JIS C 9250:1992 電子レンジ | ページ 4

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C 9250-1992
8.2.1  構造試験 構造試験は,6.,7.及び11.に適合しているかどうかを調べる。
8.2.2  電圧変動特性試験 電圧変動特性試験は,高周波加熱の場合は8.1.1,電熱装置を内蔵したものの電
熱加熱時及び蒸気発生装置を内蔵したものの蒸気加熱時の場合は,8.1.2の条件で,電源電圧を定格電圧の
上下10%変化させたとき支障なく動作するかどうかを調べる。
8.2.3  消費電力試験 消費電力試験は,次によって行う。
(1) 高周波加熱時の場合は,8.1.1の条件で2分間動作1分間休止する操作を繰り返し,消費電力がほぼ一
    定となったときにその値を測定する。
      なお,短時間高出力機能をもつもので,各部の温度がほぼ一定になったときにその機能が動作しな
    くなるものは,機能の復活に要する最低の休止時間を経過した後に,高出力機能の動作状態での消費
    電力を測定する。
(2) 電熱装置を内蔵するものの電熱加熱時及び電熱装置並びに蒸気発生装置を内蔵するものの蒸気加熱時
    の場合は,8.1.2の条件で負荷を入れない状態(受皿があるものは,受皿を最下段に置く。)で,自動
    温度調節器をもつものはその動作温度を最高にセットし,その他のものは,加熱室の中央部の雰囲気
    の温度と周辺温度との差を240±10℃に保つように断続して通電(加熱室の中央部の雰囲気の温度と
    周囲温度との差が240℃に達しないものは連続通電する。)し,各部の温度を熱電温度計法によって測
    定し,ほぼ一定となったときに消費電力を測定する。
(3) 高周波加熱と電熱加熱又は蒸気加熱を同時に行えるものは,8.1.1の条件で,(1)及び(2)に最も近い動
    作状態となる同時加熱のモードでの運転を行い,各部の温度がほぼ一定となったときに消費電力を測
    定する。
8.2.4  高周波出力試験 高周波出力試験は,次のいずれか又は両方の方法によって行う。
(1) 第1法 20±5℃の周囲温度において,器体の各部を周囲温度に等しく保った状態で行う。試験の直前
    に(室温−10)±1℃の水1 000±5gを,あらかじめ室温に保った直径約190mm,厚さ約3mmのガラ
    ス容器に移し替えて,水温が10±1℃上昇するまで高周波加熱した後,容器の水をかきまぜてから水
    温を測定し,初期水温との差から温度上昇を求める。器体が再び室温に等しくなるまで放置した後,
    同様の操作を再度繰り返して行い,それぞれの温度上昇から平均温度上昇値 (         ‰         次の式か
    ら高周波出力を算出する。
      なお,短時間高出力機能をもつものの,高周波出力を測定する場合において,この機能の動作時間
    内における水温の上昇が10±1℃の範囲に達しないものは,その最大動作時間の運転によって測定す
    るものとし,この場合の初期水温は,加熱後の水温が室温にほぼ等しくなるように調整した温度を用
    いるものとする。
                            4     T
                         P
                                t
                      ここに,    P :  高周波出力 (W)
                                   t :  加熱時間(秒)ただし,加熱時間には発振管への電源投入
                                       から発振立上りまでに要する余熱時間は含めない。
                                           平均温度上昇値 (℃)
(2) 第2法 8.1.1の条件で2分間動作,1分間休止する操作を繰り返し,各部の温度を熱電温度計によっ
    て測定し,ほぼ一定となったときに周囲温度を20±2℃とする。次に受皿を周囲温度にほぼ等しいも
    のと取り替え,容器を10±2℃の水温[あらかじめ容器の水を十分かきまぜて各容器の水温を測定し
    ておく(このときの水温を初期水温とする。)。]の水が入ったものと取り換える。この状態から水温が

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    約10℃上昇するまで高周波加熱した後,各容器の水をかきまぜてから水温を測定し,初期水温との差
    から温度上昇を求める。同様の操作を5回行い,各回ごとに各容器の温度上昇の平均値を算出し,更
    にこの5個の平均値を平均して平均温度上昇値 (          ‰         次の式から高周波出力を算出する。
      なお,短時間高出力機能をもつものの高周波出力を測定する場合において,各部の温度がほぼ一定
    になったときに,その機能が動作しなくなるものは,機能の復活に要する休止時間を挟んで測定を行
    う。
