JIS C 62368-1:2021 オーディオ・ビデオ，情報及び通信技術機器―第１部：安全性要求事項 | ページ 56

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C 62368-1 : 2021
P.3.4 適合性
  適否は,検査又は利用可能なデータ,及び必要な場合は関連する試験によって判定する。
  試験中及び試験後,全ての付加セーフガード及び強化セーフガードは,有効でなければならず,かつ,
PISとなる部分が存在してはならない。
P.4  メタライズしたコーティング及び接着固定部分
P.4.1 一般事項
  メタライズしたコーティング及び接着剤は,機器の寿命を通じて,適切な接着強度をもたなければなら
ない。
  適否は,構造及び利用可能なデータの評価によって判定する。使用可能なデータがない場合は,P.4.2の
試験によって判定する。
  メタライズしたコーティングは,P.4.2の試験の代わりに,汚損度3に対する空間距離及び沿面距離を確
保してもよい。
P.4.2 試験
  メタライズしたコーティング部分又は接着固定した部分を含む,機器又は部分組立品のサンプルは,接
着固定した部分を下向きにして評価する。
  サンプルは,次に示すように,温度TCのオーブンに規定する期間(8週間,3週間又は1週間)入れて,
前処理を実施する。
                        TC=TR+(TA+10−TS)
  ただし,(TA+10−TS)の値が負の場合は,値を0(ゼロ)に置き換える。
                      ここに,  TC :  前処理の温度(℃)
                                 TR :  前処理の温度の定格。8週間とする場合は(82±2)℃,3週
                                       間とする場合は(90±2)℃,1週間とする場合は(100±2)℃
                                       を適用する。
                                 TA :  通常動作状態の下でのコーティング部分又は接着固定した部
                                       分の温度(℃)(B.2.6.1参照)
                                 TS :  82(℃)
    注記1 例えば,8週間の前処理で,実際の温度が70 ℃の場合,(TA+10−TS)=70+10−82=−2と
            なり,この値を0とみなし,前処理の温度は,82 ℃となる。また,3週間の前処理で,実際
            の温度が70 ℃の場合も,(TA+10−TS)=−2となり,この値を0とみなし,前処理の温度は,
            90 ℃となる。同様に,1週間の前処理で,実際の温度が70 ℃の場合も,(TA+10−TS)=−2
            となり,この値を0とみなし,前処理の温度は,100 ℃となる。
    注記2 例えば,8週間の前処理で,実際の温度が75 ℃の場合,(TA+10−TS)=+3となり,前処理
            の温度は82+3=85 ℃となる。また,3週間の前処理で,実際の温度が75 ℃の場合,(TA+
            10−TS)=+3となり,前処理の温度は90+3=93 ℃となる。また,1週間の前処理で,実際
            の温度が75 ℃の場合,(TA+10−TS)=+3となり,前処理の温度は100+3=103 ℃となる。
    注記3 次の表は,注記1及び注記2の結果をまとめたものである。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 276] ―――――

                                                                                           273
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                                                                         単位 ℃
                TA         TR         TS      TA+10−TS    TC=TR+TA+10−TS
                 70    82(8週間)    82    70+10−82=−2     82+0=82
                 70    90(3週間)    82    70+10−82=−2     90+0=90
                 70   100(1週間)    82    70+10−82=−2    100+0=100
                 75    82(8週間)    82    75+10−82=+3     82+3=85
                 75    90(3週間)    82    75+10−82=+3     90+3=93
                 75   100(1週間)    82    75+10−82=+3    100+3=103
  上記の前処理の完了後,サンプルに次の処理を順番に施す。
− サンプルをオーブンから取り出し,20 ℃30 ℃の温度に1時間以上放置する。
− サンプルを(−40±2)℃の冷凍庫に4時間以上入れる。
− サンプルを冷凍庫から取り出し,20 ℃30 ℃の温度になるまで8時間以上放置する。
− サンプルを相対湿度91 %95 %で,20 ℃30 ℃の温度の恒温槽に72時間放置する。
− サンプルを取り出し,20 ℃30 ℃の温度に1時間以上放置する。
− サンプルを前処理で用いた温度(TC)のオーブンに4時間以上入れる。
− サンプルを取り出し,20 ℃30 ℃の温度になるまで8時間以上放置する。
  サンプルは,上記の試験後すぐに,4.4.3に規定する附属書Tの試験を実施する。
  製造業者の同意がある場合は,上記の時間を延長してもよい。
  上記の試験後,次でなければならない。
− メタライズしたコーティング及び接着固定した部分は,落下したり,一部が外れたりしてはならない。
− メタライズしたコーティングは,G.13.6.2の耐離性試験を実施する。試験後,コーティングがが
    れたり,小片粒子がコーティングから外れたりしてはならない。
− セーフガードの機能をもつエンクロージャは,該当する全てのエンクロージャに対する要求事項に適
    合しなければならない。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 277] ―――――

