JIS C 62368-1:2021 オーディオ・ビデオ,情報及び通信技術機器―第1部:安全性要求事項 | ページ 19

                                                                                            87
C 62368-1 : 2021
表20−通常用いる材料の絶縁破壊電界強度EP(続き)
材料 絶縁破壊電界強度 EP
kV/mm
材料の厚さ mm
0.75 0.08 0.06 0.05 0.03
トリアセチルセルロースd) − − 120 − 210
注記 表にない値(−)及び他の材料の値は調査中である。
注a) 厚さ0.75 mmのEP値をあらゆる厚さに用いてよい。
b) 厚さ0.05 mm以下の場合は,厚さ0.05 mmのEP値を用いる。それ以外は,厚さ0.75 mmのEP値を用いる。
c) 厚さ0.08 mm以下の場合は,厚さ0.08 mmのEP値を用いる。それ以外は,厚さ0.75 mmのEP値を用いる。
d) 厚さ0.03 mm以下の場合は,厚さ0.03 mmのEP値を用いる。厚さ0.06 mmのEP値を厚さ0.03 mmより大き
く0.06 mm以下に用いる。
1) テフロンはデュポン社が供給する製品の商標である。この情報はこの文書の使用者の利便性のために提供し
たものであり,この規格が製品を推奨するものではない。同じ結果となることを示せる場合,同等の製品を
用いてもよい。
2) カプトンはデュポン社が供給する製品の商標である。この情報はこの文書の使用者の利便性のために提供し
たものであり,この規格が製品を推奨するものではない。同じ結果となることを示せる場合,同等の製品を
用いてもよい。
表21−高周波における絶縁破壊電界強度値EPのための減衰係数
材料a) 周波数
kHz
30 100 200 300 400 500 1 000 2 000 3 000 5 000 10 000
減衰係数KR
磁器 0.52 0.42 0.40 0.39 0.38 0.37 0.36 0.35 0.35 0.34 0.30
シリコンガラス 0.79 0.65 0.57 0.53 0.49 0.46 0.39 0.33 0.31 0.29 0.26
フェノール 0.82 0.71 0.53 0.42 0.36 0.34 0.24 0.16 0.14 0.13 0.12
セラミック 0.78 0.64 0.62 0.56 0.54 0.51 0.46 0.42 0.37 0.35 0.29
テフロン 0.57 0.54 0.52 0.51 0.48 0.46 0.45 0.44 0.41 0.37 0.22
メラミンガラス 0.48 0.41 0.31 0.27 0.24 0.22 0.16 0.12 0.10 0.09 0.06
マイカ 0.69 0.55 0.48 0.45 0.41 0.38 0.34 0.28 0.26 0.24 0.20
紙フェノール 0.58 0.47 0.40 0.32 0.26 0.23 0.16 0.11 0.08 0.06 0.05
ポリエチレン 0.36 0.28 0.22 0.21 0.20 0.19 0.16 0.13 0.12 0.12 0.11
ポリスチレン 0.35 0.22 0.15 0.13 0.13 0.11 0.08 0.06 0.06 0.06 0.06
ガラス 0.37 0.21 0.15 0.13 0.11 0.10 0.08 0.06 0.05 0.05 0.04
他の材料 0.43 0.35 0.30 0.27 0.25 0.24 0.20 0.17 0.16 0.14 0.12
周波数が連続する二つの列の間にある場合,減衰係数は右側の値を用いるか,又は対数内挿法を用いてもよい。
この場合,減衰係数の計算値は,0.01単位で切り捨てる。
注a) このデータは,厚さ0.75 mmの材料についてのものである。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 91] ―――――

