この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語と定義
この文書の目的上、ISO/TS 80004-1:2015, ISO/TS 80004-2:2015, ISO/TS 80004-6:2021 および以下の用語と定義が適用されます。
ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。
3.1 一般的な中心用語
3.1.1
ナノスケール
長さの範囲は約 1 nm ~ 100 nm
注記 1:より大きなサイズからの外挿ではない特性は、主にこの長さの範囲で示されます。
[出典:ISO/TS 80004-1:2015, 2.1]
3.1.2
ナノオブジェクト
ナノスケールで 1, 2, または 3 つの外形寸法を持つ個別の材料片 (3.1.1)
注記 1:第 2 および第 3 の外形寸法は、第 1 の外形寸法および相互に直交します。
[出典:ISO/TS 80004-1:2015, 2.5]
3.1.3
凝集物
弱く結合した 粒子 (3.1.5) or 凝集体 (3.1.4) またはその 2 つの混合物の集合where 結果として得られる外部表面積は個々の成分の表面積の合計に類似します。
注記 1:凝集体を保持する力は、例えばファンデルワールス力や単純な物理的もつれなどの弱い力です。
注記 2:凝集体は二次粒子とも呼ばれ、元のソース粒子は 一次粒子と呼ばれます (3.1.6) 。
[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 3.10]
3.1.4
骨材
強く結合または融合した粒子からなる 粒子(3.1.5)。 結果として生じる外部表面積where 個々の成分の計算された表面積の合計よりも大幅に小さくなる可能性があります。
注記 1:集合体を保持する力は、例えば共有結合や、焼結や複雑な物理的もつれから生じる強力な力です。
注記 2:凝集体は二次粒子とも呼ばれ、元のソース粒子は 一次粒子とも呼ばれます (3.1.6) 。
[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 3.11]
3.1.5
粒子
定義された物理的境界を持つ微小な物質
注記 1:物理境界はインターフェースとして記述することもできます。
注記 2:粒子は 1 つの単位として移動できます
注記 3:この一般的な粒子の定義は 、ナノオブジェクト (3.1.2) に適用されます。
[出典:ISO 26824:2013, 1.1]
3.1.6
一次粒子
元のソース 粒子 (3.1.5) 、 凝集体 (3.1.3) or 凝集体 (3.1.4) 、またはその 2 つの混合物
注記 1:ある実際の状態における凝集体または凝集体の構成粒子は一次粒子である場合もあるが、多くの場合、構成要素は凝集体である。
注記 2:凝集体および凝集体は二次粒子とも呼ばれます。
[出典:ISO 26824:2013, 1.4]
3.1.7
構成粒子
より大きな 粒子の識別可能な一体成分(3.1.5)
注記 1:構成する粒子構造は 、一次粒子(3.1.6) であっても二次粒子であってもよい。
[出典:ISO/TS 80004-2:2015, 3.3]
3.2 測定関連用語
3.2.1
測る
測定対象の量
注記 1:測定量の指定には、量の種類、現象の状態の説明、関連する成分を含む量を運ぶ物体または物質、および関与する化学実体に関する知識が必要です。
注記 2: VIM の第 2 版および IEC 60050-300:2001 では、測定対象は「測定対象となる特定の量」として定義されている。
注記 3:測定システムおよび測定が実行される条件を含む測定は、測定される量が定義された測定対象と異なるように、現象、物体、または物質を変化させる可能性があります。この場合には十分な補正が必要となります。
例 1:
内部コンダクタンスが大きい電圧計を使用して測定を行うと、バッテリの端子間の電位差が減少することがあります。開放電位差は電池と電圧計の内部抵抗から計算できます。
例 2:
摂氏周囲温度 23 °C で平衡状態にある鋼棒の長さは、測定対象である指定温度 20 °C での長さとは異なります。この場合は修正が必要となります。
注記 4:化学において、「分析物」、または物質または化合物の名前は、「測定対象」を表す場合に使用される用語である。これらの用語は数量を指すものではないため、この使用法は誤りです。
[出典:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.3]
3.2.2
粒径
指定された測定方法および指定された測定条件下で測定された 粒子の直線寸法 (3.1.5)
注記 1:異なる分析方法は、異なる物理的特性の測定に基づいています。実際に測定された粒子の特性とは無関係に、粒子サイズは直線寸法、たとえば等価球直径として報告できます。
[出典:ISO 26824:2013, 1.5]
3.2.3
粒度分布
粒子サイズ (3.2.2) の関数としての 粒子量の分布 (3.1.5 )
注記 1:粒度分布は、累積分布または分布密度 (サイズクラス内の材料の割合の分布を、そのクラスの幅で割ったもの) として表すことができます。
注記 2:数量は、たとえば、数量、質量、または体積に基づいたものにすることができます。
[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 4.1.2]
3.2.4
粒子の形状
粒子の外部幾何学的形状 (3.1.5)
[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 4.1.3]
3.2.5
アスペクト比
粒子の長さ (3.1.5) とその幅の比
[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 4.1.4]
3.2.6
等価直径
所定の粒子サイジング法によって応答を生成する球の直径。これは、測定される 粒子 (3.1.5) によって生成される応答と同等です。
注記 1:物理的特性とは、例えば、同じ沈降速度、電解質溶液の変位体積、または顕微鏡下での投影面積を指します。等価直径が指す物理的特性は、適切な添え字を使用して示される必要があります (ISO 9276-1:1998 を参照)たとえば、等価体積直径には下付き文字「V」、等価表面積直径には下付き文字「S」が使用されます。
注記 2:離散粒子計数、光散乱装置の場合は、同等の光学直径が使用されます。
注記 3:他のパラメータ、例えば流体中の粒子の有効密度は、ストークス直径や沈降等価直径などの等価直径の計算に使用されます。計算に使用されたパラメータは追加で報告される必要があります。
注記 4:慣性計器の場合は、 空気力学的直径 (3.2.9) が 使用されます。空気力学的直径は、問題の粒子と同じ沈降速度を有する密度 1,000 kg m -3の球の直径です。
[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 4.1.5]
3.2.7
光散乱
異なる光学特性を持つ 2 つの媒体の界面における光の伝播の変化
[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 4.2.5]
3.2.8
流体力学的直径
液体中の境界層のない球形粒子と同じ拡散係数を有する液体中の 粒子 (3.1.5) の 等価直径 (3.2.6)
注記 1:実際には、溶液中のナノ粒子は非球形であり、動的であり、溶媒和されている可能性があります。
注記 2:液体中の粒子には境界層があります。これは固体表面に近い流体または吸着物の薄い層であり、その中でせん断応力が流体の速度分布に大きな影響を与えます。流体の速度は、固体表面でのゼロから、固体表面から一定距離離れた自由流の速度まで変化します。
[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 4.2.6]
3.2.9
空気力学的直径
温度、圧力、相対湿度の一般的な条件下で、穏やかな空気中で 粒子 (3.1.5) と同じ重力による終端速度を持つ密度 1 g/cm 3の球の直径。
注記 1: ISO 7708:1995, 2.2 から適応。
[出典:ISO 23210:2009, 3.1.1]
3.2.10
移動直径
粒子移動度直径
粒子移動度相当直径
移動相当直径
温度と圧力の一般的な条件下で、電場中で 粒子 (3.1.5) と同じドリフト速度を持つ単一の素電荷を運ぶ球の直径
注記 1:粒子の移動度直径は、粒子のサイズ、形状、および電荷レベル (静電容量を含む帯電プロセス、つまり双極性空気イオンによって帯電する能力に依存する) に依存しますが、粒子の密度には依存しません。
[出典:EN 16966:2018]
3.2.11
質量比表面積
サンプルの絶対表面積をサンプル質量で割った値
注記 1:質量比表面積の単位は m 2/kg です。
[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 4.6.1]
3.2.12
フォトルミネッセンス
光放射の吸収によって引き起こされる発光
[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 5.3]
3.2.13
ラマン効果
単色放射線で照射された分子に関連した放出放射線。回転励起または振動励起から生じるエネルギーの損失または増加を特徴とする。
[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 5.9]
3.2.14
格子パラメータ
結晶学的単位胞の長さと角度の寸法
[出典:ISO 21432:2019, 3.19]
3.2.15
散乱角
入射 粒子 (3.1.5) または光子の方向と、散乱後に粒子または光子が進む方向の間の角度
[出典:ISO 18115-1:2013, 4.18]
3.2.16
ゼータ電位
動電電位
滑り面の電位とバルク液体の電位の差
注記 1:動電位はボルトで表される
[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 6.4.5]
3.2.17
蛍光
物質による特定の波長の光の吸収に続いて、より長い波長の光が放出される現象
[出典:ISO/TS 80004-6:2021, 4.5.12]
3.2.18
キュリー温度
強磁性材料が強磁性状態から常磁性状態、またはその逆に移行する温度
[出典:ISO 11358-1:2014, 3.3]
3.2.19
熱拡散率
単位質量あたりの熱伝導率と比熱容量の比。材料を通って流れる熱の速度を表し、m 2/s で表されます。
[出典:ISO 13826:2013, 2.1]
3.2.20
溶解度
指定された条件下で、特定の溶媒の所定の体積に可溶なナノ材料の最大質量
注記 1:溶解度は、溶媒 1 リットルあたりのグラム数で表されます。
[出典:ISO/TS 12901-2:2014, 3.17]
3.2.21
分散性
粒子状原料物質が連続相内に分散する容易さを評価する、粒子状原料物質の定性的または定量的特性または特性
注記 1:分散相の空間的に均一な分布 (均質性) は、望ましい終点の不可欠な部分と考えられます。
注記 2: 粒子サイズ (3.2.2) or 粒子サイズ分布 (3.2.3) は、 用途に特有の定義された基準に対する終点として使用されることがよくあります。
注記 3: 分散性とは、特定の分散プロセスおよび特定のプロセス時間を指します。
注記 4:分散安定性は、関連する現象ではありますが、分散性と混同してはならない。
[出典:ISO/TS 22107:2021, 3.6]
参考文献
| 1 | KESKINEN J.、PIETARINEN K.、LEHTIMÄKI M. 電気低圧インパクター。 J.エアロゾルサイエンス。 1992, 23, 353-360ページ |
| 2 | WANG SC, FLAGAN RC 走査電気移動度分光計。エアロゾル科学。テクノロジー。 1990, 13, 230-240ページ |
| 3 | KOO JH, HIRLEMAN ED粒子サイズ測定のための光学技術の原理のレビュー。:噴霧燃焼の最近の進歩: 噴霧微粒化と液滴燃焼現象 (Kuo KK 編)アメリカ航空研究所、バージニア州レストン、Vol. 1, 1996, 3-32 ページ。 |
| 4 | WILSON JC, LIU BHY レーザードップラー流速計による空気力学的粒子サイズ測定。 J.エアロゾルサイエンス。 1980, 11, 139-150ページ |
| 5 | R'MILI B.、LE BIHAN O.、DUTOUQUET C.、AGUERRE-CHARIOL O.、FREJAFON E.、TEM グリッドろ過による粒子サンプリング。エアロゾル科学。テクノロジー。 2013, 47 (7) pp. 767–775 |
