験―試験１１ｊ：低温
- JIS C 5402-11-11:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１１部：耐候性試験―試験１１ｋ：減圧
- JIS C 5402-11-11:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１１部：耐候性試験―試験１１ｋ：減圧
- JIS C 5402-11-12:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１２部：耐候性試験―試験１１ｍ：温湿度サイクル
- JIS C 5402-11-12:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１２部：耐候性試験―試験１１ｍ：温湿度サイクル
- JIS C 5402-11-13:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１３部：耐候性試験―試験１１ｎ：ガスタイト・無はんだラッピング接続
- JIS C 5402-11-13:2005
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１３部：耐候性試験―試験１１ｎ：ガスタイト・無はんだラッピング接続
- JIS C 5402-11-14:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１４部：耐候性試験―試験１１ｐ：単一ガス流腐食
- JIS C 5402-11-14:2006
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１１－１４部：耐候性試験―試験１１ｐ：単一ガス流腐食
- JIS C 5402-16-13:2015
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－１３部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｍ：ラッピングの巻き戻し，無はんだラッピング接続
- JIS C 5402-16-20:2002
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－２０部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｔ：機械的強度（無はんだ接続のターミネーション）
JISC5402-15-2:2024 対応 国際規格 一覧
- IEC 60512-15-2:2018
JISC5402-15-2:2024 引用 国際規格 一覧
- IEC 60050-581