           88
C 62368-1 : 2021
表22−薄い材料のための交流周波数における絶縁破壊電界強度の減衰係数
薄い材料 周波数
kHz
30 100 200 300 400 500 1 000 2 000 3 000 5 000 10 000
減衰係数KR
アセトブチルセルロース 0.67 0.43 0.32 0.27 0.24 0.20 0.15 0.11 0.09 0.07 0.06
(0.03 mm)
アセトブチルセルロース 0.69 0.49 0.36 0.30 0.26 0.23 0.17 0.13 0.11 0.08 0.06
(0.06 mm)
ポリカーボネート 0.61 0.39 0.31 0.25 0.23 0.20 0.14 0.10 0.08 0.06 0.05
(0.03 mm)
ポリカーボネート 0.70 0.49 0.39 0.33 0.28 0.25 0.19 0.13 0.11 0.08 0.06
(0.06 mm)
トリアセチルセルロース 0.67 0.43 0.31 0.26 0.23 0.20 0.14 0.10 0.09 0.07 0.06
(0.03 mm)
トリアセチルセルロース 0.72 0.50 0.36 0.31 0.27 0.23 0.17 0.13 0.10 0.10 0.06
(0.06 mm)
他の薄い材料 0.68 0.46 0.34 0.29 0.25 0.22 0.16 0.12 0.10 0.08 0.06
周波数が連続する二つの列の間にある場合,減衰係数は右側の値を用いるか,又は対数内挿法を用いてもよい。
この場合,減衰係数の計算値は,0.01単位で切り捨てる。
5.4.5 アンテナ端子の絶縁
5.4.5.1 一般事項
次の全ての絶縁は,アンテナ端子への静電気放電に耐えなければならない。
− 主電源とアンテナ端子との間の絶縁
− 主電源と,アンテナ端子をもつ他の機器に主電源以外の電源電圧を供給する外部回路との間の絶縁
この試験は,機器の一つのアンテナ端子を5.6.7に従って接地接続した機器には適用しない。
注記 中国では,機器の主保護接地端子にCATVを接続することは認められていない。
5.4.5.2 試験方法
EUTに対して,D.2のアンテナインタフェース試験用発生器(回路3)で,電圧Ucを10 kVとして,1
分間に12回以下の割合で,50回の放電を行う。EUTは,絶縁面に置く。アンテナインタフェース試験用
発生器の出力端子の片側を,ひとまとめにしたアンテナ端子に接続し,もう一方の出力端子を,ひとまと
めにした主電源端子に接続する。機器がアンテナ端子をもつ他の機器に主電源以外の電源電圧を供給する
外部回路をもつ場合は,試験発生器の出力の両端に,ひとまとめにした主電源端子とひとまとめにした外
部回路の端子とを接続して試験を繰り返す。機器は,試験中に通電しない。
注記 試験を行う人は,試験中に機器に触れないように注意する。
5.4.5.3 適合性
適否は,直流500 Vで絶縁抵抗を測定することによって判定する。
1分後に測定した絶縁抵抗が表23に示す値以上の場合には,機器は要求事項に適合しているとみなす。
表23−絶縁抵抗値
部分間の絶縁要求事項 絶縁抵抗

