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でない気流源から発生する気流にさらされてはならない。すなわち,自然な対流環境でなければならない
(図105参照)。
EUTの試験室又は試験チャンバ内の強制気流を低減及び阻止するには,気流及び自然対流がEUTによ
ってだけ生じるようにするために部分的又は完全に閉鎖された試験箱にEUTを配置,又は気流を阻止する
ために適切な材料で構成するバリアをEUTの周囲に配置してもよい。
注記2 (対応国際規格の注記の内容は規定であるため,本文に移動した。)
温度記録装置
EUT自然対流周囲環境。
サイズは基準ではない。
d5 X
d2 X X d3
X
d1
d1,d2,d3,d4,d5 : EUTの可能な周囲温度測定点
図105−一般的な温度試験環境
定常状態になったら温度を測定する。
独立したHMI,通信切換器,ルータなど,EUTが独立した装置として機能する場合は,単独で試験しな
ければならない。
モジュラ機器システムの入出力モジュールなど,EUTが独立した装置として機能しない場合は,代表的
なEUTを試験に使用する。このEUTは,EUTの実用的な組合せの最悪条件を代表しなければならない。
注記3 実用的な組合せの最悪条件は,実際には決して使用しない理論的な組合せでなく,実際の用
途でEUTを使用可能な現実的な状況を意味する。
実用的な組合せの最悪条件は,電源,通信モジュール(図106のTM),EUTなど,少なくともEUTが
機能するために必要な項目でなければならない。EUTは,製造業者の文書が許容しているように,実際の
モジュール又はEUTに対する最悪の場合の熱的環境を表す“シミュレーションモジュール”(図106に示
す熱的に代表的なモジュール,TM)でEUTの両側を囲まなければならない。すなわち,EUTにモジュー
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ルを追加しても,EUTの温度は増加しない。試験の構成の理由を試験報告書に記載しなければならない。
モジュールシステムの入出力モジュールEUTを試験するための構成例には,次のものがある。
EUT(入出力モジュール)
電源
通信モジュール
EUTの左側で,全負荷で動作する同じ入出力モジュール 3個
EUTの右側で,全負荷で動作する同じ入出力モジュール 3個
より多くの入出力モジュールを左右に追加しても,EUTの温度は変わらない。
自然対流によって冷却される,通気口のある機器の場合,周囲温度は,機器の空気流入点の面上から25
mm50 mm離れた位置における流入空気温度である(図106参照)。図106のd1,d2及びd3は可能な測
定点である。最低温度の測定点を,周囲温度として使用することが望ましい。
通気口のあるモジュールEUT : 熱モジュール(TM)とともに
試験システムで構成される。
通気口のある独立したEUT
通気口がある : EUTを通して空気が流れ
通気口がある : 横置き又は縦置きのEUT
る。 を通して空気が流れる。
X
d2 X
d3
X d1
X d1
図106−通気口のある装置
注記4 通気口は,スイッチシャフト,通信ジャック開口部など,付随的な通気口ではなく,冷却の
ため空気が装置を通過するように設計した開口部である。
自然対流によって冷却される,通気口のない装置の場合,周囲温度とは,装置の垂直中心点における水
平面上で装置から25 mm50 mm離れた位置における気温である(図107参照)。図107のd2d5は可能
な測定点である。最低温度の測定点を,周囲温度として使用することが望ましい。
設置要求事項のために,使用するのが実際的でない測定点がある。
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通気口のないモジュールEUT : 熱モジュール(TM)とともに
試験システムで構成される。
通気口のない独立したEUT
通気口がない : EUTの周囲を空気が流れ
通気口がない : 横置き又は縦置きのEUTの
る。 周囲を空気が流れる。
d5 X
X
d5
X d3
X X
d2 d5
X d4 X
d2 X
d3
X d4
X d4
設置要求事項によって,図106に示すd1などの測定点を
使用するのは実際的ではない。
図107−通気口のない装置
10.4.1.101 特別な方法,パネル取付形装置
パネル取付形装置には特別な考慮事項がある(図108参照)。
この場合,機器(EUTa)の一部は,例えば,周囲環境#1などの一つの周囲環境にある場合があり,他の
機器(EUTb)は,周囲環境#2などの別の周囲環境にある場合がある。機器製造技術は非常に異なる場合
がある。例えば,図108を参照すると,周囲環境#1は開放され通気口があり,周囲環境#2では閉鎖され
通気口がない。
最悪な条件にするためには,これらの二つの環境を同時に適用する必要があるか検討することが望まし
い。
機器の各部(EUTa及びEUTb)は,それ自体の環境において別個に評価しなければならない。
試験条件及び最悪条件のEUTの構成及び向きに関して,10.4.1.100に記載する一般的な方法に従わなけ
ればならない。
パネル取付形装置を試験するための三つの特別な方法がある。
a) 機器は,EUTの二つの部分(EUTa及びEUTb)が,その特定の環境になるように設置しなければなら
ない。
注記1 これによって,最も正確な結果が得られるが,試験で作成するのは非常に困難である。
b) 全EUT(EUTa+EUTb)は,一つの環境に設置しなければならない。この環境は,二つのうちの高い
方の温度とし,温度の低いEUT部分の温度は,EUTの最大定格周囲温度と実際の試験周囲温度との
差によって修正する。