| 6 | LE BIHAN O.、ZANTMAN A.、THEVENET S.R'Mili, B.。 Ustache, A. 静電気装置の準備効率の評価。 26eme Congrès Français sur les Aérosol, パリ、フランス、2011 年、pp.N HAL ID: ineris-00973609 http://hal-ineris.ccsd.cnrs.fr/ineris-00973609 |
| 7 | PACHAURI T.、SINGLA V.、SATSANGI A.、LAKHANI A.、MAHARAJ KUMARI K. インド、アグラにおける個々の粗大粒子の SEM-EDX 特性評価。エアゾールエアクォル。解像度2013, 13, 523–536 ページ |
| 8 | HODOROABA V.-D.、RADES S.、KISHORE N.、ORTS-GIL G.、UNGER WES ナノ粒子の形態学: 高解像度 SEM を使用した特性評価。画像処理と顕微鏡検査。 2013年、15ページ。 54 |
| 9 | BRUNAUER S.、EMMETT PH, TELLER E. 多分子層におけるガスの吸着。ジャム。化学。 Soc.1938, 60, 309–319 ページ |
| 10 | MCCAVE IN, BRYANT RJ, COOK HF, COUGHANOWR CA 天然堆積物に使用するレーザー回折サイズ分析装置の評価。 J. 沈殿物。解像度1986, 56 (4) pp. 561–564 |
| 11 | INGHAM B ナノ粒子の X 線散乱特性評価、 Crystallography Reviews 、2015 21, ( 4)、pp. 229-303 |
| 12 | DRESSELHAUS MS, JORIO A.、HOFMANN M.、DRESSELHAUS G.、SAITO R. カーボン ナノチューブとグラフェン ラマン分光法に関する展望。ナノレット。 2010, 10 (3) pp. 751–758 |
| 13 | BOKOVA SN, OBRAZTSOVA ED, GREBENYUKOV VV, ELUMEEVA KV, ISHCHENKO AV, KUZNETSOV VL 壁数の小さい多層カーボン ナノチューブのラマン診断。物理学。ステータスソリッド。 2010, 247 (11-12) pp. 2827–2830 [b] |
| 14 | BRAUN A.、COUTEAU O.、FRANKS K.、KESTENS V.、ROEBBEN G.、LAMBERTY A. 他ナノ粒子の特性評価のための動的光散乱法と遠心液体沈降法の検証。上級パウダーテクノロジー。 2011, 22 (6) pp. 766–770 |
| 15 | GUINIER A.、FOURNET G. X 線の小角散乱。ワイリー、ニューヨーク州、1955 年 |
| 16 | QIAN H.、SHEETZ MP, ELSON EL 単一粒子追跡。二次元系における拡散と流れの解析。生物物理学。 J. 1991, 60 (4) pp. 910-921 |
| 17 | シンプ、私。コールドウェル、K; GIDDINGS, JC, フィールドフロー分別ハンドブック。ワイリー・インターサイエンス:ニューヨーク、2000年。 |
| 18 | ギゴート、J; JM, ペティボーン。シュミット、C;バージニア州ハックリー、非対称流れ場フロー分別によるナノスケール粒子の特性評価のための合理的な戦略: チュートリアル。アナル チム アクタ 2014, 809, 9-24 |
| 19 | DEGUELDRE C. および FAVARGER PY, 単一粒子誘導結合プラズマ質量分析によるコロイド分析: 実現可能性研究。コロイドサーフ、A, 2003, 217, 137–142 |
| 20 | ASTM E2490-09, 光子相関分光法 (PCS) による懸濁液中のナノマテリアルの粒径分布測定に関する標準ガイド |
| 21 | ASTM E3247-20, 動的光散乱を使用して水性媒体中のナノ粒子のサイズを測定するための標準試験方法 |
| 22 | ケステンス V.、ボザツィディス V, デ テンメルマン PJ, ラメイ Y, ロベン G, J. Nanopar解決、2017, 19:271 |
| 23 | ASTM E2834-12, ナノ粒子追跡分析 (NTA) による懸濁液中のナノマテリアルの粒度分布の測定に関する標準ガイド |
| 24 | グロベルニー JW, プラディープ、ノースカロライナ州;キム・ディ;バージニア州ハックリー。原子間力顕微鏡を使用したクック RF ナノ粒子のサイズ測定。方法 Mol.バイオル。 2011, 697, 71–82 ページ。入手可能場所:デル・リオ、F. |
| 25 | ASTM E2859-11:2017, 原子間力顕微鏡を使用したナノ粒子のサイズ測定の標準ガイド |
| 26 | BRIGGS D.、SEAH MPオージェおよび X 線光電子分光法による実用的な表面分析。ジョン・ワイリー&サンズ、チチェスター、1983年 |
| 27 | RADES S.、WIRTH T.、UNGER W.、オージェ電子分光法(AES)によるシリカナノ粒子の調査、Surf.インターフェイスアナル。 2014, 46, 952-956 |
| 28 | BAER DR, GASPAR DJ, NACHIMUTHUA P.、TECHANE SD, CASTNER DG ナノ粒子の特性評価のための表面化学分析ツールの応用。アナル。バイオアナル。化学。 2010 年 2 月、396 (3) pp. 983–100 |
| 29 | HODOROABA VD, UNGER W, SHARD , ナノ粒子の特性評価、ナノ粒子の測定プロセス、エルゼビア、2019 |
| 30 | EGERTON RF, 電子顕微鏡における電子エネルギー損失分光法。 Springer New York, 第 3 版、2011 – 他に多数の参考文献 |
| 31 | IAKOUBOVSKII K.、MITSUISHI K.、NAKAYAMA Y.、FURUYA K. 電子エネルギー損失分光法による厚さ測定。マイクロスク。解像度技術。 2008, 71 (8) pp. 626–63 DOI: [要素にレンダリングが定義されていません: pub-id ] 10.1002/jemt.20597 |
| 32 | BENNINGHOVEN FG, Rüdenauer, HW Werner「二次イオン質量分析: 基本概念、機器の側面、アプリケーション、およびトレンド」。ワイリー、ニューヨーク、1987 年、1227 ページ。 |
| 33 | セノネラ M、ウンガー ウェス、ナノ世界の SIMS イメージング: 科学と技術への応用、(クリティカル レビュー) J. Anal.で。スペクトロム、2012, 27, 1050-1068 |
| 34 | LACHANCE GR, CLAISE F.定量的蛍光 X 線分析。ワイリー・インターサイエンス、ニューヨーク、1994 年 |
| 35 | BECKHOFF B.、KANNGIEßER N.、LANGHOFF, WEDELL R, WOLFF H, 実用的な蛍光 X 線分析のハンドブック。スプリンガー、2006 年 |
| 36 | SCHOONJANS T.、SILVERSMIT G.、VEKEMANS B.、SCHMITZ S.、BURGHAMMER M.、RIEKEL C. 他共焦点ナノX線蛍光分析のための基本パラメータベースの定量化アルゴリズム。スペクトロチム。アクタBアット。分光器。 2012, 67, 32–42 ページ |
| 37 | A. BUNACIUA A.、UDRIŞTIOIUB EG ABOUL-ENEIN HY, X 線回折: 機器とアプリケーション。クリティカル。アナル牧師。化学。 2015, 45 (4) pp. 289–299 |
| 38 | KJÆRVIK M. 他、2017 J. Phys.: Conden問題 29 47400 DOI [要素: pub-id にレンダリングが定義されていません] 10.1088/1361-648X/aa8b9d |
| 39 | HODOROABA VD, RADES S, SALGE T, MIELKE J, ORTEL E, SCHMIDT R, 透過モードの高解像度 SEM/EDS によるナノ粒子の特性評価、2016 IOP Conf.シリアル: メーター。科学。工学109 012006 |
| 40 | BELSEY NA, CANT DJH, MINELLI C, ARAUJO JR, BOCK B, SHARD AG 他、先進材料と標準に関するベルサイユ プロジェクト、XPS および LEIS を使用したナノ粒子コーティングの厚さと化学の測定に関する共同研究、J Phys Chem C Nanomater Interface 2016 10 27; 120(42): 24070–2407 |
| 41 | FONDEUR F, MITCHELL B S. セラミックファイバーの深さプロファイリング用の修正拡散反射赤外フーリエ変換分光セル Spectrochimica Acta Part A 56 (2000) 467 ~ 473 ページ |
| 42 | SAPTARI V.、フーリエ変換分光計測工学。 SPIE出版物、ベリンガム、2003年 |
| 43 | SHERMAN HSU C.-P.、分析化学赤外分光法の機器技術ハンドブック。第 15 章 プレンティス ホール PTR, ニュージャージー州アッパー サドル リバー、2000 年 |
| 44 | マルカ I, J. ビストリツキ。金属ハロゲン化物添加剤を含むナノ結晶水素化マグネシウムの熱挙動に対する保管時間の影響、Int. J. 水素エネルギー、2014 (39:7) ページ 3352-335 |
| 45 | ダグラス・A・スクーグ、F.、ホーラー・J.、スタンリー・R・クラウチ。機器分析の原則。トムソン・ブルックス/コール、カリフォルニア州ベルモント、第 6 版、2007 年 |
| 46 | http://www.raman.de/ |
| 47 | LABORDA F.、JIMENEZ-LAMANA J.、BOLEA E.、および CASTILLO J.、誘導結合プラズマ質量分析による単一粒子検出に基づく溶解銀 (I) および銀ナノ粒子の選択的同定、特性評価および測定、J. Anal.で。スペクトロム、2011, 26, 1362-137 |
| 48 | LIU, JY, MURPHY, KE, MACCUSPIE, RI, および WINCHESTER, MR, 「ナノ粒子のサイズ測定のための単一粒子誘導結合プラズマ質量分析の能力: 金ナノ粒子のケーススタディ」、Analytical Chemistry, 86, 3405-3414 (2014) |
| 49 | PETERS, RJB, VAN BEMMEL, G.、HERRERA-RIVERA, Z.、HELSPER, HPFG, MARVIN, HJP, WEIGEL, S.、TROMP, PC, OOMEN, AG, RIETVELD, AG, BOUWMEESTER, H. 食品中の二酸化チタンナノ粒子の特性評価: ナノ粒子を定義する分析方法。 J.アグリック.食品化学、2014, 62, 6285−6293 |
| 50 | OLESIK W.、ICP-OES および ICP-MS を使用した元素分析、Ana Chem.、1991, 63, 12A-21 |
| 51 | EHARA K.、HAGWOOD C.、COAKLEY KJ エアロゾル粒子を質量電荷比に従って分類する新しい方法 - エアロゾル粒子質量分析装置。 J.エアロゾルサイエンス。 1996 年 3 月 27 日 (2) pp. 217–234 |
| 52 | NOBLE CA, PRATHER KA リアルタイム単一粒子質量分析法: エアロゾルの化学分析の四半世紀の歴史的レビュー。質量スペクトル。 Rev. 2000, 14, 248-274 ページ |
| 53 | TAMARI S.、固体粒子の体積を測定するための定容ガス比重計の最適設計。測定。科学。テクノロジー。 2004, 5, 549–558 ページ |
| 54 | LOWELL S, SHIELDS JE, THOMAS MA, THOMMES M, 多孔質固体および粉末の特性評価: 表面積、細孔サイズおよび密度、Springer, 2004 |
| 55 | WYATT PJ, 光散乱と巨大分子の絶対的特性評価。アナル。チム。アクタ。 1993, 272, 1–40 ページ |
| 56 | BURG TP, GODIN M, KNUDSEN SM, SHEN W, CARLSON G, FOSTER JS, BABCOCK K, MANALIS SR, 流体中の生体分子、単一細胞および単一ナノ粒子の計量、Nature 2007 4 26;446(7139):1066- |
| 57 | XU R.、ナノ粒子の特性評価の進歩: サイジングとゼータ電位の測定。粒子学。 2008年4月6日(2)pp.112-115 |