基礎絶縁又は付加絶縁で分離した部分間 2
二重絶縁又は強化絶縁で分離した部分間 4

――――― [JIS C 62368-1 pdf 92] ―――――

                                                                                            89
C 62368-1 : 2021
代替として,適否を5.4.9.1に規定する基礎絶縁又は強化絶縁に対する耐電圧試験で確認してもよい。試
験電圧は,方法1,2及び3で求めた最大電圧とする。この試験によって,絶縁破壊が生じてはならない。
5.4.6 付加セーフガードの一部分としての内部配線の絶縁
この細分箇条の要求事項は,内部配線自体の絶縁物が基礎絶縁の要求事項に適合するが,付加絶縁の要
求事項には適合しない場合に適用する。
電線の絶縁物を付加絶縁システムの一部として用いており,この絶縁物が一般人にアクセス可能な場合
は,次の全てに適合しなければならない。
− その電線の絶縁物は,一般人が取り扱う必要がない。
− その電線は,一般人が引っ張ることがないように配置するか,又は接続点に張力が加わらないように
固定する。
− その電線は,接地していないアクセス可能な導電部に触れることがないように配線し,固定する。
− 電線の絶縁物は,5.4.9.1に規定する付加絶縁に対する耐電圧試験に合格する。
− 電線の絶縁物を通しての距離は,表24に規定する値以上である。
表24−内部配線の絶縁物を通しての距離
基礎絶縁が破損した場合の動作電圧 絶縁物を通しての
V 最小距離
ピーク値又は直流 実効値(正弦波) mm
71を超え 350以下 50を超え 250以下 0.17
350を超える 250を超える 0.31
適否は,検査,測定及び5.4.9.1に規定する耐電圧試験によって判定する。
5.4.7 半導体コンポーネント及び接着接合部に対する試験
3個のサンプルに対して5.4.1.5.3の熱サイクル処理を行う。接着接合部を試験する前に,コンポーネン
ト内部に用いるエナメル電線の巻線を,金属はく又は,裸電線を数回巻いたものに置き換えて,接着接合
部の近傍に取り付ける。
3個のサンプルに対して,次のとおり試験する。
− サンプル1個については,熱サイクル処理中の(T1±2)℃での最後の処理が終了した後,直ちに5.4.9.1
に規定する耐電圧試験を行う。ただし,試験電圧は1.6倍とする。
− 残りのサンプルについては,5.4.8に規定する湿度処理を行った後,直ちに,5.4.9.1に規定する耐電圧
試験を行う。ただし,試験電圧は1.6倍とする。
適否は,試験及び次の検査によって判定する。
− プリント配線板の同一内層にある接着接合部を除き,断面を検査する。絶縁材料に視認できる空隙,
ギャップ又は亀裂があってはならない。
− プリント配線板の同一内層にある導体間の絶縁及び多層プリント配線板の異なる層にある導体間の絶
縁の場合,外観の目視検査を行う。離があってはならない。
5.4.8 湿度処理
湿度処理は,相対湿度(93±3)%の空気を含んだ恒温槽又は室内で48時間行う。サンプルが置かれる
いかなる場所でも空気の温度は,結露が生じない20 ℃から30 ℃の間の任意の値(T±2)℃に保つ。こ
の処理中は,コンポーネント又は部分組立品には通電しない。
熱帯条件に対しては,処理時間を120時間とし温度(40±2)℃,相対湿度(93±3)%とする。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 93] ―――――

