JIS C 9730-1:2019 自動電気制御装置―第１部：一般要求事項 | ページ 7

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C 9730-1 : 2019
2.13.10
スマートグリッド,インテリジェントグリッド(smart grid, intelligent grid)
  次のような目的で,情報の交換及び制御装置の技術の利用,分配計算,並びにセンサ及びアクチュエー
タを取り扱う電力システム
− ネットワーク使用者及びその他の利害関係者の行動及び活動の統合
− 持続可能で,経済的かつ安全な電気供給の効果的な配電
  (IEC 60050の617 04-13参照)
2.13.11
スマートイネーブル制御装置(smart enabled control)
  一般的に電力事業の通信によって又は使用者遠隔インタフェースによって,遠隔的に制御又は許可する,
電力課金率又は電力需要応答に関する一定の機能を可能にする,スマートグリッドと相互に作用すること
を意図する制御装置。
    注記 例えば,遠隔インタフェースには,コンピュータ又はスマートフォンを含む。
2.14 製造業者及び使用者に関する定義
2.14.1
制御装置製造業者(control manufacturer)
  制御装置の製造業者。
2.14.2
機器製造業者(equipment manufacturer)
  制御装置を,機器の中若しくは表面に付けて又は組み合わせて使用する機器の製造業者。
    注記 カナダ及び米国では,機器製造業者は,OEM(オリジナル機器製造業者)を示す。OEMは,
          機器に組み込むか,又は統合するために制御装置製造業者から制御装置を受け取る。
2.14.3
設置者(installer)
  制御装置及び場合によっては関連機器も据え付ける資格がある者。
2.14.4
使用者(user)
  制御装置の通常の使用期間中,使用者保守文書に従って制御装置を使用する者。
    注記 使用者とは,一般の人を想定する。
2.14.5
低複雑度の安全関連システム又は制御装置(low complexity safety-related systems or controls)
  次のいずれも満足する安全関連システム又は制御装置。
− 個々の構成部品の不良モードを,適切に定義している。
− 故障状態におけるシステム又は制御装置の動作を完全に決定している。
2.15 サーミスタに関連する定義
  (J.2.15による。)
2.16 ソフトウェアを使用する制御装置の構造に関連する定義
  (H.2.16による。)
2.17 ソフトウェアを使用する制御装置におけるエラー防止に関連する定義
  (H.2.17による。)

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2.18 ソフトウェアを使用する制御装置のための故障/エラー抑制技術に関連する定義
  (H.2.18による。)
2.19 ソフトウェアを使用する制御装置のためのメモリ試験に関連する定義
  (H.2.19による。)
2.20 ソフトウェア用語の定義−一般事項
  (H.2.20による。)
2.21 (規定なし)
2.22 制御機能の分類に関連する定義
  (H.2.22による。)
2.23 機能安全に関連する定義
  (H.2.23による。)
2.24 データ交換のアクセスに関連する定義
  (H.2.24による。)

3 一般要求事項

  制御装置は,通常使用の場合又は通常使用で発生するおそれがある不注意の使用の場合であっても,人
に対する傷害又は周囲の財物に対する損害を引き起こさないような構造でなければならない。
  適否は,この規格及びこの規格群の関連する第2部において規定する関連試験を実施することによって
判定する。

4 試験に関する一般注意

  この規格による試験は,形式試験とする。
    注記1 規定の試験のいずれかの結果が,疑う余地のないものと判定できる場合,該当する試験は省
            略できる。
    注記2 この規格群の関連する第2部に規定する場合を除き,H.4の条件は,非電気制御装置には適
            用しない。
4.1   試験条件
4.1.1  この規格において,特定の箇条で別に規定する場合を除き,サンプルは,製造業者が指定する状態
で取り付け,また,重要な要因がある場合,供給された状態で最も不利な位置で試験する。
4.1.2  試験結果が室温によって影響を受ける場合,20±5 ℃に維持する。ただし,疑義がある場合には,
この規格の個別規格に規定する場合を除き,23±2 ℃に維持する。
4.1.3  その他の指示事項を特定の箇条で規定する場合を除き,操作部は最も不利な位置,中間位置又は使
用者による設定位置のいずれかに置く。
4.1.4  この規格において,別に規定する場合を除き,試験は,この規格の箇条の順序で実施する。
  H.4.1.4にもよる。
4.1.5  この規格の試験中,17.12の高速度での手動作動の試験を除き,制御装置の操作は,必要に応じて
試験機器によって実施してもよい。
4.1.6  17.12での試験を除き,この規格の試験及び目的に対して,操作部が製造業者によって供給されて
いない場合,制御装置を操作させるために操作手段を使用してもよい。
4.1.7  7.2で製造業者が宣言し,箇条17において使用する温度変化率(すなわち,α1,β1,α2及びβ2)は,

