JIS C 62368-1:2021 オーディオ・ビデオ，情報及び通信技術機器―第１部：安全性要求事項 | ページ 46

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C 62368-1 : 2021
  初期試験電流を流しても,回路が瞬断しない場合は,温度が定常状態に至るまで試験を続ける(B.1.5
参照)。
  その後,回路が開放状態になるまでRX(R2,R3,R4,ほか)の値を変えて試験を繰り返す。
− R2=8×Vr(Ω)
− R3=4×Vr(Ω)
− R4=2×Vr(Ω)
− RX=0.5×(RX−1)(Ω)
  この試験に影響を及ぼす可能性があるバリスタに並列接続するコンポーネントは,取り外す。
  この試験中及び試験後に,火災のリスクがあってはならない。さらに,機器セーフガードは,評価中の
バリスタを除き,有効でなければならない。
  試験中,回路は次の状態になってもよい。
− ヒューズ,温度ヒューズなどの保護デバイスの作動による開放状態
− GDTの作動による閉路状態
G.8.2.3 短時間過電圧試験
  短時間過電圧試験は,次の適用可能な試験方法によって模擬する。
  主電源導体と接地との間に接続しているバリスタを含むサージ抑制回路は,JIS C 5381-11の8.3.8.1(低
圧システム側の故障が原因の一時的過電圧)及び8.3.8.2[高(中)圧システムの故障によるTOV]に従っ
て試験し,合格しなければならない。B.4.8の適否の基準を,JIS C 5381-11の適否の基準の代替として用
いてもよい。
  サージ抑制回路の場合は,この試験の前にG.8.2のコンビネーションパルス試験を行う。
  試験中,回路は次の状態になってもよい。
− ヒューズ,温度ヒューズなどの保護デバイスの作動による開放状態
− GDTの作動による閉路状態
    注記 各種配電系統の短時間過電圧は,JIS C 5381-11の表B.3(日本の配電システムに対するTOV試
          験パラメータ)を参照。
  この試験に影響を及ぼす可能性があるバリスタに並列接続するコンポーネントは,取り外す。
G.9  集積回路(IC)電流制限器
G.9.1 要求事項
  利用可能な出力電力がPS1又はPS2になるように電力源の電流制限のために用いるIC電流制限器は,
次の全ての条件に適合する場合,入力と出力との短絡は行わない。
− IC電流制限器は,規定するあらゆる変動を考慮に入れた通常動作状態の下で,製造業者が指定する値
    (ただし,5 A以下とする。)に電流を制限する。
− IC電流制限器は,完全に電子的に動作し,手動の操作又はリセットの手段をもたない。
− IC電流制限器の出力電流を,5 A以下に制限する(規定最大負荷)。
− IC電流制限器は,適用可能な場合,次の各々の前処理試験の後に,電圧又は電流を製造業者が指定す
    る変動を考慮した要求値に制限する。
− G.9.2の試験プログラムに合格する。
G.9.2 試験プログラム
  試験プログラムは,表G.11に要約した性能試験の構成とする。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 226] ―――――

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  試験は,製造業者が指定する次の仕様を適用して行う。
− 電力源の制限·仕様(250 VAよりも低い場合)
− 最大入力電圧(V)
− 最大出力負荷(A)
  試験のために次の6個のサンプルを用いる。
  サンプル1 : 列1
  サンプル2 : 列2及び列3
  サンプル3 : 列4及び列5
  サンプル4 : 列6
  サンプル5 : 列7
  サンプル6 : 列8
  試験用の電力源は,少なくとも250 VAを供給可能であることが望ましい。ただし,IC電流制限器の仕
様がそれよりも低い,又は最終製品で試験する場合を除く。
                           表G.11−IC電流制限器の性能試験プログラム
  列  試験カ       試験条件       サイクル  デバイスの デバイス デバイスの デバイスのRTN
       テゴリ                                   条件温度  のイネー 入力電圧 に対する出力負
                                                (℃)a),b),c)
                                                            ブル電圧               荷d),e)
   1 起動  イネーブルのオフとオ   10000       25     オフ及び   最大   最大
               ンとを繰り返す。                              オン   (定格) (定格)(A)
   2 起動  イネーブルのオフとオ      50       70     オフ及び   最大   0 Ω ll 470 μF
               ンとを繰り返す。                              オン   (定格)
   3 起動  イネーブルのオフとオ      50     −30     オフ及び   最大   0 Ω ll 470 μF
               ンとを繰り返す。                              オン   (定格)
   4 起動  入力端子のオフとオン      50       70       オン     最大   0 Ω ll 470 μF
               とを繰り返す。                                        (定格)
   5 起動  入力端子のオフとオン      50     −30       オン     最大   0 Ω ll 470 μF
               とを繰り返す。                                        (定格)
   6 短絡  出力端子を開放状態か      50       70       オン     最大   開放から0 Ω(開
        回路  ら短絡する。                                          (定格) 放から短絡)
   7 過負荷 イネーブルのオフとオ      50       25     オフ及び   最大   最大の150 %
               ンとを繰り返す。                              オン   (定格) (A)
   8 過負荷 入力端子のオフとオン      50       25       オン     最大   最大の150 %
               とを繰り返す。                                        (定格) (A)
 RTN  : リターンライン(Return)
 ll   : 抵抗値と静電容量値とを並列にする。
 注a)   maは,適用しない。
    b) ±2 ℃
    c) サンプルは,試験の3時間前から規定する温度にさらしておく。
    d) ±20 %
    e) 負荷は,適切な定格をもつコンデンサ,及びそれと並列に接続する短絡と同等性能をもつ導電線,すなわち,
       ゼロオーム(0 Ω)抵抗負荷とするのが望ましい。コンデンサ定格電圧は,被試験コンポーネントの最大定格
       電圧以上であることが望ましい。
G.9.3 適合性
  G.9.2の試験プログラムの後,デバイスは仕様どおりに電流を制限するか,又は開路状態にならなければ