      また,この機能の動作時間内における水温の上昇が約10℃に満たないものは,最大の動作時間の運
    転において測定するものとする。
                            8 400 T
                         P
                                t
                      ここに,    P :  高周波出力 (W)
                                   t :  加熱時間(秒)ただし,加熱時間には発振管への電源投入
                                       から発振立上りまでに要する余熱時間は含めない。
                                           平均温度上昇値 (℃)
8.2.5  絶縁抵抗試験 絶縁抵抗試験は,JIS C 1302に規定された直流500ボルト絶縁抵抗計又はこれと同
等以上の性能をもつ直流500ボルト絶縁抵抗計を使用して,充電部と器体の表面との間の絶縁抵抗を測定
する。ただし,発熱体がシーズ式ヒータのものは,充電部と器体の表面との間に500Vの直流電圧を1分
間以上加えてから測定する。
8.2.6. 耐電圧試験 耐電圧試験は,次によって行う。
(1) 表9に示す絶縁の種類ごとに,それぞれ同表の右欄に示す値の試験電圧を加えたとき,各部が連続し
    て1分間これに耐えるかどうかを調べる。
      なお,基礎絶縁及び付加絶縁において,試験電圧をそれぞれの絶縁の種類ごとに加えることが困難
    な場合は,これらの絶縁を一括して同時に試験電圧を加えることができる。この場合の試験電圧は,
    強化絶縁と同等の試験電圧とする。
                                      表9 耐電圧試験電圧
                                                             単位 V
                            絶縁の種類       試験電圧(交流)
                                      定格電圧が     定格電圧が
                                      150以下のもの  150を超えるもの
                             基礎絶縁      1 000          1 500
                             付加絶縁      1 500          2 500
                             強化絶縁      2 500          4 000
(2) 変圧器(単巻変圧器を除く。)をもつものは,(1)の試験のほか,変圧器の二次の電圧で充電される部
    分と器体の表面との間及び変圧器の巻線の相互間に表10の試験電圧(交流)を連続して1分間加え,
    これに耐えるかどうかを調べる。試験は,変圧器単体で行ってもよい。
      なお,巻線相互間の試験を行う場合の表10の電圧の区分は,一次側又は二次側のいずれか高い電圧
    とし,絶縁変圧器の二次側でその電圧が1 000Vを超え,かつ,段絶縁などの特殊絶縁方式を用いたも
    のは,次のいずれかの方法によって行う。
  (a) 一次側に50Hz又は60Hzの定格一次電圧の1.5倍の電圧を1分間加える。
  (b) 二次側に表10の試験電圧となるように一次側に商用周波数以上の周波数の電圧を1分間加える。
(3) 多量生産の場合は,(1)及び(2)の試験電圧の120%の電圧を1秒間加えることによってこれに代えるこ
    とができる。

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      また,(2)における変圧器の二次側の電圧で充電される部分と器体の表面との間の試験は省略できる。
                            表10 変圧器をもつものの耐電圧試験電圧
                                                                      単位V
                        電圧の区分                    試験電圧
                               30以下                    500
                     30を超え 150以下                   1 000
                    150を超え 300以下                   1 500
                    300を超え 1 000以下 変圧器の二次側の電圧の2倍に1 000を加えた値
                   1 000を超 3 000以下 変圧器の二次側の電圧の1.5倍に500を加えた値
