JIS C 62368-1:2021 オーディオ・ビデオ，情報及び通信技術機器―第１部：安全性要求事項 | ページ 36

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  試験中,模擬負荷を用いてもよい。
  いずれの場合でも,入力電流又は入力電力の測定値は,安定した値を読み取る。通常動作の周期中,電
流値又は電力値が変化する場合は,これらの定常値は,変化が現れている状態で実効値電流記録計又は実
効値電力記録計によって測定した値の平均とする。
  定格電圧又は定格電圧範囲において,通常動作状態の下で測定した入力電流又は入力電力は,定格電流
又は定格電力の110 %を超えてはならない。
  適否は,次の状態で機器の入力電流又は入力電力を測定することによって判定する。
− 機器が複数の定格電圧をもつ場合,入力電流又は入力電力は,それぞれの定格電圧で測定する。
− 機器が一つ以上の定格電圧範囲をもつ場合,入力電流又は入力電力は,それぞれの定格電圧範囲の上
    限及び下限で測定し,次による。
  · 一つの定格電流又は定格電力を表示する場合,該当する定格電圧範囲で測定した入力電流又は入力
      電力の大きい方の値とする。
  · 二つの定格電流又は定格電力を表示する場合,ハイフンで区切り,該当する定格電圧範囲で測定し
      た二つの値とする。
B.2.6 動作温度の測定条件
B.2.6.1 一般事項
  機器を測定した温度は,B.2.6.2又はB.2.6.3のいずれか該当するものに適合しなければならない。全て
の温度値は,摂氏温度(℃)で示す。
    T     : 規定する試験条件の下で測定した,対象部分の温度
    Tmax  : その試験の適否基準として規定する最高温度
    Tamb  : 試験中の周囲温度
    Tma   : 製造業者が指定する最高周囲温度,又は25 ℃のいずれか高い方の温度
B.2.6.2 加熱又は冷却に依存する動作温度
  加熱又は冷却の度合いが温度に依存するように設計した機器(例えば,高温ではより高速で回転するフ
ァンをもつ機器)の場合,温度測定は,製造業者が指定する動作範囲内で最も不利な周囲温度で行う。こ
のとき,TはTmaxを超えてはならない。
    注記1 各コンポーネントのTの最高値を見つけるためには,異なるTambの値で幾つかの試験を行う
            ことが必要な場合がある。
    注記2 Tambの最も不利な値は,コンポーネントによって異なる場合がある。
  代替として,加熱若しくは冷却デバイスによる効果が最も小さくなる状態,又はデバイスが無効になる
周囲温度において温度測定を行ってもよい。
B.2.6.3 加熱又は冷却に依存しない動作温度
  加熱又は冷却の度合いが周囲温度に依存するように設計していない機器の場合は,B.2.6.2の方法を用い
てもよい。代替として,製造業者が指定する動作範囲内の任意のTambを選択して試験を行う。このとき,
Tは,(Tmax+Tamb−Tma)を超えてはならない。
  関係者間で取決めがない限り,試験中,TambはTma以下であることが望ましい。
B.2.7 通常動作状態の下での電池の充放電
  通常動作状態の下での電池の充放電条件は,附属書Mの該当する要求事項による。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 176] ―――――

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B.3  異常動作状態の模擬
B.3.1 一般事項
  異常動作状態を模擬する場合,試験結果に影響する可能性がある部品,供給品及びメディアは,所定の
位置に置く。
  それぞれの異常動作状態は,一度に一つずつ行う。
  異常動作状態の直接的な結果として起こる故障は,単一故障状態とみなす。
  機器,設置,指示及び仕様書を調査し,発生することが合理的に予想できる異常動作状態を決定する。
  B.3.2B.3.7に記載する例に加えて,該当する場合,少なくとも次の異常動作状態の例を考慮する。
− 紙を扱う機器の紙詰まり
− 一般人がアクセス可能な制御部をもつ機器の場合,制御部の一つ又は組合せの調整による最も過酷な
    動作状態
− 一般人がアクセス可能な制御部をもつオーディオ増幅器の場合,附属書Eに規定する状態を除き,制
    御部の一つ又は組合せの調整による最も過酷な動作状態
− 一般人がアクセス可能な運動部分をもつ機器の場合,運動部分のつかえ
− メディアを扱う機器の場合,不適切なメディア,不適切な寸法のメディア及び不適切な数量のメディ
    アの使用
− 補充可能な液体若しくは液体カートリッジ,又は補充可能な材料をもつ機器の場合,液体又は材料が
    機器内部にこぼれた状態
− 5.4.12.1に規定する絶縁液体を用いる機器の場合,液体の一部又は全部の消失
  上記の異常動作状態を行う前に,機器を通常動作状態の下で動作させる。
B.3.2 通気口のカバー
  機器の上面,側面及び背面に通気口がある場合,大きさが試験する表面の面積以上で,最小密度200 g/m2
の1枚のカード(厚めの硬い紙又は薄いボール紙)によって一度に1面ずつ,その面にある全ての開口を
塞ぐ。
  機器の上面にある別々の表面の開口が存在する場合に限り,同時に別々のカードによって覆う。
  機器の上面にあって水平方向に対して30°を超え60°未満の角度で傾斜していて,物がそこから容易に
滑り落ちる表面にある開口は,除外する。
  機器の背面及び側面にある開口は,カードを機器の上部先端からつ(吊)り下げて塞ぐ。
  機器の底面の開口は,次の機器を除き,塞ぐ必要はない。
  なお,柔らかい支持面(寝具類,毛布類など)の上で用いる可能性があって,通気口をもつ機器の場合
は,次のいずれかに適合しなければならない。
− 機器の底面,側面及び背面の開口を同時に塞いだとき,外部表面は,表38のTS2限度値以下である。
− F.5に規定する指示セーフガードを備える。ただし,要素3は任意である。指示セーフガードの要素
    は,次による。
  · 要素1a :    適用しない。
  · 要素2 :     “通気口を塞がないで下さい。”又はこれと同等の文章
  · 要素3 :     任意
  · 要素4 :     “この機器は,柔らかい支持面(寝具類,毛布類など)の上での使用を意図していませ
      ん。”又はこれと同等の文章

