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C 9730-1 : 2019
6.13 使用絶縁材料の保証トラッキング指数(PTI)による分類
使用絶縁材料の保証トラッキング指数(PTI)による分類は,6.13.16.13.4による。
6.13.1 PTI値が100以上175未満の材料は,材料グループIIIb
6.13.2 PTI値が175以上400未満の材料は,材料グループIIIa
6.13.3 PTI値が400以上600未満の材料は,材料グループII
6.13.4 PTI値が600以上の材料は,材料グループI
6.14 充電部支持用絶縁部品及び充電部と接地した金属との間に加わる電気的ストレスの期間による分類
充電部支持用絶縁部品及び充電部と接地した金属との間に加わる電気的ストレスの期間による分類は,
6.14.1及び6.14.2による。
6.14.1 短時間
6.14.2 長時間
注記 制御装置を連続使用機器中で使用する場合,長時間の電気的ストレスが存在する。また,プラ
グの引抜きによって,又は完全断路を行う制御装置の動作によって電源から断路されそうにな
いその他の機器内の制御装置の電源側も長時間の電気的ストレスが存在する。
6.15 制御装置の構造による分類
制御装置の構造による分類は,6.15.16.15.8による。
6.15.1 一体形
6.15.2 組込形
6.15.3 インラインコード形
6.15.4 自立構造形
6.15.5 独立取付形。独立取付形は,更に6.15.16.15.3に分類する。
6.15.5.1 露出形
6.15.5.2 埋込形
6.15.5.3 パネル取付形
6.15.66.15.8 (J.6.15.6J.6.15.8による。)
6.16 機器の内部又は機器と組み合わせて制御装置を用いる場合のエージング要求事項(Y)による分類
機器の内部又は機器と組み合わせて制御装置を用いる場合のエージング要求事項(Y)による分類は,
6.16.16.16.6による。
6.16.1 60 000時間
6.16.2 30 000時間
6.16.3 10 000時間
6.16.4 3 000時間
6.16.5 300時間
6.16.6 15時間
注記 機器規格の温度上昇試験又は耐久性試験中に動作する制御回路は,この6.16.6による分類はし
ない。
6.17 サーミスタの使用による分類
(J.6.17による。)
6.18 制御機能のクラス分けによる分類
(H.6.18による。)
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7 情報
7.1 一般要求事項
制御装置の製造業者は,次の事項を確認するために十分な情報を準備しなければならない。
− 適切な制御装置を選択できる。
− この規格の要求事項を満たすような方法で取り付けた制御装置を使用できる。
− この規格が規定する関連試験を実施できる。
7.2 情報提供の方法
7.2.1 情報は,次の方法の一つ又はそれ以上の方法を用いて提供しなければならない。制御装置のために
要求される情報及びこの情報を提供する適切な方法は,表1に製造業者が宣言する方法とする。
注記1 表1自体は,必然的に当事者間で情報を伝達するために用いられる実際の方法として意図し
たものではない。
− 表示(C) 情報は,制御装置上に付けた表示によって提供しなければならない。ただし,一体形制御
装置の場合,表示は,制御装置に関係することが明白であるときだけ,制御装置の隣接部上にあって
もよい。
注記2 表示(C)が提供する情報は,文書(D又はE)中に含んでもよい。
− 文書(D) 情報は,制御装置の使用者又は設置者に提供し,また,読みやすい印刷物の説明書とする。
各制御装置は,このような使用説明書を添付しなければならない。取扱説明書及びその他のこの規格
によって要求する他のテキストは,販売する国の公用語とする。
製造業者へ提供することを意図する取扱説明書は,リーフレット,文字,図面などに代替してもよ
い。制御装置ごとに上記の文書を添付する必要はない。
− 内部又は外部メモリ上の電子媒体上の文書(E) 情報は,(D)の代替である。
− 宣言(X) 情報は,試験の目的で当事者間で協定した方法で,情報を提供しなければならない。例え
ば,それは,制御装置上の表示によって,又はリーフレット,文字若しくは図面によって与えること
ができ,機器に入れて,機器に付けて又は機器と共に提出した制御装置の場合,提出機器の測定,又
は目視検査によって与えることができる。該当する場合,この情報は,機器製造業者にも提供するこ
とが望ましい。
7.2.2 表示(C)又は文書(D又はE)によって必要であると指示される情報は,要求される場合,当事
者間の協定による方法で,情報を供給しなければならない。
7.2.3 機器に入れて,機器に付けて,又は機器と共に提出する制御装置については,文書(D又はE)の
