JIS K 6911:1995 熱硬化性プラスチック一般試験方法 | ページ 8

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                   表6 誘電率試験及び誘電正接試験の測定回路と適用周波数範囲
                                  測定回路                      適用周波数範囲 MHz
             ブリッジ法  抵抗比容量  並列抵抗器ブリッジ法       1×10−30.1
                         ブリッジ法  直列抵抗器ブリッジ法       2×10−40.1
                                     高圧シェーリングブリッジ法 2.5×10−51×10−2
                                                                2.5×10−51
                                     共やくシェーリングブリッジ法
                         相互誘導ブリッジ法(変成器ブリッジ法)   3.0×10−55
                         並列T回路網法                          0550
             共振法      コンダクタンス変化法                   0.110
                         サセプタンス変化法                     0.330
                         電圧上昇比率法                         0.0550
                         抵抗変化法                             0.11
             発振点法                                           0.220
5.14.2 積層板 次によって行う。
(1) 装置 5.14.1(1)による。
(2) 試験片 積層板から原厚のまま,長さ及び幅をそれぞれ100mmに切り取ったものを用いる。
                                     42
(3) 前処理 試験片の前処理は,C−90 +
                                    −h/20±2℃/  (65±5) %RHで行う。
(4) 方法 5.14.1(4)によって行う。この場合試験は,厚さ3mmの積層板についてのみ行う。
(5) 計算 5.14.1(5)による。
5.14.3 電圧上昇比率法(Qメータ法) 次の(1),(2),(3),(4),(5)のほかは5.14.1による。
(1) 装置 Qメータは図20に示す回路構成及び図21に示す試験片保持具をもったものを用いる。
                                    図20 Qメータ回路構成

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                                      図21 試験片保持具
(2) 試験片 成形材料は,直径50mm,厚さ3mmの円板に成形したもの,積層板は3mmの原厚のまま,
    長さ及び幅を50mmに切りとったものを用いる。
      試験片の厚さは,電極装着部分の3か所を0.01mmまで正確に測り,平均厚さを求めておく。
                                                       42
(3) 前処理 特に規定のない限り,試験片の前処理はC−90 +
                                                      −h/20±2℃/  (65±5) %RHで行う。
      浸せき処理はD−24±1h/23±1℃で処理した後,乾燥した清浄なアセテート布,ガーゼなどでよく
    ふき,直ちに試験を行う。
(4) 方法 前処理後の試験片に直径38mmの金属はく又は導電性ペイントの電極を同心軸上に位置するよ
    う両面に装着する。
      測定装置の電源は,測定に先立って約30分前にスイッチを入れ安定させておく。発振器Osを測定
    用周波数fHzに合わせ,Aを見ながら出力を調節してRに一定電流Iを流し,共振回路に既知小電圧 (V
    =IR) を導入する。
      電極を装着した試験片を試験片保持具に取り付けて,Cxの位置に接続する。真空管電圧計Vを見な
    がら,標準可変コンデンサCsを調節して共振させ,VによってQx(又はVx)及びそのときのCsの値
    Csxを読み取る。
      次に試験片保持具から試験片を取り去り,附属マイクロメータで保持板の間隔を試験片の実測平均
    厚さtに等しく調節して固定する。
      そしてCsを増加して再び共振させ,Q0(又はV0)及びCsの値Cs0を読み取る。
(5) 計算 次の式によって誘電率及び誘電正接を算出する。
                           Cx
                         =
                           C0
                                Gx
                         tan=
                                 fCx
                      ここに,             誘電率
                                  tan       誘電正接
                                   Cx :  Cs0−Csx+C0 (pF)
                                          r2
                                   C0 :        (pF)
                                          6.3t
                                                Q0−Qx
                                   Gx :  2                (V)
                                                 Q0Qx
                                         Vx(試験片を取り付けて共振させたときの電圧上昇比)
                                   Qx : 
                                         V