                      え               (3 000未満は3 000)
                       3 000を超えるもの 変圧器の二次側の電圧の1.5倍の値
                                       (5 000未満は5 000)
8.2.7  耐湿絶縁試験 耐湿絶縁試験は,次によって行う。
(1) 器体を45±3℃の温度に4時間放置した後,周囲温度が40±3℃,相対湿度88%以上92%以下の状態
    に,二重絶縁構造のものは48時間,それ以外のものは24時間保った後に,器体の外郭表面に付着し
    た水分をふき取り,8.2.5の試験を行う。
(2) 沸騰水を入れた容器を加熱室に入れ,タイムスイッチをもつものは最大動作時間,他のものは30分間
    それぞれ定格周波数に等しい周波数の定格電圧に等しい電圧で高周波加熱を行った後,通電を停止し
    た状態で,8.2.5及び8.2.6の試験を行う。
8.2.8  滑れ電流試験 漏れ電流試験は,次のいずれかの方法によって行う。
(1) 通常の使用状態で,定格周波数に等しい周波数の定格電圧に等しい電圧を加え,充電部と器体の表面
    又は器体の表面と大地との間に1k   地     抗を接続したときに流れる漏れ電流を測定する。
(2) 複数の周波数が重畳している電流の場合は,次によって行う。
  (a) 1k  地     抗に流れる各周波数ごとの電流を測定し,次の式によって計算する。
                                      2
                                  In
                         I      nF
                                   n
                      ここに,  I       漏れ電流の計算値
                                 In :  各周波数ごとの電流測定値
                                Fn :  周波数が1kHz以下の場合は1,1kHzを超え30kHz以下の場
                                      合はmAで表した測定周波数に対する限度値(Fn=100.881logF,
                                      FはkHzで表した測定周波数),30kHzを超える場合は20と
                                      する。
  (b) 各周波数ごとの電流を測定することが著しく困難な電流の場合には,図4に示すフィルタ回路を用
      いてその周波数特性を考慮して判定してもよい。

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                                 図4 漏れ電流測定フィルタ回路
8.2.9  平常温度試験 平常温度試験は,次によって行う。
(1) 温度の測定は,巻線には抵抗法,その他は熱電温度計法を用いて行う。
(2) 試験中に容器に入れた水が蒸発によって容器の容量の21に減少した場合は,減少した水の量に等しい
    量の沸騰水を補充すること。
(3) 高周波加熱時は,8.1.1の条件で2分間動作させ1分間休止する操作を繰り返し,各部の度がほぼ一定
    となったときに表2に示す測定箇所の温度を測定し,その後8.2.5及び8.2.6の試験を行う。
(4) 電熱装置を内蔵したものの電熱加熱時及び蒸気発生装置を内蔵したものの蒸気発生時は,8.1.2の条件
    で負荷を入れない状態(受皿があるものは,受皿を最下段に置く。)で,自動温度調節器をもつものは
    その動作温度を最高温度にセットし,その他のものは加熱室の中央部の雰囲気の温度と周囲温度との
    差を240±10℃に保つように通電を断続(加熱室の中央部の雰囲気の温度と周囲温度との差が240℃に
    達しないものは,連続して通電する。)して各部の温度がほぼ一定となったときに表2の測定箇所の温
    度を測定し,その後8.2.5及び8.2.6の試験を行う。
(5) 高周波とグリルとの連続加熱を使用者の意思によって行える機能をもつものは,高周波加熱を2分間,
    引き続きグリル加熱を8分間,次に休止を1分間とする操作を繰り返して行い,各部の温度上昇がほ
    ぼ一定となったときに表2に示す箇所の温度を測定し,その後8.2.5及び8.2.6の試験を行う。
(6) 高周波とヒータなどとの交互加熱を使用者の意思によって行える機能をもつものは,その交互加熱を
    連続して行い,各部の温度上昇がほぼ一定となったときに表2に示す箇所の温度を測定し,その後8.2.5
    及び8.2.6の試験を行う。
(7) 高周波とヒータの同時加熱が行えるものは,2分間同時加熱し1分間休止する操作を繰り返して行い,
    各部の温度上昇がほぼ一定となったときに表2に示す箇所の温度を測定し,その後8.2.5及び8.2.6の
    試験を行う。