| 58 | LOWRY GV, HILL RJ, HARPER S.、RAWLE AF, HENDREN CO, KLAESSIG F.、NOBBMANN U.、SAYREH P.、RUMBLE J. nanoEHS におけるゼータ電位測定の科学的価値を向上させるためのガイダンス。環境。科学:ナノ。 2016, 3, 953-965ページ |
| 59 | O'BRIEN RW, CANNON DW, ROWLANDS WN 粒子サイズとゼータ電位の電気音響測定。 J. コロイド界面科学。 1995 年 8 月、173 (2) pp. 406–418 |
| 60 | CRAIEVICH AF シンクロトロン SAXS ナノ構造材料とコロイド溶液の研究、レビュー。メーター。解像度2002, 5 (1) pp. 1–11 |
| 61 | GRAEWERT MA, SVERGUN DI 小および広角 X 線散乱 (SAXS および WAXS) への影響と進歩。カー。意見。構造体。バイオル。 2013, 23 (5) pp. 748–754 |
| 62 | ZHANG F.、ILAVSKY J. ポリマーの超小角 X 線散乱。 J.Macromol.科学。 Part C ポリマー。 2010 年改訂、5, 59 ~ 90 ページ |
| 63 | クレッグ、W. (1998)結晶構造の決定。オックスフォード化学入門書、60(1) |
| 64 | KISIELOWSKI C.、FREITAG B.、BISCHOFF M.、VAN LIN H.、LAZAR S.、KNIPPELS G. 他情報限界 0.5 Å の収差補正された電子顕微鏡による 3 次元の単一原子および埋没欠陥の検出。マイクロスク。微肛門。 2008, 14 (05) pp. 469–477 |
| 65 | BABA-KISHI KZ, 結晶学的分析のための走査型電子顕微鏡での電子後方散乱菊池回折をレビューします。 J. メーター。科学。 2002, 37 (9) pp. 1715–1746 |
| 66 | SUBRAMANIAN A.、MARKS LD 電子顕微鏡による表面結晶学。超顕微鏡検査。 2004, 98 (2) pp. 151–157 |
| 67 | BAKELEY MP, LANGAN P.、NIIMURA N.、PODJARNY A. 中性子結晶学: 機会、課題、および限界。カー。意見。構造体。バイオル。 2008, 18 (5) pp. 593–600 |
| 68 | WILLIAMS HW, CHAMBERLAND BL 示差走査熱量測定によるキュリー、ニール、または結晶転移温度の測定。アナル。化学。 1969, 41 (14) pp. 2084–2086 |
| 69 | フラマースハイム H.-J.示差走査熱量測定、医師のための入門。シュプリンガー・フェアラーク、ベルリン、1996 |
| 70 | HARRIS RK, NMR 結晶学: 化学シフトの使用。固体科学。 2004, 6 (10) pp. 1025–1037 |
| 71 | TAULELLE F.、NMR 結晶学: 結晶化学式と空間群の選択。固体科学。 2004 年 10 月 6 日 (10) pp. 1053–1057 |
| 72 | CAREY PR, ラマン結晶構造解析、およびラマン顕微鏡のその他の生化学的応用。アンヌ。 Rev. Phys.化学。 2006, 57, 527–554 ページ |
| 73 | ティッシュ、BM (2002年)。紫外および可視吸収分光法。材料の特性評価 |
| 74 | GILLILAND GD, 結晶半導体のフォトルミネッセンス分光法。メーター。科学。近くに。議員 1997, 18 (3) pp. 99–399 |
| 75 | ラコウィッツ JR 編蛍光分光法の原理。シュプリンガー サイエンス & ビジネス メディア、2013 |
| 76 | DEEN MJ, PASCAL F. 半導体材料およびデバイスの電気的特性評価 - レビュー。 J. メーター。科学。メーター。電子。 2006, 17 (8) pp. 549–575 |
| 77 | STALLINGA P.、有機電子材料およびデバイスの電気的特性評価。ジョン・ワイリー&サンズ、2009年 |
| 78 | KANO S, TADA T, MAJIMA Y, STM および STS に基づくナノ粒子の特性評価、Chemical Society Reviews, 44 970-987, 2015 |
| 79 | LANZA , 「導電性原子間力顕微鏡: ナノマテリアルへの応用」、Wiley, 2017 年。 |
| 80 | PROKSCH R.、KALININ S. ピエゾ応答力顕微鏡。マイクロ。今日。 2009, 17 (06) pp. 10–15 |
| 81 | NASIRPOURI F.、NOGARET A.ナノ磁性とスピントロニクス: 製造、材料、特性評価および応用。ワールド・サイエンティフィック誌、2011 年 |
| 82 | MILLS DLL, BLAND JACナノ磁性: 超薄膜、多層およびナノ構造。エルゼビア、Vol. 2006 年 1 月 |
| 83 | FONER S. 磁力測定のレビュー。磁気。 IEEE トランザクション。 1981, 17 (6) pp. 3358–3363 |
| 84 | KLEEMANN, W. 磁気光学材料。磁気と先端磁性材料ハンドブック |
| 85 | FOCK J, BOGART LK, GONZÁLEZ-ALONSO D, ESPESO JI, MIKKEL HANSEN F, VARÓN M, FRANDSEN C, PANKHURST QA, 57Fe メスバウアーによるマグネタイト/マグヘマイト混合物の組成、またはマグネタイト-マグヘマイト固溶体の化学量論を測定するための「重心」法について分光法、Journal of Physics D: Applied Physics, 50, 265005 |
| 86 | BOGART L K.、BLANCO-ANDUJAR C, PANKHURST QA, 酸化鉄ナノ粒子の環境酸化老化特集、Appl.物理学。レット。 113, 133701 (2018); |
| 87 | ルガー D, マミン HJ, ゲストナー P, ランバート SE, スターン JE, マクファディン I, 他磁気力顕微鏡: 一般原理と面内記録媒体への応用。 J.Appl.物理学。 1990, 68 (3) pp. 1169–1183 |
| 88 | ASTM A342/ A342M-14, 弱磁性材料の透磁率の標準試験方法 |
| 89 | GOMÈS S, ASSY A, CHAPUIS PO, 走査熱顕微鏡: レビュー、 physica status Solidi (a)、212, 477-494, 2015 |
| 90 | チコス S.、スミス S. 編計測と試験のハンドブック。 2011年 |
| 91 | ASTM E111-04:2010, ヤング率、接線弾性率、および弦弾性率の標準試験方法 |
| 92 | ASTM E1875-13, 音響共鳴による動的ヤング率、せん断弾性率、およびポアソン比の標準試験方法 |
| 93 | ASTM E1876-09, 振動のインパルス励起による動的ヤング率、せん断弾性率、およびポアソン比の標準試験方法 |
| 94 | ASTM E132-04:2010, 室温でのポアソン比の標準試験方法 |
| 95 | ASTM E143-13, 室温でのせん断弾性率の標準試験方法 |
| 96 | ASTM C1341-13, 連続繊維強化アドバンストセラミック複合材料の曲げ特性の標準試験方法 |
| 97 | ASTM D882-12, 薄いプラスチックシートの引張特性の標準試験方法 |
| 98 | ISO 26824:2013, 粒子システムの粒子特性評価 — 語彙 |
| 99 | ISO/IEC Guide 99, 計測学の国際語彙 — 基本概念および一般概念および関連用語 (VIM) |
| 100 | ISO 13322-1, 粒子サイズ分析 — 画像分析方法 — Part 1: 静的画像分析方法 |
| 101 | ISO 23210, 固定発生源排出 — 排ガス中の PM10/PM2.5 質量濃度の測定 — インパクターを使用した低濃度での測定 |
| 102 | ISO 13138, 大気質 — 人間の呼吸器系における浮遊粒子の沈着に関するサンプリング規則 |
| 103 | EN 16966:2018, 職場での暴露。ナノ物体およびその集合体および凝集体の吸入による曝露の測定。数濃度、表面積濃度、質量濃度などの使用する指標 |
| 104 | ISO 21432, 非破壊試験 — 中性子回折により残留応力を測定するための標準試験方法 |
| 105 | ISO 18115-1, 表面化学分析 - 語彙 - Part 1: 一般用語と分光法で使用される用語 |
| 106 | ISO 11358-1, プラスチック — ポリマーの熱重量測定 (TG) — Part 1: 一般原則 |
| 107 | ISO 13826, 金属およびその他の無機コーティング - レーザーフラッシュ法による溶射セラミックコーティングの熱拡散率の測定 |
| 108 | ISO/TS 12901-2, ナノテクノロジー — 加工ナノマテリアルに適用される労働リスク管理 — Part 2: コントロール バンディング アプローチの使用 |
| 109 | ISO/TS 22107, 液体中への固体粒子の分散性 |
| 110 | ISO 9276-1, 粒子サイズ分析の結果の表示 - Part 1: グラフ表示 |
| 111 | ISO 9276-2, 粒子サイズ分析の結果の表示 - Part 2: 粒子サイズ分布からの平均粒子サイズ/直径およびモーメントの計算 |
| 112 | ISO 9276-3, 粒子サイズ分析の結果の表示 - Part 3: 実験曲線の参照モデルへの調整 |
| 113 | ISO 9276-4, 粒子サイズ分析の結果の表示 - Part 4: 分級プロセスの特性評価 |
| 114 | ISO 9276-5, 粒子径分析の結果の表現 - Part: 対数正規確率分布を使用した粒子径分析に関する計算方法 |
| 115 | ISO 9276-6, 粒子サイズ分析の結果の表現 - Part 6: 粒子の形状と形態の記述的および定量的表現 |
| 116 | ISO/TR 27628, 職場雰囲気 — 超微粒子、ナノ粒子およびナノ構造エアロゾル — 吸入暴露の特性評価と評価 |
| 117 | ISO/TR 18196, ナノテクノロジー — ナノオブジェクトの特性評価のための測定技術マトリックス |
| 118 | ISO 15900, 粒子サイズ分布の測定 — エアロゾル粒子の微分電気移動度分析 |
| 119 | EN ISO 28439, 職場雰囲気 — 超微細エアロゾル/ナノエアロゾルの特性評価 — 示差電気移動度分析システムを使用したサイズ分布および数濃度の測定 |
| 120 | ISO 27891, エアロゾル粒子数濃度 - 凝縮粒子カウンターの校正 |
| 121 | ISO 13320, 粒子サイズ分析 - レーザー回折法 |
| 122 | ISO 21501-1, 粒子サイズ分布の測定 — 単一粒子光相互作用法 — Part 1: 光散乱エアロゾル分光計 |
| 123 | ISO 21363, ナノテクノロジー — 透過型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定 |
| 124 | ISO/TS 10797, ナノテクノロジー — 透過型電子顕微鏡を使用した単層カーボンナノチューブの特性評価 |
| 125 | ISO 13322-2, 粒子サイズ分析 — 画像分析方法 — Part 2: 動的画像分析方法 |
| 126 | ISO 29301, マイクロビーム分析 — 分析電子顕微鏡法 — 周期構造を持つ標準物質を使用して画像倍率を校正する方法 |
| 127 | ISO 19749, ナノテクノロジー — 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定 |
| 128 | ISO 17200, ナノテクノロジー — 粉末状のナノ粒子 — 特性と測定 |
| 129 | ISO/TS 21356-1, ナノテクノロジー — グラフェンの構造特性評価 — Part 1: 粉末および分散液からのグラフェン |
| 130 | ISO/TS 10798, ナノテクノロジー — 走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光分析を使用した単層カーボン ナノチューブの特性評価 |
| 131 | ISO 16700, マイクロビーム分析 – 走査型電子顕微鏡 – 画像倍率の校正ガイドライン |
| 132 | ISO 9277, ガス吸着による固体の比表面積の測定 — BET 法 |
| 133 | EN 13925-1:2003, 非破壊検査 - 多結晶およびアモルファス材料からの X 線回折 - Part 1: 一般原則 |
