JIS C 1010-2-30:2019 測定用，制御用及び試験室用電気機器の安全性―第２－３０部：試験回路又は測定回路をもつ機器に対する個別要求事項 | ページ 4

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  適合性は,検査及び次の試験によって確認し,試験は装置の同一ユニットに対し3回実施する。試験の
結果,いずれかの部品の温度が上昇した場合には,試験を繰り返す前にその部品を冷却してもよい。電流
制限用に用いるデバイスが損傷した場合には,試験を繰り返す前にそのデバイスを交換する。
  起こり得る交流及び直流短絡電流は,それぞれの端子に対する最大定格電圧を電流制限する測定回路の
インピーダンスで除することによって計算する。このとき,101.3.4によるテストリードのインピーダンス
を考慮する。測定カテゴリII及びIIIに対して,起こり得る交流短絡電流は,表AA.1の値を超えないこと
が望ましい。
  あらゆる端子における最大定格電圧に等しい電圧を,測定回路端子間に1分間印加する。試験電圧源は,
流れることがある該当する交流又は直流短絡電流以上を供給できなければならない。機能又はレンジの設
定が入力回路の電気的特性に何らかの影響を与える場合には,機能とレンジとの設定のあらゆる組合せで
試験を繰り返す。試験中,試験電圧源の電圧出力を測定する。10 msを超えて試験電圧源の電圧が20 %よ
りも大きく低下する場合には,試験の結論を出さず,より低いインピーダンスの試験電圧源で試験を繰り
返す。
  試験中及び試験後に,いかなるハザードも生じてはならず,また,感電,発熱,アーク又は発火に対し
保護するための,インピーダンス制限デバイス,並びに外装及びプリント配線板の配線を含めた他のあら
ゆる部品は,発火,アーク,爆発又は損傷の痕跡があってはならない。
    注記2 この試験は極めて危険である。試験を実施する要員を保護するために,防爆壁及び他の方策
            を用いることができる。
101.3.4 101.3.2及び101.3.3の試験のためのテストリード
  101.3.2及び101.3.3の試験は,機器に含まれているか又はその機器とともに使用するために製造業者が
提供する全てのテストリードで実施し,また,製造業者が指定していない場合は,次の全ての仕様を満た
すテストリードを用いる。
a) 長さ : 1 m
b) 導体の断面積 : 1.5 mm2の銅より線
      注記1 16 AWG(American Wire Gauge)の断面積の導体は許容できる。
c) 測定回路端子と互換性がある機器コネクタ
d) 適切なねじ端子,はめ筒コネクタ(ツイストオンコネクタ)又は低インピーダンス接続を備えた同等
    の手段による試験電圧源への接続
e) 可能な限り真っすぐにしたもの
      注記2 これらの仕様に合うテストリードは,1本当たり約15 mΩ,又は1対当たり約30 mΩの直
              流抵抗になる。101.3.2及び101.3.3で起こり得る故障電流の計算のため,テストリードのイ
              ンピーダンスとして30 mΩを用いることができる。
  製造業者が提供するテストリードを機器に永続的に接続してある場合には,製造業者が提供する附属の
テストリードを改造せずに用いる。

101.4 主電源の過電圧に対する保護

  アークせん(閃)光又は発火に対する保護を確実にするために,主電源電圧の測定を定格とした測定回
路は,主電源に接続した異極の導電性部分間において,少なくとも基礎絶縁に相当する空間距離及び沿面
距離をもたなければならない。
  適合性は,検査及び測定によって確認する。
  測定カテゴリIII又はIVを定格とする電圧測定回路の測定回路端子は,電圧測定機能のセレクタを適切

