この規格ページの目次
86
C 4526-1 : 2020
附属書H
(規定)
高度補正係数
表12で規定された空間距離については,海抜2 000 m以下での標高に関して有効であり,2 000 mを超
える標高の空間距離は,表H.1に示す高度補正係数を乗じなければならない。
表H.1−高度補正係数
標高 公称気圧 空間距離に乗じる
m kPa 係数
2 000 80.0 1.00
3 000 70.0 1.14
4 000 62.0 1.29
5 000 54.0 1.48
6 000 47.0 1.70
7 000 41.0 1.95
8 000 35.5 2.25
9 000 30.5 2.62
10 000 26.5 3.02
15 000 12.0 6.67
20 000 5.5 14.50
――――― [JIS C 4526-1 pdf 91] ―――――
87
C 4526-1 : 2020
附属書I
(規定)
剛性プリント配線板アセンブリのコーティングタイプ
タイプ1コーティング : 汚損度1に従うコーティングを施したプリント配線導体間の間隔における環境
を改善することによって汚染に対する保護だけをもたらす。20.1,20.2及び20.4の空間距離及び沿面距離
についての要求事項は,コーティング下の剛性プリント配線板アセンブリに適用する。
タイプ2コーティング : 導体を固体絶縁体の中に閉じ込めることによって汚染及び絶縁に対する保護を
もたらすので,20.1,20.2及び20.4の空間距離及び沿面距離についての要求事項は,コーティング下の導
体間には適用しない。
注記1 二つの導電部間のコーティングは,片方又は両方の導電部と,その間の沿面距離の80 %以上
を同時に覆うことで有効となる。導電部間にコーティングを施した剛性プリント配線板アセ
ンブリは,高い電圧又は低減した空間距離及び沿面距離で使用することができる。
注記2 20.1,20.2及び20.4に従う空間距離及び沿面距離についての要求事項は,剛性プリント配線
板アセンブリの全ての未コーティング部分及びコーティングした導電部間に適用する。
――――― [JIS C 4526-1 pdf 92] ―――――
88
C 4526-1 : 2020
附属書J
(規定)
タイプ1コーティングされたプリント配線板の絶縁距離の測定
タイプ1コーティングされたプリント配線板の絶縁距離の測定の部位は,図J.1による。
図J.1−絶縁距離の測定
絶縁距離は,基板上のコーティングの下側を測定する。
――――― [JIS C 4526-1 pdf 93] ―――――
89
C 4526-1 : 2020
附属書K
(規定)
ルーチン試験
抜取りを基本とする試験の結果から,安全のために不可欠であると考えられる場合,ルーチン試験を規
定する。
表12に規定した数値未満の基礎絶縁又は機能絶縁の空間距離は,附属書Gの試験に従ってルーチン試
験を行わなければならない。
関連した試験にスイッチが合格しなかった場合には,是正措置を講じなければならない。
――――― [JIS C 4526-1 pdf 94] ―――――
90
C 4526-1 : 2020
附属書L
(参考)
抜取試験
L.1 一般
この附属書は,この規格の形式試験の後で,製造された製品が製造業者が指定した事項を守り続けてい
ることを確認する手段のガイドである。この附属書に記載されている以外の試験は,同じ目的を満たすこ
とに限定する場合,用いてもよい。
L.2 一般的な見解
この附属書に記載した試験は,製品検査の試験計画の一部として考えてもよい。製品検査はスイッチの
製造中に適用する。
関連した試験にスイッチが合格しなかった場合は,修正措置を講じなければならない。
L.3に従った試験は,記載された手順書に従って,製造ラインからランダムに取り出したサンプルで行
う。試験の必要性,性質,周期,及び試験に使用される抜取りの割合は,次の影響を受けることがある。
− 製品の構造
− 用いる品質管理システム
− 製造される製品の量
試験は,二つの試験方法が等価と示すことができれば,形式試験と連携して適用される試験方法と異な
ったもので行ってもよい。
用いる品質管理システムは,製造及び工程システムに適用するJIS Q 9000の品質マネジメントシステム
の要素を含めなければならない。
品質管理システムの要求事項は,その他の方法によってもよい。
L.3 試験
L.3.1 独立したスイッチのタイプ又はスイッチのグループの全工程における抜取り計画の一部として,次
の試験を適用する。
− 箇条8に従った表示の確認と,8.8に従った表示の視認性と耐久性
試験は,(例えば,樹脂成形,エッチング又は同様の過程によって)継続的適合性が確認できれば省
略してもよい。
注記1 対応国際規格の注記は規定であるので,本文に移動した。
− 湿度処理をしないで箇条15に従った耐電圧試験
試験は,(例えば,設計によって)継続的適合性が確認できれば省略してもよい。
注記2 対応国際規格の注記は規定であるので,本文に移動した。
L.3.2 手順書に記載された期間内に次の順序で試験を行う。
− 箇条15に従った耐電圧試験
− 箇条16に従った接点と端子の温度試験
− 箇条17に従った耐久性試験
試験は,個々のスイッチタイプで行う。それは,附属書Mに従ったファミリから選択してもよい。試験
――――― [JIS C 4526-1 pdf 95] ―――――
次のページ PDF 96
JIS C 4526-1:2020の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61058-1:2016(MOD)
JIS C 4526-1:2020の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 4526-1:2020の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC4526-1-1:2020
- 機器用スイッチ―第1-1部:機械式スイッチの要求事項
- JISC4526-1-2:2020
- 機器用スイッチ―第1-2部:電子式スイッチの要求事項
- JISC5101-14:2014
- 電子機器用固定コンデンサ―第14部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ
- JISC60068-2-75:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第2-75部:ハンマ試験(試験記号:Eh)
- JISC60695-10-2:2018
- 耐火性試験―電気・電子―第10-2部:異常発生熱―ボールプレッシャー試験方法
- JISC60695-11-10:2015
- 耐火性試験―電気・電子―第11-10部:試験炎―50W試験炎による水平及び垂直燃焼試験方法
- JISC60695-11-20:2018
- 耐火性試験―電気・電子―第11-20部:試験炎―500W試験炎による燃焼試験方法
- JISC60695-2-11:2016
- 耐火性試験―電気・電子―第2-11部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―最終製品に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWEPT)
- JISC61000-3-2:2019
- 電磁両立性―第3-2部:限度値―高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20A以下の機器)
- JISC61000-4-11:2008
- 電磁両立性―第4-11部:試験及び測定技術―電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験
- JISC61000-4-2:2012
- 電磁両立性―第4-2部:試験及び測定技術―静電気放電イミュニティ試験
- JISC61000-4-3:2012
- 電磁両立性―第4-3部:試験及び測定技術―放射無線周波電磁界イミュニティ試験
- JISC61000-4-4:2015
- 電磁両立性―第4-4部:試験及び測定技術―電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験
- JISC61000-4-5:2018
- 電磁両立性―第4-5部:試験及び測定技術―サージイミュニティ試験
- JISC61000-4-8:2016
- 電磁両立性―第4-8部:試験及び測定技術―電源周波数磁界イミュニティ試験
- JISC6691:2019
- 温度ヒューズ―要求事項及び適用の指針
- JISQ9000:2015
- 品質マネジメントシステム―基本及び用語