JIS C 4526-1:2020 機器用スイッチ―第１部：通則 | ページ 10

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8 mmにわたって取り去り,可とう導体の1本の素線を残し,残りの導体を端子に全部挿入し締め付ける。
  未処理より線用と定義した端子(7.20.3及び7.20.4)において,この試験を実施する。
  試験の適否 : 
  その残した素線を,被覆絶縁物を逆方向に裂くことなく,全ての可能な方向に曲げる。ただし,隔壁の
周りに鋭い曲げを行わないようにする。
  可とう導体の残した素線は,11.3に関連する部分には接触してはならない。
  接地端子に接続した可とう導体の残した素線は,いかなる充電部にも接触してはならない。

11.10 複数の導体(TT4)

  接続する導体は,製造業者が指定した,又は表4の最大断面積とする。
  7.20.13に規定した端子は,11.8.4 a)からc)(TT2)を順次実施する。
  7.20.12に規定した端子は,11.8.2 a)からc)(TT2)を順次実施する。
  2本以上の導体の相互接続を意図した端子(7.20.9)の場合には,試験は指定された数の導体を取り付け
た端子で繰り返し,該当する引張力を各導体に順次に加える。
  試験の適否 : 
  11.8.2又は11.8.4のc)の引張り試験中に,導体は端子から抜けてはならない。これらの試験の後に,端
子と固定部品はいずれも緩んではならない。

12 構造

12.1 感電に対する保護に関連する構造上の要求事項

12.1.1 二重絶縁構造を用いる場合には,基礎絶縁と付加絶縁とは別々に試験できるように設計されてい
なければならない。ただし,基礎絶縁及び付加絶縁の性能に関する適合性を製造業者が他の方法で示すこ
とができる場合を除く。
  適否は,目視検査によって判定する。
a) 基礎絶縁及び付加絶縁が別々に試験できない場合,並びに基礎絶縁及び付加絶縁の性能に関する適合
    性を製造業者が他の方法で示すことができない場合は,強化絶縁とみなす。
b) スイッチの試料を試験に供すことができない場合,試験ができるように準備した試料,又はその絶縁
    部分の試料は,適合性を判定する試料とみなす。
12.1.2 スイッチは,沿面距離及び空間距離が摩耗の結果,箇条20に規定する値未満に減少することがな
いように設計しなければならない。スイッチは,たとえスイッチの導電部が緩んでその位置から外れても,
通常の使用中,付加絶縁又は強化絶縁が介在する沿面距離又は空間距離が箇条20に規定する値未満に減少
しない構造でなければならない。
  適否は,目視検査,測定及び手動の試験によって判定する。
  この試験において,次を仮定する。
− 二つの独立した固定具をもつ場合には,それらが同時に緩むことはない。
− ロックワッシャを備えたねじ又はナットによって固定された部品であって,使用者が保守又はサービ
    スの間にそれらのねじ又はナットを取り外す必要がない場合には,その部品は,緩むおそれがない。
− ばね及びばね部品は,箇条18及び箇条19の試験中に緩まなければ,緩むおそれ又はその位置から外
    れ落ちるおそれがない。
12.1.3 一体組付け導体は,通常の使用中に沿面距離及び空間距離が,箇条20に規定する値未満に減少し
ないような硬いもの,固定されたもの又は絶縁されたものでなければならない。

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  上記絶縁は,取付け中又は通常の使用中に損傷を受けないものでなければならない。
  適否は,目視検査及び箇条20の試験によって判定する。
  導体の絶縁が,該当するJISに適合するケーブル及びコードの絶縁と少なくとも電気的に同等でない場
合,又はその導体とその絶縁の周りに巻かれた金属はく(箔)との間で,箇条15に規定した条件で行う耐
電圧試験に適合しない場合には,その導体は裸導体であるとみなす。
12.1.4 完全断路又はマイクロ断路は,直列に接続された機械的接点(並列接続又はインパルス耐電圧試
験で評価される並列接続を除く。)だけで構成される。
12.1.5 電子式断路は,並列接続の部品若しくは直列接続の接点を通る回路,又は機械式接点をもたない
スイッチによって構成される。