――――― [JIS C 62368-1 pdf 177] ―――――

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B.3.3 直流主電源の極性試験
  直流主電源への接続部に極性がなく,かつ,その接続部が一般人にアクセス可能な場合,直流用に設計
した機器の試験では,極性の影響の可能性を考慮する。
B.3.4 電圧切替器の設定
  主電源から電力を受け,かつ,一般人又は教育を受けた人が扱う電圧設定デバイスをもつ機器は,主電
源電圧設定デバイスを最も不利な位置にした状態で試験を行う。
B.3.5 出力端子の最大負荷
  主電源に直接接続するコンセント及び機器用アウトレットを除き,他の機器へ電力を供給する機器の出
力端子には,回路短絡を含む最も不利な負荷インピーダンスを接続する。
B.3.6 電池の逆極性
  一般人が交換可能な電池を逆極性にして挿入する可能性がある場合,機器は一つ以上の電池を逆にして
考えられる全ての配列で試験を行う(附属書Mも参照)。
B.3.7 オーディオ増幅器の異常動作状態
  オーディオ増幅器に対する異常動作状態については,E.3による。
B.3.8 異常動作状態の間及びその後の適合性
  単一故障状態を引き起こすことのない異常動作状態の下で,全てのセーフガードは有効でなければなら
ない。通常動作状態に戻した後,全てのセーフガードは該当する要求事項に適合しなければならない。
  異常動作状態が結果として何らかの故障を引き起こす場合,適否は,B.4.8を適用する。
B.4  単一故障状態の模擬
B.4.1 一般事項
  単一故障状態を模擬する場合,試験結果に影響する可能性がある部品,供給品及びメディアは,所定の
位置に置く。
  単一故障状態を適用する場合は,一度に一つずつ行う。単一故障状態の直接的な結果として起こる故障
は,この単一故障状態の一部とみなす。
  機能絶縁を含めて,機器の構造,回路図及びコンポーネントの仕様書を調査し,発生することが合理的
に予想でき,かつ,次のいずれかの要因となる可能性がある単一故障状態を決定する。
− セーフガードをバイパスする。
− 付加セーフガードが機能する。
− その他の機器の安全性に影響する。
  次の全ての単一故障状態を考慮する。
− 単一故障状態が起こる異常動作状態(例えば,一般人による外部出力端子の過負荷,又は一般人によ
    るセレクタスイッチの誤設定)
− 基礎セーフガード又は付加セーフガードの故障
− G.9に適合する集積回路電流制限器を除く,あらゆる2線間の回路短絡及びコンポーネントのあらゆ
    る1線の開放を模擬したコンポーネントの故障(一度に一つずつ適用する。)
− B.4.4に規定する機能絶縁の故障
B.4.2 温度制御デバイス
  温度測定中に温度を制御している回路の単一のデバイス又はコンポーネントは,G.3.1G.3.4に適合す
る温度制御しているセーフガードを除き,回路の短絡又は開放のいずれか不利な方で行う。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 178] ―――――

