JIS C 9250:1992 電子レンジ | ページ 5

                                                                                             21
                                                                                    C 9250-1992
                                    表13 30mへの換算係数
                               測定周波数             距離m      換算値dB
                     526.5 kHz以上   1 606.5 kHz以下    10         −20
                    1 606.5 kHzを超え  30  MHz以下      10         −15
                      30  MHzを超え 1 000  MHz以下      10         −10
                       1  GHzを超え    18  GHz以下       3     −20(参考値)
(2) 雑音端子電圧試験 雑音端子電圧試験は,8.1.1及び次の条件において,少なくとも10分以上動作さ
    せた後に行う。
  (a) 雑音端子電圧の測定は,平たんで,かつ,反射物や外来雑音のない場所で行う。
  (b) 試験は,図5の擬似電源回路網を電源と器体の間に接続して行う。
                               図5 50  圀一         攀      似電源回路網
  (c) 器体は,2m2以上の基準接地導体面から40cmの高さの絶縁物の台上に置き,他の接地導体面から
      80cm以上離して置く。
  (d) 器体は,擬似電源回路網から80cm離して配置する。電源コードの長さが80cmを超える分は30
      40cmの水平の束になるように前後に折り曲げるものとする。
  (e) シールドルーム内で測定する場合は,絶縁物の台上に置き,シールドルームの壁の一面を基準接地
      導体面としてもよい(この場合,床などの他の接地導体面から80cm以上離すこと。)。
  (f) 負荷は,測定中に沸騰することを防ぐため,適当な時間間隔で水を取り替える。
8.2.14 扉の開閉試験 扉の開閉試験は,発振を確認した後に開ける操作を1回として,100 000回扉を開
閉した後,扉の開閉機構、発振停止装置及びその他の機構,装置の異常の有無を調べ,その後,8.2.12の
試験を行う。
  なお,扉の開放力などの条件は,次による。
(1) 扉の開放力は,通常の使用状態に加わる力とする。
(2) 扉の開閉は,取っ手の中央で行う。
(3) ラッチ式などの固定装置をもつものは,ラッチなどの固定装置を含めて行う。
8.2.15 加熱特性試験
(1) 高周波加熱時の加熱むら試験は,8.2.4(2)によって行い,平均温度上昇値と各ビーカーとの温度差を求
    める。
(2) 電熱装置を内蔵したものの電熱加熱時の加熱室の温度上昇試験及び温度分布試験は次によって行う。
    ただし,電熱装置を内蔵したもので,そのヒータがグリル機能だけのものには適用しない。

――――― [JIS C 9250 pdf 21] ―――――

22
C 9250-1992
      なお,温度の測定は,熱電温度計法によって行う。
(2.1) 加熱室の温度上昇試験は,8.1.2の条件で加熱室に物を入れない状態(受皿も入れない)で行う。
        また,自動温度調節器をもつものはその動作温度を最高にセットして動作させ,加熱室の中央部
      の温度が200℃に達するまでの時間を測定しそのまま動作を続け,加熱室の温度がほぼ一定になっ
      たときに加熱室の中央部の最高温度を測定する。
(2.2) 加熱室の温度分布試験は,次によって行う。
  (a) 受皿に入る大きさで厚さ5mmのガラス又はセラミック繊維板(以下,繊維板という。)を2枚重ね,
      その間に図6の位置に熱電温度計の感温部を入れる(2枚の繊維板に熱電対を入れた後,すきまを
      少なくするようにテープなどで密着させ,繊維板の表面に黒色塗装を施す。)。
        感温部は,直径15mm,厚さ1mmの黄銅又は銅の黒色塗装した円板に熱電対を取り付けたものと
      する。
  (b) 繊維板を受皿に敷きつめ,回転皿を使用するものは,受皿を所定の高さに,その他のものは,繊維
      板が加熱室内のほぼ中央になるような位置に置く。
  (c) 自動温度調節器があるものは,調節器で繊維板中央の温度を平均温度でほぼ180℃に保ち,自動温
      度調節器がないものは,180±10℃になるように保ち,1時間経過後の温度を熱電温度計法を用いて
      測定する。
                                 図6 加熱室の温度分布測定方法
(3) 蒸気発生装置を内蔵したものの蒸気発生時の加熱室の温度上昇試験は,8.1.2の条件で加熱室に物を入
    れない状態(受皿も入れない)で行う。
      また,自動温度調節器をもつものはその動作温度を最高にセットして動作させ,加熱室の中央部の
    温度が90℃に達するまでの時間を測定する。
      なお,温度の測定は,熱電温度計法によって行う。