12.2 スイッチの取付け及び通常の動作中の安全に関連する構造上の要求事項

12.2.1 安全のために設けられたカバー,カバープレート,取外し可能なアクチュエータなどは,工具の
使用なしでは取替え又は動かすことができない方法によって固定されていなければならない。カバー又は
カバープレートの固定部材は,アクチュエータを除く他の部品を固定するために用いてはならない。
  取外し可能部品,例えば,表示灯又はノブを取り付けたカバープレートは,切換え位置の表示が切換え
位置に一致しないように取り付けることが不可能でなければならない。
12.2.2 カバー又はカバープレートの固定ねじは,緩み止めされていなければならない。
厚紙又は同様の材料の緩み止めのワッシャは,この目的に対して適切であるとみなす。
12.2.3 スイッチは,そのアクチュエータを製造業者が指定したとおりに取り外したとき,損傷を受けて
はならない。
  12.2.1,12.2.2及び12.2.3の要求事項への適否は,アクチュエータを取り外し,18.3及び18.4の試験によ
って判定する。
12.2.4 引きひもは,充電部から絶縁されていなければならない。さらに,充電部へ可触になるような部
品の取外しをすることなしに,引きひもの取付け又は取外しができなければならない。
  適否は,目視検査によって判定する。
12.2.5 照光式の表示灯がスイッチに組み込まれている場合には,製造業者が決めたとおりの正しい表示
を行わなければならない。
  適否は,ランプ回路の電圧又はスイッチの定格電圧のいずれかの電圧の±10 %以内の電圧を,スイッチ
に接続して判定する。

12.3 スイッチの取付け及びコードの取付けに関連する構造上の要求事項

12.3.1 スイッチは,製造業者の指定する取付方法が,この規格に適合するように設計していなければな
らない。
  取付方法は,工具の使用なしでスイッチが回転,位置の移動及び機器から取外しができるものであって
はならない。キーのような部品の取外しがスイッチの通常の使用に必要である場合には,この取外しの前
後において,箇条9,箇条15及び箇条20の要求事項を満たしていなければならない。
  適否は,目視検査及び手動の試験によって判定する。
a) 1個のナット及びアクチュエータと同心の単一軸受によって固定するスイッチが,ナットを締付け及
    び/又は緩めるのに工具が必要であり,かつ,これら部品が適切な機械的強度をもつ場合には,この
    要求事項に適合しているとみなす。
b) ねじを使用しないで取り付けた組込みスイッチは,機器から取り外す前に工具の使用を必要とする場
    合には,この要求事項に適合しているとみなす。

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12.3.2 取外しできる導体は,導体の挿入及び取外しの方法を明確に表示していなければならない。導体
の取外しは,導体の引張り以外の操作で行わなければならない。
12.3.3 導体の挿入又は取外しのための工具の開口部は,導体用の開口部と明瞭に区別できなければなら
ない。

13 機構

  直列に接続された接点をもつスイッチは,13.113.5に適合しなければならない。
13.1  定格電流が0.1 Aを超え,かつ,定格電圧が28 Vを超える直流スイッチの開閉速度は,操作速度と
は無関係でなければならない。
  適否は,JIS C 4526-1-1又はJIS C 4526-1-2の箇条17(耐久性),TC10の試験中に判定する。
13.2  中間位置があるスイッチは,中間位置において意図しない動作をしてはならない。
  適否は,15.3の試験によって判定する。中間位置にあるアクチュエータに関連した隣接端子間に,7.14
に規定した断路の種類に応じて,表8の試験電圧を印加する。
13.3  アクチュエータを開放したとき,アクチュエータは,可動接点に対応する位置に自動的に追従する
か,又はその位置にとどまらなければならない。ただし,唯一の停止位置をもつスイッチの場合に,アク
チュエータが通常の停止位置を占める場合を除く。
  適否は,手動の試験によって判定する。この試験は,スイッチを製造業者の指定どおりに取り付け,ア
クチュエータを通常使用するときと同様に操作する。
  必要があるときは,中間位置における接点の開離を15.3の耐電圧試験によって判定する。このとき,全
てのカバーを取り外すことなく,試験電圧を端子間に印加する。
13.4  引きひもスイッチは,操作させてから引きひもを手放したとき,機構に関連する部分は,その位置
から次の動きへの即時動作可能な位置にあるように構成されていなければならない。
  適否は,目視検査及び次の試験によって判定する。
  引きひもスイッチは,スイッチを製造業者の指定どおりに取り付け,鉛直方向へ45 N以下,又は鉛直か
ら45°方向に70 N以下の弾みをつけないで引張力を加えるか,又は力を解除するように引きひもを操作
する場合,一つの位置から次の位置へ動作しなければならない。
13.5  多極スイッチは,表3の6.2(動作シーケンス)に適合し,他の方法で製造業者が指定しない限り,
全ての関連する極を実質的に同時に開閉しなければならない。中性線開閉をもつスイッチは,中性線は他
のものより前に投入し,後に遮断しなければならない。
  適否は,目視検査及び必要があるときは試験によって判定する。