要求事項は,宣言(X)によって代えることができる。
7.2.4 より複雑な制御装置の一部となる一体形制御装置に関連する表示は,より複雑な制御装置の表示に
含めてもよい。
7.2.5 文書(D又はE)の要求事項は,情報が表示(C)によって提供される場合,当該要求事項を満た
しているとみなす。
7.2.5.1 宣言(X)の要求事項は,情報が文書(D又はE)又は表示(C)のいずれかによって提供される
場合,当該要求事項を満たしているとみなす。
7.2.6 一体形制御装置に対しては,7.4に規定することを除き,全ての情報は宣言(X)によって提供す
る。JIS C 9730の規格群の関連する第2部で別に規定する場合を除き,組込形制御装置に対して最低限要
求される表示は,製造業者名又は商標,及び固有の形式番号だけである。ただし,その他の要求される表
示が文書(D又はE)によって提供される場合に限る。表1の項目50で製造業者が宣言する組込形制御装
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置に対しては,7.2.1に含まれる文書(D又はE)の説明を参照する。
7.2.7 スペースがないために,この規格で要求する表示ができないもので,一体形でなく組込形でもない
制御装置の場合,制御装置には,製造業者名(又は商標)及び固有の形式番号を表示し,その他は表示し
なくてよい。必要とされるその他の表示は,文書(D又はE)に含めなければならない。
7.2.8 それが誤解を生じないときに限り,追加表示又は情報を許容する。
7.2.9 記号を用いるときは,次による。
アンペア A
ボルト V
ワット W
ボルト−アンペア VA
交流(単相) (IEC 60417-5032)
交流(三相) 3
交流(三相,中性線付き) 3N
直流 (IEC 60417-5031)
クラスII構造 (IEC 60417-5172)
クラスIII制御装置 (IEC 60417-5180)
スイッチヘッドの周囲温度限度 T (Tminが0 ℃未満の場合,マイナス記号及び
低い方の温度の数値をTの前に記載し,Tmax
が55 ℃以外の場合,高い方の温度の数値を
Tの後に記載する。)
該当するヒューズの定格電流(A) (IEC 60417-5016)
周波数 Hz
接地端子(7.4.3.1参照) (IEC 60417-5019)
機能接地 (IEC 60417-5018)
外郭による保護等級の識別に対しては,6.5による分類を使用しなければならない。
注記1 定格電流及び定格電圧についての情報の提供は,数値だけを使用してもよい。定格電流の数
値は,定格電圧の数値の前か,又はその数値の上に記載し,線によって区別する。抵抗負荷
及び誘導負荷回路に対しては,誘導負荷の定格電流は括弧書きとし,抵抗負荷の定格電流の
すぐ後に記載する。電源の性質のための記号は,電流値及び電圧値の後に記載する。
電源の電流,電圧及び電源の性質は,次のとおりに示すことができる。
16
16 (3) 250 V,16 (3)/250又は250)3(
注記2 次は,制御装置の温度限度の情報を示す方法の例である。
− 20T30(−20 ℃+30 ℃を意味する。)
− T85(0 ℃+85 ℃を意味する。)
注記3 指定する特別負荷に関する情報は,図又は形式を引用して示してもよい。例えば,次のとお
りである。
“モータ図番第···号,部品リスト第···号製造”又は“5×80 W蛍光灯”。
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表1−必要な情報及び提供方法
情報 適用箇条 方法
1 製造業者名又は商標 7.2.6 C
2 固有の形式番号a) 2.11.1,2.13.1,7.2.6 C
3 定格電圧又は定格電圧範囲(V)(U.7も適用) 2.1.2,4.3.2,14.4 C
4 4.3.2,6.1
制御装置が交直両用であるか,又は定格が交流及び直流に対して同 C
一である場合を除き,電源の性質(U.7も適用)
5 電圧範囲5060 Hz以外の周波数の場合,周波数 4.3.2 C
6 制御装置の目的 D又
2.2,4.2.4,4.3.5,6.3,17.16
はE
6a 制御装置の構造及びその制御装置が電子式であるかどうか。 6.15,H.2.5.7 X
7 各回路によって制御される負荷の形式b) 6.2,箇条14,箇条17,23.1.1C
15 外郭によって備えられる保護等級c) 6.5.1,6.5.2,11.5 C
17 6.6,7.4.2,7.4.3
外部導体の接続に対して,端子のどれが適格であり,それらが相導 C
体若しくは中性導体又はその両方に対して適格であるかどうか。
18 10.1
外部導体用端子のどれが表3に示すものよりも広い範囲の導体寸法 D又
に用いられるか。 はE
19 箇条10
定義が可能でない場合,ねじなし端子に対して,接続方法及び断路 D
