JIS K 0450-30-10:2006 工業用水・工場排水中のフタル酸エステル類試験方法 | ページ 4

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          作を行い,この濃縮液1           体の6.3 c)によって各対象物質の保持時間に相当する位置にピー
          クのないことを確認する。
    参考 活性けい酸マグネシウムは,フロリジルPRなどが市販されている。
  3) クロマトグラフ管の作り方 カラム用管の底部にJIS K 8251に規定するガラスウール(あらかじめ
      ヘキサンで洗浄したもの。)を詰め,少量のヘキサンを加えて,ガラスウール間の気泡を除去する。
      続いて,カラム充てん剤約2 gをビーカーにとり,ヘキサンを加えてスラリー状にし,これを気泡
      が入らないようにカラム用管に流し込み(4),その上部に硫酸ナトリウムを約2 cmになるように積層
      した後,コックを操作し,ヘキサンが硫酸ナトリウム層よりわずかに上部になるようにヘキサンを
      流し出す。
    注(4) カラム用管にカラム充てん剤を均一に充てんするために,充てん剤を流し込んだ後,カラム用
          管に縦横の振動を与えるとよい。
f)  円筒形滴下漏斗 200 ml。カラムクロマトグラフ用。
1.3   分離操作 分離操作は,次による。
a) 本体の5.1.3 b)又は5.2.3 d)で得た濃縮液の全量をカラムクロマトグラフ管の上部から流し込み,コッ
    クを操作して液面を硫酸ナトリウムの層よりわずかに上部になるようにする。濃縮液が入っていた目
    盛付き共栓試験管の内壁をヘキサン0.51 mlで洗い,洗液はカラムクロマトグラフ管に流し込む。
b) カラムクロマトグラフ管の上部に円筒形滴下漏斗を装着し,ヘキサン50 mlを入れ,約1 ml/minで流
    下(5)して対象物質を吸着させる。ヘキサンが硫酸ナトリウム層のわずか上部にある状態でコックを閉
    め,流出液は捨てる。
    注(5) 分画は,分子状硫黄が溶出してくる。含水活性けい酸マグネシウムを用いるカラムクロマトグ
          ラフ法によるクリーンアップで単体硫黄を十分に除去できない場合には,測定用溶液を還元銅
          カラムに通して,硫黄を除去する。
c) 引き続きカラムクロマトグラフ管の上部の円筒形滴下漏斗から,アセトニトリル-ヘキサン溶離液(0.5
    +100)100 mlを約1 ml/minで流下し,フタル酸エステル類を溶出させ(6),溶出液を濃縮器フラスコに受
    ける。
    注(6) 備考の操作によってあらかじめ溶出パターン及び回収率を確認しておくとよい。
d) 濃縮器を用いて,約40 ℃の水浴中で加熱(7)しながら,溶出液が約10 mlになるまで濃縮する。
    注(7) ロータリーエバポレーターを用いた場合は,約40℃の水浴中で加熱しながら減圧濃縮し,乾固
          しないように注意する。クデルナ−ダニッシュ濃縮器を用いる場合は,減圧方式ではなく,大
          気圧下で75 ℃以下で加熱して濃縮する。濃縮終了後,スニーダーカラムを濃縮部に付けたま
          ま装置からとり外し,スニーダーカラムの上部から少量のヘキサンを加えて洗浄し,スニーダ
          ーカラムを付けたまま放冷する。
e) 濃縮液を目盛付き共栓試験管に移し,室温で窒素を緩やかに吹き付け,約1 mlになるまで濃縮(8)した
    後,本体の5.1.3 d)以降の操作を行う。
    注(8) 本体の注(16)による。
    備考 溶出パターン及び回収率の確認は,次の操作を行う。この操作によってカラムクロマトグラフ
          操作に必要なヘキサン及びアセトニトリル-ヘキサン溶離液(0.5+100)の量を確認しておく。
          1) 各対象物質の混合標準液(20,50 μg/ml-ヘキサン)100 μl,重水素化物混合内標準液(各10
              μg/ml-ヘキサン)1 mlをカラムクロマトグラフ管の上部から流し込む。
          2) コックを操作して液面を硫酸ナトリウム層よりわずかに上部になるようにする。