――――― [JIS C 9730-1 pdf 32] ―――――

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±12 K/hとする。その他の作動量に対しては,表1の項目37で製造業者が宣言し,箇条17で用いる最小
変化率及び/又は最大変化率(すなわち,α1,β1,α2及びβ2)は,JIS C 9730の規格群の関連する第2部
に規定する試験許容差とする。
4.1.8  全ての試験において,測定器又は測定装置は,測定する値に著しく影響を与えることがあってはな
らない。
4.1.94.1.11 (H.4.1.9H.4.1.11による。)
4.2   必要とするサンプル
4.2.1  1個のサンプルを,関連する附属書を含み,箇条5箇条11及び箇条18箇条27の試験のために
使用する。一組3個のサンプルを,残りの試験に使用する。
  1個のサンプルが,箇条12箇条17の試験を満たさない場合,不合格となった試験及びその試験結果に
影響を与えるおそれがある先行する試験について,同一のサンプルの別の組によって繰り返す。その場合
は,全てのサンプルが繰り返し行った試験を満たさなければならない。
  製造業者は,第一の組のサンプルと共に,1個のサンプルが,試験を満たさない場合に要求される可能
性がある,追加の組又は追加の複数の組のサンプルを提出してもよい。その場合,新しく要求することな
く追加のサンプルで試験を行い,更に不合格が発生したときにだけ不合格とする。追加するサンプルの組
が同時に提出されない場合,1個のサンプルの不合格によって不合格とする。
    注記 カナダ及び米国では,1台だけの試験品を,箇条12箇条17の試験に使用し,かつ,試験を満
          たすことを求めている。
4.2.2  (規定なし)
4.2.3  この規格の幾つかの破壊試験のために,追加サンプルを要求してもよい。
4.2.4  JIS C 9730の規格群の2規格以上の第2部の要求事項を満たすような構造の制御装置は,一般に,
規格ごとに別々に試験しなければならない。
    注記 当事者間の合意によって,JIS C 9730の規格群の2規格以上の第2部に共通である要求事項及
          び試験は,1回だけ確認すればよいが,共通の試験が特定の試験の結果に影響を与える場合は
          除く。
4.2.5  (J.4.2.5による。)
4.3   試験のための指示事項
4.3.1  提出状態について
4.3.1.1  制御装置が機器に取り付けられるか又は機器と共に提出される場合,機器に取り付けるか又は機
器と共に試験してもよい。この場合,制御装置は指定する特定負荷用として分類する。また,機器とは別々
に試験してもよいが,この場合,制御装置は,指定する特定負荷,抵抗負荷又は抵抗−誘導負荷用として
分類してもよい。抵抗負荷又は抵抗−誘導負荷用のいずれにおいても,その機器が通常の負荷で動作して
いる場合,該当する回路中の電流は,その回路の定格電流とみなす。
4.3.1.2  機器に取り付けた状態又は機器と共に提供された全ての制御装置に対しては,7.2で製造業者が
宣言する全ての他の関連情報は,提出された機器の目視検査及び測定によって得てもよい。
4.3.1.3  一体形制御装置は,指定する特定負荷用として分類し,制御装置を対象とする機器,又はその一
部に取り付けて試験する。
4.3.1.4  機器に取り付けてない状態又は機器と共に提出されたものではない制御装置は,分離した状態で
試験する。
4.3.1.5  非着脱式コードと共に使用する制御装置は,該当するコードを接続した状態で試験する。