方法d)
20 内部導体用端子に接続する意図の特殊導体の詳細 10.2.1 D又
はE
21 箇条14
一体形及び組込形制御装置の内部導体用端子及び外部導体用端子の X
85 ℃より高い場合の最高温度
22 6.7,14.5,14.7,17.3
Tminが0 ℃より低い又はTmaxが55 ℃とは異なる場合,スイッチヘ C
ッドの温度限度値
23 取付面の温度限度値(Ts) 6.12.2,14.1,17.3 C
24 感電保護による制御装置の分類 6.8 X
25 クラスII制御装置に対しては,クラスII構造の記号 7.3 C
26 各手動作動に対する操作サイクル数(M) 6.10,17.10,17.11 X
27 各自動作動に対する自動サイクル数(A) 6.11,17.8,17.9 X
28 6.16,17.6
タイプ1.M又はタイプ2.M作動の制御装置に対するエージング期間 X
(Y)
29 各回路によって提供される断路形式又は開路形式 X
2.4.1,2.4.2,2.4.3,2.4.4,6.9
30 絶縁のために用いられる材料のPTI 6.13,表23 注b),表24注d),X
21.2.7
31 制御装置の取付方法e) 11.6 D
31a 制御装置の接地方法 7.4.3,箇条9,9.1.1,9.1.2 D
32 非着脱式コードの取付方法f) 10.1,11.7 D又
はE
33 制御装置の意図した輸送条件g) 16.1 X
34 動作時間の制限の詳細h) 箇条14,箇条17 D又
はE
35 絶縁部に加わる電気的ストレス期間 6.14 X
36 11.3.2
マイクロ断路が保証される検出素子に対する作動量の限度値(表 X
H.0Aの項目36も適用)
37 4.1.7,箇条15,箇条17
検出制御装置の作動量の最小変化率及び/又は最大変化率並びにサ X
イクル速度の最小及び/又は最大i)
38 箇条17
正しい作動のために必要である,又は試験目的に使用する可能性が X
ある検出制御装置の作動量のオーバシュート値
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表1−必要な情報及び提供方法(続き)
情報 適用箇条 方法
39 タイプ1又はタイプ2作動 6.4 D又
はE
40 タイプ1又はタイプ2作動の追加機能 6.4.3,11.4 D又
はE
41 製造偏差及び偏差に該当する試験条件 X
2.11.1,11.4.3,箇条15,17.14
42 ドリフト X
2.11.2,11.4.3,箇条15,16.2.4
43 カットアウトの作動復帰特性j) 6.4 D又
はE
44 制御装置が手持ち形である,又は手持ち形機器用を意図しているか X
どうか。
45 10.2.4.4
取り付けることができる平形プッシュオンレセプタクルの数又は分 D又
配に対する制限 はE
46 11.4.3
タイプ2作動では,動作値,動作時間又は動作シーケンスの製造偏 D又
差及びドリフトは,この表の項目41及び項目42で製造業者が宣言 はE
する限度値内での構造
47 検出素子があれば,その範囲 2.8.1 X
48 動作値(又は複数の動作値)又は動作時間 D
2.3.11,2.3.12,6.4.3.10,箇条
11,箇条14,15.6,箇条17
49 制御装置の汚損度 6.5.3 D又
はE
50 機器製造業者だけに供給される目的の制御装置 7.2.1,7.2.6 X
51 グローワイヤ試験温度 X
21.2.1,21.2.2,21.2.3及び21.2.4
5260 (H.7による。)
6165 (表J.5による。)
6674 (H.7による。)
75 定格インパルス電圧 2.1.12,20.1 D又
はE
76 プリント回路板の塗膜の形式 附属書P又は附属書Q X
77 ボールプレッシャ試験の温度 X
21.2.1,21.2.2,21.2.3及び21.2.4
78 熱可塑性材料を使用する単一ブッシュ取付けの最大指示トルク 表20 注a) D又
はE
79 表H.24
制御装置よりも清浄な場合の沿面距離又は空間距離のミクロ環境に X
おける汚損度,及びこれをどのような構造にするか
80 表H.24
制御装置のものと異なる場合の沿面距離又は空間距離のための定格 D又
インパルス電圧,及びこれをどのように確保するか はE
81 故障モード“短絡”からの除外を主張する距離の許容差 表H.24 X
82 (表J.5による。)
85 クラスIII制御装置に対して,クラスIII構造の記号 7.4.6 C
86 SELV又はPELVに対して,ELV限度値の実現 2.1.5,T.3.2 X
87 2.1.4,6.8.4.1,6.8.4.2,8.1.1
SELV又はPELV回路の接触可能な電圧の値が8.1.1と異なる場合, X
制御装置の適用となる製品規格に記載された値
88 (U.7による。)
89 CISPR 11に従って規定するエミッション試験及びグループ 23.2,H.23.1.2 X
