JIS C 5442:1996 制御用小形電磁リレーの試験方法 | ページ 3

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C 5442-1996
                                       図1 印加電圧波形

――――― [JIS C 5442 pdf 11] ―――――

                                                                                              7
                                                                                    C 5442-1996
                                      図2 試験回路の一例

4.3.3 前処理

 前処理は,4.2.3による。

4.3.4 試験

 試験は,次の箇所に表4及び表5に規定する試験電圧を印加したとき,供試リレーにフラッ
シュオーバ,焼損,絶縁破壊などの異常がないかどうかを調べる(一時的なフラッシュオーバが生じても
異常とはみなさない。)。
  なお,電圧の印加方法は,5秒以上の間隔で3回の正及び3回の負の電圧を加える。
  また,電圧波高値は,表5を標準値とするが,これ以外の電圧で行ってもよい。この場合は個別規格に
その値を規定する。
(1) リレーの端子と露出した非充電金属部との間
(2) リレーの端子相互間

4.3.5 個別規格に規定する事項

 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 試験電圧(インパルス波高値)(表5参照)
(2) 試験波形(図1及び表4参照)
(3) 試験後のリレーの動作チェック項目(必要がある場合)

4.4 リレーのコイル特性

4.4.1 コイルの直流抵抗

4.4.1.1  目的 この測定は,リレーコイルの直流抵抗を測定することを目的とする。
4.4.1.2  装置 装置は,供試リレーコイルの規定抵抗値許容差に対して満足できる確度をもつ抵抗ブリッ
ジ又は他の測定器とする。
  なお,測定器の確度は,上記許容差の10%を超えないこととする。

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4.4.1.3  前処理 試験に先立って,供試リレーを3.1(1)標準状態(ただし,相対湿度75%以下)で30分間
以上放置する。
  また,測定を通じて,供試リレーに過度の通風,日光,その他の熱源からの直接の熱放射など,測定に
影響を及ぼすような要因が入らないようにする。
4.4.1.4  試験 供試コイルに印加する直流電圧,電流は,測定によるコイル温度上昇が無視できる範囲内
で行い,次による。
(1) 基準温度は,個別規格に規定がない場合は,20℃とする。測定温度が基準温度と違う場合は次の式に
    よって換算すること(10100℃の間で使用)。
                                   愀
                        Rt=Rt0 [1+     t−t0)   ]
                      ここに,    Rt :  t (℃) での抵抗値
                                 Rt0 :  基準温度t0 (℃) での抵抗値
                                    懿   抵抗の定質量温度係数(軟銅線では0.003 93)
(2) 供試コイルへの電圧印加時間は,5秒間以内とする。
(3) 同一試料に対する同一項目の試験では,測定器及び印加電圧(又はブリッジの電源電圧)を同一にし
    て測定する。ただし,判定に疑義を生じない場合は,同一でなくともよい。
4.4.1.5  個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 測定器の確度(必要がある場合)(4.4.1.2参照)
(2) 基準温度(20℃と異なる場合)

4.4.2 コイルの消費電力(交流リレーだけ)

4.4.2.1  目的 この測定は,交流リレーコイルの消費電力を測定することを目的とする。
4.4.2.2  試験 試験は,次による。
(1) リレーは周囲の磁気的影響を受けない状態で,定格励磁状態で測定する。
(2) 定格電圧を印加したときの電流を測定し,印加電圧と測定電流値の積から定格消費電力を算出する。
4.4.2.3  個別規格に規定する事項 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 印加電圧(定格電圧以外の場合)
(2) 交流電源の周波数(4.4.2.2参照)

4.5 接触抵抗試験

4.5.1 目的

 この試験は,リレーの接触抵抗(静的接触抵抗及び動的接触抵抗)を測定することを目的と
する。

4.5.2 装置

 装置は,確度が10%以内のもので,次の(1)(2)に示す回路を構成するもの,又はこれと同
等以上のものとする。
(1) 電圧降下法 図3のとおりとする。交流電源を使用する場合には,その周波数は商用周波数から2kHz
    までとする。