例 EUTaの最大定格周囲温度が60 ℃で,EUTbの最大定格周囲温度が50 ℃である場合,試験周囲
温度60 ℃で試験を実施しなければならない。EUTbについて測定する温度は−10 K(50 ℃−
60 ℃)修正する。
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注記2 この方法は,a)ほど正確ではないが,c)と比べて正確な結果が得られる。
c) 全EUT(EUTa+EUTb)は,一つの環境に設置しなければならない。この環境は,二つのうちの低い
方の温度とし,温度の高いEUT部分の温度は,EUTの最大定格周囲温度と実際の試験周囲温度との
差によって修正する。
例 EUTaの最大定格周囲温度が60 ℃で,EUTbの最大定格周囲温度が50 ℃である場合,試験周囲
温度50 ℃で試験を実施しなければならない。EUTaについて測定する温度は+10 K(60 ℃−
50 ℃)修正する。
注記3 この方法は,a)ほど正確ではないが,b)と比べても正確な結果は得られない。
温度記録装置
装置回路の大部分は,
きょう(筐)体内部に
ある場合があるため
EUT周囲環境#1に
さらされる。
パネルを壁に取り付け, d5 X
装置を組み立てる X d4
きょう(筐)体
X
装置の表示部は, d2
きょう(筐)体外部に X
あるため,EUT周囲環境#2 d1
X d1
にさらされる。
EUT周囲環境#1
EUT周囲環境#2
パネル壁
注記 EUTaはきょう(筐)体の内部にあり,EUTbはきょう(筐)体の壁内にある。
図108−きょう(筐)体の壁を通して設置するパネル取付形装置
10.4.1.102 特別な方法,大形又は重い機器
EUTの最大定格周囲温度と実際の試験室周囲温度との差だけ,測定温度を修正する場合は,大きすぎる
機器又は重すぎる機器は室温で試験することがある。
この方法を適用する場合は,試験報告書に理由を記載しなければならない。
10.4.1.103 全ての場合に適用する他の考慮事項
温度試験に関する他の考慮事項は,次による。
a) 巻線の絶縁材料の温度は,巻線及び絶縁材料と接触する積層コアの温度として測定する。抵抗法又は
巻線の温度に対する影響が無視できるように選択し配置した温度センサを用いて測定することがある。
後者の方法は,巻線が均等でないか,又は抵抗を測定することが難しい場合に用いてもよい。
b) 単一故障試験の設定及び繰返しが難しいため,これらの試験は室温で試験することがある。EUTの最
大定格周囲温度と実際の試験室周囲温度との差を記録温度として修正しなければならない。
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10.4.2 加熱機器の温度測定
10.5.2 非金属製の外装
この細分箇条は,閉鎖形装置に適用する。
11 流体及び外来固形物に起因するハザードに対する保護
11.6 保護等級(IPコード)をもつ機器
例えば,JIS C 0920に記載された保護等級の一つに適合していると製造業者が装置の定格に定め,かつ,
表示している場合,その装置は規定された程度まで液体及び他の物質の侵入に耐えなければならない。
適合性は,次の二つによって確認する。その後,空間距離及び固体絶縁は,絶縁の種類に適用可能な6.8
の電圧試験(湿度前処理を行わない)に合格し(6.7参照),接触可能な部分は6.3.1の限度を超えてはな
らない。疑いがある場合は,2)を行わなければならない。
1) 検査による。
2) 装置に,例えば,JIS C 0920などの適切な処理を施すことによる。
12 レーザを含む放射,音圧及び超音波圧に対する保護
13 漏えい(洩)ガス,漏えい物,爆発及び爆縮に対する保護
13.1 有毒及び有害なガス及び物質
13.2.1 部品
13.2.2 電池及び電池の充電
注記101 電池及び電池パックについては,JIS C 62133-1(電池パック),JIS C 62133-2(電池パック),
UL 1642(リチウム電池)及びUL 2054(充電式電池)の基準を追加で適用する可能性があ
る。
14 部品及びサブアセンブリ
14.101 絶縁を橋絡する部品
14.101.1 コンデンサ
主電源回路で二つのライン導体間に接続されたコンデンサ又は一つのライン導体と中性点導体との間に
接続されたコンデンサは,JIS C 5101-14のサブクラスX1又はX2に適合しなければならない。
主電源回路と保護接地との間のコンデンサは,JIS C 5101-14のサブクラスY1,Y2又はY4に適合しな
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JIS C 1010-2-201:2021の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61010-2-201:2017(MOD)
JIS C 1010-2-201:2021の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.040 : 産業オートメーションシステム > 25.040.40 : 工業計測及び制御
- 19 : 試験 > 19.020 : 試験条件及び手順一般
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.020 : 度量衡及び測定一般
- 13 : 環境.健康予防.安全 > 13.110 : 機械の安全
JIS C 1010-2-201:2021の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0448:1997
- 表示装置(表示部)及び操作機器(操作部)のための色及び補助手段に関する規準
- JISC0617-2:2011