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4.3.2  定格に関するもの
  (J.4.3.2にもよる。)
4.3.2.1  交流専用制御装置は,指定している場合,定格周波数の交流を用いて試験する。直流専用制御装
置は直流を用いて,また,交直両用制御装置は,直流又は交流のいずれかより不利な方の電源を用いて試
験する。
4.3.2.2  定格周波数を指定していない交流専用制御装置は,50 Hz又は60 Hzのいずれかより不利な方の
周波数で試験する。5060 Hz以外の指定する周波数範囲以内の定格周波数の制御装置は,表示する周波
数又は指定する周波数範囲内の最も不利な周波数で試験する。
4.3.2.3  直流専用の制御装置を試験するとき,極性が制御装置の動作に及ぼす影響を考慮に入れなければ
ならない。
4.3.2.4  異なる交流定格及び直流定格をもつ制御装置については,箇条12箇条14及び箇条17に対する
試験は,二組のサンプルで実施する。一組は,交流定格に従って試験し,他は直流定格に従って試験する。
    注記 試験は,選択によって,幾つかの定格をカバーするように試験数を減少させて実施してよい。
4.3.2.5  他に指定していない場合,一つ又はそれを超える数の電圧範囲を指定する制御装置は,指定する
電圧範囲内の最も不利な電圧で試験する。また,この電圧は,試験項目ごとに規定する係数を乗じる(4.3.2.7
参照)。
4.3.2.6  複数の定格電圧又は定格電流の表示をもつか,又はそれを指定する制御装置については,箇条17
の試験は,定格電圧及び定格電流のそれぞれの組合せについて,複数の組のサンプルについて実施する。
    注記 試験は,選択によって,幾つかの定格をカバーするように試験数を減少させて実施してよい。
4.3.2.7  電圧範囲を指定する制御装置に対しては,その範囲の各限度値で一組のサンプルについて試験す
る。ただし,限度値間の差が,その範囲の平均値の10 %を超えない場合は,試験は,その範囲の上限値に
おいて一組のサンプルについて実施する。
4.3.2.8  特定電源によって動作する制御装置は,その特定電源を用いて試験する。
4.3.2.9  直流電源に接続する回路は,SELV回路,PELV回路,ELV回路,又は電源の最大動作電圧に依
存する電源回路のいずれかに分類する。最大動作電圧は,機器の表示する定格電圧にかかわらず,接続す
る電源システムに関連する電池充電の“浮遊電圧”への考慮を含める。
    注記 浮遊電圧は,完全充電状態のセルを保持する電池セルに連続的に給電する一定の電圧である。
          浮遊電圧は,電池の科学的性質及び構造並びに周囲温度で著しく変化する。
4.3.2.10 充電式電池によって動作する制御装置は,更に附属書Vに従って試験する。
4.3.2.11 (J.4.3.2.11及びV.4.3.2.11による。)
4.3.3  感電に対する保護に関するもの
4.3.3.1  クラスI制御装置,又はクラス0,クラス0I若しくはクラスI機器に用いる制御装置においては,
二重絶縁又は強化絶縁の部品をもつことが必要である場合,このような部品はクラスII制御装置のために
規定する,該当する要求事項を満たすか否かを検査する。
4.3.3.2  クラスI制御装置及びクラスI機器に用いる制御装置は,接地されない可触金属部又は可触絶縁
表面は,クラスII制御装置の要求事項を満たす絶縁を備えていなければならない(9.1.1参照)。
4.3.3.3  クラスI若しくはクラスII制御装置,又はクラス0,クラス0I,クラスI若しくはクラスII機器
に用いる制御装置は,SELV回路を使用した部分をもつことが必要である場合,このような部分は,11.2.6
(附属書T)のSELVの使用による感電に対する保護のために規定する該当する要求事項を満たすか否か
を検査する。

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  クラスI制御装置又はクラスI機器に用いる制御装置は,PELV回路を使用した部分をもつことが必要で
ある場合,このような部分は,11.2.6(附属書T)のPELVの使用による感電に対する保護のために規定す
る該当する要求事項を満たすか否かも検査する。
    注記 クラスII制御装置はPELV回路を使用できない(2.7.5参照)。
4.3.4  製造上の変動に関するもの
4.3.4.1  その他の点では同一であるが,製造業者が設定するか,又は入替え可能な構成部品を製造段階に
おいて含めることによって,いろいろな動作値,動作時間又はシーケンスを作り出すことができる制御装
置は,この規格の目的に対して,通常,同一機種の提出として取り扱う。通常,制御装置は,最も厳しく
なる条件に設定する。ただし,全範囲の承認を可能にするために追加のサンプルが必要である場合,他の
値に設定したこれらのサンプルを要求できる。
4.3.4.2  4.3.4.1による場合,いかなる動作値,動作時間又はシーケンスの製造偏差及びドリフトの変動性
に対しても注意する。また,検出制御装置に対しては,その範囲の異なる部分に適用する可能性のある,
該当する作動量の上昇及び降下の許容できる最小速度及び最大速度に十分に注意する。
4.3.5  目的に関するもの
4.3.5.1  多目的制御装置は,6.3に従って,一般的に目的ごとに別々に試験する。一つの目的のための試
験中,他の全ての目的に適用できる作動量及び駆動装置は,規定する範囲若しくは複数範囲内の最も厳し
い値,又は位置に維持する。
4.3.5.2  箇条17に該当する適切な細分箇条がない制御装置は,基本的に意図された動作値,動作時間及
び動作シーケンスを試験するように,当事者間で協定した方法で試験する。
4.3.5.3  6.3又はJIS C 9730の規格群の関連する第2部で分類していない目的をもった制御装置も,この
規格に従って試験し,要求事項への適否を判定してもよいが,箇条17は適用しない。できる限り,箇条
17で意図する試験計画を基礎とし,当事者間で協定する。
4.3.5.4  (J.4.3.5.4による。)
4.3.5.5  (U.4.3.5.5による。)

5 定格

5.1   最大定格電圧
  最大定格電圧は,690 Vとする。
5.2   (規定なし)
5.3   適否
  5.1の要求事項に対する適否は,箇条7の情報の要求事項によって判定する。

6 分類

  制御装置は,次によって分類する。
6.1   電源の性質による分類
  電源の性質による分類は,6.1.16.1.5による。
6.1.1  交流専用制御装置
    注記1 交流専用制御装置は,直流回路で使用してもよいが,電流が交流定格電流の10 %又は0.1 A
            のうちいずれか少ない方を超えないときに限る。
    注記2 直流定格を確定するために,追加試験が必要となる場合がある。

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