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                                         V0(試験片を取り去って共振させたときの電圧上昇比)
                                   Q0 : 
                                         V
                                    r :  装着電極の半径 (cm)
                                           円周率 (3.14)
                                    t :  試験片の厚さ (cm)
                                    f :  測定用周波数 (1MHz)
    備考 この測定方法はブリッジ法と比べると測定精度が悪く,またガードを用いることができない欠
          点があるが,測定が簡単に行えることと高い周波数で適用できる利点があるので,当事者間の
          協定によって使用してもよい。
5.15 耐アーク性(成形材料)
5.15.1 装置
(1) 電気回路 電極間に商用周波数で12.5kV [{12 500V}] の開放電圧を表7の順序に従って加えることので
    きる図22に示すもの。
                           表7 耐アーク性試験における通電段階の順序
             電流          操作            開閉の時間    各段階の継続時間 全経過時間
             (mA)                                             (秒)        (秒)
              −    S1投入 Ta調整              −               −            −
                    Sm投入
                                        1秒閉   3
              10    表示灯が消えた瞬間  4
                                               1秒開
                                                4
                                                                60            60
                    にS81投入,ストップ
                    ウォッチ作動
                                        1秒閉  3秒開
              10    S41投入                                     60           120
                                        4      4
                                        1秒閉  1秒開
              10    S21投入                                     60           180
                                        4      4
              10    S10投入                  連続閉             60           240
              20    S20投入                  連続閉             60           300
              30    S30投入                  連続閉             60           360
              40    S40投入                  連続閉             60           420
                                   図22 耐アーク性試験回路
(2) 電極 直径2.4mm,長さ20mmのタングステン棒の先端を,軸に対して30±1°になるようにみがい

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    た図23に示すもの。
(3) 電極装置 図23に示すように2個の電極先端が同一平面上にあって電極の軸がともに水平面に対して
    35°傾き,更に先端のだ円形面の短軸が水平で,両電極の先端が6.35±0.05mm離れ,試験片にかか
    る荷重をそれぞれ50±5gに保持できるような電極装置。
(4) ストップウオッチ 0.2秒目盛のもの。
(5) マイクロメータ JIS B 7502に規定する外側マイクロメータ又はこれと同等以上の精度をもつもの。
                                図23 耐アーク性試験の電極装置
5.15.2 試験片 直径100mm,厚さ3.0±0.25mmの円板に成形した,試験面が平滑なものを用いる。
                                        42
5.15.3 前処理 試験片の前処理は,C−90 +
                                      −h/20±2℃/   (65±5) %RHで行う。
5.15.4 方法 試験片の中央部の厚さを0.01mmまで測る。試験片と両電極の位置及び両電極の先端距離が
正確であるかどうかを確かめる。
  処理後の試験片を水平にし,試験片のアーク発生位置は端から10mm以上,既に試験した部分から10mm
以上離す。
  通風を遮断し,スイッチS1を閉じ,可変比単巻変圧器Taによって電極間に12.5kVの開放電圧を与える
ように調整する。スイッチSmを閉じると,表示灯Lが点滅する。表示灯が消えた直後にストップウオッ
チを始動し,同時にスイツチS81を閉じる。試験片が1分間でアークにより破壊しないときには引き続き
S21を閉じ,更に1分間で破壊しないときには表の通電段階の順序に従って1分ごとにスイッチS21,S10,
S20,S30及びS40を閉じる。試験片が破壊し,アークが消滅したときにストップウオッチを止め,スイッチ
S1を開く。試験開始時からアーク消滅までの時間を1秒まで計り,耐アーク性時間(秒)とする。この場
合,試験は5.1(1)の条件[温度20±2℃,相対湿度 (65±5) %]で行う。

5.16 硬さ(成形材料及び積層板)

5.16.1 ロックウェル硬さ 次によって行う。
(1) 装置 ロックウェル硬さ試験機は,JIS B 7726に規定するものを用いる。
      あらかじめその規格に従って機能,荷重,鋼球圧子,指示装置,総合誤差及びダッシュポットの作
    動時間を調べ,補正する。
      荷重検査において,使用範囲の上端,中央及び下端の位置は,指示計目盛盤のセット点を真上にし
    たとき,上端は指針がB100(目盛盤上Bゼロ)を指す位置,中央はB30,下端はB-50(指針が1回
    転してB50)付近(円滑に作動する範囲内で圧子取付軸ができるだけ下方にくる位置)にして,いず
    れも円滑に作動しなければならない。