――――― [JIS C 9250 pdf 22] ―――――

                                                                                             23
                                                                                    C 9250-1992
8.2.16 電子部品の短絡・開放 試験電子部品の短絡・開放試験は,8.1の条件で次の部分を短絡又は開放
し,部品の燃焼の有無を調べた後8.2.5の試験を行う。
  なお,温度過昇防止装置,電流ヒューズなどの保護装置をもつものは,それらが動作するまで試験を行
う。
(1) 電子管,表示灯などは,端子相互間を短絡しヒータ又はフィラメント端子を開放する。ただし,6.3
    に規定する絶縁距離に適合する端子相互間の短絡は行わない。
(2) コンデンサ,半導体素子,抵抗器,変圧器,コイルその他これに類するものは,端子相互間を短絡又
    は開放する。ただし,抵抗器の短絡は,2 500V以上のピーク電圧が加わるものについてだけ行う。
(3) (1)及び(2)の部分を金属ケースに納めたものは,端子とケース間を短絡する。ただし,部品内部で端子
    に接続された部分と金属ケースとが接触するおそれがない場合は行わなくてもよい。
    備考1. 同時に二つ以上の部品を短絡又は開放しない。
         2. 発熱する部品に接触するおそれがある部品,電線などは,2N [{200gf}] の力を加え,最も発熱
            する部品に近接させた状態で行う。
8.2.17 機械式タイムスイッチの試験 機械式タイムスイッチの試験は,タイムスイッチを本体から取り外
すか,同一の形式のタイムスイッチについて次によって行う。
(1) タイムスイッチの時間試験は,最大動作時の巻上セット角度の21以上の任意の角度にタイムスイッチ
    をセットした後,操作回路に操作回路の定格電圧に等しい電圧を加え,それぞれタイムスイッチを動
    作させ,タイムスイッチが開路するまでの時間を10回測定し,その平均値 (a) を求める。
      次に,同様にタイムスイッチを1 000回動作(開路するまでの時間は測定しなくてもよい。)させた
    後,タイムスイッチが開路するまでの時間を再度同回数測定し,その平均値 (b) から次の式によって
    偏差を求める。
                                  a   愀
                         偏差(%)       100
      なお,高周波出力の切換えのあるものは,最大高周波出力の位置で行い,タイムスイッチの接点に
    は電流を通じない状態で行う。
(2) タイムスイッチの開閉試験は,毎分10回の割合で,タイムスイッチの定格電流に等しい電流を通じな
    がら10 000回,接点の開閉を行う。
      次に,毎分3回の割合でタイムスイッチの定格電流の1.5倍に等しい電流を通じながら100回,接
    点の開閉を行った後,接点の溶着などの実用上支障の有無を調べる。
      なお,接点に通じる電流の力率は,いずれの場合も0.95以上とする。
8.2.18 高圧電源用コンデンサの耐電圧試験 高圧電源用コンデンサの耐電圧試験は,次の方法によって行
う。
(1) 高圧電源用コンデンサの端子相互間に,はく電極のものは定格電圧の4.3倍の値の直流電圧を,蒸着
    電極のものは定格電圧の3倍の値の直流電圧を連続して10秒間加え,これに耐えるかどうかを調べる。
(2) 端子一括とケース間及び端子一括と地絡するおそれがある非充電金属部間に高圧電源用コンデンサの
    定格電圧の2倍に1 000Vを加えた値の2倍の直流電圧を連続して1分間加え,これに耐えるかどう
    かを調べる。
8.2.19 自動温度調節器試験 自動温度調節器試験は,次の方法によって行う。
(1) 自動温度調節器を恒温槽に入れ,温度を毎分1℃の割合で上昇して,自動温度調節器を開路させた後,
    温度を毎分1℃の割合で下降して自動温度調節器を閉路させる操作を1回とする。この操作を連続し