- 電気用図記号―第2部:図記号要素,限定図記号及びその他の一般用途図記号
- JISC0920:2003
- 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
- JISC1010-1:2019
- 測定用,制御用及び試験室用電気機器の安全性―第1部:一般要求事項
- JISC1010-2-30:2019
- 測定用,制御用及び試験室用電気機器の安全性―第2-30部:試験回路又は測定回路をもつ機器に対する個別要求事項
- JISC1509-1:2017
- 電気音響―サウンドレベルメータ(騒音計)―第1部:仕様
- JISC2134:2007
- 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
- JISC2134:2021
- 固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
- JISC3665-1-2:2007
- 電気ケーブル及び光ファイバケーブルの燃焼試験―第1-2部:絶縁電線又はケーブルの一条垂直燃焼試験―1kW混合ガス炎による方法
- JISC5101-14:2014
- 電子機器用固定コンデンサ―第14部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ
- JISC5381-21:2014
- 低圧サージ防護デバイス―第21部:通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイス(SPD)の要求性能及び試験方法
- JISC5381-311:2016
- 低圧サージ防護デバイス用部品―第311部:ガス入り放電管(GDT)の要求事項及び試験回路
- JISC5381-321:2004
- 低圧サージ防護デバイス用アバランシブレークダウンダイオード(ABD)の試験方法
- JISC5381-331:2006
- 低圧サージ防護デバイス用金属酸化物バリスタ(MOV)の試験方法
- JISC60068-2-14:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-14部:温度変化試験方法(試験記号:N)
- JISC60068-2-75:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第2-75部:ハンマ試験(試験記号:Eh)
- JISC6065:2016
- オーディオ,ビデオ及び類似の電子機器―安全性要求事項
- JISC60664-1:2009
- 低圧系統内機器の絶縁協調―第1部:基本原則,要求事項及び試験
- JISC60664-3:2019
- 低圧系統内機器の絶縁協調―第3部:汚損保護のためのコーティング,ポッティング及びモールディングの使用
- JISC60695-11-10:2015
- 耐火性試験―電気・電子―第11-10部:試験炎―50W試験炎による水平及び垂直燃焼試験方法
- JISC60695-11-3:1997
- 環境試験方法 ― 電気・電子 ― 耐火性試験 公称500W試験用炎及び指針
- JISC60695-11-3:2014
- 耐火性試験―電気・電子―第11-3部:試験炎―公称500W炎―試験装置及び炎確認試験方法
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- 耐火性試験―電気・電子―第2-11部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―最終製品に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWEPT)
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- レーザ製品の安全基準
- JISC7550:2011
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- JISC8201-2-1:2011
- 低圧開閉装置及び制御装置―第2-1部:回路遮断器(配線用遮断器及びその他の遮断器)
- JISC8201-2-1:2021
- 低圧開閉装置及び制御装置―第2-1部:回路遮断器(配線用遮断器及びその他の遮断器)
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- JISC8201-2-2:2021
- 低圧開閉装置及び制御装置―第2-2部:漏電遮断器
- JISC8201-3:2009
- 低圧開閉装置及び制御装置―第3部:開閉器,断路器,断路用開閉器及びヒューズ組みユニット
- JISC8201-5-1:2007
- 低圧開閉装置及び制御装置―第5部:制御回路機器及び開閉素子―第1節:電気機械式制御回路機器
- JISC8285:2018
- 工業用プラグ,コンセント及びカプラ
- JISC8286:2013
- 電気アクセサリ―電源コードセット及び相互接続コードセット
- JISC8286:2021
- 電気アクセサリ―電源コードセット及び相互接続コードセット
- JISC9335-2-89:2005
- 家庭用及びこれに類する電気機器の安全性―第2-89部:業務用冷凍冷蔵機器の個別要求事項
- JISC9335-2-89:2021
- 家庭用及びこれに類する電気機器の安全性―第2-89部:業務用冷凍冷蔵機器及び製氷機の個別要求事項
- JISK7206:2016
- プラスチック―熱可塑性プラスチック―ビカット軟化温度(VST)の求め方
- JISZ8736-1:1999
- 音響―音響インテンシティによる騒音源の音響パワーレベルの測定方法―第1部:離散点による測定