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                                          附属書Q
                                          (規定)
                        建物配線との相互接続を意図した回路
Q.1 有限電源
Q.1.1 要求事項
  有限電源は,次のいずれかでなければならない。
a) 力を,表Q.1に適合するように本質的に制限する。
b) 線形又は非線形インピーダンスによって,出力を表Q.1に適合するように制限する。PTCデバイスを
    用いる場合は,次のいずれかでなければならない。
  1)   IS C 9730-1の箇条15(製造偏差及びドリフト),箇条17(耐久性),J.15(製造偏差及びドリフト)
      及びJ.17(耐久性)に規定する試験に合格する。
  2)   IS C 9730-1に規定する,タイプ2.AL作動を備えた装置に対する要求事項に適合する。
c) 調整回路網内における単一故障(B.4参照)の模擬(回路短絡又は開放)を適用した場合及び適用し
    ない場合の両方において,調整回路網によって,出力を表Q.1に適合するように制限する。
d) 過電流保護デバイスを用いて,かつ,出力を表Q.2に適合するように制限する。
e)   C電流制限器が,G.9に適合する。
  過電流保護デバイスを用いる場合は,ヒューズ又は調整不可能な自動復帰しない電気機械式デバイスで
なければならない。
Q.1.2 試験方法及び適合性
  適否は,検査,測定,及び適切な場合は電池に対する製造業者のデータの評価によって判定する。表
Q.1及び表Q.2に従って,Uoc及びIscを測定する場合には,電池を満充電する。最大電力は,電池からの
場合,主電源からの場合などを考慮する。
  電流及び電力は,順次測定する。表Q.1及び表Q.2の注b)及び注c)に記載する“非容量性負荷”は,最
大電流及び最大電力が得られるように調整する。Q.1.1 c)に規定する単一故障の模擬は,最大電流及び最大
電力の状態の下で調整回路網に適用する。
                           表Q.1−本質的に制限した電源に対する限度値
                       出力電圧a)                  出力電流b), d)     皮相電力c), d)
                          Uoc                          Isc                 S
             V(交流)          V(直流)              A                 VA
               30以下             30以下            8.0以下            100以下
            (該当なし)     30を超え60以下       150/Uoc以下          100以下
        注a)   oc : 全ての負荷回路を切り離した状態で,B.2.3に従って測定した出力電圧。電圧は,実質
             的には正弦波といえる交流及びリップルなしの直流である。非正弦波の交流,及びリップ
             ルのピーク値が10 %よりも大きい直流の場合,ピーク電圧は42.4 Vを超えてはならない。
           b)   sc : 回路短絡を含む,あらゆる非容量性負荷を用いて測定した最大出力電流
           c)    : あらゆる非容量性負荷を用いて測定した最大出力(VA)
           d) 電子回路によって保護している場合,Isc及びSは,負荷を接続してから5秒後に測定する。
              PTCサーミスタ又はその他の手段で保護する場合は60秒後に測定する。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 278] ―――――

                                                                                           275
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                        表Q.2−本質的に制限していない電源に対する限度値
                              (過電流保護デバイスを必要とする)
               出力電圧a)               出力電流b), d)   皮相電力c), d) 過電流保護デバイスの
                  Uoc                       Isc               S             定格電流e)
      V(交流)        V(直流).           A               VA                 A
        20以下           20以下        1 000/Uoc以下      250以下           5.0以下
    20を超え30以下   20を超え30以下                                          100/Uoc以下
     (該当なし)   30を超え60以下                                          100/Uoc以下
  注a)   oc : 全ての負荷回路を切り離した状態で,B.2.3に従って測定した出力電圧。電圧は,実質的には正弦波
       といえる交流及びリップルなしの直流である。非正弦波の交流,及びリップルのピーク値が10 %よりも大
       きい直流の場合,ピーク電圧は42.4 Vを超えてはならない。
     b)   sc : 回路短絡を含む,あらゆる非容量性負荷を用いて,負荷接続の60秒後に測定した最大出力電流
     c)    : あらゆる非容量性負荷を用いて,負荷接続の60秒後に測定した最大出力(VA)
     d) 測定中の回路において,過電流保護デバイスをバイパスするが,機器の電流制限インピーダンスはそのま
        まの状態にしておく。
     過電流保護デバイスをバイパスして測定を行う理由は,過電流保護デバイスの動作時間中に過熱の原因となる
        可能性があるエネルギーの総量を測定するためである。
     e) 過電流保護デバイスの定格電流は,この表に記載する定格電流値の210 %に等しい電流によって120秒以
        内に回路を遮断するヒューズ及びサーキットブレーカに基づいている。
Q.2 外部回路に対する試験−ペア導体ケーブル
  外部回路の建物配線に接続することを意図したペア導体ケーブルに電力を供給する機器は,次によって
判定する。
  電力源の固有インピーダンスを用いて電流を制限する場合は,回路短絡を含むあらゆる抵抗性負荷に流
れる出力電流を測定する。試験開始から60秒後に電流限度値を超えてはならない。
  特定の時間−電流特性をもつ過電流保護デバイスによって電流を制限する場合は,次の両方に適合しな
ければならない。
− 過電流保護デバイスは,電流限度値の110 %の電流を流したとき,60分間以内に遮断する時間−電流
    特性をもっている。
− 過電流保護デバイスをバイパスした状態で,回路短絡を含むあらゆる抵抗性負荷に流れる出力電流は,
    試験開始から60秒後に測定したとき,1 000/U以下である。ここで,Uは全ての負荷回路を切り離し
    た状態で,B.2.3に従って測定したときの出力電圧とする。
  特定の時間−電流特性をもたない過電流保護デバイスを備えることによって電流を制限する場合は,次
の両方に適合しなければならない。
− 回路短絡を含むあらゆる抵抗性負荷に流れる出力電流は,試験開始から60秒後に測定したとき,電流
    限度値以下である。
− 過電流保護デバイスをバイパスした状態で,試験開始から60秒後に測定したとき,回路短絡を含むあ
    らゆる抵抗性負荷に流れる出力電流は,1 000/U以下である。ここで,Uは全ての負荷回路を切り離し
    た状態で,B.2.3に従って測定した出力電圧とする。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 279] ―――――