| 134 | EN 13925-2:2003, 非破壊検査 - 多結晶およびアモルファス材料からの X 線回折 - Part 2: 手順 |
| 135 | EN 13925-3:2005, 非破壊検査 - 多結晶およびアモルファス材料からの X 線回折 - 機器 |
| 136 | ISO 13318-1, 遠心液体沈降法による粒度分布の測定 - Part 1: 一般原則とガイドライン |
| 137 | ISO 13318-3, 遠心沈降法による粒度分布の測定 - Part 3: 遠心 X 線法 |
| 138 | ISO 13318-2, 遠心液体沈降法による粒度分布の測定 — Part 2: 光遠心分離法 |
| 139 | ISO 21501-2, 粒子サイズ分布の測定 — 単一粒子光相互作用法 — Part 2: 光散乱液体媒介粒子カウンター |
| 140 | ISO 22412, 粒子サイズ分析 - 動的光散乱 (DLS) |
| 141 | ISO 17867, 粒子サイズ分析 - 小角 X 線散乱 (SAXS) |
| 142 | ISO 19430, 粒子サイズ分析 - 粒子追跡分析 (PTA) 法 |
| 143 | ISO/TS 21362, ナノテクノロジー — 非対称フローおよび遠心フィールドフロー分別を使用したナノオブジェクトの分析 |
| 144 | ISO/TS 19590, ナノテクノロジー — 単一粒子誘導結合プラズマ質量分析による水性媒体中の無機ナノ粒子のサイズ分布と濃度 |
| 145 | ISO 11952, 表面化学分析 — 走査型プローブ顕微鏡法 — SPM を使用した幾何学的量の決定: 測定システムの校正 |
| 146 | ISO 11775, 表面化学分析 — 走査型プローブ顕微鏡法 — カンチレバーの垂直バネ定数の決定 |
| 147 | ISO 13095, 表面化学分析 – 原子間力顕微鏡 – ナノ構造測定に使用される AFM プローブシャンクプロファイルのその場特性評価手順 |
| 148 | ISO 16531, 表面化学分析 — 深さプロファイリング — AES および XPS における深さプロファイリングのためのイオン ビーム アライメントおよび関連する電流または電流密度の測定方法 |
| 149 | ISO 18118, 表面化学分析 — オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 — 均質材料の定量分析のための実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイド |
| 150 | ISO 16242, 表面化学分析 - オージェ電子分光法 (AES) でのデータの記録と報告 |
| 151 | ISO 29081, 表面化学分析 — オージェ電子分光法 — 帯電制御および帯電補正に使用される方法の報告 |
| 152 | ISO/TR 14187, 表面化学分析 - ナノ構造材料の特性評価 |
| 153 | ISO 15471, 表面化学分析 – オージェ電子分光法 – 選択された機器性能パラメーターの説明 |
| 154 | ISO 18116, 表面化学分析 — 分析用の試料の準備と取り付けに関するガイドライン |
| 155 | ISO 18117, 表面化学分析 - 分析前の試料の取り扱い |
| 156 | ISO 20341, 表面化学分析 - 二次イオン質量分析 - 複数のデルタ層標準物質を使用して深さ分解能パラメーターを推定する方法 |
| 157 | ISO 18114, 表面化学分析 - 二次イオン質量分析 - イオン注入された標準物質からの相対感度係数の決定 |
| 158 | ISO 23830, 表面化学分析 — 二次イオン質量分析 — 静的二次イオン質量分析における相対強度スケールの再現性と不変性 |
| 159 | ISO 22048, 表面化学分析 — 静的二次イオン質量分析のための情報フォーマット |
| 160 | ISO 14706, 表面化学分析 - 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法によるシリコン ウェーハ上の表面元素汚染の測定 |
| 161 | ISO/TS 18507, 表面化学分析 - 生物学および環境分析における全反射 X 線蛍光分光法の使用 |
| 162 | ISO 16243, 表面化学分析 - X 線光電子分光法 (XPS) でのデータの記録と報告 |
| 163 | ISO 13424, 表面化学分析 - X 線光電子分光法 - 薄膜分析結果の報告 |
| 164 | ISO 11357-1, プラスチック — 示差走査熱量測定 (DSC) — Part 1: 一般原則 |
| 165 | ISO 11357-7, プラスチック — 示差走査熱量測定 (DSC) — Part 7: 結晶化速度の決定 |
| 166 | ISO 10640, プラスチック — FTIR および UV/可視分光法によるポリマーの光老化を評価する方法論 |
| 167 | ISO/TS 14101, ナノマテリアル特異的毒性スクリーニングのための金ナノ粒子の表面特性評価: FT-IR 法 |
| 168 | ISO 21870, ゴム配合成分 - カーボンブラック - 熱重量分析による高温加熱損失の測定 |
| 169 | ISO/TS 11308, ナノテクノロジー — 熱重量分析を使用したカーボン ナノチューブ サンプルの特性評価 |
| 170 | ISO/TS 10868, ナノテクノロジー — 紫外可視近赤外 (UV-Vis-NIR) 吸収分光法を使用した単層カーボン ナノチューブの特性評価 |
| 171 | ISO/TS 13278, ナノテクノロジー — 誘導結合プラズマ質量分析法を使用したカーボン ナノチューブのサンプル中の元素不純物の測定 |
| 172 | ISO 17294-1, 水質 — 誘導結合プラズマ質量分析法 (ICP-MS) の応用 — Part 1: 一般ガイドライン |
| 173 | ISO 17294-2, 水質 — 誘導結合プラズマ質量分析法 (ICP-MS) の応用 — Part 2: ウラン同位体を含む選択された元素の測定 |
| 174 | ISO 11885, 水質 — 誘導結合プラズマ発光分析法 (ICP-OES) による選択された元素の測定 |
| 175 | ISO/TS 12025, ナノマテリアル — エアロゾルの生成による粉末からのナノ物体の放出の定量化 |
| 176 | ISO 12154, 体積変位による密度の決定 - ガスピクノメトリーによるスケルトン密度 |
| 177 | ISO 8573-8, 圧縮空気 - Part 8: 質量濃度による固体粒子含有量の試験方法 |
| 178 | ISO 10808, ナノテクノロジー — 吸入毒性試験用の吸入曝露チャンバー内のナノ粒子の特性評価 |
| 179 | ISO 16014-5, プラスチック — サイズ排除クロマトグラフィーを使用したポリマーの平均分子量および分子量分布の測定 — Part 5: 光散乱法 |
| 180 | ISO 18747-1, 沈降法による粒子密度の決定 - Part 1: 等密度補間アプローチ |
| 181 | ISO 18747-2, 沈降法による粒子密度の測定 - Part 2: 複数速度アプローチ |
| 182 | ISO 13099-1, コロイド系 — ゼータ電位の測定方法 — Part 1: 電気音響現象および界面動電現象 |
| 183 | ISO 13099-2, コロイドシステム — ゼータ電位測定の方法 — Part 2: 光学的方法 |
| 184 | ISO 13099-3, コロイドシステム — ゼータ電位測定方法 — Part 3: 音響法 |
| 185 | ISO 24173, マイクロビーム解析 — 後方散乱電子回折を使用した方位測定のガイドライン |
| 186 | ISO 25498, マイクロビーム分析 — 分析電子顕微鏡法 — 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析 |
| 187 | ISO 13067, マイクロビーム分析 — 電子後方散乱回折 — 平均粒径の測定 |
| 188 | ISO/TS 17466, カドミウムカルコゲニドコロイド量子ドットの特性評価における紫外可視吸収分光法の使用 |
| 189 | IEC 80000-6:2008, 数量と単位 - Part 6: 電磁気 |
| 190 | EN 481:1993, 職場の雰囲気 - 浮遊粒子測定のためのサイズ分率の定義 |
| 191 | EN 15051-1:2013, 職場暴露 - バルク材料の粉塵の測定 - 要件と試験方法の選択 |
| 192 | EN 15051-2:2016, 職場暴露 - バルク材料の粉塵の測定 - Part 2: 回転ドラム法 |
| 193 | EN 15051-3:2013, 職場での暴露。バルク材の粉塵度の測定。連続滴下方式 |
| 194 | ISO 3219-1, レオロジー — Part 1: 回転および振動レオメトリーの語彙と記号 |
| 195 | ISO 3219-2, レオロジー - Part 2: 回転および振動レオメトリーの一般原則 |
| 196 | ISO 1628-1, プラスチック — 毛細管粘度計を使用した希薄溶液中のポリマーの粘度の測定 — Part 1: 一般原則 |
| 197 | ISO 2884-1, 塗料およびワニス — 回転粘度計を使用した粘度の測定 — Part 1: 高いせん断速度で操作されるコーンアンドプレート粘度計 |
| 198 | ISO 2884-2, 塗料およびワニス — 回転粘度計を使用した粘度の測定 — Part 2: 指定された速度で操作されるディスクまたはボール粘度計 |
| 199 | ISO 12058-1, プラスチック — 落球粘度計を使用した粘度の測定 — Part 1: 傾斜管法 |
| 200 | ISO 4575, プラスチック - ポリ(塩化ビニル)ペースト - サーバーズレオメーターを使用した見掛け粘度の測定 |
| 201 | ISO 16790, プラスチック - 溶融状態の熱可塑性プラスチックの延伸特性の決定 |
| 202 | ISO 11443, プラスチック — キャピラリーおよびスリットダイレオメーターを使用したプラスチックの流動性の測定 |
| 203 | ISO 6721-10, プラスチック — 動的機械的特性の測定 — Part 10: 平行平板振動レオメーターを使用した複素せん断粘度 |
| 204 | ISO 13145, ゴム - ローターレス密閉せん断レオメーターを使用した粘度と応力緩和の測定 |
| 205 | ISO/TS 21357, ナノテクノロジー — 静的多重光散乱 (SMLS) による分散液中のナノオブジェクトの平均サイズの評価 |
| 206 | ISO/TR 13097, 分散安定性の特性評価に関するガイドライン |
| 207 | ISO 7579, 染料 — 有機溶媒中の溶解度の測定 — 重量分析および測光法 |
| 208 | ISO/TR 13014, ナノテクノロジー — 毒性評価のための人工ナノスケール材料の物理化学的特性評価に関するガイダンス |
| 209 | ISO 14577-1, 金属材料 — 硬度および材料パラメータの計器による押し込み試験 — Part 1: 試験方法 |
| 210 | ISO 14577-2, 金属材料 — 硬度および材料パラメーターの計装による押し込み試験 — Part 2: 試験機の検証と校正 |
| 211 | ISO 14577-3, 金属材料 — 硬度および材料パラメーターの計装による押し込み試験 — Part 3: 基準ブロックの校正 |
| 212 | ISO 14577-4, 金属材料 — 硬度および材料パラメーターの計器による押し込み試験 — Part 4: 金属および非金属コーティングの試験方法 |
| 213 | ISO/TR 11811, ナノテクノロジー — ナノおよびマイクロトライボロジー測定方法に関するガイダンス |
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO/TS 80004-1:2015, ISO/TS 80004-2:2015 and ISO/TS 80004-6:2021 and the following apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
3.1 General core terms
3.1.1
nanoscale
length range approximately from 1 nm to 100 nm
Note 1 to entry: Properties that are not extrapolations from a larger size are predominately exhibited in this length range.
