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C 62790 : 2020
表12−試験グループE 試験シーケンスI(この順序で試験を実施する)
1 2 3 4 5 6
試験 細分箇条番
試験名 試験体 試験内容 要求事項
フェーズ 号
5.2.5及び表4のグル
端子部及び接続 接触抵抗測定
ープEに規定する完 接触抵抗は5 m以下とす
E1 方法の試験(初 5.3.19 試験電流 : 1 A
全に組み立てた試験 る
期測定) 測定点 : 図6参照
体
湿潤漏れ電流試 絶縁抵抗は400 M以上と
E2 5.3.16 E1試験後の試験体 絶縁抵抗測定
験(初期測定) する
温度サイクル試験
試験サイクル数 :
温度サイクル試 安全性又は機能を損なう
E3 5.3.9 E2試験後の試験体 200
験 視認可能な損傷がない
試験電流 : 定格電流
加える力 : 5 N
実効値耐電圧試験
フラッシュオーバーがな
試験電圧 : 2 000 V
E4 絶縁耐力 5.3.6 b) E3試験後の試験体 い
+
絶縁破壊がない
(定格電圧の4倍)
フラッシュオーバーがな
インパルス耐電圧
E5 絶縁耐力 5.3.6 a) E4試験後の試験体 い,又は
試験
絶縁破壊がない
端子部及び接続 接触抵抗測定
接触抵抗は基準抵抗値の
E6 方法の試験(最 5.3.19 E5試験後の試験体 試験電流 : 直流1 A
150 %以下とする
終測定) 測定点 : 図6参照
湿潤漏れ電流試 絶縁抵抗は400 M以上と
E7 5.3.16 E6試験後の試験体 絶縁抵抗測定
験(最終測定) する
表13−試験グループF 試験シーケンスII(この順序で試験を実施する)
1 2 3 4 5 6
試験 細分箇条番
試験名 試験体 試験内容 要求事項
フェーズ 号
5.2.5に規定する試験
湿潤漏れ電流試 絶縁抵抗は400 M以上と
F1 5.3.16 体で,セル接続部を 絶縁抵抗測定
験(初期測定) する
短絡状態としたもの
安全性又は機能を損なう
F2 高温高湿試験 5.3.10 F1試験後の試験体 劣化試験
視認可能な損傷がない
5 Nの加圧による,安全性
F3 耐せん断試験 5.3.10 F2試験後の試験体 目視試験 又は機能を損なうずれが
生じない
F4 取付面の保持 5.3.22 F3試験後の試験体 機械的試験 緩み又はずれがない
実効値耐電圧試験
フラッシュオーバーがな
印加電圧 : 2 000 V
F5 絶縁耐力 5.3.6 b) F4試験後の試験体 い,又は
+
絶縁破壊がない
(定格電圧の4倍)
湿潤漏れ電流試 絶縁抵抗は400 M以上と
F6 5.3.16 F5試験後の試験体 絶縁抵抗測定
験(最終測定) する
――――― [JIS C 62790 pdf 36] ―――――
35
C 62790 : 2020
表14−試験グループG 試験シーケンスIII(この順序で試験を実施する)
1 2 3 4 5 6
試験 細分箇条番
試験名 試験体 試験内容 要求事項
フェーズ 号
温度サイクル試験
5.2.5及び表4グルー試験サイクル数 : 50
温度サイクル試 安全性又は機能を損なう
G1 5.3.9 プGに規定する試験 試験電流 : 製品の定
験 視認可能な損傷がない
体 格電流
試験印加荷重 : 5 N
安全性又は機能を損なう
G2 結露凍結試験 5.3.17 G1試験後の試験体 結露凍結試験
視認可能な損傷がない
実効値耐電圧試験
フラッシュオーバーがな
試験電圧 : 2 000 V
G3 絶縁耐力 5.3.6 b) G2試験後の試験体 い,又は
+
絶縁破壊がない
(定格電圧の4倍)
G4 取付面上の保持 5.3.22 G3試験後の試験体 機械的試験 緩み又はずれがない
湿潤漏れ電流試 絶縁抵抗は400 M以上と
G5 5.3.16 G4試験後の試験体 絶縁抵抗測定
験 する
表15−試験グループH 試験シーケンスIV(この順序で試験を実施する)
1 2 3 4 5 6
試験 細分箇条番
試験名 試験体 試験内容 要求事項
フェーズ 号
5.3.18.3で得られた温度
5.2.5及び表4グルー が,ダイオードの最大接合
バイパスダイ バイパスダイ
H1 5.3.18 プH1に規定する試 部温度を超えない
オード温度試験 オード温度試験
験体 5.3.18.4で規定する事象が
視認されない
湿潤漏れ電流試 絶縁抵抗は400 M以上と
H2 5.3.16 H1試験後の試験体 絶縁抵抗測定
験 する
表16−試験グループI 逆電流試験
1 2 3 4 5 6
試験 細分箇条番
試験名 試験体 試験内容 要求事項
フェーズ 号
端子箱が焦げ又は燃焼が
端子箱における 5.2.6及び表4試験I1 端子箱における 生じない,及び
I1 5.3.23
逆電流試験 に規定する試験体 逆電流試験 外表面の最高温度が
150 ℃を超えない
――――― [JIS C 62790 pdf 37] ―――――
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C 62790 : 2020
表17−試験グループJ 試験シーケンスV(この順序で試験を実施する)
1 2 3 4 5 6
試験 細分箇条番
試験名 試験体 試験内容 要求事項
フェーズ 号
IP試験
水の浸入に対する
5.2.5に規定する試験
IP等級がIPX7以上 JIS C 0920に規定する
J1 IP試験 5.3.4.2 体で,セルを短絡状
である場合は,IPX5 IP55以上とする
態で取り付けたもの
の追加試験を行わ
なければならない
実効値耐電圧試験
フラッシュオーバーがな
印可電圧 : 2 000 V
J2 絶縁耐力 5.3.6 b) J1試験後の試験体 い,又は
+
絶縁破壊がない
(定格電圧の4倍)
――――― [JIS C 62790 pdf 38] ―――――
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C 62790 : 2020
附属書A
(参考)
図記号“通電中にコネクタを抜かないでください”
図A.1及び図A.2に示す図記号を,通電中にPVコネクタを取り外してはならない旨を示すために使用
してもよい。
図A.1−図記号“通電中にコネクタを抜かないでください”
図A.2−図記号“通電中にコネクタを抜かないでください”(IEC 60417-6070)
――――― [JIS C 62790 pdf 39] ―――――