           90
C 62368-1 : 2021
湿度処理の前に,サンプルは指定した温度Tから(T+4)℃の間の温度にしておく。
5.4.9 耐電圧試験
5.4.9.1 固体絶縁の形式試験に対する試験手順
別途規定しない限り,適否は,次のいずれかの試験によって判定する。
− 5.4.1.4に規定する温度試験の直後に耐電圧試験を行う。
− コンポーネント又は部分組立品を機器から分離して試験する場合は,5.4.1.4に規定する温度試験のと
きに達した温度にコンポーネント又は部分組立品(例えばオーブンに入れることによって)を温めて
から,耐電圧試験を行う。
なお,付加絶縁又は強化絶縁に用いる薄いシート状材料は,温めずに室温で試験してもよい。
この規格で別途規定しない限り,基礎絶縁,付加絶縁又は強化絶縁の耐電圧試験の試験電圧は,次の三
つの方法のうち,最も高い値とする。
− 方法1 要求耐電圧を用いて,表25に従って試験電圧を決定する(交流主電源,直流主電源又は外部
回路からの過渡電圧に基づく)。
− 方法2 動作電圧のピーク値又は反復ピーク電圧のいずれか高い電圧を用いて,表26に従って試験電
圧を決定する。
− 方法3 公称交流主電源電圧を用いて,表27に従って試験電圧を決定する(短時間過電圧を考慮する)。
固体絶縁は,これらの方法で最も高い試験電圧を用いて,次のいずれかによって試験する。
− 周波数が50 Hz又は60 Hzの正弦波交流電圧を印加する。
− 直流電圧を印加する。
固体絶縁に印加する試験電圧は,ゼロから徐々に規定の値まで上げていき,規定の値に60秒間保つ(ル
ーチン試験については,5.4.9.2を参照。)。
必要な場合,試験は,金属はくを絶縁部表面に接触させて行う。この方法の適用は,絶縁が弱そうな箇
所,(例えば,絶縁の下に鋭い金属の縁があるような箇所)に限定する。可能な場合,絶縁ライニング(裏
打ち)は別個に試験する。金属はくは,フラッシュオーバが絶縁物の縁で生じないように配置することに
注意を払う。粘着性金属はくを用いる場合,粘着剤は導電性のものを用いる。
試験とは関係がないコンポーネント又は絶縁部の破壊を防止するために,集積回路又はこれに類するも
のを切り離し,等電位ボンディングを用いてもよい。G.8に適合するバリスタは,試験中切り離してもよ
い。
基礎絶縁及び付加絶縁が強化絶縁と並列に用いられている機器は,強化絶縁に電圧を印加することによ
って,基礎絶縁又は付加絶縁に過大な電圧が加わることがないように注意する。
コンデンサが試験対象の絶縁と並列に存在し(例えば無線周波数フィルタコンデンサ),このコンデンサ
が試験結果に影響を与える場合,直流試験電圧を用いる。
フィルタコンデンサの放電抵抗器及び電圧制限デバイスのような,試験する絶縁部と並列に直流の電路
を形成するコンポーネントは,切り離してもよい。
5.4.1.6に従って,巻線長さに沿って変圧器巻線の絶縁が変化する場合,絶縁に相応した電圧を印加する
耐電圧試験方法を用いる。
例 このような試験方法の例として,変圧器の飽和を避けるために十分高い周波数を用いて行う,誘
導電圧試験がある。入力電圧は,要求試験電圧と同じ出力電圧を誘起するところまで上昇させる。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 94] ―――――

                                                                                            91
C 62368-1 : 2021
表25−過渡電圧に基づいた耐電圧試験の試験電圧
単位 kV
要求耐電圧(ピーク値) 基礎絶縁又は付加絶縁に対する試験電圧 強化絶縁に対する試験電圧
(次の値以下) (ピーク値又は直流) (ピーク値又は直流)
0.33 0.33 0.5
0.5 0.5 0.8
0.8 0.8 1.5
1.5 1.5 2.5
2.5 2.5 4
4 4 6
6 6 8
8 8 12
12 12 18
UR a) UR a) 1.5×UR a)
連続する二つの行の間で線形内挿法を用いてもよい。
注a) Rは,12 kVを超える要求耐電圧。
表26−動作電圧のピーク値及び反復ピーク電圧に基づいた耐電圧試験の試験電圧
単位 kV
電圧(ピーク値) 基礎絶縁又は付加絶縁に対する試験電圧 強化絶縁に対する試験電圧
(次の値以下) (ピーク値又は直流) (ピーク値又は直流)
0.33 0.43 0.53
0.5 0.65 0.8
0.8 1.04 1.28
1.5 1.95 2.4
2.5 3.25 4
4 5.2 6.4
6 7.8 9.6
8 10.4 12.8
12 15.6 19.2
UP a) 1.3×UP a) 1.6×UP a)
連続する二つの行の間で線形内挿法を用いてもよい。
注a) Pは,12 kVを超える電圧。
表27−短時間過電圧に基づいた耐電圧試験の試験電圧
公称主電源システム電圧 基礎絶縁又は付加絶縁に対する試験電圧 強化絶縁に対する試験電圧
(実効値) (ピーク値又は直流) (ピーク値又は直流)
V kV kV
250以下 2 4
250を超え 600以下 2.5 5