[SOURCE:ISO/TS 80004-1:2015, 2.1]
3.1.2
nano-object
discrete piece of material with one, two or three external dimensions in the nanoscale (3.1.1)
Note 1 to entry: The second and third external dimensions are orthogonal to the first dimension and to each other.
[SOURCE:ISO/TS 80004-1:2015, 2.5]
3.1.3
agglomerate
collection of weakly bound particles (3.1.5) or aggregates (3.1.4) or mixtures of the two where the resulting external surface area is similar to the sum of the surface areas of the individual components
Note 1 to entry: The forces holding an agglomerate together are weak forces, for example van der Waals forces, or simple physical entanglement.
Note 2 to entry: Agglomerates are also termed secondary particles and the original source particles are termed primary particles (3.1.6) .
[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 3.10]
3.1.4
aggregate
particle (3.1.5) comprising strongly bonded or fused particles where the resulting external surface area may be significantly smaller than the sum of calculated surface areas of the individual components
Note 1 to entry: The forces holding an aggregate together are strong forces, for example covalent bonds, or those resulting from sintering or complex physical entanglement.
Note 2 to entry: Aggregates are also termed secondary particles and the original source particles are termed primary particles (3.1.6) .
[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 3.11]
3.1.5
particle
minute piece of matter with defined physical boundaries
Note 1 to entry: A physical boundary can also be described as an interface
Note 2 to entry: A particle can move as a unit
Note 3 to entry: This general particle definition applies to nano-objects (3.1.2)
[SOURCE:ISO 26824:2013, 1.1]
3.1.6
primary particle
original source particle (3.1.5) of agglomerates (3.1.3) or aggregates (3.1.4) or mixtures of the two
Note 1 to entry: Constituent particles of agglomerates or aggregates at a certain actual state may be primary particles, but often the constituents are aggregates.
Note 2 to entry: Agglomerates and aggregates are also termed secondary particles.
[SOURCE:ISO 26824:2013, 1.4]
3.1.7
constituent particle
identifiable, integral component of a larger particle (3.1.5)
Note 1 to entry: The constituent particle structures may be primary particles (3.1.6) or secondary particles.
[SOURCE:ISO/TS 80004-2:2015, 3.3]
3.2 Measurand related terms
3.2.1
measurand
quantity intended to be measured
Note 1 to entry: The specification of a measurand requires knowledge of the kind of quantity, description of the state of the phenomenon, body, or substance carrying the quantity, including any relevant component, and the chemical entities involved.
Note 2 to entry: In the second edition of the VIM and in IEC 60050-300:2001, the measurand is defined as the “particular quantity subject to measurement”.
Note 3 to entry: The measurement, including the measuring system and the conditions under which the measurement is carried out, might change the phenomenon, body, or substance such that the quantity being measured may differ from the measurand as defined. In this case, adequate correction is necessary.
EXAMPLE 1:
The potential difference between the terminals of a battery may decrease when using a voltmeter with a significant internal conductance to perform the measurement. The open-circuit potential difference can be calculated from the internal resistances of the battery and the voltmeter.
EXAMPLE 2:
The length of a steel rod in equilibrium with the ambient Celsius temperature of 23 °C will be different from the length at the specified temperature of 20 °C, which is the measurand. In this case, a correction is necessary.
Note 4 to entry: In chemistry, “analyte”, or the name of a substance or compound, are terms sometimes used for “measurand”. This usage is erroneous because these terms do not refer to quantities.
[SOURCE:ISO/IEC Guide 99:2007, 2.3]
3.2.2
particle size
linear dimension of a particle (3.1.5) determined by a specified measurement method and under specified measurement conditions
Note 1 to entry: Different methods of analysis are based on the measurement of different physical properties. Independent of the particle property actually measured, the particle size can be reported as a linear dimension, e.g. as the equivalent spherical diameter.
[SOURCE:ISO 26824:2013,1.5]
3.2.3
particle size distribution
distribution of the quantity of particles (3.1.5) as a function of particle size (3.2.2)
Note 1 to entry: Particle size distribution may be expressed as cumulative distribution or a distribution density (distribution of the fraction of material in a size class, divided by the width of that class).
Note 2 to entry: The quantity can be, for example, number, mass, or volume based.
[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 4.1.2]
3.2.4
particle shape
external geometric form of a particle (3.1.5)
[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 4.1.3]
3.2.5
aspect ratio
ratio of length of a particle (3.1.5) to its width
[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 4.1.4]
3.2.6
equivalent diameter
diameter of a sphere that produces a response by a given particle-sizing method, that is equivalent to the response produced by the particle (3.1.5) being measured
Note 1 to entry: Physical properties are, for example, the same settling velocity or electrolyte solution displacing volume or projection area under a microscope. The physical property to which the equivalent diameter refers should be indicated using a suitable subscript (see ISO 9276-1:1998), e.g. subscript “V” for equivalent volume diameter and subscript “S” for equivalent surface area diameter.
Note 2 to entry: For discrete-particle-counting, light-scattering instruments, an equivalent optical diameter is used.
Note 3 to entry: Other parameters, e.g. the effective density of the particle in a fluid, are used for the calculation of the equivalent diameter such as Stokes diameter or sedimentation equivalent diameter. The parameters used for the calculation should be reported additionally.
Note 4 to entry: For inertial instruments, the aerodynamic diameter (3.2.9) is used. Aerodynamic diameter is the diameter of a sphere of density 1 000 kg m−3 that has the same settling velocity as the particle in question.
[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 4.1.5]
3.2.7
light scattering
change in propagation of light at the interface of two media having different optical properties
[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 4.2.5]
3.2.8
hydrodynamic diameter
equivalent diameter (3.2.6) of a particle (3.1.5) in a liquid having the same diffusion coefficient as a spherical particle with no boundary layer in that liquid
Note 1 to entry: In practice, nanoparticles in solution can be non-spherical, dynamic, and solvated.
Note 2 to entry: A particle in a liquid will have a boundary layer. This is a thin layer of fluid or adsorbates close to the solid surface, within which shear stresses significantly influence the fluid velocity distribution. The fluid velocity varies from zero at the solid surface to the velocity of free stream flow at a certain distance away from the solid surface.
[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 4.2.6]
3.2.9
aerodynamic diameter
diameter of a sphere of density 1 g/cm3 with the same terminal velocity due to gravitational force in calm air as the particle (3.1.5) , under prevailing conditions of temperature, pressure and relative humidity
Note 1 to entry: Adapted from ISO 7708:1995, 2.2.
[SOURCE:ISO 23210:2009, 3.1.1]
3.2.10
mobility diameter
particle mobility diameter
particle mobility equivalent diameter
mobility equivalent diameter
diameter of a sphere carrying a single elementary charge with the same drift speed in an electric field as the particle (3.1.5) under prevailing condition of temperature and pressure
Note 1 to entry: The mobility diameter of a particle depends on its size, shape and electric charge level (which depends on the charging process involving its capacitance, i.e. its capacity to become electrically charged by bipolar air ions), but not of its density.
[SOURCE:EN 16966:2018]
3.2.11
mass specific surface area
absolute surface area of the sample divided by sample mass
Note 1 to entry: The mass specific surface area has units of m2/kg.
[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 4.6.1]
3.2.12
photoluminescence
luminescence caused by absorption of optical radiation
[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 5.3]
3.2.13
Raman effect
emitted radiation, associated with molecules illuminated with monochromatic radiation, characterized by an energy loss or gain arising from rotational or vibrational excitations
[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 5.9]
3.2.14
lattice parameters
linear and angular dimensions of the crystallographic unit cell
[SOURCE:ISO 21432:2019, 3.19]
3.2.15
scattering angle
angle between the direction of the incident particle (3.1.5) or photon and the direction that the particle or photon is travelling after scattering
[SOURCE:ISO 18115-1:2013, 4.18]
3.2.16
zeta potential
electrokinetic potential
difference in electric potential between that at the slipping plane and that of the bulk liquid
Note 1 to entry: Electrokinetic potential is expressed in volts
[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 6.4.5]
3.2.17
fluorescence
phenomenon in which absorption of light of a given wavelength by a substance is followed by the emission of light at a longer wavelength
[SOURCE:ISO/TS 80004-6:2021, 4.5.12]
3.2.18
Curie temperature
temperature at which a ferromagnetic material passes from the ferromagnetic state to the paramagnetic state or vice versa
[SOURCE:ISO 11358-1:2014, 3.3]
3.2.19
thermal diffusivity
ratio of thermal conductivity to specific heat capacity per unit mass, which describes the rate at which heat flows through a material, expressed in m2/s
[SOURCE:ISO 13826:2013, 2.1]
3.2.20
solubility
maximum mass of a nanomaterial that is soluble in a given volume of a particular solvent under specified conditions
Note 1 to entry: Solubility is expressed in grams per litre of solvent.
[SOURCE:ISO/TS 12901-2:2014, 3.17]
3.2.21
dispersibility
qualitative or quantitative characteristic or property of a particulate source material assessing the ease with which said material can be dispersed within a continuous phase
Note 1 to entry: Spatially uniform distribution (homogeneity) of the dispersed phase is considered an integral part of the desired end point.
Note 2 to entry: Particle size (3.2.2) or particle size distribution (3.2.3) is often used as an end point relative to defined criteria specific to the application.