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C 62368-1 : 2021
                                          附属書R
                                          (規定)
                                    制限回路短絡試験
R.1 一般事項
  この附属書は,制限回路短絡試験の試験手順及び適合性について規定する。この試験によって,定格が
25 A以下の過電流保護デバイスによって保護した回路に用いる保護ボンディング導体が,過電流保護デバ
イスが許容する故障電流に対して適切であることを実証し,付加セーフガードの確実性を検査する。
R.2 試験セットアップ
  制限回路短絡試験を行うために用いる電源は,出力端を回路短絡させたときに,1 500 A以上を供給でき
ることを測定によって確認したものとする。この電源は,交流の壁コンセント,発電機,電源装置又は電
池で実現可能である。
  過電流保護デバイスが機器に備えられている場合は,これを試験に用いる。
  機器に過電流保護デバイスが1個だけ備えられており,交流電源に対するプラグが無極性の場合は,建
造物の設備内の保護デバイスを試験に用いて,機器内の過電流保護デバイスはバイパスする。製造業者は,
この試験に用いた設備内の保護デバイスについて,機器の安全に関する説明書に記載しなければならない。
  機器に保護デバイスが存在しない場合,適切な過電流保護デバイスを選択する。この過電流保護デバイ
スは,交流の半周期経過する前に故障電流を遮断しないものとする。試験には,交流電源用の建造物設備
内の過電流保護デバイス,又は直流電源用の機器の外部に取り付けることを指定したデバイスを用いる。
製造業者は,この試験に用いたデバイスについて,機器の安全に関する説明書中に記載しなければならな
い。
R.3 試験方法
  電源は,機器製造業者が提供するか,又は指定する主電源用コードを介してEUTに適用する。主電源用
コードを提供しない場合又は指定しない場合は,公称断面積が2.5 mm2(又は12 AWG)で長さ1 mのもの
を用いる。直流電源に対しては,機器の最大定格電流に対してケーブルの公称断面積を決定する。
  この試験では,機器の接地接続に対する回路短絡は,機器内で行う。この短絡点は機器に依存する。機
器の構造及び回路を検討し,短絡は入力に最も近い点(最も低いインピーダンスの点)で相導体と試験対
象とする保護ボンディング経路との間で実施する。最も過酷な状況を決定するために,短絡する箇所を2
点以上にするのがよい。
  保護ボンディング導体を回路短絡状態にして,EUTに対して十分な,1 500 Aの交流電流又は直流電流
を供給できる電源に接続し,機器の定格電圧又は定格電圧範囲内の任意の電圧を印加する。予期できる機
器の回路短絡電流が判明している場合は,試験に用いる電源は,回路短絡状態でその電流が供給できるも
のとする。製造業者は,この評価に用いた予期できる機器の回路短絡電流を安全に関する説明書に記載し
なければならない。評価する回路を保護している過電流保護デバイス(R.2参照)は,保護ボンディング
導体と直列に接続する。機器製造業者が主電源コードを提供するか,又は指定する場合は,試験を行うと
きに接続する。
  ポッティング又は絶縁保護コーティングした組立品の中にある保護ボンディング導体に対する制限回路

――――― [JIS C 62368-1 pdf 280] ―――――

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