14 固形異物,水の浸入及び高湿状態に対する保護

14.1 固形異物の侵入に対する保護

  スイッチは,製造業者の指定どおり取り付けて使用したとき,固形異物に対してJIS C 0920:2003の13.3
による保護等級を提供しなければならない。
  適否は,JIS C 0920:2003の試験によって判定する。
  取外し可能な部品は取り外す。製造業者が指定した固形異物に対する保護等級で,機器の中又はその上
面に取り付けなければならないスイッチは,その機器を模擬するために閉じた箱の内部又はその上面に取
り付けて試験を行わなければならない。
  第一特性数字が5及び6の場合には,この試験はカテゴリ2で実施し,試料が製造業者の指定事項を考

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慮しつつ,最も不利な位置で8時間続行する。8時間の試験は,スイッチに定格最大電流を1時間,続い
て通電なしの状態を1時間繰り返す。
  第一特性数字が5の場合には,次の条件を満たせば適合しているとみなす。
− 全ての動作が,製造業者が指定したとおり機能する。
− 端子の温度上昇は,箇条16によって試験したとき55 Kを超えない。ただし,定格電流によって周囲
    温度25 ℃±10 ℃で行う端子温度上昇試験は除く。
− 15.3の耐電圧試験を適用する。ただし,印加前の湿度処理はしない。試験電圧は,15.3の75 %とする。
− 充電部と接地金属,可触金属部又はアクチュエータとの間で放電が起きた形跡がない。
  第一特性数字が6の場合には,試験後スイッチ内部にじんあいの堆積がなければ,保護構造は合格とす
る。

14.2 水の浸入に対する保護

  スイッチは,製造業者の指定どおり取り付けて使用したとき,水の浸入に対し,指定の保護等級を提供
しなければならない。
  適否は,通常使用の全ての姿勢で,JIS C 0920:2003又はIEC 60529:2013の試験を行って判定する。スイ
ッチは,試験前に25 ℃±10 ℃の温度で24時間放置する。
  次に,JIS C 0920:2003又はIEC 60529:2013に従って次の試験を行う。
− IPX1スイッチは,排水口を開けて,JIS C 0920:2003の14.2.1の試験を行う。
− IPX2スイッチは,排水口を開けて,JIS C 0920:2003の14.2.2の試験を行う。
− IPX3スイッチは,排水口を閉じて,JIS C 0920:2003の14.2.3の試験を行う。
− IPX4スイッチは,排水口を閉じて,JIS C 0920:2003の14.2.4の試験を行う。
− IPX5スイッチは,排水口を閉じて,JIS C 0920:2003の14.2.5の試験を行う。
− IPX6スイッチは,排水口を閉じて,JIS C 0920:2003の14.2.6の試験を行う。
− IPX7スイッチは,排水口を閉じて,JIS C 0920:2003の14.2.7の試験を行う。
− IPX8スイッチは,排水口を閉じて,JIS C 0920:2003の14.2.8の試験を行う。
− IPX9スイッチは,排水口を閉じて,IEC 60529:2013の14.2.9の試験を行う。
  試験直後,スイッチは15.3の耐電圧試験に耐え,絶縁物上に箇条20に規定する沿面距離及び空間距離
を低下させることになる水分の痕跡が,検出されてはならない。
a) これらの試験中,スイッチには通電しない。また,水温はスイッチの温度と5 K以上の差があっては
    ならない。
b) 取外し可能な部品は取り外す。
c) ゴム又は熱可塑性プラスチック製のガスケット,ねじ式グランド,メンブレン,その他の封止方法は,
    周囲の雰囲気と同じ組成及び気圧の加熱槽の中で,空気の自然循環によって換気しながらエージング
    を行う。
d) 7.3.1に指定するスイッチは,70 ℃±2 ℃の温度の試験槽に保持する。7.3.2及び7.3.3に指定するスイ
    ッチは,8.4.2の“T”に続く二つの数値の低い方の温度とする。グランド又はメンブレンをもつスイ
    ッチは,箇条11に規定する導体を接続する。グランドは,表11に規定するトルクで締め付ける。外
    郭の固定ねじは,表10に規定するトルクで締め付ける。
e) エージング直後,部品は槽から取り出し,直射日光を避けて16時間以上,25 ℃±10 ℃に放置する。
f) 水の浸入に対する保護等級が,機器への取付けに依存するスイッチは,その機器を模した箱に適切に
    取り付けて試験を行う。