Note 3 to entry: Dispersibility refers to a specific dispersion process and specific process time.
Note 4 to entry: Dispersion stability, though a related phenomenon, should not be confused with dispersibility.
[SOURCE:ISO/TS 22107:2021, 3.6]
Bibliography
| 1 | KESKINEN J., PIETARINEN K., LEHTIMÄKI M. Electrical-low pressure impactor. J. Aerosol Sci. 1992, 23 pp. 353–360 |
| 2 | WANG S.C., FLAGAN R.C. Scanning electrical mobility spectrometer. Aerosol Sci. Technol. 1990, 13 pp. 230–240 |
| 3 | KOO J.H., HIRLEMAN E.D. Review of principles of optical techniques for particle size measurements.In: Recent advances in spray combustion: spray atomization and drop burning phenomena, (Kuo K.K., ed.). American Institute of Aeronautics, Reston, VA, Vol. 1, 1996, pp. 3–32. |
| 4 | WILSON J.C., LIU B.H.Y. Aerodynamic particle size measurement by Laser-Doppler velocimetry. J. Aerosol Sci. 1980, 11 pp. 139–150 |
| 5 | R′MILI B., LE BIHAN O., DUTOUQUET C., AGUERRE-CHARIOL O., FREJAFON E., Particle Sampling by TEM Grid Filtration. Aerosol Sci. Technol. 2013, 47 (7) pp. 767–775 |
| 6 | LE BIHAN O., ZANTMAN A., THEVENET S. R'Mili, B.; Ustache, A. Evaluation de l'efficacité de prélèvement d'un précipitateur électrostatique. 26eme Congrès Français sur les Aérosols (CFA 2011), Paris, France, 2011, pp.NC. HAL Id: ineris-00973609 http://hal-ineris.ccsd.cnrs.fr/ineris-00973609 |
| 7 | PACHAURI T., SINGLA V., SATSANGI A., LAKHANI A., MAHARAJ KUMARI K. SEM-EDX Characterization of Individual Coarse Particles in Agra, India. Aerosol Air Qual. Res. 2013, 13 pp. 523–536 |
| 8 | HODOROABA V.-D., RADES S., KISHORE N., ORTS-GIL G., UNGER W.E.S. Morphology of Nanoparticles: A Characterization Using High-Resolution SEM. Imaging & Microscopy. 2013, 15 p. 54 |
| 9 | BRUNAUER S., EMMETT P.H., TELLER E. Adsorption of gases in multimolecular layers. J. Am. Chem. Soc.1938, 60 pp. 309–319 |
| 10 | MCCAVE I.N., BRYANT R.J., COOK H.F., COUGHANOWR C.A. Evaluation of a Laser-Diffraction-Size Analyzer For Use with Natural Sediments. J. Sediment. Res. 1986, 56 (4) pp. 561–564 |
| 11 | INGHAM B X-ray scattering characterisation of nanoparticles, Crystallography Reviews, 2015 21( 4), pp. 229-303 |
| 12 | DRESSELHAUS M.S., JORIO A., HOFMANN M., DRESSELHAUS G., SAITO R. Perspectives on Carbon Nanotubes and Graphene Raman Spectroscopy. Nano Lett. 2010, 10 (3) pp. 751–758 |
| 13 | BOKOVA S.N., OBRAZTSOVA E.D., GREBENYUKOV V.V., ELUMEEVA K.V., ISHCHENKO A.V., KUZNETSOV V.L. Raman diagnostics of multi-wall carbon nanotubes with a small wall number. Phys. Status Solidi. 2010, 247 (11-12) pp. 2827–2830 [b] |
| 14 | BRAUN A., COUTEAU O., FRANKS K., KESTENS V., ROEBBEN G., LAMBERTY A. et al. Validation of dynamic light scattering and centrifugal liquid sedimentation methods for nanoparticle characterization. Adv. Powder Technol. 2011, 22 (6) pp. 766–770 |
| 15 | GUINIER A., FOURNET G. Small-Angle Scattering of X-rays. Wiley, New York, 1955 |
| 16 | QIAN H., SHEETZ M.P., ELSON E.L. Single particle tracking. Analysis of diffusion and flow in two dimensional systems. Biophys. J. 1991, 60 (4) pp. 910–921 |
| 17 | SCHIMPF, ME; CALDWELL, K; GIDDINGS, JC, Field flow fractionation handbook. Wiley-Interscience: New York, 2000. |
| 18 | GIGAULT, J; PETTIBONE, JM; SCHMITT, C; HACKLEY, VA, Rational strategy for characterization of nanoscale particles by asymmetric-flow field flow fractionation: A tutorial. Anal Chim Acta 2014, 809, 9-24 |
| 19 | DEGUELDRE C. AND FAVARGER P.Y., Colloid analysis by single particle inductively coupled plasma mass spectroscopy: a feasibility study. Colloids Surf., A, 2003, 217, 137–142 |
| 20 | ASTM E2490-09, Standard guide for measurement of particle size distribution of nanomaterials in suspension by Photon Correlation Spectroscopy (PCS) |
| 21 | ASTM E3247-20, Standard Test Method for Measuring the Size of Nanoparticles in Aqueous Media Using Dynamic Light Scattering |
| 22 | KESTENS V., BOZATZIDIS V, DE TEMMERMAN P-J, RAMAYE Y, ROEBBEN G, J. Nanopart. Res., 2017, 19:271 |
| 23 | ASTM E2834-12, Standard Guide for Measurement of Particle Size Distribution of Nanomaterials in Suspension by Nanoparticle Tracking Analysis (NTA) |
| 24 | GROBELNY J. W., Pradeep, N.; Kim D. I.; Hackley V. A.; Cook R. F. Size measurement of nanoparticles using atomic force microscopy. Methods Mol. Biol. 2011, 697 pp. 71–82. Available at: Del Rio, F. |
| 25 | ASTM E2859-11:2017, Standard Guide for Size Measurement of Nanoparticles Using Atomic Force Microscopy |
| 26 | BRIGGS D., SEAH M.P. Practical Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy. John Wiley & Sons, Chichester, 1983 |
| 27 | RADES S., WIRTH T., UNGER W., Investigation of silica nanoparticles by Auger electron spectroscopy (AES), Surf. Interface Anal. 2014, 46, 952–956 |
| 28 | BAER DR, GASPAR DJ, NACHIMUTHUA P., TECHANE SD, CASTNER DG Application of Surface Chemical Analysis Tools for Characterization of Nanoparticles. Anal. Bioanal. Chem. 2010 February, 396 (3) pp. 983–1000. |
| 29 | HODOROABA V-D, UNGER W, SHARD A (Eds), Characterization of Nanoparticles, Measurement Processes for Nanoparticles, Elsevier, 2019 |
| 30 | EGERTON R.F., Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. Springer New York, Third Edition, 2011 – lots of references elswhere |
| 31 | IAKOUBOVSKII K., MITSUISHI K., NAKAYAMA Y., FURUYA K. Thickness measurements with electron energy loss spectroscopy. Microsc. Res. Tech. 2008, 71 (8) pp. 626–631. DOI: [no rendering defined for element: pub-id ] 10.1002/jemt.20597 |
| 32 | BENNINGHOVEN F.G., Rüdenauer, H. W. Werner “Secondary Ion Mass Spectrometry: Basic Concepts, Instrumental Aspects, Applications, and Trends”. Wiley, New York, 1987, 1227 p. |
| 33 | SENONERA M, UNGER WES, SIMS imaging of the nanoworld: applications in science and technology, (Critical Review) J. Anal. At. Spectrom., 2012, 27, 1050-1068 |
| 34 | LACHANCE G.R., CLAISSE F. Quantitative X-ray fluorescence analysis. Wiley-Interscience, New York, 1994 |
| 35 | BECKHOFF B., KANNGIEßER N., LANGHOFF, WEDELL R, WOLFF H, Handbook of practical X-ray fluorescence analysis. Springer, 2006 |
| 36 | SCHOONJANS T., SILVERSMIT G., VEKEMANS B., SCHMITZ S., BURGHAMMER M., RIEKEL C. et al. Fundamental parameter based quantification algorithm for confocal nano-X-ray fluorescence analysis. Spectrochim. Acta B At. Spectrosc. 2012, 67 pp. 32–42 |
| 37 | A. BUNACIUA A., UDRIŞTIOIUB E.G. ABOUL-ENEIN H.Y., X-Ray Diffraction: Instrumentation and Applications. Crit. Rev. Anal. Chem. 2015, 45 (4) pp. 289–299 |
| 38 | KJÆRVIK M. et al, 2017 J. Phys.: Condens. Matter 29 47400 DOI [no rendering defined for element: pub-id ] 10.1088/1361-648X/aa8b9d |
| 39 | HODOROABA V-D, RADES S, SALGE T, MIELKE J, ORTEL E, SCHMIDT R, Characterisation of nanoparticles by means of high-resolution SEM/EDS in transmission mode, 2016 IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. 109 012006 |
| 40 | BELSEY NA, CANT DJH, MINELLI C,ARAUJO JR, BOCK B, SHARD AG et al, Versailles Project on Advanced Materials and Standards Interlaboratory Study on Measuring the Thickness and Chemistry of Nanoparticle Coatings Using XPS and LEIS, J Phys Chem C Nanomater Interfaces. 2016 Oct 27; 120(42): 24070–24079. |
| 41 | FONDEUR F, MITCHELL B S. A modified diffuse reflectance infrared Fourier transform spectroscopy cell for depth profiling of ceramic fibers Spectrochimica Acta Part A 56 (2000) pages 467–473 |
| 42 | SAPTARI V., Fourier-Transform Spectroscopy Instrumentation Engineering. SPIE Publication, Bellingham, 2003 |
| 43 | SHERMAN HSU C.-P., Handbook of Instrumental Techniques for Analytical Chemistry Infrared Spectroscopy. Chapter 15. Prentice Hall PTR, Upper Saddle River, NJ, 2000 |
| 44 | MALKA I, J. BYSTRZYCKI. The effect of storage time on thermal behavior of nanocrystalline magnesium hydride with metal halide additives, Int. J. Hydrogen Energy, 2014 (39:7) pages 3352- 3359; |
| 45 | DOUGLAS A. SKOOG, F., HOLLER J., STANLEY R. CROUCH; Principles of Instrumental Analysis. Thomson Brooks/Cole, Belmont, CA, Sixth Edition, 2007 |
| 46 | http://www.raman.de/ |
| 47 | LABORDA F., JIMENEZ-LAMANA J., BOLEA E., AND CASTILLO J., Selective identification, characterization and determination of dissolved silver(I) and silver nanoparticles based on single particle detection by inductively coupled plasma mass spectrometry, J. Anal. At. Spectrom., 2011, 26, 1362-1371. |
| 48 | LIU, J. Y., MURPHY, K. E., MACCUSPIE, R. I., AND WINCHESTER, M. R., “Capabilities of Single Particle Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry for the Size Measurement of Nanoparticles: A Case Study on Gold Nanoparticles,” Analytical Chemistry, 86, 3405-3414 (2014). |
| 49 | PETERS, R.J.B., VAN BEMMEL, G., HERRERA-RIVERA, Z., HELSPER, H.P.F.G., MARVIN, H.J.P., WEIGEL, S., TROMP, P.C., OOMEN, A.G., RIETVELD, A.G., BOUWMEESTER, H. Characterization of titanium dioxide nanoparticles in food products: Analytical methods to define nanoparticles. J. Agric. Food Chem., 2014, 62, 6285−6293 |
| 50 | OLESIK W., Elemental analysis using ICP-OES and ICP-MS, Anal. Chem., 1991, 63, 12A-21A. |
| 51 | EHARA K., HAGWOOD C., COAKLEY K.J. Novel method to classify aerosol particles according to their mass-to-charge ratio—Aerosol particle mass analyser. J. Aerosol Sci. 1996 March, 27 (2) pp. 217–234 |
| 52 | NOBLE C.A., PRATHER K.A. Real‐time single particle mass spectrometry: A historical review of a quarter century of the chemical analysis of aerosols. Mass Spectrom. Rev. 2000, 14 pp. 248–274 |
| 53 | TAMARI S., Optimum design of the constant-volume gas pycnometer for determining the volume of solid particles. Meas. Sci. Technol. 2004, 5 pp. 549–558 |
| 54 | LOWELL S, SHIELDS J E, THOMAS M A, THOMMES M, Characterization of Porous Solids and Powders: Surface Area, Pore Size and Density, Springer, 2004 |
| 55 | WYATT P.J., Light scattering and the absolute characterization of macromolecules. Anal. Chim. Acta. 1993, 272 pp. 1–40 |
| 56 | BURG T P, GODIN M, KNUDSEN S M, SHEN W, CARLSON G, FOSTER J S, BABCOCK K, MANALIS S R, Weighing of biomolecules, single cells and single nanoparticles in fluid, Nature . 2007 Apr 26;446(7139):1066-9. |
