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C 4526-1 : 2020
a) 圧力板なし端子 b) 圧力板付き端子
D : 導体スペース(規定されていない。)
g : 締付けねじとエンドストップとの間の距離(規定されていない。)
図1−ピラー端子の例
a) ねじ端子
b) スタッド端子
A : 固定部品
B : 座金又は締付板
C : ばらけ防止具
D : 導体スペースの幅(規定されていない。)
E : スタッド(植込みボルト)
図2−ねじ端子及びスタッド端子の例
――――― [JIS C 4526-1 pdf 71] ―――――
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C 4526-1 : 2020
A : サドル
B : ケーブルラグ又は帯状導体
C : スタッド(植込みボルト)
D : 導体スペース(規定されていない。)
図3−サドル端子の例
A : 緩み止め
B : ケーブルラグ又は帯状導体
E : 固定部品
F : スタッド(植込みボルト)
図4−ラグ端子の例
A : 固定部品
D : 導体スペース(規定されていない。)
導体スペースの底部は,信頼性のある接続を得るために円形状にしなければならない。
図5−マントル端子の例
――――― [JIS C 4526-1 pdf 72] ―――――
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C 4526-1 : 2020
a) 間接圧力クランプ手段をもつねじなし端子及び駆動部品による解除
b) 直接圧力クランプ手段をもつねじなし端子及び工具による解除
c) 直接圧力クランプ手段をもつねじなし端子及び駆動部品による解除
A : 導体 F : 工具(ドライバ)
B : 通電部 G : 圧力ばね
C : クランプばね H : 駆動部品
D : 導体用開口部 I : スイッチの一部
E : 工具用開口部
図6−ねじなし端子の例
――――― [JIS C 4526-1 pdf 73] ―――――
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C 4526-1 : 2020
単位 mm
めす(雌)形コネクタの寸法
タブ寸法に対する B3 L2 L3
コネクタ 最大 最大 最大
2.8×0.5 3.8 2.3 0.5
2.8×0.8
4.8×0.5 a) 6.0 2.9
4.8×0.8
6.3×0.8 7.8 3.5
9.5×1.2 11.1 4.0
注a) 公称寸法4.8×0.5は,新しい設計用には推奨しない。
図7−平形クイック接続端子の試験用めす(雌)形コネクタ
回路の数値は,次のとおり。
R1=E/I Eは定格電圧,Iは定格抵抗負荷電流又はランプの定格電流。
R2=R1×1.414/(X−1) Xはピークサージ電流と定格抵抗負荷電流との比率,又は低温時ラ
ンプのピーク突入電流と定格電流との比率
R3=(800/X)×R1
C×R2=2 500 s
D : シリコンブリッジ整流器
S : 試料
回路素子及び電源インピーダンスは,サージ電流,低温時ランプのピーク突入電流,定格
抵抗負荷電流又はランプの定格電流について10 %の精度を保証するように選択する。
図8−交流回路用容量性負荷試験及び擬似白熱電球負荷試験用回路
――――― [JIS C 4526-1 pdf 74] ―――――
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C 4526-1 : 2020
回路の数値は,次のとおり。
R1=E/I Eは定格電圧,Iは定格抵抗負荷電流又はランプの定格電流。
R2=R1/(X−1) は,ピークサージ電流と定格抵抗負荷電流,又は低温時ランプのピーク
突入電流とランプの定格電流との比率。
R3=(800/X)×R1
C×R2=2 500 s
S : 試料
回路素子及び電源インピーダンスは,サージ電流,低温時ランプのピーク突入電流,定格
抵抗負荷電流又はランプの定格電流について10 %の精度を保証するように選択する。
図9−直流回路用容量性負荷試験及び擬似ランプ負荷試験用回路
数値表
R1=25 Ω
R2=3.93 Ω
R3=2 000 Ω
C=636 μF
図10−定格10/100 A 250 Vのスイッチの試験に用いる容量負荷試験回路の数値
――――― [JIS C 4526-1 pdf 75] ―――――
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JIS C 4526-1:2020の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61058-1:2016(MOD)
JIS C 4526-1:2020の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 4526-1:2020の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC4526-1-1:2020
- 機器用スイッチ―第1-1部:機械式スイッチの要求事項
- JISC4526-1-2:2020
- 機器用スイッチ―第1-2部:電子式スイッチの要求事項
- JISC5101-14:2014
- 電子機器用固定コンデンサ―第14部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ
- JISC60068-2-75:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第2-75部:ハンマ試験(試験記号:Eh)
- JISC60695-10-2:2018
- 耐火性試験―電気・電子―第10-2部:異常発生熱―ボールプレッシャー試験方法
- JISC60695-11-10:2015
- 耐火性試験―電気・電子―第11-10部:試験炎―50W試験炎による水平及び垂直燃焼試験方法
- JISC60695-11-20:2018
- 耐火性試験―電気・電子―第11-20部:試験炎―500W試験炎による燃焼試験方法
- JISC60695-2-11:2016
- 耐火性試験―電気・電子―第2-11部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―最終製品に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWEPT)
- JISC61000-3-2:2019
- 電磁両立性―第3-2部:限度値―高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20A以下の機器)
- JISC61000-4-11:2008
- 電磁両立性―第4-11部:試験及び測定技術―電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験
- JISC61000-4-2:2012
- 電磁両立性―第4-2部:試験及び測定技術―静電気放電イミュニティ試験
- JISC61000-4-3:2012
- 電磁両立性―第4-3部:試験及び測定技術―放射無線周波電磁界イミュニティ試験
- JISC61000-4-4:2015
- 電磁両立性―第4-4部:試験及び測定技術―電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験
- JISC61000-4-5:2018
- 電磁両立性―第4-5部:試験及び測定技術―サージイミュニティ試験
- JISC61000-4-8:2016
- 電磁両立性―第4-8部:試験及び測定技術―電源周波数磁界イミュニティ試験
- JISC6691:2019
- 温度ヒューズ―要求事項及び適用の指針
- JISQ9000:2015
- 品質マネジメントシステム―基本及び用語