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  温度は,B.1.5に従って測定する。
B.4.3 モータ試験
B.4.3.1 モータの拘束試験
  機器の内部温度がモータの拘束によって上昇することが明らかな場合,最終製品の中でモータ又は回転
子の拘束を行う(例えば,気流を止めるためにファンの回転子を拘束する)。
B.4.3.2 適合性
  適否は,検査及び利用可能なデータの評価,又はG.5.4に規定する試験によって判定する。
B.4.4 機能絶縁
B.4.4.1 機能絶縁に対する空間距離
  機能絶縁に対する空間距離は,次のいずれかの条件に該当しない限り,回路短絡する。
− 5.4.2に規定する基礎絶縁に対する空間距離に適合する。
− 汚損度1及び汚損度2の環境下にあるES1及びPS1の回路においては,JIS C 60664-1:2009の表F.4
    に規定するプリント配線板の基礎絶縁に対する空間距離に適合する。
− 5.4.9.1に規定する基礎絶縁に対する耐電圧試験に合格する。
B.4.4.2 機能絶縁に対する沿面距離
  機能絶縁に対する沿面距離は,次のいずれかの条件に該当しない限り,回路短絡する。
− 5.4.3に規定する基礎絶縁に対する沿面距離に適合する。
− 汚損度1及び汚損度2の環境下にあるES1及びPS1の回路においては,JIS C 60664-1:2009の表F.4
    に規定するプリント配線板の基礎絶縁に対する沿面距離に適合する。
− 5.4.9.1に規定する基礎絶縁に対する耐電圧試験に合格する。
B.4.4.3 コーティングを施したプリント配線板の機能絶縁
  プリント基板のコーティングの機能絶縁は,次のいずれかの条件に該当しない限り,回路短絡する。
− 表G.13に規定する分離距離に適合する。
− 5.4.9.1に規定する基礎絶縁に対する耐電圧試験に合格する。
B.4.5 電子管及び半導体の電極の回路の短絡及び開放
  電子管の電極及び半導体デバイスの線は,回路を短絡するか,又は該当する場合は開放する。一度に一
つずつ線を開放するか,又は順番に二つの線を全て短絡する。
B.4.6 受動コンポーネントの回路の短絡又は開放
  抵抗,コンデンサ,巻線,スピーカ,VDR及びその他の受動コンポーネントは,回路の短絡又は開放の
いずれか,より不利な方で実施する。
  これらの単一故障状態は,次の全てに適用しない。
− JIS C 9730-1の箇条15(製造偏差及びドリフト),箇条17(耐久性),J.15(製造偏差及びドリフト)
    及びJ.17(耐久性)に適合するPTCサーミスタ
− JIS C 9730-1のタイプ2.AL作動をもつPTCデバイス
− 5.5.6の試験に合格する抵抗器
− JIS C 5101-14に適合し,かつ,5.5.2に適合するコンデンサ
− 強化絶縁に対して,附属書Gの関連するコンポーネント要求事項に適合する絶縁コンポーネント(例
    えば,オプトカプラ及び変圧器)
− 附属書Gの関連する要求事項,又は関連するJIS若しくはIEC規格のコンポーネント規格の安全要求
    事項に適合するセーフガードとして機能するその他のコンポーネント

――――― [JIS C 62368-1 pdf 179] ―――――

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B.4.7 コンポーネントの連続動作
  短時間動作又は間欠動作を意図したモータ,リレーコイルなどは,機器の動作中に動作することができ
る場合は,連続して動作させる。
  短時間動作又は間欠動作で動作する機器に対して,試験は動作時間に関係なく定常状態に達するまで繰
り返す。この試験では,サーモスタット,温度制限器及びサーマルカットオフは回路短絡しない。
  主電源に直接接続していない回路内及び直流電源系統から供給を受ける回路内で,モータを除く,通常
断続的に通電する電気機械式コンポーネントの場合,故障は,駆動回路内でコンポーネントに連続通電を
生じるように模擬して行う。
  試験時間は,次を適用する。
− 動作中に故障していることが一般人にはっきり分からない機器又はコンポーネントの場合には,定常
    状態に達するまでの時間,又は模擬した故障状態の結果として回路の遮断が生じるまでの時間のいず
    れか短い方
− その他の機器及びコンポーネントの場合は,5分間,又はコンポーネントの故障(例えば,焼損)若
    しくは模擬した故障状態の結果によって回路の遮断が生じるまでの時間のいずれか短い方
B.4.8 単一故障状態の間及びその後の適合性
  単一故障状態の間及びその後において,アクセス可能部分は,存在する危険性に応じて,5.3,8.3,9.4,
10.3,10.4.1,10.5.1及び10.6.5の,人の種類によって規定するエネルギークラスを超えてはならない。単
一故障状態の間及びその後,機器の中のあらゆる炎は,10秒以内に消えなければならない。さらに,周囲
の部分が発火してはならない。炎が生じたあらゆる部分は,PISとみなす。
  単一故障状態の後において,セーフガードとして用いる絶縁に影響する可能性がある場合,関係する絶
縁は5.4.9.1に規定する耐電圧試験に合格しなければならない。
  単一故障状態の間及びその後において,プリント配線板上の導体の開放をセーフガードとして用いては
ならない。ただし,次の条件を満たす場合は除く。この場合,単一故障状態を3回繰り返す。
− V-1材又はVTM-1材のプリント配線板上の導体は,過負荷状態の下で,導体の開放がアーク性PISに
    ならない場合,開放してもよい。ただし,材料の燃焼性分類がないか,又はV-1材よりも低いプリン
    ト配線板材の導体は,開放してはならない。
− 単一故障状態の下で,プリント配線板上の導体の離がいかなる付加セーフガード,又は強化セーフ
    ガードの故障の原因となってはならない。
B.4.9 単一故障状態での電池の充放電
  単一故障状態の下で,電池の充放電条件は,附属書Mに規定する要求事項による。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 180] ―――――

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