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C 62790 : 2020
附属書B
(規定)
汚損保護用絶縁保護コーティングの適格性確認
B.1 一般要件
この附属書は,汚損度を軽減するために使用される絶縁保護コーティングに対する要求事項を対象とす
る。
絶縁保護コーティングは,B.2及びB.3に適合しなければならない。
注記 B.2は,絶縁保護コーティングがコーティングの目的に対して適切に評価されていることを保
証する要件である。B.3は,コーティングが環境及び物理的なストレスの後でも表面に接着し
続けることを保証する要件である。
適合性は,B.2及びB.3の規定によって確認する。
B.2 技術的特性
絶縁保護コーティングの技術的な特性は,意図する用途に対して適切でなければならない。特に次によ
る。
a) 定格動作温度範囲の中に意図する用途の温度範囲が入っていなければならない。
b) 比較トラッキング指数(CTI),絶縁抵抗及び絶縁耐力は,意図する用途に対して適切でなければなら
ない。
c) コーティングの燃焼性は,5.3.14 b) に適合しなければならない。
適合性は,製造業者データの検査によって確認し,疑わしい場合はグローワイヤ試験によって確認する。
B.3 コーティングの適格性確認
コーティングは,表B.1の試験後,図B.1の適合要件を満たさなければならない。
適合性は,六つの試験体について表B.1及び図B.1の規定に従って確認する。
――――― [JIS C 62790 pdf 40] ―――――
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JIS C 62790:2020の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62790:2014(MOD)
- IEC 62790:2014/AMENDMENT 1:2019[FDIS](MOD)
JIS C 62790:2020の国際規格 ICS 分類一覧
- 29 : 電気工学 > 29.220 : 電池及び蓄電池 > 29.220.99 : その他の電池及び蓄電池
- 27 : エネルギー及び熱伝達工学 > 27.160 : 太陽エネルギー工学
JIS C 62790:2020の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0920:2003
- 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
- JISC0922:2002
- 電気機械器具の外郭による人体及び内部機器の保護―検査プローブ
- JISC2134:2007
- 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
- JISC2134:2021
- 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
- JISC2143-1:2015
- 電気絶縁材料―熱的耐久性―第1部:劣化処理手順及び試験結果の評価
- JISC2143-5:2013
- 電気絶縁材料―熱的耐久性―第5部:相対熱的耐久性指数(RTE)の求め方
- JISC2809:2014
- 平形接続子
- JISC2814-2-3:2009
- 家庭用及びこれに類する用途の低電圧用接続器具―第2-3部:絶縁貫通形締付式接続器具の個別要求事項
- JISC3664:2007
- 絶縁ケーブルの導体
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC60068-2-14:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-14部:温度変化試験方法(試験記号:N)
- JISC60068-2-70:2007
- 環境試験方法―電気・電子―第2-70部:指及び手の擦れによる印字の摩滅試験
- JISC60068-2-75:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第2-75部:ハンマ試験(試験記号:Eh)
- JISC60068-2-78:2015
- 環境試験方法―電気・電子―第2-78部:高温高湿(定常)試験方法(試験記号:Cab)
- JISC60695-10-2:2018
- 耐火性試験―電気・電子―第10-2部:異常発生熱―ボールプレッシャー試験方法
- JISC60695-11-10:2015
- 耐火性試験―電気・電子―第11-10部:試験炎―50W試験炎による水平及び垂直燃焼試験方法
- JISC60695-11-20:2018
- 耐火性試験―電気・電子―第11-20部:試験炎―500W試験炎による燃焼試験方法
- JISC60695-2-11:2016
- 耐火性試験―電気・電子―第2-11部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―最終製品に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWEPT)
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- プリント配線板実装―第1部:通則―表面実装及び関連する実装技術を用いた電気機器・電子機器用はんだ付け実装要求事項
- JISC61191-1:2021
- プリント配線板実装―第1部:通則―表面実装及び関連する実装技術を用いた電気機器・電子機器用はんだ付け実装要求事項
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- JISC61215-2:2020
- 地上設置の太陽電池(PV)モジュール―設計適格性確認及び型式認証―第2部:試験方法
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- JISC61730-2:2020
- 太陽電池(PV)モジュールの安全適格性確認―第2部:試験に関する要求事項
- JISC8201-7-1:2016
- 低圧開閉装置及び制御装置―第7部:補助装置―第1節:銅導体用端子台
- JISC8960:2012
- 太陽光発電用語
- JISK7350-3:2008
- プラスチック―実験室光源による暴露試験方法―第3部:紫外線蛍光ランプ