――――― [JIS C 9250 pdf 23] ―――――

24
C 9250-1992
    て15回繰り返し行い,開路したとき及び閉路したときに自動温度調節器に接近した雰囲気の温度(第
    1回から第5回までの操作時の温度を除く。)を熱電温度計法を用いて測定し,第6回から第15回ま
    での開路したとき及び閉路したときの温度を平均し,設定温度との差を求めるか,設定温度との差を
    設定温度で除し,偏差を求める。
      なお,サーミスタなどの温度検知素子と電子回路を組み合わせた自動温度調節器は,その組み合わ
    せたものについて試験を行う。この場合の開閉操作は,温度検知素子部だけを恒温槽に入れるか,機
    器に取り付けられた状態で行うものとし,機器に取り付けられた状態での温度の上昇,降下速度は機
    器の動作速度に従う。
(2) (1)と同一の試料を用い自動温度調節器が接続される回路の回路電圧に等しい電圧を加え,その回路の
    最大電流に等しい電流を通じ加熱して自動温度調節器を開路させた後,冷却して自動温度調節器を閉
    路させる操作を1回とする。開閉速度は毎分20回を標準とし,標準時間内に動作しないものは,動作
    に要する最小の時間内において行うものとする。この操作を連続して5 000回繰り返し行い,異常の
    有無を調べた後,(1)と同様に開路したとき及び閉路したときの温度を平均し,(1)の平均値との差を求
    めるか,(1)の平均値との差を(1)の平均値で除し偏差を求める。
8.2.20 温度過昇防止器試験 温度過昇防止器試験は,温度過昇防止器を器体から取り外して次の方法によ
って行う。ただし,温度過昇防止器が器体から取り外すことが困難な構造のものは,取り付けた状態で行
ってもよい。
(1) 電熱装置及び蒸気発生装置からの熱によって動作する温度過昇防止器は,これを恒温槽に入れ,温度
    を毎分1℃の割合で上昇して,温度過昇防止器を開路させた後,温度を毎分1℃の割合で下降して温度
    過昇防止器を閉路させる(非自己復帰形のものはその都度手動で閉路させる。)操作を1回とする。こ
    の操作を連続して15回繰り返し行い,開路したときに温度過昇防止器に接近した雰囲気の温度(第1
    回から第5回までの操作時の温度を除く。)を熱電温度計を用いて測定し,第6回から第15回までの
    開路したときの温度を平均し,設定温度との差を求める。
(2) (1)と同一の試料を用い温度過昇防止器が接続される回路の回路電圧に等しい電圧を加え,その回路の
    最大電流に等しい電流を通じ,自己復帰形のものは加熱して温度過昇防止器を開路し,冷却して温度
    過昇防止器を閉路させる(非自己復帰形のものはその都度手動で閉路させる。)操作を1回とする。開
    閉速度は毎分20回を標準とし,標準時間内に動作しないものは,動作に要する最小の時間内において
    行うものとするこの操作を連続して5 000回(非自己復帰形のものは1 000回)行い,各部の異常の有
    無を調べた後,(1)と同様に開路したときの温度を平均し,(1)の平均値との差を(1)の平均値で除し,偏
    差を求める。
(3) 電熱装置又は蒸気発生装置以外からの熱によって動作する温度過昇防止器は,これが接続される回路
    の回路電圧に等しい電圧を加え,その回路の最大電流に等しい電流を通じ,感温部を加熱して温度過
    昇防止器を開路し,冷却して温度過昇防止器を閉路させる。この操作を毎分1回の割合(構造上毎分
    1回の割合で動作できないものは,動作可能な最小時間に1回の割合とする。)で,手動復帰形のもの
    は10回,自動復帰形のものは200回行った後,異常の有無を調べる。