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      鋼球圧子は永久変形量0.002mm以下のもので,さびがなく,ホルダーは工作良好のもので,カバー,
    鋼球の中心線と軸の中心線が一致していなければならない。カバー締付けは鋼球が自由に回転できる
    程度に取り付け,圧子取付軸の端面と試料受台面は平行でなければならない。スケールは一般に,硬
    いものにはM,可塑性のものにはRを用いる。硬さ値は50115までの数値になるスケールを用いるこ
    とが望ましい。
      ダッシュポットの作動時間は,試料をのせず受台と圧子の間をあけておき,試験荷重980N{100kgf}
    の負荷操作を行い,操作開始時から荷重レバーが完全に降りきって運動が停止するまでの時間を5秒
    前後に調整する。
(2) 試験片 表面及び裏面は平面で,互いに平行の板状であって,幅12mm以上,厚さは原則として6mm
    以上とする。厚さは測定値に影響するので,薄い場合にはその厚さを結果に付記する。測定点は試験
    片の端及び隣りのくぼみ又は裏面のくぼみから6mm以上離す。
      同じ厚さの薄い試験片を積み重ねて測る場合,互いに全面が接触することを確かめて行う。この場
    合も結果に厚さ及び重ね枚数を付記する。
(3) 方法 試験片を受台上に置き,補助指針が0点にあって,指示計の指針が目盛盤の真上から左右5目
    盛以内にくるまで,試験片上下ハンドルを回し,衝撃を与えずに試料に基準荷重98N [{10kgf}] を負荷
    する(万一ハンドルを逆に緩めた場合は,試料を新しい位置に変えて,新たにやり直す。)。直ちに指
    示計の目盛盤を回して,セット点B30(赤スケール)と指針を合わせる。基準荷重を負荷し始めてか
    ら約10秒以内に試験荷重を負荷する。負荷保持期間15秒後に基準荷重にもどし,15秒後に目盛盤の
    赤目盛を小数点以下1位まで読み取る。試験荷重負荷時に指針が赤目盛の0を通過する回数を読み,
    荷重を除いたときの指針の逆転回数を同様に読み,その差が0であれば指針の読みに100を加え,1
    であればそのままの値,2であれば100を引いた値を硬さ値とする。最初の測定値は捨てる。この試
    験は,温度23±2℃の室内で行う。
      硬さ値には,スケールの記号を併記する。
    例 HRM83,HRR76
5.16.2 バーコル硬さ バーコル硬さは,成形材料及び積層板について次によって行う。
(1) 装置 バーコル硬さ計は,934-1形を用いる。圧子は先端が直径0.157mmの平面の頂角26°さい(截)
    頭円すい台形の焼入れ鋼製で,中空スピンドルの中に納められていて,負荷用ばねを介してプランジ
    ャーによって押し下げられている。
      指示ダイヤルの目盛は100分割されていて,1目盛は0.007 6mmの押し込み深さを表す。指示値が
    大きいほど試料が硬いことを意味する。
      硬さ計は,あらかじめ次のように3点校正を行う。もし,基準片の表示値どおりの指示値が得られ
    ない場合は,圧子,負荷用ばね又はその他の部分が正常でないので,使用してはいけない。
      まず,上部調整ねじを負荷用ばねに軽く接する位置まで緩め,硬さ計をガラス平板上に置き,圧子
    が下部調節ねじの中にいっぱい入り込むまで圧し付ける。このとき指示ダイヤルが100を示すように
    下部調整ねじを,ロックナットを緩めて調整し,ロックナットを固定する。
      指示値に及ぼす調整ねじの影響を次に示す。
            ねじ込みによる変化       上部調整ねじ               下部調整ねじ
            指示値の変化割合   ごくわずか              非常に大きい
            指示値の傾向       低くなる                高くなる
                               軟らかいほど変化が大きい
            スケールに対する傾向                       硬さ値に対し,ほぼ一律に変化する

――――― [JIS K 6911 pdf 40] ―――――

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