8.2.10 異常温度試験 異常温度試験は,次によって行う。
(1) 試験は,非自己復帰形の温度過昇防止装置又は電流ヒューズなどの保護装置をもつものは,これらが
    動作するまで行う。
(2) 高周波加熱時は,8.1.1の条件で負荷を入れない状態(受皿を使用するものは,受皿を使用する。)で,
    タイムスイッチをもつものは最大動作時間,その他のものは30分間連続動作させ,器体を設置した木
    台の状態を調べ,その後8.2.5及び8.2.12の試験を行う。
(3) 電熱装置を内蔵したものの電熱加熱時は,8.1.2の条件で加熱室に物を入れない状態(受皿も入れない)
    で,各部の温度がほぼ一定になるまで連続動作させ,器体を設置した木台の状態を調べ,その後8.2.5
    の試験を行う。
      なお,自動温度調節器のあるものは,その回路を短絡して試験する。温度の測定は,熱電温度計法
    を用いて行う。

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(4) 蒸気発生装置を内蔵したものの蒸気発生時は,8.1.2の条件で加熱室に物を入れない状態(受皿も入れ
    ない)で,蒸気発生装置にも水を入れないで各部の温度がほぼ一定になるまで連続動作させ,器体を
    設置した木台の状態を調べ,その後,8.2.5の試験を行う。
8.2.11 発振周波数試験 発振周波数試験は,8.1.1の条件で水が沸騰するまで運転して,発振周波数を測
定する。
8.2.12 漏れ電波の電力密度試験 洩れ電波の電力密度試験は,JIS R 3503の硬質1級,容量500mlの円筒
状ビーカに275±15mlの水を入れ,加熱室底面(受皿を使用するものは受皿)の中央部に置き,定格周波
数に等しい周波数の定格電圧に等しい電圧を加えて動作させ,扉を閉めたとき,発振管の発振停止装置が
動作する直前の最大の位置まで扉を開いて固定したとき及びラッチ付きなどの固定装置をもつものは,通
常扉を開く力の2倍の力で扉のとっての任意の箇所を引いたとき,それぞれの状態で器体の表面から5cm
離れたあらゆる箇所の漏れ電波の電力密度を測定する。この場合,水温が70℃まで上昇しないように適宜
ビーカの水を入れ替えるものとする。
8.2.13 雑音の強さ試験 雑音の強さ試験は,次によって行う。
(1) 雑音電界強度試験 雑音電界強度試験は,8.1.1及び次の条件において,少なくとも10分以上動作さ
    せた後に行う。
  (a) 電界強度の測定は,平たんで,かつ,反射物体のない場所で行う。
  (b) 器体は,水平面上で回転する非導電柱の支持台の上に載せ,器体の底面が地表上75cmの高さにな
      るようにする。
        電源電線は支持台の中心から垂直に降ろし,電源電線の長さに余分がある場合は,その部分を束
      ねて置く。
  (c) 電源は,適当なフィルタを通して供給する。
  (d) 負荷は,測定中の沸騰を防ぐため,適当な間隔で水を取り替える。
  (e) 測定用のアンテナは,測定周波数ごとに表11のものを用い,表に示す高さで測定する。
                            表11 雑音電界強度測定用アンテナの種類
                   測定周波数MHz     アンテナの種類        アンテナの高さ
                 0.526 5以上30以下  ループアンテナ  アンテナ下端基準面から1m
                 30を超え1 000未満  ダイポールアンテナ 可変(7)
                 1 000以上          ホーンアンテナ  アンテナ中心と器体の中心が一致
                 注(7) アンテナの高さは,測定距離が10mの場合14mとし,測定距離が30m
                      の場合26mの範囲で可変する。
                 備考 ダイポールアンテナの長さは,測定周波数の波長の21とする。
  (f) 測定する偏波面は,30MHz以下の周波数は垂直偏波面,30MHzを超える周波数は水平偏波面及び
      垂直偏波面とする。
  (g) 測定値は,器体の支持台を回転させ,妨害波測定器の最大指示値とする。
  (h) 器体とアンテナの水平距離は,30mとする。ただし,必要に応じて器体とアンテナとの水平距離を
      表12の距離としてもよい。この場合は,表13に示す換算係数を用い,30mの距離における値に換
      算する。
                               表12 器体とアンテナとの水平距離
                                測定周波数MHz        距離m
                                   1 000未満           10
                                   1 000以上            3

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