JIS B 7604-2:2017 充填用自動はかり―第２部：試験方法

                                                                                 B 7604-2 : 2017

pdf 目 次

ページ

•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 記号,単位及び式・・・・[2]
•  5 一般試験要件・・・・[2]
•  5.1 電源・・・・[2]
•  5.2 ゼロ点設定・・・・[2]
•  5.3 温度・・・・[2]
•  5.4 回復・・・・[3]
•  5.5 予備負荷・・・・[3]
•  5.6 管理はかり・・・・[3]
•  5.7 d未満の数字の表示・・・・[3]
•  5.8 検査・・・・[4]

6 充量試験 4
6.1 各充量の質量の計量 4

•  6.2 実量試験の実施・・・・[4]
•  6.3 充回数 56.4 標準器の精度・・・・[5]
•  6.5 実量試験方法・・・・[5]
•  6.6 事前設定値・・・・[6]
•  6.7 試験充量の質量及び平均質量値 66.8 自動計量の偏差・・・・[7]
•  6.9 自動計量の事前設定値誤差・・・・[7]
•  7 静的試験(型式検査段階)・・・・[7]
•  7.1 一般・・・・[7]
•  7.2 ゼロ点設定装置及び風袋引き装置・・・・[7]
•  7.3 型式検査のための静的計量試験方法・・・・[9]
•  7.4 精度等級の基準値Ref(x)の決定・・・・[9]
•  8 影響因子試験及び妨害試験・・・・[9]
•  8.1 試験条件・・・・[9]
•  8.2 影響因子試験・・・・[11]
•  8.3 妨害試験・・・・[21]
•  9 スパン安定性試験・・・・[34]
•  10 実量試験の手順・・・・[34]
•  10.1 型式検査における実量試験・・・・[34]

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――――― [JIS B 7604-2 pdf 1] ―――――

B 7604-2 : 2017

pdf 目次

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•  10.2 受渡検査における実量試験・・・・[35]
•  附属書A(規定)複数荷重のAGFIの誤差の計算・・・・[37]
•  附属書B(参考)被試験装置・・・・[39]
•  附属書C(参考)定格最小充量(Minfill)についての考察 40附属書D(参考)自動はかりのための非自動はかり(質量計用指示計)の試験結果の換算・・・・[42]

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                                                                                 B 7604-2 : 2017

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づき,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本
工業規格である。
  これによって,JIS B 7604:1996は廃止され,その一部を分割して制定したこの規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任をもたない。
  JIS B 7604の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS B 7604-1 第1部 : 計量要件及び技術要件
    JIS B 7604-2 第2部 : 試験方法

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――――― [JIS B 7604-2 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           B 7604-2 : 2017

充用自動はかり−第2部 : 試験方法

Automatic gravimetric filling instruments-Part 2: Tests

1 適用範囲

  この規格は,製品の個々の質量を自動計量して,所定質量ごとに充する充用自動はかり(AGFI)の
試験方法について規定する。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0192 はかり用語
    JIS B 7604-1 充用自動はかり−第1部 : 計量要件及び技術要件
    JIS B 7611-2 非自動はかり−性能要件及び試験方法−第2部 : 取引又は証明用
    JIS B 7612-1 質量計用ロードセル−第1部 : アナログロードセル
    JIS B 7612-2 質量計用ロードセル−第2部 : デジタルロードセル
    JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−第2-1部 : 低温(耐寒性)試験方法(試験記号 : A)
    JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : B)
    JIS C 60068-2-30 環境試験方法−電気・電子−第2-30部 : 温湿度サイクル(12+12時間サイクル)
        試験方法(試験記号 : Db)
    JIS C 60068-2-78 環境試験方法−電気・電子−第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法(試験記号 : 
        Cab)
    JIS C 60068-3-1 環境試験方法−電気・電子−第3-1部 : 低温(耐寒性)試験及び高温(耐熱性)試
        験の支援文書及び指針
    JIS C 60068-3-4 環境試験方法−電気・電子−第3-4部 : 高温高湿試験の指針
    JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-3 電磁両立性−第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-4 電磁両立性−第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バー
        ストイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-5 電磁両立性−第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-6 電磁両立性−第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導
        妨害に対するイミュニティ
    JIS C 61000-4-11 電磁両立性−第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧
        変動に対するイミュニティ試験

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B 7604-2 : 2017
    JIS C 61000-4-20 電磁両立性−第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミ
        ッション及びイミュニティ試験
    JIS C 61000-6-1 電磁両立性−第6-1部 : 共通規格−住宅,商業及び軽工業環境におけるイミュニテ
        ィ
    JIS C 61000-6-2 電磁両立性−第6-2部 : 共通規格−工業環境におけるイミュニティ
    JIS Z 8103 計測用語
    ISO 7637-2,Road vehicles−Electrical disturbances from conduction and coupling−Part 2: Electrical transient
        conduction along supply lines only
    ISO 7637-3:2007,Road vehicles−Electrical disturbances from conduction and coupling−Part 3: Electrical
        transient transmission by capacitive and inductive coupling via lines other than supply lines
    ISO 16750-2,Road vehicles−Environmental conditions and testing for electrical and electronic equipment−
        Part 2: Electrical loads
    IEC 60654-2,Operating conditions for industrial-process measurement and control equipment. Part 2: Power
    IEC 61000-4-17,Electromagnetic compatibility(EMC)−Part 4-17: Testing and measurement techniques−
        Ripple on d.c. input power port immunity test
    IEC 61000-4-29,Electromagnetic compatibility(EMC)−Part 4-29: Testing and measurement techniques−
        Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c. input power port immunity tests

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS B 0192,JIS B 7604-1及びJIS Z 8103による。

4 記号,単位及び式

  この規格で用いる記号,単位及び誤差の計算に関わる式は,JIS B 7604-1による。
  定格最小充量(Minfill)については,附属書Cに記載する。

5 一般試験要件

5.1 電源

  試験に用いるAGFI(附属書B参照)は,製造業者が指定した起動時間以上通電し,試験中は通電した
状態に維持しなければならない。

5.2 ゼロ点設定

  AGFIのゼロ点は,試験の開始前に設定し,有意な誤りが生じた場合のリセットを除いて,試験中いか
なる場合においても,再設定してはならない。自動ゼロ点設定装置又はゼロトラッキング装置の動作は,
各試験に規定するとおりとする。

5.3 温度

  試験は,安定した周囲温度で実施する。
  なお,この規格の各箇条の試験において温度条件が規定されていない場合は,通常の室温で実施する。
さらに,次の条件に全て適合している場合は,温度は安定しているとみなす。また,AGFIには結露が生
じてはならない。
− 試験中に記録した最高温度と最低温度との差が,5 ℃を超えない場合。
− 温度変化が1時間当たり5 ℃を超えない場合。

――――― [JIS B 7604-2 pdf 5] ―――――

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