JIS C 6065:2016 オーディオ，ビデオ及び類似の電子機器―安全性要求事項 | ページ 28

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      続した回路から分離していない場合,このフローティング回路には,この減少は許容しない。
        主電源過渡電圧のリスト :  330 V,500 V,800 V,1 500 V,2 500 V及び4 000 V(ピーク)
        代替法として上記のルール1) 及び2) を適用してもよいが,測定によって決定した電圧[J.6 a) 参
      照]を主電源過渡電圧とする。
  − 主電源に導電的に接続した回路及び主電源に導電的に接続していない回路であって,減衰のない主
      電源過渡電圧を受けない回路
        このような回路の場合,必要な耐電圧は,ネットワーク線からの過渡電圧の影響を無視し,次の
      ようにして決定する。
        上記のルール1) 及びルール2) を適用するが,測定によって決定した電圧[J.6 a) 参照]を主電
      源過渡電圧として扱う。
  − 容量性のフィルタをもつ直流電源によって電力供給し,主電源に導電的に接続していない回路
        容量性フィルタをもつ直流電源によって電源供給し,主電源に導電的に接続していない任意の接
      地回路では,必要な耐電圧は直流電圧に等しいものとして扱う。
b) ネットワーク線過渡電圧 ネットワーク線からの過渡電圧だけを含む場合,J.6 b)の規定に基づいて試
    験したときに低い値を得ることができない限り,必要な耐電圧はJ.4によって決定したネットワーク
    線過渡電圧とする。
c) 過渡電圧の組合せ a) 及びb) の両方の過渡電圧を含む場合,必要な耐電圧は,二つの電圧の大きい
    方とする。二つの値は加算しない。
J.6   過渡電圧レベルの測定
  次の試験は,ある回路の空間距離間の過渡電圧が,例えば,機器内のフィルタの効果によって通常のレ
ベルよりも低いかどうかを決定するためにだけ行う。空間距離間の過渡電圧は,次の試験手順を用いて測
定する。
  試験中,別の電源装置がある場合は機器に接続する。ただし,主電源又はネットワーク線には接続しな
い。さらに,主電源に導電的に接続した回路にあるサージ抑制器は外しておく。
  電圧測定デバイスは,対象となる空間距離間に接続する。
a) 主電源の過電圧による過渡電圧の減少レベルを測定するために,附属書Kに規定するインパルス試験
    発生器を用いて1.2/50 μsのインパルスを発生させる。Ucは,J.3の規定によって決定した主電源過渡
    電圧とする。
      インパルス間の間隔を1秒間以上として,極性が交互の36個のインパルスを,該当する場合,次
    の箇所の間に加える。
  − 相線相互間
  − 互いに導電的に接合した全ての相導体と中性線との間
  − 互いに導電的に接合した全ての相導体と保護接地との間
  − 中性線と保護接地との間
b) ネットワーク線の過電圧による過渡電圧の減少レベルを測定するために,附属書Kに規定するインパ
    ルス試験発生器を用いて10/700 μsのインパルスを発生させる。Ucは,J.4で決定したネットワーク線
    過渡電圧とする。
      インパルス間の間隔を1秒間以上として,極性が交互の36個のインパルスを単一インタフェース
    形の次のネットワーク線の接続点間に加える。

――――― [JIS C 6065 pdf 136] ―――――

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C 6065 : 2016
  − インタフェースの,それぞれペアになった端子間(例えば,AとBとの間,又はチップとリングと
      の間)
  − 単一インタフェース形の全ての端子を互いに接合したものと大地との間
  同じ回路の一組だけを試験する。
J.7   最小空間距離の決定
  各空間距離は,J.5の規定によって決定した必要な耐電圧の値を用いて,表J.2に規定する最小寸法に適
合しなければならない。
  サーモスタット,サーマルカットアウト,過負荷保護デバイス,マイクロギャップ構造のスイッチ及び
接点によって空隙が変化する同様の部品の,接点間の空隙には規定する空間距離は適用しない。
    注記 分離デバイスの接点間の空隙については,8.18の規定を参照する。
  海抜2 000 mを超えるところで動作させる機器には,表J.2の規定に追加してJIS C 60664-1の表A.2を
用いるのがよい。