――――― [JIS C 62368-1 pdf 95] ―――――

次のページ PDF 96

JIS C 62368-1:2021の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 62368-1:2018(MOD)

JIS C 62368-1:2021の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 62368-1:2021の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISB9961:2008
機械類の安全性―安全関連の電気・電子・プログラマブル電子制御システムの機能安全
JISC0920:2003
電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
JISC2110-1:2016
固体電気絶縁材料―絶縁破壊の強さの試験方法―第1部:商用周波数交流電圧印加による試験
JISC2134:2007
固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
JISC2134:2021
固体絶縁材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法
JISC2814-1:2009
家庭用及びこれに類する用途の低電圧用接続器具―第1部:通則
JISC3010:2019
電線及び電気温床線の安全に関する要求事項
JISC3216-3:2011
巻線試験方法―第3部:機械的特性
JISC3216-5:2019
巻線試験方法―第5部:電気的特性
JISC3662-1:2009
定格電圧450/750V以下の塩化ビニル絶縁ケーブル―第1部:通則
JISC3663-1:2010
定格電圧450/750V以下のゴム絶縁ケーブル―第1部:通則
JISC3665-1-2:2007
電気ケーブル及び光ファイバケーブルの燃焼試験―第1-2部:絶縁電線又はケーブルの一条垂直燃焼試験―1kW混合ガス炎による方法
JISC3665-1-3:2007
電気ケーブル及び光ファイバケーブルの燃焼試験―第1-3部:絶縁電線又はケーブルの一条垂直燃焼試験―燃焼落下物(粒子)の測定方法
JISC4003:2010
電気絶縁―熱的耐久性評価及び呼び方
JISC4526-1:2013
機器用スイッチ―第1部:一般要求事項
JISC4526-1:2020
機器用スイッチ―第1部:通則
JISC5101-14:2014
電子機器用固定コンデンサ―第14部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JISC5381-11:2014
低圧サージ防護デバイス―第11部:低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方法
JISC60068-2-11:1989
環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
JISC60068-2-6:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
JISC60068-2-78:2015
環境試験方法―電気・電子―第2-78部:高温高湿(定常)試験方法(試験記号:Cab)
JISC6011-1:2015
電子装置用きょう体の試験方法―第1部:屋内設置のキャビネット,ラック,サブラック及びシャシの耐環境性能の試験及び安全性の評価
JISC6065:2016
オーディオ,ビデオ及び類似の電子機器―安全性要求事項
JISC60664-3:2019
低圧系統内機器の絶縁協調―第3部:汚損保護のためのコーティング,ポッティング及びモールディングの使用
JISC60695-10-2:2018
耐火性試験―電気・電子―第10-2部:異常発生熱―ボールプレッシャー試験方法
JISC60695-10-3:2005
耐火性試験―電気・電子―第10-3部:異常発生熱―成形応力解放変形試験
JISC60695-11-10:2015
耐火性試験―電気・電子―第11-10部:試験炎―50W試験炎による水平及び垂直燃焼試験方法
JISC60695-11-20:2018
耐火性試験―電気・電子―第11-20部:試験炎―500W試験炎による燃焼試験方法
JISC60695-11-5:2018
耐火性試験―電気・電子―第11-5部:試験炎―ニードルフレーム(注射針バーナ)試験方法―装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針