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な機能及びレンジに設定して,ハザードを引き起こす可能性がある損傷なく,表K.106の該当する過渡過
電圧に耐えなければならない。
  適合性は,表102の該当するインパルス電圧を用いて,次のインパルス電圧試験によって確認する。
  測定カテゴリIII又はIVを定格とする各対の端子間に,インパルス電圧を印加する。インパルス電圧試
験は,複合インパルス発生器(IEC 61180-1参照)からの1分以内の間隔をおいた5回のインパルスを各
極性で印加する。発生器は,出力インピーダンス(ピーク開回路電圧をピーク短絡電流で除したもの)が,
測定カテゴリIII及びIVに対して2 Ωで,1.2/50 μsの開回路電圧波形及び8/20 μsの短絡電流波形を発生す
る。出力インピーダンスを上げる必要がある場合は,抵抗器を直列に追加してもよい。
  インパルス電圧は,その回路が正常な使用状態下で動作している間に,主電源電圧に重畳させて印加す
る。
  試験のために用いる主電源電圧は,測定する主電源の最大定格ライン対中性点間電圧である。交流実効
値又は直流400 Vを超える主電源ライン対中性点間電圧を定格とする測定回路に対して,少なくとも交流
実効値又は直流400 Vのライン対中性点間電圧をもつ利用可能な主電源電圧源で試験を行ってよい。この
場合,主電源電圧源は,測定回路定格に一致する必要はないが,交流を定格とする回路は交流源で試験し,
直流を定格とする回路は直流源で試験する。
    注記1 この試験は極めて危険である。試験を実施する要員を保護するために,防爆壁及び他の方策
            を用いることができる。
  インパルス電圧試験によって機器内の空間距離を検証するとき,規定のインパルス電圧が確実にその空
間距離にかかっていることを確認する必要がある。
  各インパルスの波形を,観測する(注記2参照)。インパルス電圧波形のひずみが,変化なく繰り返し起
こる場合は,固体絶縁の(部分)破壊を示すものではなく,過電圧制限デバイスの動作に起因している可
能性がある。
  試験中,空間距離でのフラッシュオーバ及び固体絶縁の絶縁破壊が起きてはならないが,部分放電は許
容する。部分放電は,連続するインパルス波の比較的早い時点で発生し,試験中の各波形のある階段的な
ひずみとして現れる。最初のインパルスでの絶縁破壊は,絶縁システムの完全な故障か,又は機器内の過
電圧制限デバイスの動作のいずれかを示すものと考える。過電圧制限デバイスがある場合,それらは,試
験中,破壊してはならず,また,過熱もしてはならない。試験結果に疑問があるか,結論が出せない場合,
試験を更に2回繰り返す。
    注記2 ボイドでの部分放電は,各インパルス波形内で繰り返される極端に持続時間の短い部分的な
            ノッチ(切込み)になることがある。

101.5 オーバレンジの表示

  機器に表示した数値(例えば,電圧)を操作者が信頼することによってハザードになり得る場合には,
機器の設定したレンジの正の最大値を超える数値,又は負の最小値未満の数値のいずれでも,表示器には
曖昧さのないように表示しなければならない。
    注記 別個の明瞭なオーバレンジ値表示がない限り,曖昧になる表示の例を次に示す。
          a) レンジの上下限の位置にストッパが付いたアナログメータ
          b) 真の値がレンジの最大値を超えたときに低い値を示すディジタルメータ(例えば,1 001.5 V
              を001.5 Vと表示する。)
          c) 真の値がレンジの最大値より高いときでも,レンジの最大値である記録紙の端で線を記録
              するチャートレコーダ

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  適合性は,検査,及びオーバレンジの状態を発生させて確認する。

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                                           附属書
  附属書は,JIS C 1010-1の附属書によるほか,次による。
                                          附属書K
                                          (規定)
                6.7で対象となっていない絶縁についての要求事項
K.3 6.7,K.1及びK.2に規定していない回路の絶縁
  
K.3 6.7,K.1,K.2及びK.101に規定していない回路,並びに測定カテゴリが適用されない測定回路に対
する絶縁
K.3.1 一般
  
  回路は,次の一つ以上の特性がある。
a) 発生する可能性がある最大過渡過電圧を,主電源回路で想定するレベル未満の既知のレベルまで電源
    供給源で制限するか,又は機器内(K.4参照)で制限する。
b) 発生する可能性がある最大過渡過電圧が,主電源回路で想定するレベルを超えている。
c) 動作電圧が,2回路以上の電圧の和,又は混合電圧である。
d) 動作電圧が,周期的な非正弦波形,又は何らかの規則性で起こる非周期的波形をもつ,反復ピーク電
    圧を含んでいる。
e) 動作電圧の周波数が,30 kHzを超える。
f)  回路は,測定カテゴリが適用されない測定回路である。
  a)   c)及びf)の場合,基礎絶縁及び補強絶縁に対する空間距離は,K.3.2に従って決める。
  d)及びe)の場合,空間距離は,K.3.3に従って決める。
  全ての場合,K.3.4で沿面距離を,K.3.5で固体絶縁を規定している。
    注記 これらの要求事項を,附属書DDのフローチャートに例示する。
  