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g) 第二特性数字が3及び4の場合には,JIS 0920:2003に規定する手持ちスプレーノズルを使用すること
    が望ましい。

14.3 高湿状態に対する保護

  スイッチは,通常使用時に生じる高湿度状態に対して耐えなければならない。
  適否は,この箇条に規定する湿度処理を行った直後,15.2及び15.3の試験を行って判定する。ケーブル
の挿入孔及び(あるならば)排水口は,開いたままにする。防水スイッチの排水口は開けておく。
a) 試料は,恒温恒湿槽に入れる前に,t t+4 ℃の温度にする(tは恒温恒湿槽の定常状態温度を指す)。
b) 着脱できる部品は取り外し,必要があるときは,本体部分と一緒に湿度処理を行う。
c) 湿度処理は,相対湿度91 %を超え,温度20 ℃30 ℃の任意の温度t±5 ℃の恒温恒湿槽内で行う。試
    料は,槽の中に96時間保持する。
d) 恒温恒湿槽から取り出した後,15.2及び15.3の試験を周囲環境で2時間以内に完了させなければなら
    ない。
  スイッチは,この規格の適合性を損なうような損傷があってはならない。
  多くの場合,湿度処理前に,試料を4時間以上放置すれば特定の温度にすることができる。
  槽内を特定の状態に保つため,空気の定常的な循環及び断熱された槽を使用する。

15 絶縁抵抗及び耐電圧

15.1 一般要求事項

  スイッチは,十分な絶縁抵抗及び耐電圧をもたなければならない。
  適否は,14.3の試験の直後に,15.2及び15.3の試験によって判定する。
  表8の試験電圧を次のとおり印加する。
− 機能絶縁は,スイッチの異極の間。各極の全ての部分を相互接続する。
− 基礎絶縁は,全ての充電部と基礎絶縁の外側の可触表面を覆った金属はく(箔)及び基礎絶縁に接触
    している可触金属部との間。
− 二重絶縁は,相互接続された全ての充電部と外部を覆った,通常,基礎絶縁及び非可触金属部の表面
    には触れない金属はく(箔)との間,並びにこれに続いて付加絶縁の内側の通常は非可触表面であっ
    て,非可触金属部に接続されるものと,付加絶縁の外側の可触表面であって,可触金属部に接続され
    るものを別々に覆う2個の金属はく(箔)との間。
− 強化絶縁は,相互接続される全ての充電部と,強化絶縁の外側の可触表面を覆う金属はく(箔)及び
    可触金属部との間。
− 接点間は,スイッチの各極の開路接点の間。
  金属はく(箔)は,開口部中には押し込まないが,テストフィンガ(JIS C 0922:2002に基づく検査プロ
ーブB)によってコーナ及び類似箇所の中には押し込む。
  基礎絶縁及び付加絶縁を個別に試験することができない場合には,強化絶縁に規定した試験電圧を印加
する。
  電子的スイッチに対する試験は,半導体スイッチング素子に直列に接続された機械的スイッチング素子
をもった電子的スイッチに対してだけ完全断路及びマイクロ断路間で行う。
  電子的スイッチにおいて,保護インピーダンス及び部品によって相互接続された極間には試験を実施し
ない。

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