――――― [JIS C 62368-1 pdf 227] ―――――

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ならない。
  試験中,デバイスが開路状態になった場合は,新しいサンプルに交換して,試験を継続する。
G.10 抵抗器
G.10.1 一般事項
  この箇条の各試験では,10個の抵抗器サンプルを試験する。サンプルは,単独で用いる場合は抵抗器単
体とし,実使用において複数の抵抗器で用いる場合は抵抗器の一群とする。各試験に先立ち,サンプルの
抵抗値を測定する。続いて,G.10.2の前処理を行う。
G.10.2 前処理
  サンプルに対して,JIS C 60068-2-78に規定する高温高湿試験を行う。このとき,次の条件を適用する。
− 温度 : (40±2)℃
− 湿度 : 相対湿度(93±3)%
− 試験期間 : 21日間
G.10.3 抵抗器試験
  各々のサンプルに対して,表D.1の回路2のインパルス発生器を用いて,交互の極性でインパルスを10
回ずつ印加する。連続するインパルスの間隔は60秒とする。Ucは,該当する要求耐電圧に等しい値とす
る。
  試験後,各々のサンプルの抵抗値は,10 %を超える変化があってはならない。全てのサンプルが適合し
なければならない。
  表4の適否を判定する場合,試験した10個のサンプルのうち,最も低い抵抗値のサンプルを電流の測定
に用いる。
G.10.4 電圧サージ試験
  各々のサンプルに対して,表D.1の回路3のインパルス発生器からの放電を50回印加する。このとき,
放電は1分間に12回以下とする。Ucは,10 kVとする。
  試験後,各々のサンプルの抵抗値は,20 %を超える変化があってはならない。全てのサンプルが適合し
なければならない。
G.10.5 インパルス試験
  各々のサンプルに対して,表D.1の回路1のインパルス発生器からの10回のパルスを印加する。パルス
の間隔60秒間以上とする。Ucは,交互の極性で4 kV又は5 kVに等しい値とする(表13参照)。
  試験後,各々のサンプルの抵抗値は,20 %を超える変化があってはならない。全てのサンプルが適合し
なければならない。
G.10.6 過負荷試験
  機器を単一故障状態の下で動作したとき,機器に付いている抵抗器の定格値と等価な抵抗値をもつ抵抗
器を介して測定した電流値の1.5倍を流す電圧を,10個のサンプルにそれぞれ印加する。
  試験中,電圧は一定に保つ。
  この試験は熱定常状態に達するまで行う。試験後,各々のサンプルの抵抗値は20 %を超える変化があっ
てはならない。全てのサンプルが適合しなければならない。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 228] ―――――