JISC60695-2-11:2016
耐火性試験―電気・電子―第2-11部:グローワイヤ/ホットワイヤ試験方法―最終製品に対するグローワイヤ燃焼性指数(GWEPT)
JISC61558-1:2019
変圧器,リアクトル,電源装置及びこれらの組合せの安全性―第1部:通則及び試験
JISC61558-2-16:2012
入力電圧1 100V以下の変圧器,リアクトル,電源装置及びこれに類する装置の安全性―第2-16部:スイッチモード電源装置及びスイッチモード電源装置用変圧器の個別要求事項及び試験
JISC61810-1:2020
電磁式エレメンタリ リレー―第1部:一般及び安全性要求事項
JISC62133-1:2020
ポータブル機器用二次電池の安全性―第1部:アルカリ蓄電池
JISC62133-2:2020
ポータブル機器用二次電池の安全性―第2部:リチウム二次電池
JISC62368-3:2021
オーディオ・ビデオ,情報及び通信技術機器―第3部:通信ケーブル及び通信ポートを介する直流電力伝送の安全性要求事項
JISC6691:2019
温度ヒューズ―要求事項及び適用の指針
JISC6802:2014
レーザ製品の安全基準
JISC6803:2013
レーザ製品の安全―光ファイバ通信システムの安全
JISC6804:2008
レーザ製品の安全―情報伝送のための光無線通信システムの安全
JISC6950-1:2016
情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
JISC6965:2007
ブラウン管の機械的安全性
JISC7550:2011
ランプ及びランプシステムの光生物学的安全性
JISC8201-1:2020
低圧開閉装置及び制御装置―第1部:通則
JISC8201-5-5:2008
低圧開閉装置及び制御装置―第5部:制御回路機器及び開閉素子―第5節:機械的ラッチング機能をもつ電気的非常停止機器
JISC8283-1:2019
家庭用及びこれに類する用途の機器用カプラ―第1部:一般要求事項
JISC8285:2018
工業用プラグ,コンセント及びカプラ
JISC8286:2013
電気アクセサリ―電源コードセット及び相互接続コードセット
JISC8286:2021
電気アクセサリ―電源コードセット及び相互接続コードセット
JISC8300:2019
配線器具の安全性
JISC8303:2007
配線用差込接続器
JISC8702-1:2009
小形制御弁式鉛蓄電池―第1部:一般要求事項,機能特性及び試験方法
JISC8702-2:2009
小形制御弁式鉛蓄電池―第2部:寸法,端子及び表示
JISC8704-1:2006
据置鉛蓄電池―一般的要求事項及び試験方法―第1部:ベント形
JISC8704-2-1:2019
据置鉛蓄電池―第2-1部:制御弁式―試験方法
JISC8704-2-2:2019
据置鉛蓄電池―第2-2部:制御弁式―要求事項
JISC8712:2015
ポータブル機器用二次電池(密閉型小型二次電池)の安全性
JISC8713:2006
密閉形小形二次電池の機械的試験
JISC8715-2:2019
産業用リチウム二次電池の単電池及び電池システム―第2部:安全性要求事項
JISC9730-1:2019
自動電気制御装置―第1部:一般要求事項
JISC9921-5:2009
テレビジョン受信機(ブラウン管のものに限る)の設計上の標準使用期間を設定するための標準使用条件
JISK2265-2:2007
引火点の求め方―第2部:迅速平衡密閉法
JISK2265-3:2007
引火点の求め方―第3部:ペンスキーマルテンス密閉法
JISK6258:2016
加硫ゴム及び熱可塑性ゴム―耐液性の求め方
JISK7111-1:2012
プラスチック―シャルピー衝撃特性の求め方―第1部:非計装化衝撃試験
JISK7171:2016
プラスチック―曲げ特性の求め方
JISK7193:2010
プラスチック―高温空気炉を用いる着火温度の求め方
JISK7206:2016
プラスチック―熱可塑性プラスチック―ビカット軟化温度(VST)の求め方
JISK7241:2005
発泡プラスチック―小火炎による小試験片の水平燃焼特性の求め方
JISK7341:2006
プラスチック―小火炎に接触する可とう性フィルムの垂直燃焼性試験方法
JISK7350-1:1995
プラスチック―実験室光源による暴露試験方法 第1部:通則
JISK7350-1:2020
プラスチック―実験室光源による暴露試験方法―第1部:通則