――――― [JIS C 6065 pdf 137] ―――――

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                                      表J.2−最小空間距離
           必要な耐電圧                                  最小空間距離
      交流(ピーク)又は直流         基礎絶縁及び付加絶縁                  強化絶縁
               V                             mm                              mm
               400 以下                       0.2 (0.1)                       0.4 (0.2)
               800                            0.2 (0.1)                       0.4 (0.2)
              1000                            0.3 (0.2)                       0.6 (0.4)
              1200                            0.4 (0.3)                       0.8 (0.6)
              1500                            0.8 (0.5)                       1.6 (1)
              2000                            1.3 (1)                         2.6 (2)
              2500                            2   (1.5)                       4   (3)
              3000                            2.6 (2)                         5.2 (4)
              4000                            4   (3)                         6
              6000                            7.5                            11
              8000                           11                              16
             10000                           15                              22
             12000                           19                              28
             15000                           24                              36
             25000                           44                              66
             40000                           80                             120
             50000                          100                             150
             60000                          120                             180
             80000                          173                             260
            100000                          227                             340
    J.5 a) に規定する主電源に導電的に接続した回路の場合を除き,隣接する2点間には直線内挿法を適用する。算
  出した最小空間距離は,0.1 mm単位に切り上げる。
    括弧内の値は,製造工程に品質管理システムを適用するときだけに適用できる(このような品質管理プログラム
  の例は,附属書Mにある。)。特に,二重絶縁及び強化絶縁には,絶縁強度のルーチン試験を行う。
    主電源に導電的に接続していない回路に対しては,次の場合,8.4 mm以上の空間距離への適合は不要とする。空
  間距離の経路は,次のいずれかによる。
  − 全てが空気層からなる。
  − 全体又は一部が材料グループI(CTI. 600)の絶縁の表面に沿っている。
    さらに,関連する絶縁が次のいずれかによる10.4に規定する耐電圧試験に耐える。
  − 実効値が動作電圧のピーク値の1.06倍に等しい交流試験電圧
  − 上記の交流試験電圧のピーク値に等しい直流試験電圧
    空間距離の経路が,材料グループIでない材料の表面を部分的に通る場合,空隙部間にだけ耐電圧試験を行う。
  適否は,附属書Eの規定を考慮した測定によって判定する。
  次の条件を適用する。
  可動部は,最も好ましくない位置にする。
  エンクロージャのスロット又は開口部を通して絶縁材料のエンクロージャからの空間距離を測定する場
合,可触の表面は,JIS C 0922に規定する検査プローブBに基づく関節付きテストフィンガ(9.1.1.3参照)
でほとんど力を加えずに触れることができる部分は全て,金属はくで覆われているかのように導電性があ
るとみなす(図3のB点参照)。
  空間距離を測定する場合,テストフィンガに13.3.1に規定する試験の力を加える。

――――― [JIS C 6065 pdf 138] ―――――

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                                          附属書K
                                          (規定)
                                 インパルス試験発生器
                                (13.3.4及びJ.6参照)
  表K.1に規定する値の部品を用いた図K.1に示す回路を用いてインパルスを発生させる。コンデンサC1
は初めに電圧Ucに充電しておく。
  このインパルス試験回路は,ITU-T Recommendation K.44に基づいている。
  インパルス波形は開路時のものであり,負荷状態では異なってもよい。
    注記 コンデンサC1は高電位に充電されているので,これらの発生器を用いる場合,特別の注意が必
          要となる。
                                   図K.1−インパルス発生回路
                              表K.1−インパルス発生回路の部品の値
                試験インパルス    C1         R1        R2       C2         R3
                   10/700 μs    20 μF     50  圀    15  圀   0.2 μF    25  圀
                   1.2/50 μs     1 μF     76 圀     13 圀    33 nF      25 圀

――――― [JIS C 6065 pdf 139] ―――――

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                                          附属書L
                                          (規定)
       写真用エレクトロニックフラッシュ装置に適用する追加要求事項
L.1   概要
  写真用エレクトロニックフラッシュ装置に対しては,この附属書によって,本体の要求事項を補足又は
置き換えた要求事項を適用する。
    注記1 この附属書は,JIS C 9491を置き換えたものである。
    注記2 この附属書の箇条番号は,この規格の箇条番号に対応している。
L.2   一般事項
  次の細分箇条を,1.1.1の最後に追加する。
L.1.1.1 この附属書は,水滴又は飛まつ(沫)がかかることを意図しない,2 000 J以下の蓄積エネルギー
をもつ,次の写真用エレクトロニックフラッシュ装置及び関連装置に適用する。
− 同時に動作する一つ以上のフラッシュヘッドを付けることができる単一フラッシュ装置
− 連続した写真露光用照明装置
− 写真用エレクトロニックフラッシュ装置と連結して用いる電池充電器及び電源装置。これらの補助装
    置は主電源プラグの一部を形成してもよい。
− 取扱説明書に記載した附属品
  この附属書は,ストロボスコープには適用しない。
  2 000 Jを超える蓄積エネルギーをもつ装置に対する適切な要求事項がない場合,適用できる限り,この
附属書を用いてもよい。爆発,熱放射などに対しては,追加の要求事項が必要になる場合がある。
  この附属書は,温帯及び熱帯気候の両方において用いる装置を対象とすることを意図している。
  写真用エレクトロニックフラッシュ装置と連結するモデリングランプについては,適用できる範囲内で,
JIS C 8105-2-9又はJIS C 8105-2-17から追加要求事項を得てもよい。
L.4   試験に関する一般条件
  次の細分箇条を,4.2.13の後に追加する。
L.4.2.14 装置は,フラッシュヘッド,コンデンサ,その他の附属品を接続した状態か,又は接続しない状
態で試験を行う。
L.4.2.15 主電源で動作する装置は,フラッシュなしで4時間スイッチをオンにする。電池又は充電式電池
だけで電源を供給する場合,30秒間スイッチをオンにする。
  その直後に,できる限り速く,連続した多くのフラッシュをせん(閃)光させる。ただし,最大40回と
する。せん光のタイミングは,表示器によるか,又は表示器がない場合,フラッシュ用コンデンサの測定
電圧が最大ピーク電圧の85 %になったときとする。装置には,定格電圧を供給する。
  十分放電した充電式電池に,その電池専用に設計した充電器を4時間接続する。
  次の細別を,4.3.4に追加する。
L.4.3.4
− ランプのフィラメントの断線

――――― [JIS C 6065 pdf 140] ―――――

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