90 表H.13
JIS C 9335に関連する機器に従って,使用する保護制御装置につい X
てのイミニティ試験
91 (H.7による。)
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JIS C 9730-1:2019の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60730-1:2013(MOD)
- IEC 60730-1:2013/AMENDMENT 1:2015(MOD)
JIS C 9730-1:2019の国際規格 ICS 分類一覧
- 97 : 家庭用及び商業用設備.娯楽.スポーツ > 97.120 : 家庭用自動制御
JIS C 9730-1:2019の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC2570-1:2015
- 直熱形NTCサーミスタ―第1部:品目別通則
- JISC2814-2-2:2009
- 家庭用及びこれに類する用途の低電圧用接続器具―第2-2部:ねじなし形締付式接続器具の個別要求事項
- JISC2814-2-3:2009
- 家庭用及びこれに類する用途の低電圧用接続器具―第2-3部:絶縁貫通形締付式接続器具の個別要求事項
- JISC3662-1:2009
- 定格電圧450/750V以下の塩化ビニル絶縁ケーブル―第1部:通則
- JISC3663-1:2010
- 定格電圧450/750V以下のゴム絶縁ケーブル―第1部:通則
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- 電気絶縁―熱的耐久性評価及び呼び方
- JISC4526-1:2013
- 機器用スイッチ―第1部:一般要求事項
- JISC4526-1:2020
- 機器用スイッチ―第1部:通則
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- JISC60068-2-75:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第2-75部:ハンマ試験(試験記号:Eh)
- JISC60695-10-2:2018
- 耐火性試験―電気・電子―第10-2部:異常発生熱―ボールプレッシャー試験方法
- JISC60695-2-10:2015
- 耐火性試験―電気・電子―第2-10部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―グローワイヤ試験装置及び一般試験方法
- JISC61000-3-2:2019
- 電磁両立性―第3-2部:限度値―高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20A以下の機器)
- JISC61000-4-11:2008
- 電磁両立性―第4-11部:試験及び測定技術―電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験
- JISC61000-4-3:2012
- 電磁両立性―第4-3部:試験及び測定技術―放射無線周波電磁界イミュニティ試験
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- 電磁両立性―第4-4部:試験及び測定技術―電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験
- JISC61000-4-5:2018
- 電磁両立性―第4-5部:試験及び測定技術―サージイミュニティ試験
- JISC61000-4-6:2017
- 電磁両立性―第4-6部:試験及び測定技術―無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ
- JISC61000-4-8:2016
- 電磁両立性―第4-8部:試験及び測定技術―電源周波数磁界イミュニティ試験
- JISC61558-2-16:2012
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- JISC61558-2-6:2012
- 入力電圧1 100V以下の変圧器,リアクトル,電源装置及びこれに類する装置の安全性―第2-6部:安全絶縁変圧器及び安全絶縁変圧器を組み込んだ電源装置の個別要求事項及び試験
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- ミニチュアヒューズ―第1部:ミニチュアヒューズに関する用語及びミニチュアヒューズリンクに対する通則
- JISC8269-1:2016
- 低電圧ヒューズ―第1部:通則
- JISC8305:2019
- 鋼製電線管