――――― [JIS K 0450-30-10 pdf 16] ―――――

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          3) 続いてb)の操作を行い,流出する溶液約10 mlを1画分として別々の目盛付き共栓試験管
              にとる。
          4) さらに,c)の操作を行い,最初から流出する溶液約10 mlを1画分として別々の目盛付き
              共栓試験管にとる。
          5) それぞれの目盛付き共栓試験管を,約40 ℃の水浴中で加熱しながら,窒素を緩やかに吹
              き付け,約1 mlになるまで濃縮する。
          6) 続いて本体の6.3のc)   e)及びg)によって溶出パターン及び回収率を求める。

――――― [JIS K 0450-30-10 pdf 17] ―――――

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                附属書3(規定)感度係数を用いる濃度の算出方法
序文 この附属書は,本体の6.4の検量線に代え,検量線が直線性を示す場合に(1),平均感度係数(RF)を
求め,これによって試料中のフタル酸エステルの濃度を求める方法について規定する。
    注(1) 保持時間の遅いフタル酸エステル類の検量線は,直線にならないことがある。このような場合
          には,この方法は適用できない。
1. 濃度の算出法 濃度の算出は,次による。
a) 本体の6.4 b)で得られた各標準物質及び各対象物質の重水素化物による指示値から,次の式によって
    各感度係数(RF)を算出する。
                             Ast  Cis
                         RF=
                             Ais  Cs
                      ここに,   Ast :  各標準物質による指示値
                                 Ais :  各対象物質の重水素化物による指示値
                                 Cis :  検量線作成用標準液中の各対象物質の重水素化物( 最
                                 Cs :  検量線作成用標準液中の各標準(  最
b) 各感度係数の平均値を求め,平均感度係数(RF)とする。
c) 次の式によって各物質の濃度(  最一       侮
                               As  Is
                         N=  'is
                            A   RF  Ve
                      ここに,    N :  試料中の各物質の濃度(  最一
                                  As :  試料中の各物質による指示値
                                 A'is :  各対象物質の重水素化物による指示値
                                  Is :  添加した重水素化物(  最
                                  Ve :  試料(L)

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K 0450-30-10 : 2006
       附属書4(参考)装置の定量範囲の下限値を確認する場合の方法
序文 この附属書は,本体に関連する事柄を補足するもので,装置の検出下限値から,定量範囲の下限値
を確認する方法を参考として示したものであり,規定の一部ではない。
1. 定量範囲の下限値の算出方法 定量範囲の下限値の算出方法は,次による。
a) 本体の6.1 c)の各対象物質の混合標準液(20,50 最一        ヘキサン)10 μL,本体の6.1 e)の重水素化物混合内
    標準液(各10     最一          ヘキサン)100                フラスコ10 mlにとり,ヘキサンを標線まで加える。
b) この溶液の1               イクロシリンジでとり,ガスクロマトグラフ質量分析計(1)に導入し,本体の6.3
    のd),e)及びg)によって定量する。
    注(1) 本体の6.3 a)で調整したガスクロマトグラフ質量分析計を用いる。
c)   )及びb)の操作を5回以上繰り返す。
d) 得られた測定値から,次の式によって標準偏差を求め,その3倍を装置の検出下限値(2)(3),10倍を装
    置の定量下限値(3)とする。
                         s           2
                                xi−x
                          =
                                n−1
                      ここに,   s :  標準偏差
                                 xi :  個々の測定値
                                 x :  測定値の平均値
                                 n :  測定回数
    注(2) ここで得られた装置の検出下限値が,対象物質の定量下限値より大きい場合には,器具,機器
          などを確認して,これらの値以下になるように調整する。
      (3) この装置の検出下限値及び定量下限値は,使用する装置の状態などによって変動するため,あ
          る一定周期で確認し,常に十分な値が得られるように管理する。また,使用する装置及び測定
          条件を変更した場合などには必ず確認する。