K.101 測定カテゴリII,III及びIVの測定回路に対する絶縁についての要求事項
K.101.1 一般
  測定回路は,測定又は試験中に接続する回路から,動作電圧及び過渡ストレスを受ける。主電源の測定
に測定回路を用いる場合,過渡ストレスは,設備内の測定を行う場所によって見積もることができる。他
の電気的信号を測定するのに測定回路を用いる場合は,過渡ストレスが測定機器の能力を超えないことを
確実にするように,測定の際には過渡ストレスを考慮する必要がある。
  測定回路を主電源に接続して用いる場合は,アークせん光爆発のリスクがある。測定カテゴリは,有効
エネルギー量を規定するが,これはアークせん光の規模に影響を及ぼす。アークせん光が起こり得る状況

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では,アークせん光からの衝撃及びやけどに関するハザードを減少させるために,製造業者が特定する付
加的予防策を使用者文書に記載することが望ましい(附属書AA及び附属書BB参照)。
K.101.2 空間距離
  被測定回路から電力の供給を受ける意図の機器に対し,主電源回路の空間距離は,定格測定カテゴリの
要求事項に従って設計しなければならない。ただし,より低い測定カテゴリに一致するレベルに過渡過電
圧を軽減するために,過電圧制限デバイスを用いてもよい(K.102参照)。追加の表示要求は,5.1.5.2及び
5.1.5.101である。
  測定カテゴリII,III及びIVの測定回路に対する空間距離は,表K.101による。
    注記1 主電源の公称電圧は,附属書Iを参照する。
  2 000 mを超える高度で動作する定格の機器の場合は,空間距離は,表K.1の該当する係数を乗じる。
  基礎絶縁,補強絶縁及び強化絶縁に対する最小空間距離は,汚染度2で0.2 mm,汚染度3で0.8 mmと
する。
    注記2 他の測定回路に対する空間距離は,K.3に従って計算する。
                 表K.101−測定カテゴリII,III及びIVの測定回路に対する空間距離
 測定する主電源の公称ラ                              空間距離 mm
 イン対中性点間電圧(U)        基礎絶縁及び補強絶縁                     強化絶縁
   交流実効値又は直流  測定カテゴリ測定カテゴリ測定カテゴリ測定カテゴリ 測定カテゴリ測定カテゴリ
           V                II          III         IV          II          III         IV
          U≦ 50           0.04        0.1          0.5         0.1         0.3         1.5
       50      100      150      300     600    1 000  我が国では,公称電圧が100 Vの場合に,150 Vまでの空間距離を適用する。
 注a) 直流電圧だけに適用する。
  適合性は,検査及び測定,又は要求する空間距離に対する表K.16の該当する試験電圧を用いた5秒以
上の6.8.3.1の交流電圧試験,6.8.3.3のインパルス電圧試験,若しくは直流だけのストレスを受ける測定回
路に対して,5秒以上の6.8.3.2の直流電圧試験によって確認する。直流試験電圧は,交流実効値試験電圧
に2を乗じた値とする。
K.101.3 沿面距離
  K.2.3の要求事項を適用する。
  適合性は,K.2.3によって確認する。
K.101.4 固体絶縁
K.101.4.1 一般
  固体絶縁は,全ての定格環境条件(1.4参照)において,機器の意図する寿命まで正常な使用で起こり得
る電気的及び機械的ストレスに耐えなければならない。
  製造業者は,絶縁材料の選択時に,機器の期待寿命を考慮することが望ましい。
  適合性は,次の両方の試験によって確認する。

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