JIS C 2101:1999 電気絶縁油試験方法 | ページ 10

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          とを確認しておかなければならない。
b) 試験電圧の波形がほぼ完全な正弦波と認められな場合は,試験電圧の波高値を測定し,これを2で
    除した値を実効値とみなす。
            実効値を示す計器を使用する場合は,あらかじめ上記の測定値によって校正しておく。
22.4 電極及び容器の準備 試験に先立ち,電極及びJIS K 8594に規定する石油ベンジン又はJIS K 8034
に規定するアセトンでよく洗浄し,十分乾燥する。ただし,試料がシリコーンの場合は,JIS K 8680に規
定するトルエン又はJIS K 8848に規定するヘキサンでよく洗浄乾燥する。
  なお,洗浄した電極及び容器を保管する場合,じんあい又は湿気などが付着しないように注意する。
22.5 試験条件
a) 試料の試験温度及び条件 試料の試験温度は,1535℃とする。ただし,ポリブテンの場合には,80
    100℃とする。特に指定のない限り,乾燥及び真空引き処理をせずに試験をする。
b) 電極間ギャップ 電極間ギャップは,2.5±0.05mmとする。
22.6 操作 操作は,次の順序で行う。
a) 電極容器及び試料を規定の温度にする。
b) 次に油面が電極の上端から20mm上になるように試料を入れ,泡が見えなくなった後数分間放置して,
    試験を始める。
c) 電圧は,毎秒3.0±0.3kVの割合で上昇させ,絶縁破壊が生じる電圧を測定する。
d) 絶縁破壊電圧の測定は,5回行う(34)。シリコーン油の場合は1回行う。
    注(34) 絶縁破壊後は,約1分間放置して油中に生じた泡が見えなくなった後,次の試験を始める。
            このとき,電極面に付着したカーボン粒子又は電極周囲に浮遊したカーボン粒子などを取り
          除くため,泡立てない程度に緩やかに試料をかき混ぜる。
e) 別に試料を電極容器にとり,a)   d)の操作を繰り返す。シリコーン油の場合は,同一試料から5個の
    試料をとり,各試料について1回絶縁破壊を行う。
f)  試験終了後電極容器を高圧変圧器から外す前に,残留電荷を除くため,電極を接地する。
22.7 計算及び結果 絶縁破壊電圧は,同一試験油から2個の試料をとり,各試料について5回ずつ測定
を繰り返しそれぞれ始めの値を除いた合計8個の測定値を用い,次の式によって計算する。
                             V2  V3  V4  V5   V2   V3  V4  V5
                        V
                                             8
                      ここに,      V :  絶縁破壊電圧
                       V2,V3,V4,V5 :  1個目の試料のそれぞれ2,3,4,5回目の測定値
                      V2',V3',V4',V5' :  2個目の試料のそれぞれ2,3,4,5回目の測定値
  ただし,シリコーン油の場合は,5個の測定値を用いて平均値を計算する。結果は小数点以下1けたま
で算出し,JIS Z 8401によって整数に丸める。
  なお,試験結果には,電極の種類,試験電圧の周波数,試料の試験温度を付記する。
22.8 精度 精度は次による。
a) 室内併行精度 同一試験室において,同一人が同一試験器で,引き続き短時間内に同一試料を2回試
    験したときの,試験結果の差は10kVを超えてはならない。
b) 室間再現精度 規定しない。
    参考 絶縁破壊電圧試験の意義 絶縁油の絶縁破壊電圧は,その油が電界下で使用可能かどうかを判

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          定する尺度の一つである。また,油中の水分,じんあい又は誘電性粒子によって,絶縁破壊電
          圧は低下するので,これら油中不純物の有無を判定する尺度の一つである。
23. 誘電正接試験及び比誘電率試験
23.1 試験の原理 電極間のギャップが1mmの同心円筒形構造の電極に試料を入れ,シェーリングブリッ
ジなどの静電容量測定器によって,周波数50Hz又は60Hzで5001 000Vの一定の交流電圧を印加して誘
電正接及び比誘電率を規定の温度 (80℃) で測定する。
23.2 装置 装置は,次のものを用いる。
a) 電極 電極は,試料に対し化学的に安定で,材質としては,ステンレス鋼,ニッケル,又はニッケル,
    金若しくはロジウムをめっきした金属(ロジウムをめっきしたインバールでは熱膨張率が小さいとい
    う利点もある)で作られ,その構造は,同心円筒形で,分解,洗浄,組立の操作が容易であり,電極
    配置が温度の影響を受けない材質と構造を用いる。洗浄を容易にするため試料に接する電極表面は平
    滑な仕上げとする。電極に使用する容器及び絶縁材料は,試料及びこれに使用する洗浄剤に侵されな
    いもの,試料を汚染しないもの,及び吸湿しにくいもの。また,固体絶縁材料は,高抵抗,低誘電損
    失材料で試験電圧に十分耐えられるものでなければならない。電極間のギャップは1mmとし,試料
    を入れない空の状態の電極間の静電容量が50100pFのもの。電極の例を図26及び図27に示す。

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                            図26 誘電特性試験用電極の例(電極A)

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                            図27 誘電特性試験用電極の例(電極B)
b) 誘電特性測定器 測定器には,100pFの静電容量の場合,誘電正接を1×10−4,望ましくは,1×10−5
    の分解能で測定できる商用周波交流ブリッジを用いる。シェーリングブリッジ,電子回路によるブリ
    ッジなど,外部からの誘導を防止するためのシールドをもち,上記精度を実現できるブリッジが使用
    できる。
      測定回路の例を図28(シェーリングブリッジ)及び図29(電子回路によるブリッジ)に示す。
      標準コンデンサは,保護電極を備え,かつ,気体誘電体を使用した誘電正接がゼロとみなすことが
    できるものを用いる。
      なお,シェーリングブリッジを用いる場合には,検出器としては,試験周波数の同調増幅器を使用

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    する。また,オシロスコープでリサージュ図形を描かせる方法も便利である。
                                図28 シェーリングブリッジ回路
                           図29 電子回路を用いたブリッジ回路(例)

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