――――― [JIS C 9250 pdf 24] ―――――

                                                                                             25
                                                                                    C 9250-1992
8.2.21 のぞき窓の熱衝撃試験 のぞき窓の熱衝撃試験は,電熱装置を内蔵したものについて8.1.2の条件
で負荷を入れない状態(受皿があるものは,受皿を最下段に置く)で次によって行う。自動温度調節器を
もつものはその動作温度を最高温度にセットし,その他のものは加熱室の中央部の雰囲気の温度と周囲温
度との差を240±10℃に保つように断続して通電(加熱室の中央部の雰囲気の温度と周囲温度との差が
240℃に達しないものは連続通電する。)し,各部の温度を熱電温度計法によって測定し,ほぼ一定となっ
たときに水温10℃の200mlの水をガラス面の中央に一度かけた後,ガラスのひび、割れ,欠けなどの異常
の有無を調べる。
8.2.22 発熱体の過負荷試験 発熱体の過負荷試験は,発熱体単体について次によって行う。ただし,強制
通風装置,蒸気発生装置などを内蔵するもので,強制通風装置,蒸気発生装置などが発熱体に熱的な影響
を与える場合は,これらの影響を加味して行う。
  なお,(1)はグリル機能の発熱体に,(2)はグリル機能以外の発熱体に適用する。
(1) 定格電圧の1.2倍の等しい電圧で10分間通電,10分間休止させる操作を1回とし,この操作を連続し
    て500回繰り返し行った後,発熱体の断線の有無を調べる。
(2) 定格電圧の1.2倍に等しい電圧で20分間通電,10分間休止させる操作を1回とし,この操作を連続し
    て500回繰り返し行った後,発熱体の断線の有無を調べる。
8.2.23 加熱室のいっ(溢)水試験 加熱室のいっ水試験は,使用時に常時取り付けて使用する附属品はそ
れらを取り付けた状態にして,約1%の食塩水500mlを加熱室底面にゆっくりと注いだ後,8.2.5及び8.2.6
の試験を行い,かつ,充電部に水がかかっていないかどうかを確認する。この場合,こぼれた液体を集め
るようにした附属の受皿をもつものは,その受皿を満たした上に,更に500mlを加えた量の食塩水を注ぐ
ものとする。
8.2.24 耐食性試験 耐食性試験は,試料を脱脂してグリスをすべて取り除き(防食の目的で十分塗布され,
かつ,そのグリスが使用中に塗布された部分から著しく流出しない構造の場合は取り除かない。),20±5℃
の塩化アンモニウムの10%水溶液に10分間浸せきした後に取り出し,乾燥せずに水滴を振り切ってから
20±5℃の飽和水蒸気を含む容器中に10分間入れた後,これを100±5℃の温度の空気中で10分間乾燥さ
せ,試料の表面の状態を調べる。
8.2.25 電動機の始動特性試験 電動機の始動特性試験は,8.1.1の条件で,電源電圧だけを定格電圧の90%
に等しい電圧にして動作させたとき,電動機が回転子の位置に関係なく始動することを確認する。
  なお,この試験は8.2.2の試験によって代用できる。
9. 検査
9.1   形式検査 形式検査は,次の各項について8.2の試験方法,目視などによって行い,5.,6.及び7.の
規定に適合しなければならない。ただし,(7),(11),(13)(22)の検査は,同一品で行わなくてもよい。
(1) 構造(11.の表示を含む。)
(2) 電圧変動特性
(3) 消費電力
(4) 高周波出力
(5) 絶縁
(6) 漏れ電流
(7) 温度
(8) 発振周波数

――――― [JIS C 9250 pdf 25] ―――――

次のページ PDF 26