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G.11 コンデンサ及びRCユニット
G.11.1 一般事項
  ここでは,コンデンサ,RCユニット又はRCユニットを構成する個別のコンポーネントを試験する場合
及びセーフガードとして用いる場合の前処理条件を規定し,並びにJIS C 5101-14に適合するコンデンサ
及びRCユニットの選択評価基準を規定する。
G.11.2 コンデンサ及びRCユニットの試験条件
  コンデンサ又はRCユニットが5.5.2.1に基づきこの箇条を適用する場合,JIS C 5101-14の要求事項を評
価するときの前処理条件は,次による。
  JIS C 5101-14の4.12[高温高湿(定常)]に規定する試験条件は,温度(40±2)℃,相対湿度(93±3)%
で21日間を適用する。
  ここでは,21日間よりも長い期間で試験したコンデンサの試験結果を認める。
G.11.3 コンデンサの選択ルール
  適切なコンデンサのサブクラスは,表G.12に規定する適用ルールに基づいて選択しなければならない。
                         表G.12−JIS C 5101-14に基づくコンデンサの定格
      JIS C 5101-14に基づくコンデンサの定格電圧 コンデンサの形式試験にコンデンサの形式試験に
     コンデンサのサブクラス                      用いるインパルス電圧 用いる耐電圧(実効値)
          (タイプ)          V(実効値)               kV                   kV
             Y1                 500以下                 8                    4
             Y2             150超え,300以下            5 a)                 1.5
             Y4                 150以下                 2.5                  0.9
             X1                 760以下                 4 a)                 −
             X2                 760以下                 2.5 a)               −
       この表の適用ルール
     1. コンデンサの電圧定格は,少なくとも5.4.1.8.2に従って決定する橋絡した絶縁間の実効値動作電圧と同
        じでなければならない。この表の要求事項の例外として,2.5 kVを要求する場合には一つのサブクラス
        Y2のコンデンサを用いてもよい。
     2. 機能絶縁用の単一コンデンサ(Xタイプ)の場合,コンデンサの故障によってセーフガードが故障して
        はならない。また,形式試験に用いるピークインパルス電圧は要求耐電圧以上でなければならない。
     3. 次に示すとおり,規定するコンデンサよりも高いグレードのコンデンサを用いてもよい。
       − サブクラスY2を規定する場合は,サブクラスY1
       − サブクラスY4を規定する場合は,サブクラスY1又はY2
       − サブクラスX1を規定する場合は,サブクラスY1又はY2
       − サブクラスX2を規定する場合は,サブクラスX1,Y1又はY2
     4. 次に示すとおり,規定する一つのコンデンサの代わりに二つ以上のコンデンサを直列に用いてもよい。
       − サブクラスY1を規定する場合は,サブクラスY1又はY2
       − サブクラスY2を規定する場合は,サブクラスY2又はY4
       − サブクラスX1を規定する場合は,サブクラスX1又はX2
     5. 二つ以上のコンデンサを直列に用いる場合,適用可能なとき5.5.2.1及び上記の他のルールに適合しなけ
        ればならない。
     注a) 静電容量値が1 μFを超える場合は,この試験電圧は,Cに等しい因数で除する。このとき,CはμF
          の単位で表した静電容量値とする。
G.12 オプトカプラ
  オプトカプラは,IEC 60747-5-5の要求事項に適合しなければならない。ただし,IEC 60747-5-5は,次
のとおり適用する。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 229] ―――――

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− IEC 60747-5-5の7.4.3(形式試験)において,電圧Vini,aは,5.4.9.1の該当する試験電圧以上とする。
− IEC 60747-5-5の7.4.1(ルーチン試験)において,電圧Vini,bは,5.4.9.2の該当する試験電圧以上とす
    る。
G.13 プリント配線板
G.13.1 一般事項
  ここでは,プリント配線板の基礎絶縁,付加絶縁,強化絶縁及び二重絶縁についての要求事項を規定す
る。
  これらの要求事項は,プレーナ変圧器の巻線にも適用する。
G.13.2 コーティングを施さないプリント配線板
  コーティングを施さないプリント配線板の外部表面上の導体間の絶縁は,5.4.2の最小空間距離の要求事
項,及び5.4.3の最小沿面距離の要求事項に適合しなければならない。
  適否は,検査及び測定によって判定する。
G.13.3 コーティングを施したプリント配線板
  コーティングを施す前のプリント配線板に対する,分離距離の要求事項は次による。
  なお,コーティングを施したプリント配線板を評価する場合の代替方法は,JIS C 60664-3による。
  適正なコーティング材で外部表面にコーティングを施すプリント配線板の場合,コーティングを施す前
の導電部は,表G.13の最小分離距離に適合しなければならない。
  二重絶縁及び強化絶縁は,5.4.9.2の耐電圧ルーチン試験に合格しなければならない。
  コーティングは,片方又は両方の導電部,及び導電部相互間の表面にわたる全体の部分に施さなければ
ならない。
  次に該当する場合は,5.4.2の最小空間距離及び5.4.3の最小沿面距離に適合しなければならない。
− 上記の条件に適合しないもの
− あらゆる二つのコーティングを施していない導電部間
− コーティングの外側表面
  適否は,検査,図O.11及び図O.12を考慮に入れた測定,並びにG.13.6の試験によって判定する。

――――― [JIS C 62368-1 pdf 230] ―――――

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