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                                                                                              9
                                                                                    C 5442-1996
                                        図3 電圧降下法
(2) 低電圧・低電流法 図4のとおりとする。交流電源を使用する場合の周波数は(1)と同様とする。
      なお,直流電圧を使用する場合は,スイッチSを反転して電極の極性を切り換えて測定する。ただ
    し,判定に疑義を生じない場合は同一方向だけでもよい。
                                     図4 低電圧・低電流法
                                                    Aの部分を次の回路に置き換える。
               Aの内部抵抗が高く測定上支障がある場合は,
         備考 

4.5.3 準備

 試験前の接点清浄化,その他の特別の準備,取付けなどを必要とする場合は,個別規格の規
定に従い処理を行う。

4.5.4 試験

 試験は,次の(1)(4)のいずれかによって行う。
(1) 電圧降下法−静的接触抵抗の場合 試験は,4.5.2(1)に規定の装置によって,接点が常閉状態とした供
    試接点に印加される測定電圧及び測定電流から接触抵抗を算出する。測定に用いる電源は,直流又は
    交流のいずれでもよいが,測定値に疑義が生じた場合には,直流での測定値を採用する。
      なお,直流電源で測定を行う場合,個別規格に電源の極性を変える規定があるときは,極性を変え
    測定する。
      また,供試接点での電圧計端子と電流計端子とを別々に設け四端子方式とする。この場合,電圧計

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    端子を供試接点に近い方とする。
      供試接点に印加する測定電圧は,定格接点電圧の25%,又は6Vのいずれか低い電圧とする。測定
    電流は,原則として表6に規定の電流とする。
                                         表6 試験電流
                            定格接点電流又は開閉電流  試験電流 mA
                                      A
                                      0.01 未満               1
                           0.01 以上  0.1 未満               10
                           0.1  以上  1   未満              100
                           1    以上                      1 000
(2) 電圧降下法−動的接触抵抗の場合 試験は,(1)に規定の方法で行う。ただし,コイルは,定格電圧の
    く(矩)形波で行う。
      なお,コイルの開閉頻度及び測定周期,並びに接点の測定電圧及び測定電流は個別規格に規定の値
    とする。測定は,接点が常閉状態に達した後,又は閉路期間の30%以上が経過した後のいずれか遅い
    時点に行う。
(3) 低電圧・低電流法−静的接触抵抗の場合 試験は,4.5.2(2)に規定の装置によって,接点が常閉状態と
    した供試接点に印加される測定電圧及び測定電流から接触抵抗を算出する。測定に用いる電源は,直
    流,又は交流のいずれでもよいが,測定値に疑義が生じた場合には,直流での測定値を採用する。
      なお,直流電源で測定を行う場合,個別規格に電源の極性を変える規定があるときは,極性を変え
    測定する。
      また,供試接点での電圧計端子と電流計端子とを別々に設け四端子方式とする。この場合,電圧計
    端子を供試接点に近い方とする。
      供試接点に印加する測定電圧は,供試接点を開とした状態で開路電圧を30mV以下に調整する。測
    定電流は1mAとする。
      試験に際し,供試接点には,試験前に30mVを超える電圧を加えてはならない。
(4) 低電圧・低電流法−動的接触抵抗の場合 試験は,(3)に規定の方法で行う。ただし,コイルは,定格
    電圧のく形波で駆動する。その開閉頻度及び測定周期は,個別規格の規定による。
      なお,測定は,接点が常閉状態に達した後,又は閉路期間の30%以上が経過した後のいずれか遅い
    時点に行う。

4.5.5 個別規格に規定する事項

 個別規格には,次の事項を規定する。
(1) 準備(4.5.3参照)
(2) 測定回路(4.5.2参照)
(3) 測定回数(4.5.4参照)
(4) 試験電圧・電流値(4.5.4参照)
(5) 動的接触抵抗については,開閉頻度及び測定周期(4.5.4参照)

4.6 動作電圧又は電流及び復帰電圧又は電流

4.6.1 目的

 この試験は,リレーを励磁又は減磁することによって,リレーが動作又は復帰する電圧値又
は電流値を測定することを目的とする。

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