| 57 | XU R., Progress in nanoparticles characterization: Sizing and zeta potential measurement. Particuology. 2008 April, 6 (2) pp. 112–115 |
| 58 | LOWRY G.V., HILL R.J., HARPER S., RAWLE A.F., HENDREN C.O., KLAESSIG F., NOBBMANN U., SAYREH P., RUMBLE J. Guidance to improve the scientific value of zeta-potential measurements in nanoEHS. Environ. Sci.: Nano. 2016, 3 pp. 953-965 |
| 59 | O’BRIEN R.W., CANNON D.W., ROWLANDS W.N. Electroacoustic determination of particle size and zeta potential. J. Colloid Interface Sci. 1995 August, 173 (2) pp. 406–418 |
| 60 | CRAIEVICH A.F. Synchrotron SAXS Studies of Nanostructured Materials and Colloidal Solutions, A Review. Mater. Res. 2002, 5 (1) pp. 1–11 |
| 61 | GRAEWERT M.A., SVERGUN D.I. Impact and progress in small and wide angle X-ray scattering (SAXS and WAXS). Curr. Opin. Struct. Biol. 2013, 23 (5) pp. 748–754 |
| 62 | ZHANG F., ILAVSKY J. Ultra-small-angle X-ray scattering of polymers. J. Macromol. Sci. Part C Polym. Rev. 2010, 50 (1) pp. 59–90 |
| 63 | CLEGG, W. (1998). Crystal structure determination. Oxford Chemistry Primers, 60(1) |
| 64 | KISIELOWSKI C., FREITAG B., BISCHOFF M., VAN LIN H., LAZAR S., KNIPPELS G. et al. Detection of single atoms and buried defects in three dimensions by aberration-corrected electron microscope with 0.5-Å information limit. Microsc. Microanal. 2008, 14 (05) pp. 469–477 |
| 65 | BABA-KISHI K.Z., Review Electron backscatter Kikuchi diffraction in the scanning electron microscope for crystallographic analysis. J. Mater. Sci. 2002, 37 (9) pp. 1715–1746 |
| 66 | SUBRAMANIAN A., MARKS L.D. Surface crystallography via electron microscopy. Ultramicroscopy. 2004, 98 (2) pp. 151–157 |
| 67 | BLAKELEY M.P., LANGAN P., NIIMURA N., PODJARNY A. Neutron crystallography: opportunities, challenges, and limitations. Curr. Opin. Struct. Biol. 2008, 18 (5) pp. 593–600 |
| 68 | WILLIAMS H.W., CHAMBERLAND B.L. Determination of Curie, Neel, or crystallographic transition temperatures via differential scanning calorimetry. Anal. Chem. 1969, 41 (14) pp. 2084–2086 |
| 69 | FLAMMERSHEIM H.-J. Differential Scanning Calorimetry, An Introduction for Practitioners. Springer- Verlag, Berlin, 1996 |
| 70 | HARRIS R.K., NMR crystallography: the use of chemical shifts. Solid State Sci. 2004, 6 (10) pp. 1025–1037 |
| 71 | TAULELLE F., NMR crystallography: crystallochemical formula and space group selection. Solid State Sci. 2004 October, 6 (10) pp. 1053–1057 |
| 72 | CAREY P.R., Raman crystallography and other biochemical applications of Raman microscopy. Annu. Rev. Phys. Chem. 2006, 57 pp. 527–554 |
| 73 | TISSUE, B. M. (2002). Ultraviolet and Visible Absorption Spectroscopy. Characterization of Materials |
| 74 | GILLILAND G.D., Photoluminescence spectroscopy of crystalline semiconductors. Mater. Sci. Eng. Rep. 1997, 18 (3) pp. 99–399 |
| 75 | LAKOWICZ J.R., ed. Principles of fluorescence spectroscopy. Springer Science & Business Media, 2013 |
| 76 | DEEN M.J., PASCAL F. Electrical characterization of semiconductor materials and devices—review. J. Mater. Sci. Mater. Electron. 2006, 17 (8) pp. 549–575 |
| 77 | STALLINGA P., Electrical Characterization of Organic Electronic Materials and Devices. John Wiley & Sons, 2009 |
| 78 | KANO S, TADA T, MAJIMA Y, Nanoparticle characterization based on STM and STS, Chemical Society Reviews, 44 970-987, 2015 |
| 79 | LANZA M (Editor), Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials, Wiley, 2017. |
| 80 | PROKSCH R., KALININ S. Piezoresponse Force Microscopy. Micros. Today. 2009, 17 (06) pp. 10–15 |
| 81 | NASIRPOURI F., NOGARET A. Nanomagnetism and spintronics: fabrication, materials, characterization and applications. World Scientific, 2011 |
| 82 | MILLS D.L.L., BLAND J.A.C. Nanomagnetism: ultrathin films, multilayers and nanostructures. Elsevier, Vol. 1, 2006 |
| 83 | FONER S. Review of magnetometry. Magnetics. IEEE Transactions on. 1981, 17 (6) pp. 3358–3363 |
| 84 | KLEEMANN, W. Magneto‐optical Materials. Handbook of Magnetism and Advanced Magnetic Materials |
| 85 | FOCK J, BOGART L K, GONZÁLEZ-ALONSO D, ESPESO J I, MIKKEL HANSEN F, VARÓN M, FRANDSEN C, PANKHURST Q. A., On the 'centre of gravity' method for measuring the composition of magnetite/maghemite mixtures, or the stoichiometry of magnetite-maghemite solid solutions, via 57Fe Mössbauer spectroscopy, Journal of Physics D: Applied Physics, 50, 265005 |
| 86 | BOGART L K., BLANCO-ANDUJAR C, PANKHURST Q.A., Environmental oxidative aging of iron oxide nanoparticles featured, Appl. Phys. Lett. 113, 133701 (2018); |
| 87 | RUGAR D., MAMIN H.J., GUETHNER P., LAMBERT S.E., STERN J.E., MCFADYEN I. et al. Magnetic force microscopy: General principles and application to longitudinal recording media. J. Appl. Phys. 1990, 68 (3) pp. 1169–1183 |
| 88 | ASTM A342/ A342M-14, Standard Test Methods for Permeability of Weakly Magnetic Materials |
| 89 | GOMÈS S, ASSY A, CHAPUIS P-O, Scanning thermal microscopy: A review, physica status solidi (a), 212, 477-494, 2015 |
| 90 | CZICHOS S., SMITH S., eds. Handbook of Metrology and Testing. 2011 |
| 91 | ASTM E111-04:2010, Standard test method for Young’s modulus, tangent modulus, and chord modulus |
| 92 | ASTM E1875-13, Standard test method for dynamic young’s modulus, shear modulus, and Poisson’s ratio by sonic resonance |
| 93 | ASTM E1876-09, Standard test method for dynamic young’s modulus, shear modulus, and Poisson’s ratio by impulse excitation of vibration |
| 94 | ASTM E132-04:2010, Standard test method for Poisson’s ratio at room temperature |
| 95 | ASTM E143-13, Standard test method for shear modulus at room temperature |
| 96 | ASTM C1341-13, Standard Test Method for Flexural Properties of Continuous Fibre-Reinforced Advanced Ceramic Composites |
| 97 | ASTM D882-12, Standard test method for tensile properties of thin plastic sheeting |
| 98 | ISO 26824:2013, Particle characterization of particulate systems — Vocabulary |
| 99 | ISO/IEC Guide 99, International vocabulary of metrology — Basic and general concepts and associated terms (VIM) |
| 100 | ISO 13322-1, Particle size analysis — Image analysis methods — Part 1: Static image analysis methods |
| 101 | ISO 23210, Stationary source emissions — Determination of PM10/PM2,5 mass concentration in flue gas — Measurement at low concentrations by use of impactors |
| 102 | ISO 13138, Air quality — Sampling conventions for airborne particle deposition in the human respiratory system |
| 103 | EN 16966:2018, Workplace exposure. Measurement of exposure by inhalation of nano-objects and their aggregates and agglomerates. Metrics to be used such as number concentration, surface area concentration and mass concentration |
| 104 | ISO 21432, Non-destructive testing — Standard test method for determining residual stresses by neutron diffraction |
| 105 | ISO 18115-1, Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy |
| 106 | ISO 11358-1, Plastics — Thermogravimetry (TG) of polymers — Part 1: General principles |
| 107 | ISO 13826, Metallic and other inorganic coatings — Determination of thermal diffusivity of thermally sprayed ceramic coatings by laser flash method |
| 108 | ISO/TS 12901-2, Nanotechnologies — Occupational risk management applied to engineered nanomaterials — Part 2: Use of the control banding approach |
| 109 | ISO/TS 22107, Dispersibility of solid particles into a liquid |
| 110 | ISO 9276-1, Representation of results of particle size analysis — Part 1: Graphical representation |
| 111 | ISO 9276-2, Representation of results of particle size analysis — Part 2: Calculation of average particle sizes/diameters and moments from particle size distributions |
| 112 | ISO 9276-3, Representation of results of particle size analysis — Part 3: Adjustment of an experimental curve to a reference model |
| 113 | ISO 9276-4, Representation of results of particle size analysis — Part 4: Characterization of a classification process |
| 114 | ISO 9276-5, Representation of results of particle size analysis — Part 5: Methods of calculation relating to particle size analyses using logarithmic normal probability distribution |
| 115 | ISO 9276-6, Representation of results of particle size analysis — Part 6: Descriptive and quantitative representation of particle shape and morphology |
| 116 | ISO/TR 27628, Workplace atmospheres — Ultrafine, nanoparticle and nano-structured aerosols — Inhalation exposure characterization and assessment |
| 117 | ISO/TR 18196, Nanotechnologies — Measurement technique matrix for the characterization of nano-objects |
| 118 | ISO 15900, Determination of particle size distribution — Differential electrical mobility analysis for aerosol particles |
| 119 | EN ISO 28439, Workplace atmospheres — Characterization of ultrafine aerosols/nano aerosols — Determination of the size distribution and number concentration using differential electrical mobility analysing systems |
| 120 | ISO 27891, Aerosol particle number concentration — Calibration of condensation particle counters |
| 121 | ISO 13320, Particle size analysis — Laser diffraction methods |
| 122 | ISO 21501-1, Determination of particle size distribution — Single particle light interaction methods — Part 1: Light scattering aerosol spectrometer |
| 123 | ISO 21363, Nanotechnologies — Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy |
| 124 | ISO/TS 10797, Nanotechnologies — Characterization of single-wall carbon nanotubes using transmission electron microscopy |
| 125 | ISO 13322-2, Particle size analysis — Image analysis methods — Part 2: Dynamic image analysis methods |
| 126 | ISO 29301, Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures |
| 127 | ISO 19749, Nanotechnologies — Measurements of particle size and shape distributions by scanning electron microscopy |
| 128 | ISO 17200, Nanotechnology — Nanoparticles in powder form — Characteristics and measurements |
| 129 | ISO/TS 21356-1, Nanotechnologies — Structural characterization of graphene — Part 1: Graphene from powders and dispersions |
| 130 | ISO/TS 10798, Nanotechnologies — Charaterization of single-wall carbon nanotubes using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectrometry analysis |
| 131 | ISO 16700, Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification |
| 132 | ISO 9277, Determination of the specific surface area of solids by gas adsorption — BET method |
| 133 | EN 13925-1:2003, Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous material – Part 1: General principles |
| 134 | EN 13925-2:2003, Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous material – Part 2: Procedures |
| 135 | EN 13925-3:2005, Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous materials - Instruments |
| 136 | ISO 13318-1, Determination of particle size distribution by centrifugal liquid sedimentation methods — Part 1: General principles and guidelines |
| 137 | ISO 13318-3, Determination of particle size distribution by centrifugal liquid sedimentation methods — Part 3: Centrifugal X-ray method |
| 138 | ISO 13318-2, Determination of particle size distribution by centrifugal liquid sedimentation methods — Part 2: Photocentrifuge method |
| 139 | ISO 21501-2, Determination of particle size distribution — Single particle light interaction methods — Part 2: Light scattering liquid-borne particle counter |
| 140 | ISO 22412, Particle size analysis — Dynamic light scattering (DLS) |
| 141 | ISO 17867, Particle size analysis — Small angle X-ray scattering (SAXS) |
| 142 | ISO 19430, Particle size analysis — Particle tracking analysis (PTA) method |
| 143 | ISO/TS 21362, Nanotechnologies — Analysis of nano-objects using asymmetrical-flow and centrifugal field-flow fractionation |
| 144 | ISO/TS 19590, Nanotechnologies — Size distribution and concentration of inorganic nanoparticles in aqueous media via single particle inductively coupled plasma mass spectrometry |
| 145 | ISO 11952, Surface chemical analysis — Scanning-probe microscopy — Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems |
| 146 | ISO 11775, Surface chemical analysis — Scanning-probe microscopy — Determination of cantilever normal spring constants |
| 147 | ISO 13095, Surface Chemical Analysis — Atomic force microscopy — Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement |
| 148 | ISO 16531, Surface chemical analysis — Depth profiling — Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS |
| 149 | ISO 18118, Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials |
| 150 | ISO 16242, Surface chemical analysis — Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES) |
| 151 | ISO 29081, Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy — Reporting of methods used for charge control and charge correction |
| 152 | ISO/TR 14187, Surface chemical analysis — Characterization of nanostructured materials |
| 153 | ISO 15471, Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy — Description of selected instrumental performance parameters |
| 154 | ISO 18116, Surface chemical analysis — Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis |
| 155 | ISO 18117, Surface chemical analysis — Handling of specimens prior to analysis |
| 156 | ISO 20341, Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials |
| 157 | ISO 18114, Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials |
| 158 | ISO 23830, Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry |
| 159 | ISO 22048, Surface chemical analysis — Information format for static secondary-ion mass spectrometry |
| 160 | ISO 14706, Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy |
| 161 | ISO/TS 18507, Surface chemical analysis — Use of Total Reflection X-ray Fluorescence spectroscopy in biological and environmental analysis |
| 162 | ISO 16243, Surface chemical analysis — Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) |
| 163 | ISO 13424, Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of results of thin-film analysis |
| 164 | ISO 11357-1, Plastics — Differential scanning calorimetry (DSC) — Part 1: General principles |
| 165 | ISO 11357-7, Plastics — Differential scanning calorimetry (DSC) — Part 7: Determination of crystallization kinetics |
| 166 | ISO 10640, Plastics — Methodology for assessing polymer photoageing by FTIR and UV/visible spectroscopy |
| 167 | ISO/TS 14101, Surface characterization of gold nanoparticles for nanomaterial specific toxicity screening: FT-IR method |
| 168 | ISO 21870, Rubber compounding ingredients — Carbon black — Determination of high-temperature loss on heating by thermogravimetry |
| 169 | ISO/TS 11308, Nanotechnologies — Characterization of carbon nanotube samples using thermogravimetric analysis |
| 170 | ISO/TS 10868, Nanotechnologies — Characterization of single-wall carbon nanotubes using ultraviolet-visible-near infrared (UV-Vis-NIR) absorption spectroscopy |
| 171 | ISO/TS 13278, Nanotechnologies — Determination of elemental impurities in samples of carbon nanotubes using inductively coupled plasma mass spectrometry |
| 172 | ISO 17294-1, Water quality — Application of inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS) — Part 1: General guidelines |
| 173 | ISO 17294-2, Water quality — Application of inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS) — Part 2: Determination of selected elements including uranium isotopes |
| 174 | ISO 11885, Water quality — Determination of selected elements by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP-OES) |
| 175 | ISO/TS 12025, Nanomaterials — Quantification of nano-object release from powders by generation of aerosols |
| 176 | ISO 12154, Determination of density by volumetric displacement — Skeleton density by gas pycnometry |
| 177 | ISO 8573-8, Compressed air — Part 8: Test methods for solid particle content by mass concentration |
| 178 | ISO 10808, Nanotechnologies — Characterization of nanoparticles in inhalation exposure chambers for inhalation toxicity testing |
| 179 | ISO 16014-5, Plastics — Determination of average molecular weight and molecular weight distribution of polymers using size-exclusion chromatography — Part 5: Light-scattering method |
| 180 | ISO 18747-1, Determination of particle density by sedimentation methods — Part 1: Isopycnic interpolation approach |
| 181 | ISO 18747-2, Determination of particle density by sedimentation methods — Part 2: Multi-velocity approach |
| 182 | ISO 13099-1, Colloidal systems — Methods for zeta-potential determination — Part 1: Electroacoustic and electrokinetic phenomena |
| 183 | ISO 13099-2, Colloidal systems — Methods for zeta-potential determination — Part 2: Optical methods |
| 184 | ISO 13099-3, Colloidal systems — Methods for zeta potential determination — Part 3: Acoustic methods |
| 185 | ISO 24173, Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction |
| 186 | ISO 25498, Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope |
| 187 | ISO 13067, Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Measurement of average grain size |
| 188 | ISO/TS 17466, Use of UV-Vis absorption spectroscopy in the characterization of cadmium chalcogenide colloidal quantum dots |
| 189 | IEC 80000-6:2008, Quantities and units — Part 6: Electromagnetism |
| 190 | EN 481:1993, Workplace atmospheres - Size fraction definitions for measurement of airborne particles |
| 191 | EN 15051-1:2013, Workplace exposure - Measurement of the dustiness of bulk materials - Requirements and choice of test methods |
| 192 | EN 15051-2:2016, Workplace exposure - Measurement of the dustiness of bulk materials - Part 2: Rotating drum method |
| 193 | EN 15051-3:2013, Workplace exposure. Measurement of the dustiness of bulk materials. Continuous drop method |
| 194 | ISO 3219-1, Rheology — Part 1: Vocabulary and symbols for rotational and oscillatory rheometry |
| 195 | ISO 3219-2, Rheology — Part 2: General principles of rotational and oscillatory rheometry |
| 196 | ISO 1628-1, Plastics — Determination of the viscosity of polymers in dilute solution using capillary viscometers — Part 1: General principles |
| 197 | ISO 2884-1, Paints and varnishes — Determination of viscosity using rotary viscometers — Part 1: Cone-and-plate viscometer operated at a high rate of shear |
| 198 | ISO 2884-2, Paints and varnishes — Determination of viscosity using rotary viscometers — Part 2: Disc or ball viscometer operated at a specified speed |
| 199 | ISO 12058-1, Plastics — Determination of viscosity using a falling-ball viscometer — Part 1: Inclined-tube method |
| 200 | ISO 4575, Plastics — Poly(vinyl chloride) pastes — Determination of apparent viscosity using the Severs rheometer |
| 201 | ISO 16790, Plastics — Determination of drawing characteristics of thermoplastics in the molten state |
| 202 | ISO 11443, Plastics — Determination of the fluidity of plastics using capillary and slit-die rheometers |
| 203 | ISO 6721-10, Plastics — Determination of dynamic mechanical properties — Part 10: Complex shear viscosity using a parallel-plate oscillatory rheometer |
| 204 | ISO 13145, Rubber — Determination of viscosity and stress relaxation using a rotorless sealed shear rheometer |
| 205 | ISO/TS 21357, Nanotechnologies — Evaluation of the mean size of nano-objects in liquid dispersions by static multiple light scattering (SMLS) |
| 206 | ISO/TR 13097, Guidelines for the characterization of dispersion stability |
| 207 | ISO 7579, Dyestuffs — Determination of solubility in organic solvents — Gravimetric and photometric methods |
| 208 | ISO/TR 13014, Nanotechnologies — Guidance on physico-chemical characterization of engineered nanoscale materials for toxicologic assessment |
| 209 | ISO 14577-1, Metallic materials — Instrumented indentation test for hardness and materials parameters — Part 1: Test method |
| 210 | ISO 14577-2, Metallic materials — Instrumented indentation test for hardness and materials parameters — Part 2: Verification and calibration of testing machines |
| 211 | ISO 14577-3, Metallic materials — Instrumented indentation test for hardness and materials parameters — Part 3: Calibration of reference blocks |
| 212 | ISO 14577-4, Metallic materials — Instrumented indentation test for hardness and materials parameters — Part 4: Test method for metallic and non-metallic coatings |
| 213 | ISO/TR 11811, Nanotechnologies — Guidance on methods for nano- and microtribology measurements |